Увійти

Готові списки джерел за темами / Six-port reflectometer / Статті в журналах

Статті в журналах з теми "Six-port reflectometer"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: Six-port reflectometer.

Автор: Grafiati

Опубліковано: 30 травня 2022

Оновлено: 31 травня 2022

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-50 статей у журналах для дослідження на тему "Six-port reflectometer".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте статті в журналах для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Yeo, S. P., and A. L. Ang. "Six-port reflectometer." Electronics Letters 23, no. 21 (1987): 1160. http://dx.doi.org/10.1049/el:19870808.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Zhang, Y., G. Colef, Y. Li, and G. Eichmann. "Six-port optical reflectometer." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 40, no. 5 (1991): 869–71. http://dx.doi.org/10.1109/19.106316.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Brunetti, L. "Six-port reflectometer: some geometric Gamma -estimators." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 40, no. 5 (1991): 866–69. http://dx.doi.org/10.1109/19.106315.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Hunter, J. D., and P. I. Somlo. "Simple derivation of six-port reflectometer equations." Electronics Letters 21, no. 9 (1985): 370. http://dx.doi.org/10.1049/el:19850264.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Hsin-Chia Lu and Tah-Hsiung Chu. "Microwave diversity imaging using six-port reflectometer." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 47, no. 1 (1999): 84–87. http://dx.doi.org/10.1109/22.740082.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Bannister, D. J., J. P. Ide, and M. Perkins. "Improved six-port reflectometer based on symmetrical five-port junction." Electronics Letters 28, no. 4 (1992): 406. http://dx.doi.org/10.1049/el:19920255.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Yeo, S. P. "Analysis of symmetrical six-port junction when configured as a six-port reflectometer." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 41, no. 2 (April 1992): 193–97. http://dx.doi.org/10.1109/19.137346.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Ghosh, Debapratim, and Girish Kumar. "Six-Port Reflectometer Using Edge-Coupled Microstrip Couplers." IEEE Microwave and Wireless Components Letters 27, no. 3 (March 2017): 245–47. http://dx.doi.org/10.1109/lmwc.2017.2661708.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Ji Jun Yao and Swee Ping Yeo. "Six-Port Reflectometer Based on Modified Hybrid Couplers." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 56, no. 2 (February 2008): 493–98. http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2007.914626.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Qian, Cong-Zheng. "An Improved Method for Six-Port Reflectometer Calibration." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IM-34, no. 4 (December 1985): 611–15. http://dx.doi.org/10.1109/tim.1985.4315419.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

11

Hill, L. D., and E. J. Griffin. "Automatic stepped-frequency six-port reflectometer for WG22." IEE Proceedings H Microwaves, Antennas and Propagation 132, no. 2 (1985): 77. http://dx.doi.org/10.1049/ip-h-2.1985.0016.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

12

Bannister, D. J., J. P. Ide, and M. Perkins. "Erratum: Improved six-port reflectometer based on symmetrical five-port junction." Electronics Letters 28, no. 7 (1992): 700. http://dx.doi.org/10.1049/el:19920442.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

13

Cullen, A. L., and S. P. Yeo. "Six-port reflectometer theory for symmetrical five-port junction with directional coupler." IEE Proceedings H Microwaves, Antennas and Propagation 133, no. 4 (1986): 277. http://dx.doi.org/10.1049/ip-h-2.1986.0049.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

14

Moubarek, Traii, and Ali Gharsallah. "A Six-Port Reflectometer Calibration Using Wilkinson Power Divider." American Journal of Engineering and Applied Sciences 9, no. 2 (February 1, 2016): 274–80. http://dx.doi.org/10.3844/ajeassp.2016.274.280.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

15

Demers, Y., R. G. Bosisio, and F. M. Ghannouchi. "Repetitive and single shot pulse microwave six-port reflectometer." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 39, no. 1 (1990): 195–200. http://dx.doi.org/10.1109/19.50443.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

16

Halir, R., A. Ortega-Moux, I. Molina-Fernandez, J. G. Wanguemert-Perez, P. Cheben, Dan-Xia Xu, B. Lamontagne, and S. Janz. "Integrated Optical Six-Port Reflectometer in Silicon on Insulator." Journal of Lightwave Technology 27, no. 23 (December 2009): 5405–9. http://dx.doi.org/10.1109/jlt.2009.2031613.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

17

Hjipieris, G., R. J. Collier, and E. J. Griffin. "A millimeter-wave six-port reflectometer using dielectric waveguide." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 38, no. 1 (1990): 54–61. http://dx.doi.org/10.1109/22.44156.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

18

Molina-Fernández, I., Pablo Pérez-Lara, and J. G. Wangüemert-Pérez. "Simplified calibration strategy for an optical six-port reflectometer." Optics Express 13, no. 20 (2005): 8243. http://dx.doi.org/10.1364/opex.13.008243.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

19

Riddels, G., and V. F. Fusco. "A quasilumped six-port reflectometer for cellular radio use." Microwave and Optical Technology Letters 4, no. 5 (April 1991): 191–94. http://dx.doi.org/10.1002/mop.4650040506.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

20

Xi-Ping, Hu. "Using six-port reflectometer measurement of complex dielectric constant." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IM-36, no. 2 (June 1987): 537–39. http://dx.doi.org/10.1109/tim.1987.6312734.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

21

Abouchahine, S., B. Huyart, E. Bergeault, and L. Jallet. "Millimetric network analyser using a single six-port reflectometer." Electronics Letters 29, no. 3 (1993): 256. http://dx.doi.org/10.1049/el:19930176.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

22

Wiedmann, F., B. Huyart, E. Bergeault, and L. Jallet. "A new robust method for six-port reflectometer calibration." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 48, no. 5 (1999): 927–31. http://dx.doi.org/10.1109/19.799649.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

23

Ke, Gong, Feng Zhenghe, She Jingzhao, Wang Jiazhang, and Wang Jing. "Estimation of the uncertainty of mmw six-port reflectometer." International Journal of Infrared and Millimeter Waves 12, no. 7 (July 1991): 799–802. http://dx.doi.org/10.1007/bf01008908.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

24

Neumeyer, B. "A new analytical method for complete six-port reflectometer calibration." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 39, no. 2 (April 1990): 376–79. http://dx.doi.org/10.1109/19.52518.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

25

El-Deeb, N. A. "Calibration and performance of an automatic microstrip six-port reflectometer." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 40, no. 1 (1991): 51–54. http://dx.doi.org/10.1109/19.69954.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

26

Haddadi, Kamel, and Tuami Lasri. "Formulation for Complete and Accurate Calibration of Six-Port Reflectometer." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 60, no. 3 (March 2012): 574–81. http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2011.2181861.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

27

Colef, G., M. Ettenberg, and Paul R. Karmel. "Performance of an integrated six-port reflectometer operated with pulsed signals." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 39, no. 1 (February 1990): 189–94. http://dx.doi.org/10.1109/19.50442.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

28

Julrat, Sakol, Mitchai Chongcheawchamnan, Thanate Khaoraphapong, and Ian D. Robertson. "Analysis and Design of a Differential Sampled-Line Six-Port Reflectometer." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 61, no. 1 (January 2013): 244–55. http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2012.2227788.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

29

Julrat, Sakol, Mitchai Chongcheawchamnan, and Ian D. Robertson. "Differential six‐port reflectometer for determining dry rubber content of latex." IET Microwaves, Antennas & Propagation 9, no. 8 (June 2015): 847–51. http://dx.doi.org/10.1049/iet-map.2014.0247.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

30

Mohra, Ashraf S. "Six-port reflectometer based on four 0°/180° microstrip ring couplers." Microwave and Optical Technology Letters 40, no. 2 (December 3, 2003): 167–70. http://dx.doi.org/10.1002/mop.11318.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

31

Hill, L. D. "Technical memorandum. six port reflectometer for the 75–105 GHz band." IEE Proceedings H Microwaves, Antennas and Propagation 132, no. 2 (1985): 141. http://dx.doi.org/10.1049/ip-h-2.1985.0028.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

32

Julrat, Sakol, and Samir Trabelsi. "Portable Six-Port Reflectometer for Determining Moisture Content of Biomass Material." IEEE Sensors Journal 17, no. 15 (August 1, 2017): 4814–19. http://dx.doi.org/10.1109/jsen.2017.2718659.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

33

Caron, M., C. Akyel, and F. M. Ghannouchi. "A Versatile Easy to Do Six-Port Based High-Power Reflectometer." Journal of Microwave Power and Electromagnetic Energy 30, no. 4 (January 1995): 231–39. http://dx.doi.org/10.1080/08327823.1995.11688281.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

34

Sabahialshoara, Meysam, and Swee-Ping Yeo. "Using Monte Carlo simulations as design aid for six-port reflectometer configurations based on symmetrical six-port waveguide junction." Measurement 95 (January 2017): 377–82. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2016.10.039.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

35

Munoz, J., M. Rojo, and J. Margineda. "A method for measuring the permittivity without ambiguity using six-port reflectometer." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 42, no. 2 (April 1993): 222–26. http://dx.doi.org/10.1109/19.278553.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

36

Jachim, S. P., and W. D. Gutscher. "A statistical method for calibrating the six-port reflectometer using nonideal standards." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 37, no. 11 (1989): 1825–28. http://dx.doi.org/10.1109/22.41055.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

37

Hassan, Ali, and Omran Abbas. "Design of a wide band six port reflectometer using broadside coupled lines." Microwave and Optical Technology Letters 60, no. 9 (August 11, 2018): 2101–3. http://dx.doi.org/10.1002/mop.31310.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

38

Yeo, S. P., and K. H. Lee. "Improvements in design of six-port reflectometer comprising symmetrical five-port waveguide junction and directional coupler." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 39, no. 1 (1990): 184–88. http://dx.doi.org/10.1109/19.50441.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

39

Chahine, S. A., B. Huyart, E. Bergeault, and L. Jallet. "A six-port reflectometer calibration using Schottky diodes operating in AC detection mode." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 42, no. 2 (April 1993): 505–10. http://dx.doi.org/10.1109/19.278612.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

40

Wiedmann, F., B. Huyart, E. Bergeault, and L. Jallet. "New structure for a six-port reflectometer in monolithic microwave integrated-circuit technology." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 46, no. 2 (April 1997): 527–30. http://dx.doi.org/10.1109/19.571902.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

41

Ulker, S., and R. M. Weikle. "A millimeter-wave six-port reflectometer based on the sampled-transmission line architecture." IEEE Microwave and Wireless Components Letters 11, no. 8 (August 2001): 340–42. http://dx.doi.org/10.1109/7260.941783.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

42

Yakabe, T., M. Kinoshita, and H. Yabe. "Complete calibration of a six-port reflectometer with one sliding load and one short." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 42, no. 11 (1994): 2035–39. http://dx.doi.org/10.1109/22.330115.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

43

Ghannouchi, F. M., and R. G. Bosisio. "Measurement of microwave permittivity using a six-port reflectometer with an open-ended coaxial line." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 38, no. 2 (April 1989): 505–8. http://dx.doi.org/10.1109/19.192335.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

44

Berghoff, G., E. Bergeault, B. Huyart, and L. Jallet. "On-wafer calibration of a double six-port reflectometer including constants for absolute power measurements." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 46, no. 5 (1997): 1111–14. http://dx.doi.org/10.1109/19.676722.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

45

Staszek, Kamil, Slawomir Gruszczynski, and Krzysztof Wincza. "Design and accuracy analysis of a broadband six-port reflectometer utilizing coupled-line directional couplers." Microwave and Optical Technology Letters 55, no. 7 (April 26, 2013): 1485–90. http://dx.doi.org/10.1002/mop.27630.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

46

Abou Chahine, S., B. Huyart, E. Bergeault, and L. Jallet. "Design, realization, and evaluation of a millimeter-wave network analyzer using a single six-port reflectometer." Microwave and Optical Technology Letters 8, no. 2 (February 5, 1995): 84–87. http://dx.doi.org/10.1002/mop.4650080209.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

47

Ghannouchi, F. M., and R. G. Bosisio. "A wideband millimeter wave six-port reflectometer using four diode detectors calibrated without a power ratio standard." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 40, no. 6 (1991): 1043–46. http://dx.doi.org/10.1109/19.119791.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

48

Brunetti, L., C. Fornero, and G. Rietto. "Six-port reflectometer: influence of Q-points position in Gamma -plane on sidearm power detector error propagation." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 38, no. 2 (April 1989): 484–87. http://dx.doi.org/10.1109/19.192332.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

49

Yao, J. J., and S. P. Yeo. "Using the Monte Carlo approach to study effects of power measurement uncertainties on six-port reflectometer performance." Measurement Science and Technology 21, no. 2 (January 19, 2010): 025103. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/21/2/025103.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

50

Jia, Sun. "The new method of measuring the RCS of a target by means of the six-port reflectometer." Microwave and Optical Technology Letters 3, no. 11 (November 1990): 398–99. http://dx.doi.org/10.1002/mop.4650031111.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!