Книги з теми "X-ray diffraction analyses"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "X-ray diffraction analyses".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Marchandise, H. Characterisation of corundum (RM 300) and mullite (RM 301) as reference materials for X-ray diffraction analyses. Luxembourg: Commission of the European Communities, 1985.
Знайти повний текст джерелаBaltá-Calleja, F. J. X-ray scattering of synthetic polymers. Amsterdam: Elsevier, 1989.
Знайти повний текст джерелаSpindura, Jillian. Rapid X-ray analysis by X-ray powder diffraction. Manchester: UMIST, 1994.
Знайти повний текст джерелаKaye, T. J. Rapid x-ray analysis by x-ray powder diffraction. Manchester: UMIST, 1993.
Знайти повний текст джерелаGoudeau, Philippe, and René Guinebretière. X-rays and materials. Hoboken, NJ: ISTE/Wiley, 2012.
Знайти повний текст джерелаJohansson, Sven A. E. PIXE: A novel technique for elemental analysis. Chichester: Wiley, 1988.
Знайти повний текст джерелаEkosse, Georges-lvo E. X-ray powder diffraction patterns of clays and clay minerals in Botswana. Gaborone, Botswana: X-Ray Diffraction Unit, University of Botswana, 2005.
Знайти повний текст джерелаSnyder, R. L. Defect and microstructure analysis by diffraction. Oxford: Oxford University Press, 1999.
Знайти повний текст джерелаL, Chung Deborah D., ed. X-ray diffraction at elevated temperatures: A method for in situ process analysis. New York: VCH, 1993.
Знайти повний текст джерелаArsenovic, Peter. Analysis of yttrium-barium-copper-oxide by x-ray diffraction and mechanical characterization. Greenbelt, Md: National Aeronautics and Space Administration, Goddard Space Flight Center, 1992.
Знайти повний текст джерелаArsenovic, Peter. Analysis of yttrium-barium-copper-oxide by x-ray diffraction and mechanical characterization. Greenbelt, Md: National Aeronautics and Space Administration, Goddard Space Flight Center, 1992.
Знайти повний текст джерелаArsenovic, Peter. Analysis of yttrium-barium-copper-oxide by x-ray diffraction and mechanical characterization. Greenbelt, Md: National Aeronautics and Space Administration, Goddard Space Flight Center, 1992.
Знайти повний текст джерелаE, Buhrke Victor, Jenkins Ron, and Smith, Deane K. (Deane Kingsley), eds. A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis. New York: Wiley-VCH, 1998.
Знайти повний текст джерелаAmpian, Sarkis G. Crystalline silica overview: Occurrence and analysis. Washington, D.C: U.S. Dept. of the Interior, Bureau of Mines, 1992.
Знайти повний текст джерелаSherwood, Dennis. Crystals, X-rays, and proteins: Comprehensive protein crystallography. New York: Oxford University Press, 2011.
Знайти повний текст джерелаMoore, Duane Milton. X-ray diffraction and the identification and analysis of clay minerals. 2nd ed. Oxford: Oxford University Press, 1997.
Знайти повний текст джерелаMoore, Duane Milton. X-ray diffraction and the identification and analysis of clay minerals. Oxford [England]: Oxford University Press, 1989.
Знайти повний текст джерелаB, Higgins John, Treacy M. M. J, and International Zeolite Association. Structure Commission., eds. Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites. 4th ed. Amsterdam: Elsevier, 2001.
Знайти повний текст джерелаTreacy, M. M. J. Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites. 3rd ed. New York: Elsevier, 1996.
Знайти повний текст джерелаC, Jackson John. An X-ray diffraction method for semiquantitative mineralogical analysis of Chilean nitrate ore. [Reston, Va.]: U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1994.
Знайти повний текст джерелаJackson, John C. An X-ray diffraction method for semiquantitative mineralogical analysis of Chilean nitrate ore. [Reston, Va.]: U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1994.
Знайти повний текст джерелаC, Jackson John. An X-ray diffraction method for semiquantitative mineralogical analysis of Chilean nitrate ore. [Reston, Va.]: U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1994.
Знайти повний текст джерелаC, Jackson John. An X-ray diffraction method for semiquantitative mineralogical analysis of Chilean nitrate ore. [Reston, Va.]: U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1994.
Знайти повний текст джерелаReynolds, R. C. Computer applications to X-ray powder diffraction analysis of clay minerals. Edited by Reynolds R. C, Walker J. R, and Clay Minerals Society. Boulder, Colo: Clay Minerals Society, 1993.
Знайти повний текст джерелаReynolds, R. C., J. R. Walker, and R. E. Ferrell, eds. Computer Applications to X-Ray Powder Diffraction Analysis of Clay Minerals. Boulder, CO: Clay Minerals Society, 1993. http://dx.doi.org/10.1346/cms-wls-5.
Повний текст джерелаHowells, M. R. A new treatment of focusing by varied-line-spacing gratings with application to the Peterson PGM system. Villigen: Paul Scherrer Institute, 1996.
Знайти повний текст джерелаNakhmanson, M. S. Diagnostika sostava materialov rentgenodifrakt͡s︡ionnymi i spektralʹnymi metodami. Leningrad: "Mashinostroenie," Leningradskoe otd-nie, 1990.
Знайти повний текст джерела1939-, Yang Chuanzheng, ed. Cai liao she xian yan she he san she fen xi: Cailiao shexian yanshe he sanshe fenxi = Analysis of materials by ray-diffration and scattering. Beijing Shi: Gao deng jiao yu chu ban she, 2010.
Знайти повний текст джерелаSatdarova, Faina. DIFFRACTION ANALYSIS OF DEFORMED METALS: Theory, Methods, Programs. xxu: Academus Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.31519/monography_1598.
Повний текст джерелаCanada, Atomic Energy of. Method For Preventing the Rehydration of Heated Smectites During X-Ray Diffraction Analysis. S.l: s.n, 1988.
Знайти повний текст джерелаDargel-Sulir, Lidia. Rentgenowskie badania stanu uporządkowania atomowego stopów podwójnych Mo[subscript x]Ni₁₀₀₋[subscript x]. Kraków: Akademia Górniczo-Hutnicza im. S. Staszica w Krakowie, 1986.
Знайти повний текст джерелаEberhart, J. P. Structural and chemical analysis of materials: X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy. Chichester, West Sussex, England: Wiley, 1991.
Знайти повний текст джерелаservice), SpringerLink (Online, ed. Applications of synchrotron light to scattering and diffraction in materials and life sciences. Berlin: Springer, 2009.
Знайти повний текст джерелаJapan) Foton Fakutorī Kenkyūkai (2011 Tsukuba-shi. "GISAS-hō no tenkai" yōshishū: PF Kenkyūkai. Tsukuba-shi, Ibaraki-ken, Japan: High Energy Accelerator Research Organization, 2011.
Знайти повний текст джерелаGuest, Jodie. An evaluation of Standardless Rietveld Refinement for quantitative analysis of binary mixtures by X-Ray powder diffraction. Wolverhampton: University of Wolverhampton, 2000.
Знайти повний текст джерелаBarrett, Charles. Advances in X-Ray Analysis. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаBarrett, Charles. Advances in X-Ray Analysis: Volume 15. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаFay, Marie, William M. Mueller, and Gavin Mallet. Advances in X-Ray Analysis: Volume 8. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаBarrett, Charles. Advances in X-Ray Analysis: Volume 15. Springer London, Limited, 2013.
Знайти повний текст джерелаNewkirk, John B., and Gavin R. Mallett. Advances in X-Ray Analysis: Volume 10. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаMueller, William M. Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Tenth Annual Conference on Application of X-Ray Analysis Held August 7-9, 1961. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаNewkirk, John B., Gavin R. Mallett, and Heinz G. Pfeiffer. Advances in X-ray Analysis: Proceedings of the Sixteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 9–11, 1967 Volume 11. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаFay, Marie, William M. Mueller, and Gavin R. Mallett. Advances in X-Ray Analysis: Volume 7 Proceedings of the Twelfth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 7–9, 1963. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаMueller, William M. Advances in X-Ray Analysis: Volume 4 Proceedings of the Ninth Annual Conference on Application of X-Ray Analysis Held August 10–12 1960. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаMueller, William M. Advances in X-Ray Analysis: Volume 2 Proceedings of the Seventh Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 13-15, 1958. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаFay, Marie, William M. Mueller, and Gavin R. Mallett. Advances in X-Ray Analysis: Volume 9 Proceedings of the Fourteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 25-27 1965. Springer London, Limited, 2013.
Знайти повний текст джерелаFay, Marie, William M. Mueller, and Gavin R. Mallett. Advances in X-Ray Analysis: Volume 9 Proceedings of the Fourteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 25-27 1965. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаMueller, William M. Advances in X-Ray Analysis: Volume 3 Proceedings of the Eighth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 12-14, 1959. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаAdvances in X-Ray Analysis. Springer, 1999.
Знайти повний текст джерелаAdvances in X-Ray Analysis. Springer, 1988.
Знайти повний текст джерела