Добірка наукової літератури з теми "Ultrafast microscopy"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Ultrafast microscopy".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Ultrafast microscopy"
Yarotski, Dzmitry, and Antoinette J. Taylor. "Microscopy: Ultrafast Scanning Tunneling Microscopy." Optics and Photonics News 13, no. 12 (December 1, 2002): 26. http://dx.doi.org/10.1364/opn.13.12.000026.
Повний текст джерелаDyba, M., T. A. Klar, S. Jakobs, and S. W. Hell. "Ultrafast dynamics microscopy." Applied Physics Letters 77, no. 4 (July 24, 2000): 597–99. http://dx.doi.org/10.1063/1.127056.
Повний текст джерелаIschenko, A. A., Yu I. Tarasov, E. A. Ryabov, S. A. Aseyev, and L. Schäfer. "ULTRAFAST TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY." Fine Chemical Technologies 12, no. 1 (February 28, 2017): 5–25. http://dx.doi.org/10.32362/2410-6593-2017-12-1-5-25.
Повний текст джерелаLiebel, Matz, Franco V. A. Camargo, Giulio Cerullo, and Niek F. van Hulst. "Ultrafast Transient Holographic Microscopy." Nano Letters 21, no. 4 (February 4, 2021): 1666–71. http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.0c04416.
Повний текст джерелаWeiss, S., D. F. Ogletree, D. Botkin, M. Salmeron, and D. S. Chemla. "Ultrafast scanning probe microscopy." Applied Physics Letters 63, no. 18 (November 1993): 2567–69. http://dx.doi.org/10.1063/1.110435.
Повний текст джерелаYang, D. S., O. F. Mohammed, and A. H. Zewail. "Scanning ultrafast electron microscopy." Proceedings of the National Academy of Sciences 107, no. 34 (August 9, 2010): 14993–98. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.1009321107.
Повний текст джерелаBaiz, Carlos R., Denise Schach, and Andrei Tokmakoff. "Ultrafast 2D IR microscopy." Optics Express 22, no. 15 (July 25, 2014): 18724. http://dx.doi.org/10.1364/oe.22.018724.
Повний текст джерелаKing, Wayne E., Geoffrey H. Campbell, Alan Frank, Bryan Reed, John Schmerge, Bradley Siwick, Brent Stuart, and Peter Weber. "Toward Ultrafast Electron Microscopy." Microscopy and Microanalysis 10, S03 (August 2004): 14–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604555733.
Повний текст джерелаErrico, Claudia, Olivier Couture, and Mickael Tanter. "Ultrafast ultrasound localization microscopy." Journal of the Acoustical Society of America 141, no. 5 (May 2017): 3951. http://dx.doi.org/10.1121/1.4988974.
Повний текст джерелаTaheri, Mitra L., Nigel D. Browning, and John Lewellen. "Symposium on Ultrafast Electron Microscopy and Ultrafast Science." Microscopy and Microanalysis 15, no. 4 (July 3, 2009): 271. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927609090771.
Повний текст джерелаДисертації з теми "Ultrafast microscopy"
Li, Jing. "Ultrafast thermoreflectance microscopy." Thesis, Boston University, 2013. https://hdl.handle.net/2144/11118.
Повний текст джерелаAs electronic and photonic devices shrink to the nanoscale, heat dissipation becomes the bottleneck for performance. As a result, understanding and controlling nanoscale thermal transport in thin films and across interfaces is a critical issue requiring new experimental tools. In this thesis, the development of an ultrafast thermoreflectance microscope for high resolution thermal property imaging is described. It can function as a time domain thermoreflectance (TDTR) or frequency domain thermoreflectance (FDTR) system. Design and implementation of the optical system will be introduced in detail. A thermal model derived from heat transfer theory is used to analyze the experimental data and obtain quantitative property maps for bulk and thin-film samples. The system is used to obtain temperature dependent thermal properties of single crystal diamond and thin film VO2, as well as thermal property maps of several thin film samples.
Block, Alexander. "Quantifying nanoscale carrier diffusion with ultrafast optical and photocurrent microscopy." Doctoral thesis, Universitat Politècnica de Catalunya, 2019. http://hdl.handle.net/10803/668392.
Повний текст джерелаEl transporte de calor en sólidos es uno de los problemas más antiguos de la física, que se remonta a las primeras formulaciones de la termodinámica. Las leyes clásicas de la conducción de calor son válidas cuando las escalas de tiempo y longitud observadas sean mayores que el tiempo de relajación y la trayectoria libre media de los portadores de calor microscópicos subyacentes, como los electrones y los fonones. Con la llegada de los láseres ultrarrápidos y los sistemas a nanoescala, estos regímenes ahora pueden superarse por lo cual se necesitan nuevos modelos refinados de transporte de calor. En particular, la interacción de pulsos de luz ultracortos con la materia puede excitar electrones a altas temperaturas, lo que lleva a un desequilibrio local de electrones y fonones. En estas condiciones, también se modifican las propiedades de transporte de los portadores de calor. Hasta ahora, estos efectos han sido típicamente estudiados en el dominio del tiempo. El enfriamiento de electrones calientes fotoexcitados se ha estudiado tanto en metales como en nuevos materiales bidimensionales, como el grafeno. Sin embargo, debido a la falta de resolución espacio-temporal, no ha sido posible distinguir los efectos de la difusión de electrones calientes de otros mecanismos de enfriamiento, como el acoplamiento de electrones y fonones. En esta tesis, hago un seguimiento directo de la difusión del calor y sus portadores en el espacio y el tiempo con microscopía ultrarrápida. Al utilizar la técnica recientemente desarrollada de microscopía de absorción transitoria con escaneo de sonda en películas de oro delgadas, resuelvo directamente, por primera vez, una transición de la difusión de electrones calientes a la difusión limitada por fonones en la escala de tiempo de picosegundos. Apoyo la comprensión de estas dinámicas complejas mediante el modelado teórico de la respuesta termo-óptica basada en un modelo de dos temperaturas. Aplico la misma técnica para estudiar la difusión de portadores calientes en una capa de grafeno atómicamente delgado. Al comparar muestras preparadas de manera diferente, estudio la fuerte influencia de los parámetros externos, como el tipo de producción, el sustrato y el entorno sobre la difusión del portador. Finalmente, estudio la difusión de portadores en dispositivos de grafeno exfoliados y encapsulados con una técnica novedosa de microscopía de fotocorriente espacio-temporal ultrarrápida basada en el efecto fototermoeléctrico. Extraigo dinámicas de difusión para muestras caracterizadas eléctricamente con la ayuda del modelado espacio-temporal teórico, probando así la relación fundamental entre el transporte eléctrico y térmico. La cuantificación precisa del transporte de los portadores ultrarrápido y a nanoescala con estas técnicas de vanguardia lleva a una comprensión más amplia de la dinámica del no equilibrio y podría, en última instancia, ayudar al diseño, la optimización y la gestión del calor de la próxima generación de dispositivos (opto-)electrónicos ultracompactos, como células solares, fotodetectores o circuitos integrados.
Wong, Tsz-wai Terence, and 黃子維. "Optical time-stretch microscopy: a new tool for ultrafast and high-throughput cell imaging." Thesis, The University of Hong Kong (Pokfulam, Hong Kong), 2013. http://hub.hku.hk/bib/B5066234X.
Повний текст джерелаpublished_or_final_version
Electrical and Electronic Engineering
Master
Master of Philosophy
Bücker, Kerstin. "Characterization of pico- and nanosecond electron pulses in ultrafast transmission electron microscopy." Thesis, Strasbourg, 2017. http://www.theses.fr/2017STRAE014/document.
Повний текст джерелаThis thesis presents a study of ultrashort electron pulses by using the new ultrafast transmission electron microscope (UTEM) in Strasbourg. The first part focuses on the stroboscopic operation mode which works with trains of picosecond multi-electron pulses in order to study ultrafast, reversible processes. A detailed parametric study was carried out, revealing fundamental principles of electron pulse dynamics. New mechanisms were unveiled which define the pulse characteristics. These are trajectory effects, limiting the temporal resolution, and chromatic filtering, which acts on the energy distribution and signal intensity. Guidelines can be given for optimum operation conditions adapted to different experimental requirements. The second part starts with the setup of the single-shot operation mode, based on intense nanosecond electron pulses for the investigation of irreversible processes. Having the first ns-UTEM equipped with an electron energy loss spectrometer, the influence of chromatic aberration was studied and found to be a major limitation in imaging. It has to be traded off with spherical aberration and signal intensity. For the first time, the feasibility of core-loss EELS with one unique ns-electron pulse is demonstrated. This opens a new field of time-resolved experiments
Danz, Thomas Christian [Verfasser]. "Ultrafast transmission electron microscopy of a structural phase transition / Thomas Christian Danz." Göttingen : Niedersächsische Staats- und Universitätsbibliothek Göttingen, 2021. http://d-nb.info/1239061234/34.
Повний текст джерелаGe, Xiaowei. "Nonlinear Microscopy Based on Femtosecond Fiber Laser." University of Dayton / OhioLINK, 2019. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=dayton1556914609069399.
Повний текст джерелаBarlow, Aaron M. "Spectral Distortions & Enhancements In Coherent Anti-Stokes Raman Scattering Hyperspectroscopy." Thesis, Université d'Ottawa / University of Ottawa, 2015. http://hdl.handle.net/10393/32388.
Повний текст джерелаGanz, Thomas. "Supercontinuum generation by chirped pulse compression for ultrafast spectroscopy and broadband near-field microscopy." Diss., lmu, 2011. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:19-148551.
Повний текст джерелаCiesielski, Richard [Verfasser], and Achim [Akademischer Betreuer] Hartschuh. "Ultrafast dynamics in single nanostructures investigated by pulse shaping microscopy / Richard Ciesielski. Betreuer: Achim Hartschuh." München : Universitätsbibliothek der Ludwig-Maximilians-Universität, 2016. http://d-nb.info/1111505330/34.
Повний текст джерелаChung, Hsiang-Yu [Verfasser], and Franz X. [Akademischer Betreuer] Kärtner. "Advanced fiber-optic ultrafast laser sources for multiphoton microscopy / Hsiang-Yu Chung ; Betreuer: Franz X. Kärtner." Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg, 2020. http://d-nb.info/1213901227/34.
Повний текст джерелаКниги з теми "Ultrafast microscopy"
Calif.) Ultrafast Imaging and Spectroscopy (Conference) (2013 San Diego. Ultrafast Imaging and Spectroscopy: 25-26 August 2013, San Diego, California, United States. Edited by Liu, Zhiwen (Professor of Electrical engineering) and SPIE (Society). Bellingham, Washington, USA: SPIE, 2013.
Знайти повний текст джерелаMauro, Nisoli, Hill III Wendell T, and SpringerLink (Online service), eds. Progress in Ultrafast Intense Laser Science VIII. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012.
Знайти повний текст джерелаZurch, Michael Werner. High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy: Imaging of Artificial and Biological Specimens with Laser-Driven Ultrafast Xuv Sources. Springer International Publishing AG, 2016.
Знайти повний текст джерелаZürch, Michael Werner. High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy: Imaging of Artificial and Biological Specimens with Laser-Driven Ultrafast XUV Sources. Springer, 2014.
Знайти повний текст джерелаZürch, Michael Werner. High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy: Imaging of Artificial and Biological Specimens with Laser-Driven Ultrafast XUV Sources. Springer, 2014.
Знайти повний текст джерелаNisoli, Mauro, Kaoru Yamanouchi, and Hill III Wendell T. Progress in Ultrafast Intense Laser Science VIII. Springer, 2014.
Знайти повний текст джерелаGoswami, Debabrata Dr. Ultrafast Laser Induced Spatiotemporal Measure and Control at Microscopic Dimensions. IOP Publishing Ltd, 2022.
Знайти повний текст джерелаHarding, Sian E. The Exquisite Machine. The MIT Press, 2022. http://dx.doi.org/10.7551/mitpress/12836.001.0001.
Повний текст джерелаGlazov, M. M. Interaction of Spins with Light. Oxford University Press, 2018. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198807308.003.0006.
Повний текст джерелаEriksson, Olle, Anders Bergman, Lars Bergqvist, and Johan Hellsvik. Outlook on Magnetization Dynamics. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198788669.003.0012.
Повний текст джерелаЧастини книг з теми "Ultrafast microscopy"
Aguirre, Aaron, and James Fujimoto. "Optical Coherence Microscopy and Cellular Imaging." In Ultrafast Phenomena XV, 816–18. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-68781-8_260.
Повний текст джерелаDlott, D. D. "Ultrafast Microscopy of Exploding Solids." In Springer Series in Chemical Physics, 110–12. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84269-6_34.
Повний текст джерелаGundlach, Lars, and Piotr Piotrowiak. "Ultrafast Wide-Field Fluorescence Microscopy." In Springer Series in Chemical Physics, 720–22. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-95946-5_234.
Повний текст джерелаOgilvie, J. P., D. Débarre, M. Cui, J. Skodack, X. Solinas, J. L. Martin, A. Alexandrou, E. Beaurepaire, and M. Joffre. "Novel applicatipns of broadband excitation to multiphoton microscopy." In Ultrafast Phenomena XV, 819–21. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-68781-8_261.
Повний текст джерелаPotma, Eric O., Wim P. de Boeij, and Douwe A. Wiersma. "Intracellular water diffusion probed by femtosecond nonlinear CARS microscopy." In Ultrafast Phenomena XII, 251–55. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56546-5_74.
Повний текст джерелаBigot, J. Y., A. Laraoui, J. Vénuat, M. Vomir, M. Albrecht, and E. Beaurepaire. "Time resolved magneto-optical microscopy of individual ferromagnetic dots." In Ultrafast Phenomena XV, 662–64. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-68781-8_212.
Повний текст джерелаZhang, K., N. Ji, Y. R. Shen, and H. Yang. "Optically Active Sum Frequency Generation Microscopy for Cellular Imaging." In Ultrafast Phenomena XV, 825–27. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-68781-8_263.
Повний текст джерелаMahjoubfar, Ata, Claire Lifan Chen, and Bahram Jalali. "Three-Dimensional Ultrafast Laser Scanner." In Artificial Intelligence in Label-free Microscopy, 21–29. Cham: Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-51448-2_4.
Повний текст джерелаKawashima, H., M. Furuki, S. Tatsuura, M. Tian, Y. Sato, L. S. Pu, and T. Tani. "Femtosecond Near-field Scanning Optical Microscopy of Molecular Thin Films ." In Ultrafast Phenomena XII, 259–61. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56546-5_76.
Повний текст джерелаKubo, Atsushi, Niko Pontius, and Hrvoje Petek. "Femtosecond Microscopy of Surface Plasmon Propagation in a Silver Film." In Ultrafast Phenomena XV, 636–38. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-68781-8_204.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Ultrafast microscopy"
Weiss, S., D. Botkin, and D. S. Chemla. "Ultrafast Scanning Microscopy." In Ultrafast Electronics and Optoelectronics. Washington, D.C.: OSA, 1993. http://dx.doi.org/10.1364/ueo.1993.e3.
Повний текст джерелаBotkin, David, Shimon Weiss, D. F. Ogletree, Miguel Salmeron, and Daniel S. Chemla. "Ultrafast scanning probe microscopy." In OE/LASE '94, edited by Rick P. Trebino and Ian A. Walmsley. SPIE, 1994. http://dx.doi.org/10.1117/12.175874.
Повний текст джерелаSidorenko, Pavel, Edouard Pauwels, Shoham Sabach, Yonina C. Eldar, Mordechai Segev, and Oren Cohen. "Towards ultrafast subwavelength microscopy." In Computational Optical Sensing and Imaging. Washington, D.C.: OSA, 2016. http://dx.doi.org/10.1364/cosi.2016.ct2d.1.
Повний текст джерелаMa, Boyang, Adi Goldner, and Michael Krüger. "Ultrafast Scanning Tunneling Microscopy." In International Conference on Ultrafast Phenomena. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 2022. http://dx.doi.org/10.1364/up.2022.th4a.30.
Повний текст джерелаLiebel, Matz, Franco V. A. Camargo, Giulio Cerullo, and Niek F. van Hulst. "Ultrafast Transient Holographic Microscopy." In Applied Industrial Spectroscopy. Washington, D.C.: OSA, 2021. http://dx.doi.org/10.1364/ais.2021.jw1a.4.
Повний текст джерелаKlein, Julien, and Philip G. Smith. "Ultrafast Lasers for Multiphoton Microscopy." In Novel Techniques in Microscopy. Washington, D.C.: OSA, 2015. http://dx.doi.org/10.1364/ntm.2015.nm3c.5.
Повний текст джерелаSquier, Jeff A., J. J. Field, E. Hoover, E. Chandler, M. Young, and D. Vitek. "Differential Multiphoton Microscopy." In International Conference on Ultrafast Phenomena. Washington, D.C.: OSA, 2010. http://dx.doi.org/10.1364/up.2010.wc6.
Повний текст джерелаTordera Mora, Jorge, Xiaohua Feng, and Liang Gao. "Ultrafast light field tomography." In Biomedical Spectroscopy, Microscopy, and Imaging II, edited by Jürgen Popp and Csilla Gergely. SPIE, 2022. http://dx.doi.org/10.1117/12.2621387.
Повний текст джерелаSilberberg, Yaron. "Nonlinear Temporal Focusing Microscopy." In International Conference on Ultrafast Phenomena. Washington, D.C.: OSA, 2006. http://dx.doi.org/10.1364/up.2006.thc4.
Повний текст джерелаPrasankumar, R. P., Z. Ku, A. Gin, P. C. Upadhya, S. R. J. Brueck, and A. J. Taylor. "Ultrafast Optical Wide Field Microscopy." In Conference on Lasers and Electro-Optics. Washington, D.C.: OSA, 2009. http://dx.doi.org/10.1364/cleo.2009.cme2.
Повний текст джерелаЗвіти організацій з теми "Ultrafast microscopy"
Botkin, D. A. Ultrafast scanning tunneling microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), September 1995. http://dx.doi.org/10.2172/270266.
Повний текст джерелаDurr, Hermann. Ultrafast Science Opportunities with Electron Microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), April 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1249382.
Повний текст джерелаNakakura, Craig Y., and Kimberlee Chiyoko Celio. Novel Applications of Scanning Ultrafast Electron Microscopy (SUEM). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), September 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1564040.
Повний текст джерелаTalin, Albert, Scott Ellis, Norman Bartelt, Francois Leonard, Christopher Perez, Km Celio, Elliot Fuller, et al. Thermal Infrared Detectors: expanding performance limits using ultrafast electron microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), September 2021. http://dx.doi.org/10.2172/1821971.
Повний текст джерелаEllis, Scott, David Chandler, Joseph Michael, and Craig Nakakura. Ultrafast Electron Microscopy for Spatial-Temporal Mapping of Charge Carriers. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), October 2021. http://dx.doi.org/10.2172/1828105.
Повний текст джерелаYuan, Long. Tracking Charge and Energy Flow at the Nanoscale by Ultrafast Microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), November 2021. http://dx.doi.org/10.2172/1832336.
Повний текст джерелаNurmikko, Arto, and Maris Humphrey. Optoacoustic Microscopy for Investigation of Material Nanostructures-Embracing the Ultrasmall, Ultrafast, and the Invisible. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), July 2014. http://dx.doi.org/10.2172/1136523.
Повний текст джерелаKabius, Bernd C., Nigel D. Browning, Suntharampillai Thevuthasan, Barbara L. Diehl, and Eric A. Stach. Dynamic Processes in Biology, Chemistry, and Materials Science: Opportunities for UltraFast Transmission Electron Microscopy - Workshop Summary Report. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), July 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1069215.
Повний текст джерелаBarbara, Paul F. Ultrafast Near-Field Scanning Optical Microscopy (NSOM) of Emerging Display Technology Media: Solid State Electronic Structure and Dynamics,. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, May 1995. http://dx.doi.org/10.21236/ada294879.
Повний текст джерелаCollins, Kimberlee Chiyoko, Albert Alec Talin, David W. Chandler, and Joseph R. Michael. Development of Scanning Ultrafast Electron Microscope Capability. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), November 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1331925.
Повний текст джерела