Книги з теми "Spectroscopie Rayon X"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-36 книг для дослідження на тему "Spectroscopie Rayon X".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
van, Grieken R., and Markowicz Andrzej, eds. Handbook of X-ray spectrometry. 2nd ed. New York: Marcel Dekker, 2002.
Знайти повний текст джерелаMaharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont: Direction de l'hygiène du milieu, 1994.
Знайти повний текст джерелаRX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2004.
Знайти повний текст джерелаE, Buhrke Victor, Jenkins Ron, and Smith, Deane K. (Deane Kingsley), eds. A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis. New York: Wiley-VCH, 1998.
Знайти повний текст джерелаAmerica, Mineralogical Society of, and Geochemical Society, eds. Spectroscopic methods in mineralogy and materials sciences. Chantilly, Virginia: Mineralogical Society of America, 2014.
Знайти повний текст джерелаN, Broll, Cornet A, and Denier P, eds. Rayons X et matière: RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2000.
Знайти повний текст джерелаRX, 2001 (2001 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2001 : colloque dédié à la mémoire d'André Guinier : ENSAIS, École nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, France, 4-7 décembre 2001. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2002.
Знайти повний текст джерелаInternational Conference on X-Ray Microscopy (6th 1999 Berkeley, Calif.). X-ray microscopy: Proceedings of the sixth international conference, Berkeley, CA, 2-6 August 1999. Edited by Meyer-Ilse Werner 1955-1999, Warwick Tony, and Attwood David T. Melville, N.Y: American Institute of Physics, 2000.
Знайти повний текст джерелаWhiston, Clive. X-ray methods. Edited by Prichard F. Elizabeth and ACOL (Project). Chichester [West Sussex]: Published on behalf of ACOL, Thames Polytechnic, London, by Wiley, 1987.
Знайти повний текст джерелаKokuritsu Bunkazai Kikō (Japan). Tōkyō Bunkazai Kenkyūjo. Kokuhō jitsugetsu shiki sansuizu kōgaku chōsa hōkokusho: Shingonshū Omuro-ha Daihonzan Amanosan Kongōji shozō. Tōkyō-to Taitō-ku: Kokuritsu Bunkazai Kikō Tōkyō Bunkazai Kenkyūjo, 2019.
Знайти повний текст джерелаMcMurdie, Howard. Advances in X-Ray Analysis: Volume 20. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаAn Introduction to X-Ray Physics, Optics, and Applications. Princeton University Press, 2017.
Знайти повний текст джерелаXafs For Everyone. Taylor & Francis Inc, 2013.
Знайти повний текст джерелаCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2013.
Знайти повний текст джерелаCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2013.
Знайти повний текст джерелаCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2013.
Знайти повний текст джерелаCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2018.
Знайти повний текст джерелаXAFS for Everyone. CRC Press LLC, 2024.
Знайти повний текст джерелаXAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2024.
Знайти повний текст джерелаXAFS for Everyone. CRC Press LLC, 2024.
Знайти повний текст джерелаRayons X et matière: RX 97 : (ENSAIS) Ecole nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, 14-16 octobre 1997. Les Ulis, France: EDP Sciences, 1998.
Знайти повний текст джерела(Editor), Françoise Hippert, Erik Geissler (Editor), Jean Louis Hodeau (Editor), Eddy Lelièvre-Berna (Editor), and Jean-René Regnard (Editor), eds. Neutron and X-ray Spectroscopy. Springer, 2005.
Знайти повний текст джерелаauthor, Schlossman Mark, ed. Liquid surfaces and interfaces: Synchrotron X-ray methods. 2012.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Sensor Materials, Systems, Technology and Characterization Measurements. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаRadiation Detection Systems: Sensor Materials, Systems, Technology and Characterization Measurements. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. CRC Press LLC, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Medical Imaging, Industrial Testing and Security Applications. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. CRC Press, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. CRC Press LLC, 2021.
Знайти повний текст джерелаIniewski, Krzysztof, and Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Medical Imaging, Industrial Testing and Security Applications. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаRadiation Detection Systems: Medical Imaging, Industrial Testing and Security Applications. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерела