Добірка наукової літератури з теми "Capacitors"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Capacitors".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Capacitors"
Plesca, Adrian. "Considerations About Controlled Capacitors." Journal of Electrical Engineering 61, no. 3 (May 1, 2010): 189–92. http://dx.doi.org/10.2478/v10187-010-0027-2.
Повний текст джерелаHardiyanto, Denny, Prabakti Endramawan, Ridho Nur Taufiqul Manan, and Dyah Anggun Sartika. "Arduino Implementation for Development Digital Capacitance Meters as Laboratory Measurement Devices." SinkrOn 7, no. 3 (July 2, 2022): 784–90. http://dx.doi.org/10.33395/sinkron.v7i3.11456.
Повний текст джерелаBărbulescu, Corneliu, Dadiana-Valeria Căiman, and Toma-Leonida Dragomir. "Parameter Observer Useable for the Condition Monitoring of a Capacitor." Applied Sciences 12, no. 10 (May 12, 2022): 4891. http://dx.doi.org/10.3390/app12104891.
Повний текст джерелаBarbulescu, Corneliu, and Toma-Leonida Dragomir. "Parameter estimation for a simplified model of an electrolytic capacitor in transient regimes." Journal of Physics: Conference Series 2090, no. 1 (November 1, 2021): 012143. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2090/1/012143.
Повний текст джерелаJeong, Sunwoo, Akeem Bayo Kareem, Sungwook Song, and Jang-Wook Hur. "ANN-Based Reliability Enhancement of SMPS Aluminum Electrolytic Capacitors in Cold Environments." Energies 16, no. 16 (August 21, 2023): 6096. http://dx.doi.org/10.3390/en16166096.
Повний текст джерелаButnicu, Dan. "A Derating-Sensitive Tantalum Polymer Capacitor’s Failure Rate within a DC-DC eGaN-FET-Based PoL Converter Workbench Study." Micromachines 14, no. 1 (January 15, 2023): 221. http://dx.doi.org/10.3390/mi14010221.
Повний текст джерелаNaoi, K. "‘Nanohybrid Capacitor’: The Next Generation Electrochemical Capacitors." Fuel Cells 10, no. 5 (July 9, 2010): 825–33. http://dx.doi.org/10.1002/fuce.201000041.
Повний текст джерелаANANDA MOHAN, P. V. "CAPACITOR FLOATATION SCHEME USING ONLY OTAs AND GROUNDED CAPACITORS." Journal of Circuits, Systems and Computers 05, no. 02 (June 1995): 181–97. http://dx.doi.org/10.1142/s021812669500014x.
Повний текст джерелаZhang, Xing Hai, Bo Wen Zhang, Wei Feng Han, Ji Xing Sun, Guang Ning Wu, and Guo Qiang Gao. "Research on Overvoltage of Parallel Capacitors in 500kv Substation and its Protection Parameters." Applied Mechanics and Materials 303-306 (February 2013): 1920–24. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.303-306.1920.
Повний текст джерелаDang, Hoang-Long, and Sangshin Kwak. "Review of Health Monitoring Techniques for Capacitors Used in Power Electronics Converters." Sensors 20, no. 13 (July 3, 2020): 3740. http://dx.doi.org/10.3390/s20133740.
Повний текст джерелаДисертації з теми "Capacitors"
Wynne, Edward McFaddin. "Determination of the Shelf Life of Aluminum Electrolytic Capacitors." Thesis, University of North Texas, 2002. https://digital.library.unt.edu/ark:/67531/metadc3104/.
Повний текст джерелаBereza, Bill Carleton University Dissertation Engineering Electrical. "A switched-capacitor circuit technique used to measure capacitor mismatch and explore capacitor and opamp nonlinearity." Ottawa, 1988.
Знайти повний текст джерелаYang, Fan. "Characterization of HFO2 Capacitors." Fogler Library, University of Maine, 2003. http://www.library.umaine.edu/theses/pdf/YangF2003.pdf.
Повний текст джерелаCousins, Jesse. "Simulation of the Variability in Microelectronic Capacitors having Polycrystalline Dielectrics with Columnar Microstructure." Fogler Library, University of Maine, 2003. http://www.library.umaine.edu/theses/pdf/CousinsJL2003.pdf.
Повний текст джерелаDonahoe, Daniel Noel. "Moisture in multilayer ceramic capacitors." College Park, Md. : University of Maryland, 2005. http://hdl.handle.net/1903/2189.
Повний текст джерелаThesis research directed by: Mechanical Engineering. Title from t.p. of PDF. Includes bibliographical references. Published by UMI Dissertation Services, Ann Arbor, Mich. Also available in paper.
Larsson, Oscar. "Polyelectrolyte-Based Capacitors and Transistors." Doctoral thesis, Linköpings universitet, Institutionen för teknik och naturvetenskap, 2011. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-67852.
Повний текст джерелаWang, Tong. "Electrospun carbon nanofibers for electrochemical capacitor electrodes." Diss., Atlanta, Ga. : Georgia Institute of Technology, 2007. http://hdl.handle.net/1853/22563.
Повний текст джерелаCommittee Chair: Satish Kumar; Committee Member: Anselm Griffin; Committee Member: John D. Muzzy; Committee Member: Ravi Bellamkonda; Committee Member: Rina Tannenbaum.
Muthana, Prathap. "Design of high speed packages and boards using embedded decoupling capacitors." Diss., Available online, Georgia Institute of Technology, 2007, 2007. http://etd.gatech.edu/theses/available/etd-05102007-121240/.
Повний текст джерелаProf Madhavan Swaminathan, Committee Chair ; Prof Rao Tummala, Committee Co-Chair ; Prof David Keezer, Committee Member ; Dr. Mahadevan Iyer, Committee Member ; Prof Suresh Sitaraman, Committee Member ; Prof William A. Doolittle, Committee Member.
Száraz, Ildikó. "Chemical reactions in aluminium electrolytic capacitors /." Luleå, 2003. http://epubl.luth.se/1402-1544/2003/05.
Повний текст джерелаKrause, Andreas. "Ultrathin CaTiO3 Capacitors: Physics and Application." Doctoral thesis, Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2014. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-144522.
Повний текст джерелаDie Verkleinerung von elektronischen Bauelementen hin zu nanometerkleinen Strukturen beschreibt die unglaubliche Entwicklung der Computertechnologie in den letzten Jahrzehnten. In Ladungsspeicherkondensatoren, den größten Komponenten in Arbeitsspeichern, wurden dafür Dielektrika benötigt, die eine deutlich höhere Permittivität als SiO2 besitzen. ZrO2 wurde als geeignetes Dielektrikum eingeführt, um eine ausreichende Kapazität bei kleiner werdenen Strukturen sicherzustellen. Zur weiteren Verbesserung der Kapazitätsdichte pro Zellfläche konnten 3D Strukturen in die Chipherstellung integriert werden. Seit den 1990ern wurden parallel bedeutende Anstrengungen unternommen, um ZrO2 als Dielektrikum durch Materialien mit noch höherer Permittivität zu ersetzen. Nach Berechnungen stellt nun CaTiO3 eine mögliche Alternative dar, die eine weitere Verbesserung der Kapazität ermöglicht. Das Material besitzt eine deutlich höhere Permittivität und eine ausreichend große Bandlücke. Diese Arbeit beschäftigt sich deshalb mit Herstellung und detaillierter physikalischer und elektrischer Charakterisierung von extrem dünnen CaTiO3 Schichten. Zusätzlich wurden diverse Elektroden bezüglich ihrer Temperaturstabilität und der chemischen Stabilität untersucht, um kristallines CaTiO3 zu herhalten. Als eine optimale Elektrode stellte sich Pt auf TiN heraus. Physikalische Experimente an extrem dünnen CaTiO3 Schichten bestätigen die Bandlücke von 4,0-4,2 eV. Wachstumsuntersuchungen an kristallinem CaTiO3 zeigen eine Reduktion der Kristallisationstemperatur von 640°C auf SiO2 zu 550°C auf Pt. Diese Reduktion wurde detailliert mittels Transmissionselektronenmikroskopie untersucht. Es konnte für einige Schichten ein partielles lokales epitaktischesWachstum von (111) CaTiO3 auf (111) Pt gemessen werden. Dieses Vorzugswachstum ist vorteilhaft für die elektrischen Eigenschaften durch eine gesteigerte Permittivität von 55 bei gleichzeitig geringem Leckstrom vergleichbar zu amorphen Schichten. Eine genaue elektrische Analyse von Kondensatoren mit amorphen und kristallinem CaTiO3 ergibt eine Permittivität von 30 für amorphe und bis zu 105 für kristalline CaTiO3 Schichten. Die Permittivität zeigt eine quadratische Abhängigheit von der angelegten Spannung. Kristallines CaTiO3 zeigt einen 1-3% Abfall der Permittivität bei 1V, der wesentlich geringer ausfällt als vergleichbare Werte für SrTiO3. Eine zu SiO2 vergleichbare Schichtdicke (CET) von unter 1,0 nm mit Stromdichten von 1×10−8 A/cm2 wurde auf Kohlenstoffsubstraten erreicht. Mit Werten von 0,5 nm bei Leckstromdichten von 1×10−7 A/cm2 auf Pt/TiN Elektroden erfüllen die CaTiO3 Kondensatoren die Anforderungen der ITRS Strategiepläne für Arbeitsspeicher ab 2016
Книги з теми "Capacitors"
Malison, Andrew F. Capacitors. Washington, DC: Office of Industries, U.S. International Trade Commission, 1994.
Знайти повний текст джерелаSchulz, Alexander L. Capacitors: Theory, types, and applications. Hauppauge, N.Y: Nova Science Publishers, 2009.
Знайти повний текст джерелаComponents, Philips. Electrolytic capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1994.
Знайти повний текст джерелаComponents, Philips. Film capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1993.
Знайти повний текст джерелаComponents, Philips. Variable capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1993.
Знайти повний текст джерелаDenson, William K. Reliable application of capacitors. Rome, NY (201 Mill St., Rome 13440-6916): The Center, 1996.
Знайти повний текст джерелаComponents, Philips. Ceramic capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1993.
Знайти повний текст джерелаIEEE Power Engineering Society. Transmission and Distribution Committee. and Insitute of Electrical and Electronics Engineers., eds. IEEE guide for application of shunt power capacitors. New York: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1993.
Знайти повний текст джерелаKaiser, Cletus J. The capacitor handbook. New York: Van Nostrand Reinhold, 1993.
Знайти повний текст джерелаKaiser, Cletus J. The capacitor handbook. 2nd ed. Olathe, KS: CJ Pub., 1995.
Знайти повний текст джерелаЧастини книг з теми "Capacitors"
Morris, Noel M. "Capacitors and capacitor circuits." In Mastering Electronic and Electrical Calculations, 86–107. London: Macmillan Education UK, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-349-13705-3_5.
Повний текст джерелаBartlett, Jonathan. "Capacitors." In Electronics for Beginners, 235–53. Berkeley, CA: Apress, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4842-5979-5_16.
Повний текст джерелаMay, Colin. "Capacitors." In Passive Circuit Analysis with LTspice®, 261–312. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-38304-6_7.
Повний текст джерелаBarnes, John R. "Capacitors." In Robust Electronic Design Reference Book, 86–125. New York, NY: Springer US, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-7830-7_8.
Повний текст джерелаPowell, Richard F. "Capacitors." In Testing Active and Passive Electronic Components, 21–43. Boca Raton: Routledge, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780203737255-3.
Повний текст джерелаBreithaupt, Jim. "Capacitors." In Physics, 204–17. London: Macmillan Education UK, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-349-14825-7_16.
Повний текст джерелаBhushan, Manjul, and Mark B. Ketchen. "Capacitors." In Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, 107–38. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9_4.
Повний текст джерелаWaygood, Adrian. "Capacitors." In An Introduction to Electrical Science, 245–50. Second edition. | Abingdon, Oxon; New York, NY: Routledge,: Routledge, 2018. http://dx.doi.org/10.1201/9781351190435-23.
Повний текст джерелаVoltmer, David. "Capacitors." In Fundamentals of Electromagnetics 1: Internal Behavior of Lumped Elements, 91–134. Cham: Springer International Publishing, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-79414-8_2.
Повний текст джерелаSayood, Khalid. "Capacitors." In Understanding Circuits, 53–66. Cham: Springer International Publishing, 2005. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02016-2_4.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Capacitors"
Nguyen, Dat T., and Frank Huang. "Stacked Polysilicon/Metal Capacitors Failure Analysis." In ISTFA 2005. ASM International, 2005. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2005p0262.
Повний текст джерелаShavezipur, Mohammad, Amir Khajepour, and Seyed Mohammad Hashemi. "A Novel Highly Tunable Butterfly-Type MEMS Capacitor." In ASME 2007 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2007. http://dx.doi.org/10.1115/imece2007-42556.
Повний текст джерелаLiu, Yunting, and Fang Zheng Peng. "Real DC capacitor-less active capacitors." In 2017 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC). IEEE, 2017. http://dx.doi.org/10.1109/apec.2017.7930611.
Повний текст джерелаGupta, Anunay, Om Prakash Yadav, Arighna Roy, Douglas DeVoto, and Joshua Major. "Degradation Modeling and Reliability Assessment of Capacitors." In ASME 2019 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems. American Society of Mechanical Engineers, 2019. http://dx.doi.org/10.1115/ipack2019-6456.
Повний текст джерелаAllen, J. J., and R. C. Reuter. "Mechanical States in Wound Capacitors: Part II — Optimization." In ASME 1989 Design Technical Conferences. American Society of Mechanical Engineers, 1989. http://dx.doi.org/10.1115/detc1989-0120.
Повний текст джерелаPeters, A. "Power capacitors - new developments." In IEE Colloquium on Capacitors and Inductors for Power Electronics. IEE, 1996. http://dx.doi.org/10.1049/ic:19960346.
Повний текст джерелаKatsis, Dimosthenis C. "Performance and Reliability of High Energy Capacitors in Inverters and DC/DC Converters." In ASME 2009 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2009. http://dx.doi.org/10.1115/imece2009-12178.
Повний текст джерелаKoizumi, Katsuhiro, Masaru Ishizuka, and Shinji Nakagawa. "Thermal Modeling of Snap-In Type Electrolytic Capacitors in Electronic Equipment." In ASME 2009 InterPACK Conference collocated with the ASME 2009 Summer Heat Transfer Conference and the ASME 2009 3rd International Conference on Energy Sustainability. ASMEDC, 2009. http://dx.doi.org/10.1115/interpack2009-89052.
Повний текст джерелаMahinay, Christopher S., Christian Reyes, Ricardo Calanog, and Raymond Mendaros. "Intricacies in the Failure Analysis of Integrated Capacitors." In ISTFA 2023. ASM International, 2023. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2023p0045.
Повний текст джерелаPerez, Emeric, Yasser Moursy, Sami Oukassi, and Gael Pillonnet. "Silicon Capacitors Opportunities for Switched Capacitor Converter." In 2022 IEEE 23rd Workshop on Control and Modeling for Power Electronics (COMPEL). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/compel53829.2022.9829949.
Повний текст джерелаЗвіти організацій з теми "Capacitors"
Renk, Timothy Jerome, and Todd C. Monson. Ultra-thin multilayer capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), June 2009. http://dx.doi.org/10.2172/973850.
Повний текст джерелаYushin, Gleb. High Power Electrochemical Capacitors. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, March 2012. http://dx.doi.org/10.21236/ada567578.
Повний текст джерелаGENERAL ATOMICS SAN DIEGO CA. High Energy Density Cryogenic Capacitors. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, July 2006. http://dx.doi.org/10.21236/ada454866.
Повний текст джерелаWelsch, Gerhard. Titanate Capacitors for Power Electronics. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), November 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1580082.
Повний текст джерелаK. Xu, S. P. Ding, and T. R. Jow. Nonaqueous Electrolyte Development for Electrochemical Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), September 1999. http://dx.doi.org/10.2172/15050.
Повний текст джерелаBoufelfel, Ali. High Energy Density Polymer Film Capacitors. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, October 2006. http://dx.doi.org/10.21236/ada459821.
Повний текст джерелаClark, D. Low Temperature Effects: Surface Mount Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), August 1992. http://dx.doi.org/10.2172/1031795.
Повний текст джерелаWright, R. B., and T. C. Murphy. Evaluation of SAFT America, Inc. electrochemical capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), December 1997. http://dx.doi.org/10.2172/573327.
Повний текст джерелаSeiber, Larry Eugene, Joseph Philip Cunningham, Steve S. Golik, and Gary Armstrong. Evaluation and Characterization of Magnets and Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), October 2006. http://dx.doi.org/10.2172/974615.
Повний текст джерелаSeiber, L. E., J. P. Cunningham, S. S. Golik, and G. Armstrong. Evaluation and Characterization of Magnets and Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), October 2006. http://dx.doi.org/10.2172/947390.
Повний текст джерела