Готові списки джерел за темами / Рефлектометрія

Добірка наукової літератури з теми "Рефлектометрія"

Автор: Grafiati
Опубліковано: 30 травня 2022
Оновлено: 31 травня 2022

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Зміст

Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Рефлектометрія".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Статті в журналах з теми "Рефлектометрія"

1

Karpets, M. L., T. V. Tropin, L. A. Bulavin, and J. W. P. Schmelzer. "Neutron reflectometry for structural studies in thin films of polymer nanocomposites. Modeling." Nuclear Physics and Atomic Energy 19, no. 4 (December 25, 2018): 376–82. http://dx.doi.org/10.15407/jnpae2018.04.376.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

Якухина, А. В., Д. В. Горелов, А. С. Кадочкин, С. С. Генералов, В. В. Амеличев та В. В. Светухин. "Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке". Nanoindustry Russia 13, № 7-8 (14 грудня 2020): 450–57. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457.

Повний текст джерела
Анотація:
В настоящей статье представлены результаты исследования влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из нитрида кремния толщиной 100 и 200 нм на оптические потери в интегральных волноводах шириной 3 и 8 мкм. Представлен расчет основных параметров шероховатости боковых стенок световодного слоя, оказывающих наибольшее влияние на оптические потери в волноводе, проведенный методом конечных временных разностей. На основании данного расчета была установлена оптимальная толщина световодного слоя из нитрида, позволяющая удерживать световой поток. За основу расчета при построении модели были взяты данные, полученные в ходе исследования РЭМ-снимков, изготовленных волноводных структур. Результаты приведенных расчетов согласуются с данными, полученными в результате исследования посредством рефлектометрии в частотной области рефлектометра обратного рассеяния изготовленных волноводов с толщиной световодного слоя из нитрида кремния 200 нм и шириной 3 и 8 мкм.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

Bogachkov, I. V., and N. I. Gorlov. "IMPROVEMENT OF DEVICES FOR EARLY DIAGNOSTICS OF THE OPTICAL FIBERS STATE OF TELECOMMUNICATIONS SYSTEMS." Dynamics of Systems, Mechanisms and Machines 8, no. 4 (2020): 105–12. http://dx.doi.org/10.25206/2310-9793-8-4-105-112.

Повний текст джерела
Анотація:
В работе обсуждаются вопросы построения схем бриллюэновских рефлектометров, рассмотрены алгоритмы обработки результатов измерений. Представленные в исследовании результаты позволяют улучшить алгоритмы обработки бриллюэновских рефлектограмм за счёт введения опорных каналов и опорной базы данных. Приведённые схемы бриллюэновских рефлектометров представляют интерес для совершенствования систем мониторинга оптических волокон.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
4

Григорьев, В. В., В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин та С. В. Тихомиров. "Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров". PHOTONICS Russia 13, № 7 (20 листопада 2019): 676–79. http://dx.doi.org/10.22184/1992-7296.fros.2019.13.7.676.679.

Повний текст джерела
Анотація:
В статье представлены результаты исследовательских работ, направленных на обеспечение единства измерений параметров оптических рефлектометров. Описываются эталонная база и нормативно-­техническая документация, созданные специалистами ВНИИОФИ. Рассматриваются результаты внедрения и применения созданных эталонов. Также приводятся результаты исследований методов калибровки нового перспективного класса оптических рефлектометров, работающих в частотной области.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
5

N.S., Kosarev, and Sipko A.I. "Application of GNSS-reflectometry for monitoring world ocean level." Geodesy and Aerophotosurveying 65, no. 1 (2021): 61–67. http://dx.doi.org/10.30533/0536-101x-2020-65-1-61-67.

Повний текст джерела
Анотація:
Рассмотрен вопрос применения метода ГНСС-рефлектометрии для мониторинга уровня Мирового океана. Выполнен эксперимент по оценке точности определения уровня Атлантического океана на станции Роскоф (Франция). По результатам проведенного эксперимента установлено, что средняя квадратическая погрешность, определенная по результатам сравнения трехмесячных измерений, полученных по показаниям мареографа радарного типа и метода ГНСС-рефлектометрии, составила 0,617 м при среднем арифметическом значении 0,048 м.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
6

Никитенко, Ю. В., А. В. Петренко, Н. А. Гундорин, Ю. М. Гледенов та В. Л. Аксенов. "Изотопно-идентифицирующая рефлектометрия нейтронов". Кристаллография 60, № 4 (2015): 518–32. http://dx.doi.org/10.7868/s0023476115030108.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
7

Соллер, Б. Дж., Д. К. Гиффорд, М. С. Вольф та М. Э. Фроггатт. "Оптическая рефлектометрия обратного рассеяния (OBR)". PHOTONICS Russia 13, № 5 (4 вересня 2019): 452–60. http://dx.doi.org/10.22184/1993-7296.fros.2019.13.5.452.460.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
8

Тимошенков, В. П., Д. В. Родионов, Н. А. Шелепин та А. В. Селецкий. "СВЧ-РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ N-МОП КНИ-ТРАНЗИСТОРОВ". NANOINDUSTRY Russia 96, № 3s (15 червня 2020): 353–55. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.3s.353.355.

Повний текст джерела
Анотація:
Проведены исследования динамических параметров 180 нм n-МОП КНИ-транзисторов. Рассмотрены конструкции А-типа (контакт к активной области встроен в исток) и Н-типа (контакт к активной области выполнен в виде отдельного электрода). Показано, что транзисторы А-типа имеют существенно большее значение максимальной частоты усиления по току (FT), чем транзисторы Н-типа. The paper highlights dynamic parameters of n-MOS SOI (180 nm) transistors. Two designs of transistors are considered: A-type, in which a contact to the active region is built into the source, and H-type, in which this contact is made as a separate electrode. The studies have been carried out by using the reflectometry method. It has been shown that A-type transistors have a significantly higher value of frequency (FT) than H-type transistors.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
9

Жакетов, В. Д., Е. Читану та Ю. В. Никитенко. "НЕЙТРОННЫЕ РЕФЛЕКТОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛЕНОК ZNO, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 7 (2018): 27–33. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352818070041.

Повний текст джерела
Анотація:
Методом нейтронной рефлектометрии исследованы текстурированные и допированные алюминием пленки ZnO. Пленки представляют собой квазипериодические структуры с периодом несколько нанометров. Пленки неоднородны в поверхностном слое толщиной 10-20 нм.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
10

Плешанов, Н. К. "К рефлектометрии нейтронов с прецессирующими спинами". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 12 (2019): 8–19. http://dx.doi.org/10.1134/s0207352819090117.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
Більше джерел

Дисертації з теми "Рефлектометрія"

1

Рубцов, Владислав Генадійович. "Метод фазової рефлектометрії". Магістерська робота, Хмельницький національний університет, 2020. http://elar.khnu.km.ua/jspui/handle/123456789/9629.

Повний текст джерела
Анотація:
Метою роботи є розробка методу фазової рефлектометрії кабельних ліній із покращеними характеристиками, що дозволяють вимірювати дальність до двох і більше пошкоджень із низькою похибкою. Завданням роботи є: провести аналіз методів рефлектометрії; дослідити проходження гармонійних сигналів в кабельній лінії за наявності декількох пошкоджень; розробити метод фазової рефлектометрії; дослідити похибки вимірювання відстаней; розробити структурні схеми вимірювальних приладів.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

Борисенко, Євген Анатолійович, та С. П. Корж. "Дослідження методу підвищення точності рефлектометру". Thesis, Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2018. http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/46821.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

Пазуха, Ірина Михайлівна, Ирина Михайловна Пазуха та Iryna Mykhailivna Pazukha. "Дослідження структури багатошарової плівкової системи на основі Сu та Сr методом рентгенівської рефлектометрії". Thesis, Видавництво СумДУ, 2007. http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/15221.

Повний текст джерела
Анотація:
Дослідження структури багатошарових плівкових систем проводилось методом рентгенівської рефлектометрії. Даний метод спектроскопічний і базується на вимірюванні відбиваючої здатності рентгенівських променів поверхнею матеріалу, що досліджується, поблизу кута повного зовнішнього відбиття. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/15221
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Тези доповідей конференцій з теми "Рефлектометрія"

1

Харасов, Д. Р., И. А. Чурилин, С. П. Никитин, О. Е. Наний та В. Н. Трещиков. "Влияние эффекта вынужденного комбинационного рассеяния на дальность работы и чувствительность когерентного рефлектометра". У Российский семинар по волоконным лазерам. ИАиЭ СО РАН, 2018. http://dx.doi.org/10.31868/rfl2018.208-210.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

Лукина, Е. А., А. И. Гуляев та П. Л. Журавлева. "Применение методов высокоразрешающей электронной микроскопии, рентгеновской рефлектометрии и наноиндентирования для исследования покрытий и граничных слоев". У XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии и VI школа молодых учёных "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов". Crossref, 2020. http://dx.doi.org/10.37795/rcem.2020.92.43.016.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

Ткаченко, А. Ю., Н. Н. Смолянинов, М. И. Скворцов, И. А. Лобач та С. И. Каблуков. "Опрос ВБР датчиков с помощью когерентного оптического частотного рефлектометра на основе волоконного лазера с самосканированием длины волны". У Международный семинар по волоконным лазерам. ИАиЭ СО РАН, 2020. http://dx.doi.org/10.31868/rfl2020.143-144.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
Також вас можуть зацікавити розширені добірки на тему "Рефлектометрія" для конкретних типів джерел:
Статті в журналах
Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!

До бібліографії