Дисертації з теми "Silicon carbide Effect of high temperatures on"

While the car fleet becomes increasingly larger it is important to lower the amounts of pollutants from each individual diesel or gasoline engine to almost zero levels. The pollutants from these engines predominantly originate from high NO_x emissions and particulates, in the case when diesel is utilized, and emissions at cold start from gasoline engines. One way of treating the high NO_x levels is to introduce ammonia in the diesel exhausts and let it react with the NO_x to form nitrogen gas and water, which is called SCR (Selective Catalytic Reduction). However, in order to make this system reduce NO_x efficiently enough for meeting future legislations, closed loop control is required. To realize this type of system an NO_x or ammonia sensor is needed. The cold start emissions from gasoline vehicles are primarily due to a high light-off time for the catalytic converter. Another reason is the inability to quickly heat the sensor used for controlling the air-to-fuel ratio in the exhausts, also called the lambda value, which is required to be in a particular range for the catalytic converter to work properly. This problem may be solved utilizing another, more robust sensor for this purpose.

This thesis presents the efforts made to test the SiC-based field effect transistor (SiC-FET) sensor technology both as an ammonia sensor for SCR systems and as a cold start lambda sensor. The SiC-FET sensor has been shown to be highly sensitive to ammonia both in laboratory and engine measurements. As a lambda sensor it has proven to be both sensitive and selective, and its properties have been studied in lambda stairs both in engine exhausts and in the laboratory. The influence of metal gate restructuring on the linearity of the sensor has also been investigated. The speed of response for both sensor types has been found to be fast enough for closed loop control in each application.

On the day of the public defence of the doctoral thesis, the status of article III was: in press. Report code: LiU-Tek-Lic-2003:50.

Dans le domaine aéronautique, les systèmes électriques remplacement progressivement les systèmes de contrôle mécaniques ou hydrauliques. Les bénéfices immédiats sont la réduction de la masse embarquée et des performances accrues à condition que l’électronique supporte l’absence de système de refroidissement. Si la haute température de fonctionnement n’empêche pas d’atteindre une fiabilité suffisante, il y aura réduction des coûts opérationnels. Des étapes clefs ont été franchies en introduisant des systèmes à commande électriques dans les aéronefs en lieu et place de systèmes conventionnels : freins électriques, inverseur de poussée, vérins électriques de commandes de vol… Toutes ces avancées se sont accélérées ces dernières années grâce entre autre à l’utilisation de nouveaux matériaux semiconducteurs, dit à grand gap (SiC, GaN…), opérant à haute température et palliant ainsi une faiblesse des dispositifs classiques en silicium (Si). Des composants de puissance haute température, diode Schottky ou transistor JFET SiC, sont ainsi disponibles commercialement et peuvent supporter des ambiantes de plus de 220°C. Des modules de puissances (onduleur) à base de transistor JFET SiC ont été réalisés et validés à haute température. Finalement la partie « commande » de ces modules de puissance reste à concevoir pour les environnements sévères pour permettre leur introduction dans le module de puissance. C’est dans ce contexte de faiblesse concernant l’étage de commande rapprochée qu’a été construit le projet FNRAE COTECH, et où s’inscrivent les travaux de cette thèse, Dans un premier temps, un état de l’art sur les drivers et leurs technologies nous a permis de souligner le lien complexe entre électronique et température ainsi que le potentiel de la technologie CMOS sur Silicium sur Isolant (SOI) pour des applications hautes températures. La caractérisation en température de drivers SOI disponibles dans le commerce nous a fourni des données d’entrée sur le comportement de tels dispositifs. Ces caractérisations sont essentielles pour visualiser et interpréter l’effet de la température sur les caractéristiques du dispositif. Ces mesures mettent aussi en avant les limites pratiques des technologies employées. La partie principale de cette thèse concerne la conception et la caractérisation de blocs ou IPs pour le cœur d’un driver haute température de JFET SiC. Elle est articulée autour de deux runs SOI (TFSmart1). Les blocs développés incluent entre autres des étages de sortie et leurs buffers associés et des fonctions de protection. Les drivers ainsi constitués ont été testés sur un intervalle de température allant de -50°C à plus de 250°C sans défaillance constatée. Une fonction originale de protection des JFETs contre les courts-circuits a été démontrée. Cette fonction permet de surmonter la principale limitation de ces transistors normalement passant (Normaly-ON). Finalement, un module de bras d’onduleur a été conçu pour tester ces driver in-situ
In aeronautics, electrical systems progressively replace mechanical and hydraulic control systems. If the electronics can stand the absence of cooling, the immediate advantages will be the reduction of mass, increased performances, admissible reliability and thus reduction of costs. In aircraft, some important steps have already been performed successfully when substituting standard systems by electrical control system such as electrical brakes, thrust reverser, electrical actuators for flight control… Large band gap semiconductors (SiC, GaN…) have eased the operation in high temperature over the last decade and let overcome a weakness of conventional silicon systems (Si). High temperature power components such as Schottky diodes or JFET transistors, are already commercially available for a use up to 220°C, limited by package. Moreover inverters based on SiC JFET transistors have been realized and characterized at high temperature. Finally the control part of these power systems needs to be designed for harsh environment. It is in this context of lack of integrated control part that the FNRAE COTECH project and my doctoral research have been built. Based on a state of the art about drivers, the complex link between electronic and temperature and the potentialities of CMOS Silicon-On-Insulator technology (SOI) for high temperature applications have been underlined. The characterization of commercial SOI drivers gives essential data on these systems and their behavior at high temperature. These measurements also highlight the practical limitations of SOI technologies. The main part of this manuscript concerns the design and characterization of functions or IPs for high temperature JFET SiC driver. Two SOI runs in TFSmart1 have been realized. The developed functions include the driver output stage, associated buffers and protection functions. The drivers have been tested from -50°C up to 250°C without failure under short time-range. Moreover, an original protection function has been demonstrated against the short-circuit of an inverter leg. This function allows overcoming the main limitation of the normally on JFET transistor. Finally, an inverter module has been built for in-situ test of these new drivers

L’émergence d’interrupteurs de puissance en SiC permet d’envisager des convertisseurs de puissance capables de fonctionner au sein des environnements sévères tels que la haute tension (> 10 kV ) et la haute température (> 300 °C). Aucune solution de commande spécifique à ces environnements n’existe pour le moment. Le développement de fonctions élémentaires en SiC (comparateur, oscillateur) est une étape préliminaire à la réalisation d’un premier démonstrateur. Plusieurs laboratoires ont développé des fonctions basées sur des transistors bipolaires, MOSFETs ou JFETs. Cependant les recherches ont principalement portées sur la conception de fonctions logiques et non sur l’intégration de drivers de puissance. Le laboratoire AMPERE (INSA de Lyon) et le Centre National de Microélectronique de Barcelone (Espagne) ont conçu un MESFET latéral double grille en SiC. Ce composant élémentaire sera à la base des différentes fonctions intégrées envisagées. L’objectif de ces recherches est la réalisation d’un convertisseur élévateur de tension "boost" monolithique et de sa commande en SiC. La démarche scientifique a consisté à définir dans un premier temps un modèle de simulation SPICE du MESFET SiC à partir de caractérisations électriques statique et dynamique. En se basant sur ce modèle, des circuits analogiques tels que des amplificateurs, oscillateurs, paires différentielles, trigger de Schmitt ont été conçus pour élaborer le circuit de commande (driver). La conception de ces fonctions s’avère complexe puisqu’il n’existe pas de MESFETs de type P et une polarisation négative de -15 V est nécessaire au blocage des MESFETs SiC. Une structure constituée d’un pont redresseur, d’un boost régulé avec sa commande basée sur ces différentes fonctions a été réalisée et simulée sous SPICE. L’ensemble de cette structure a été fabriqué au CNM de Barcelone sur un même substrat SiC semi-isolant. L’intégration des éléments passifs n’a pas été envisagée de façon monolithique (mais pourrait être considérée pour les inductances et capacités dans la mesure où les valeurs des composants intégrés sont compatibles avec les processus de réalisation). Le convertisseur a été dimensionné pour délivrer une de puissance de 2.2 W pour une surface de 0.27 cm2, soit 8.14 W/cm2. Les caractérisations électriques des différents composants latéraux (résistances, diodes, transistors) valident la conception, le dimensionnement et le procédé de fabrication de ces structures élémentaires, mais aussi de la majorité des fonctions analogiques. Les résultats obtenus permettent d’envisager la réalisation d’un driver monolithique de composants Grand Gap. La perspective des travaux porte désormais sur la réalisation complète du démonstrateur et sur l’étude de son comportement en environnement sévère notamment en haute température (> 300 °C). Des analyses des mécanismes de dégradation et de fiabilité des convertisseurs intégrés devront alors être envisagées
The new SiC power switches is able to consider power converters, which could operate in harsh environments as in High Voltage (> 10kV) and High Temperature (> 300 °C). Currently, they are no specific solutions for controlling these devices in harsh environments. The development of elementary functions in SiC is a preliminary step toward the realization of a first demonstrator for these fields of applications. AMPERE laboratory (France) and the National Center of Microelectronic of Barcelona (Spain) have elaborated an elementary electrical compound, which is a lateral dual gate MESFET in Silicon Carbide (SiC). The purpose of this research is to conceive a monolithic power converter and its driver in SiC. The scientific approach has consisted of defining in a first time a SPICE model of the elementary MESFET from electric characterizations (fitting). Analog functions as : comparator, ring oscillator, Schmitt’s trigger . . . have been designed thanks to this SPICE’s model. A device based on a bridge rectifier, a regulated "boost" and its driver has been established and simulated with the SPICE Simulator. The converter has been sized for supplying 2.2 W for an area of 0.27 cm2. This device has been fabricated at CNM of Barcelona on semi-insulating SiC substrate. The electrical characterizations of the lateral compounds (resistors, diodes, MESFETs) checked the design, the "sizing" and the manufacturing process of these elementary devices and analog functions. The experimental results is able to considerer a monolithic driver in Wide Band Gap. The prospects of this research is now to realize a fully integrated power converter in SiC and study its behavior in harsh environments (especially in high temperature > 300 °C). Analysis of degradation mechanisms and reliability of the power converters would be so considerer in the future

Graphene is widely considered to be a promising candidate for a new generation of electronics, but there are many outstanding fundamental issues that need to be addressed before this promise can be realized. This thesis focuses on the production and properties of graphene grown epitaxially on the carbon terminated face (C-face) of hexagonal silicon carbide leading to the construction of a novel graphene transistor structure. C-face epitaxial graphene multilayers are unique due to their rotational stacking that causes the individual layers to be electronically decoupled from each other. Well-formed C-face epitaxial graphene single layers have exceptionally high mobilities (exceeding 10,000 cm ²/Vs), which are significantly greater than those of Si-face graphene monolayers. This thesis investigates the growth and properties of C-face single layer graphene. A field effect transistor based on single layer graphene was fabricated and characterized for the first time. Aluminum oxide or boron nitride was used for the gate dielectric. Additionally, an all graphene/SiC Schottky barrier transistor on the C-face of SiC composed of 2DEG in SiC/Si₂O ₃ interface and multilayer graphene contacts was demonstrated. A multiple growth scheme was adopted to achieve this unique structure.

Dans le domaine de l'électronique de puissance, les dispositifs en carbure de silicium (SiC) sont bien adaptés pour fonctionner dans des environnements à haute température, haute puissance, haute tension et haute radiation. Le carbure de silicium (SiC) est un matériau semi-conducteur à large bande d'énergie interdite. Ce matériau possède des caractéristiques en température et une tenue aux champs électriques bien supérieure à celles de silicium. Ces caractéristiques permettent des améliorations significatives dans une grande variété d'applications et de systèmes. Parmi les interrupteurs existants, le JFET en SiC est l'interrupteur le plus avancé dans son développement technologique, et il est au stade de la pré-commercialisation. Le travail réalisé au cours de cette thèse consiste à caractériser électriquement des JFET- SiC de SiCED en fonction de la température (25°C-300°C). Des mesures ont été réalisé en statique (courant-tension), en dynamique (capacité-tension) et en commutation sur charge R-L (résistive-inductives) et dans un bras d'onduleur. Un modèle multi-physique du transistor VJFET de SiCED à un canal latéral a été présenté. Le modèle a été développé en langage MAST et validé aussi bien en mode de fonctionnement statique que dynamique en utilisant le simulateur SABER. Ce modèle inclut une représentation asymétrique du canal latéral et les capacités de jonction de la structure. La validation du modèle montre une bonne concordance entre les mesures et la simulation.

This work represents several years' research into the field of radiation hardening by design. The unique characteristics of a SiGe HBT, described in Chapter 1, make it ideally suitable for use in extreme environment applications. Chapter 2 describes the total ionizing dose effects experienced by a SiGe HBT, particularly those experienced on an Earth-orbital or lunar-surface mission. In addition, the effects of total dose are evaluated on passive devices. As opposed to the TID-hardness of SiGe transistors, a clear vulnerability to single-event effects does exist. This field is divided into three chapters. First, the very nature of single-event transients present in SiGe HBTs is explored in Chapter 3 using a heavy-ion microbeam with both bulk and SOI platforms [31]. Then, in Chapter 4, a new device-level SEU-hardening technique is presented along with circuit-design techniques necessarily for its implementation. In Chapter 5, the circuit-level radiation-hardening techniques necessarily to mitigate the effects shown in Chapter 3 are developed and tested [32]. Finally, in Chapter 6, the performance of the SiGe HBT in a cryogenic testing environment is characterized to understand how the widely-varying temperatures of outer space may affect device performance. Ultimately, the built-in performance, TID-tolerance, and now-developing SEU-hardness of the SiGe HBT make a compelling case for extreme environment electronics. The low-cost, high-yield, and maturity of Si manufacturing combine with modern bandgap engineering and modern CMOS to produce a high-quality, high-performance BiCMOS platform suitable for space-borne systems.

In this thesis, various issues regarding normally-ON silicon carbide (SiC)Junction Field-Effect Transistors (JFETs) are treated. Silicon carbide powersemiconductor devices are able to operate at higher switching frequencies,higher efficiencies, and higher temperatures compared to silicon counterparts.From a system perspective, these three advantages of silicon carbide can determinethe three possible design directions: high efficiency, high switchingfrequency, and high temperature.The structure designs of the commercially-available SiC power transistorsalong with a variety of macroscopic characteristics are presented. Apart fromthe common design and performance problems, each of these devices suffersfrom different issues and challenges which must be dealt with in order to pavethe way for mass production. Moreover, the expected characteristics of thefuture silicon carbide devices are briefly discussed. The presented investigationreveals that, from the system point-of-view, the normally-ON JFET isone of the most challenging silicon carbide devices. There are basically twoJFET designs which were proposed during the last years and they are bothconsidered.The state-of-the-art gate driver for normally-ON SiC JFETs, which wasproposed a few years ago is briefly described. Using this gate driver, theswitching performance of both Junction Field-Effect Transistor designs wasexperimentally investigated.Considering the current development state of the available normally-ONSiC JFETs, the only way to reach higher current rating is to parallel-connecteither single-chip discrete devices or to build multichip modules. Four deviceparameters as well as the stray inductances of the circuit layout might affectthe feasibility of parallel connection. The static and dynamic performance ofvarious combinations of parallel-connected normally-ON JFETs were experimentallyinvestigated using two different gate-driver configurations.A self-powered gate driver for normally-ON SiC JFETs, which is basicallya circuit solution to the “normally-ON problem” is also shown. This gatedriver is both able to turn OFF the shoot-through current during the startupprocess, while it also supplies the steady-state power to the gate-drivecircuit. From experiments, it has been shown that in a half-bridge converterconsisting of normally-ON SiC JFETs, the shoot-through current is turnedOFF within approximately 20 μs.Last but not least, the potential benefits of employing normally-ON SiCJFETs in future power electronics applications is also presented. In particular,it has been shown that using normally-ON JFETs efficiencies equal 99.8% and99.6% might be achieved for a 350 MW modular multilevel converter and a40 kVA three-phase two-level voltage source converter, respectively.Conclusions and suggestions for future work are given in the last chapterof this thesis.
I denna avhandling behandlas olika aspekter av normally–ON junction–field–effect–transistorer (JFETar) baserade på kiselkarbid (SiC). Effekthalvledarkomponenteri SiC kan arbeta vid högre switchfrekvens, högre verkningsgradoch högre temperatur än motsvarigheterna i kisel. Ur ett systemperspektivkan de tre nämnda fördelarna användas i omvandlarkonstruktionen för attuppnå antingen hög verkningsgrad, hög switchfrekvens eller hög temperaturtålighet.Såväl halvledarstrukturen som de makroskopiska egenskaperna för kommersiellttillgängliga SiC–transistorer presenteras. Bortsett från de vanligakonstruktions–och prestandaproblemen lider de olika komponenterna av ettantal tillkortakommanden som måste övervinnas för att bana väg för massproduktion.Även framtida SiC–komponenter diskuteras.Ur ett systemperspektiv är normally-ON JFETen en av de mest utmanandeSiC-komponenterna. De två varianter av denna komponent som varittillgängliga de senaste åren har båda avhandlats.State–of–the–art–drivdonet för normally-ON JFETar som presenteradesför några år sedan beskrivs i korthet. Med detta drivdon undersöks switchegenskapernaför båda JFET-typerna experimentellt.Vid beaktande av det aktuella utvecklingsstadiet av de tillgängliga normally–ON JFETarna i SiC, är det möjligt att uppnå höga märkströmmar endastom ett antal single–chip–komponenter parallellkopplas eller om multichipmodulerbyggs. Fyra komponentparametrar samt strö-induktanser för kretsenkan förutses påverka parallellkopplingen. De statiska och dynamiska egenskapernaför olika kombinationer av parallellkopplade normally-ON JFETarundersöks experimentellt med två olika gate–drivdonskonfigurationer.Ett självdrivande gate-drivdon för normally-ON JFETar presenteras också.Drivdonet är en kretslösning till “normally–ON–problemet”. Detta gatedrivdonkan både stänga av kortslutningsströmmen vid uppstart och tillhandahållaströmförsörjning vid normal drift. Med hjälp av en halvbrygga medkiselkarbidbaserade normally–ON JFETar har det visats att kortslutningsströmmenkan stängas av inom cirka 20 μs.Sist, men inte minst, presenteras de potentiella fördelarna med användningenav SiC-baserade normally-ON JFETar i framtida effektelektroniskatillämpningar. Speciellt visas att verkningsgrader av 99.8% respektive 99.5%kan uppnås i fallet av en 350 MW modular multilevel converter och i en40 kVA tvånivåväxelriktare. Sista kaplitet beskriver slutsatser och föreslagetframtida arbete.

QC 20130527

Le développement de composants de puissance à base de carbure de silicium (SiC) permet la réalisation d’interrupteurs pouvant fonctionner au-delà de 200°C. Le silicium présente plus de limitations au niveau physique du matériau qu’au niveau des technologies d’assemblages. Le SiC est un matériau semi-conducteur grand gap ce qui permet d’obtenir des courants de fuite inverse qui restent faibles à haute température ; d’où un fort intérêt pour des applications haute température. Mise à part son utilisation à des températures pouvant dépasser les 300°C, c’est un matériau qui permet aussi d’augmenter les fréquences de commutation ainsi que la densité de puissance par rapport à des composants à technologie silicium. Ceci en fait un candidat idéal pour des applications forte puissance dans le domaine de la traction, des protections de réseaux électriques ou de la transmission et de la distribution d’énergie. L’utilisation du SiC pour une application haute température pose le problème de son packaging, des choix de matériaux et de sa configuration. Cette thèse a pour but d’effectuer une étude de fiabilité et de durée de vie des briques technologiques d’assemblage et de connexions nécessaires à la réalisation d’un cœur de puissance haute température à base de JFET SiC. Une étude des différentes technologies d’assemblages de convertisseurs de puissance haute température est effectuée afin de définir différentes briques technologiques constitutives de ces systèmes. Cette première étude nous permet de procéder à une sélection de certaines technologies d’assemblages comme le frittage de pâtes d’argent pour la technologie de report de puces. Ces briques technologiques feront l’objet d’études plus approfondies allant de la réalisation de véhicules tests jusqu’à la mise au point des essais de cyclages associés aux techniques d’analyse nécessaires à l’étude de leur défaillance.Les études expérimentales concernent des essais de cyclage passif et de stockage thermique, l’apparition de délaminages en cours de cyclage thermique (scan acoustique, RX), le report par frittage de pâtes d’argent nano et microscopiques et la caractérisation électrique et thermique (Rth, I[V])
The development of power components based on silicon carbide (SiC) allows for the design of power converter operating at high temperature (above 200 or 300°C). SiC is a semiconductor material with a large band gap that not only can operate in temperatures exceeding 300°C but also offers fast switching speed, high voltage blocking capability and higher thermal conductivity compared to silicon technology components. The classical die attach technology uses high temperature solder alloys which melt at around 300°C. However, even a soldered die attach with such high melting point can only operate up to a much lower temperature. Alternative die attach solutions have recently been proposed: Transient Liquid Phase Bonding, soldering with higher melting point alloys such as ZnSn, or silver sintering.Silver sintering is a very interesting technology, as silver offers very good thermal conductivity (429W/m.K, better than copper), relatively inexpensive (compared to alternative solutions which often use gold), and has a very high melting point (961°C).The implementation of two silver-sintering processes is made: one based on micrometer-scale silver particles, and one on nano-meter-scale particles. Two substrate technologies are investigated: Al2O3 DBC and Si3N4 AMB. After the process optimization, tests vehicles are assembled using nano and micro silver particles paste and a more classical high-temperature die attach technology: AuGe soldering. Multiple analyses are performed, such as thermal resistance measurement, shear tests and micro-sections to follow the evolution of the joint during thermal cycling and high-temperature storage ageing

Etude experimentale du mouillage par la methode de la goutte posee et par une methode tensiometrique d'immersion-emersion. Analyse chimique et structurale des interfaces par spectrometrie auger, microsonde, microscopie electronique a balayage et en transmission. Influence de la temperature (973-1173k), de la composition de la phase metallique(additions de si, ti, cu et sn) et des traitements de surface de sic (recouvrement par des couches de silice ou carbure sur la cinetique de mouillage. Interpretation et generalisation des resultats par une approche thermodymique

Les travaux présentés dans cette thèse CIFRE financée par AIRBUS Defence & Space s’intègrent dans une problématique de développement de nouveaux Systèmes de Protection Thermique (TPS) pour l’entrée atmosphérique. Ils se focalisent sur l’étude du transfert radiatif dans la zone d’ablation du TPS et son couplage avec le transfert conductif au travers de la matrice fibreuse de faible densité. Pour réaliser cette étude, il a été nécessaire d’évaluer les propriétés thermiques de ces matériaux, notamment les propriétés radiatives qui, contrairement aux conductivités thermiques, demeurent mal connues. La première étape de cette étude a donc visé à caractériser les propriétés optiques et radiatives de certains matériaux fournis par AIRBUS Defence & Space et par le CREE Saint-Gobain. Pour réaliser ces caractérisations, nous avons développé une méthode originale d’identification des propriétés radiatives basée sur des mesures de l’émission propre. Les spectres d’émission à haute température, réalisés sur des échantillons en fibre de silice ou en feutre de carbone nécessaires à l’identification, sont obtenus sur un banc de spectrométrie FTIR développé lors de ces travaux. Les échantillons sont chauffés à haute température à l’aide d’un laser CO2 et un montage optique permet de choisir entre la mesure du flux émis par l’échantillon ou un corps noir servant à l’étalonnage du banc. L’identification des propriétés repose sur la modélisation des facteurs de distribution du rayonnement calculés à l’aide d’une méthode de lancé de rayons Monte Carlo utilisant la théorie de Mie pour un cylindre infini pour le calcul des propriétés radiatives. Les températures identifiées sont comparées aux températures mesurées par pyrométrie au point de Christiansen dans le cas de la silice et montrent un bon accord avec ces dernières. Enfin la dernière partie de ce document est consacrée au couplage conduction-rayonnement dans ce type de milieu. Les échantillons ayant une très forte extinction, le modèle utilisé repose sur la définition d’une conductivité équivalente de Rosseland pour traiter les transferts radiatifs volumiques et ainsi simuler les champs de température au sein des échantillons dans les conditions de chauffage utilisées lors de l’identification. Dans le cas de la silice, cependant, les températures prédites par le modèle utilisant la conductivité équivalente de Rosseland, sont nettement supérieures à celles obtenues par identification ou par pyrométrie au point de Christiansen. Le fait que la conductivité équivalente de Rosseland ne fasse pas la distinction entre une forte extinction due à la diffusion ou à l’absorption est probablement la cause de cette différence
The work presented in this thesis has been financed by AIRBUS Defence and Space. It is part of the development strategy of new Thermal Protection Systems (TPS) for atmospheric reentry purposes. The aim is to study the radiative transfer in the ablation zone of the TPS as well as the coupling of the radiative and conductive heat transfer in the low density fibrous matrix. To this end, radiative properties of the materials have to be evaluated since they are not well known. The first step of this study is therefore to characterize the optical and radiative properties of sample provided by AIRBUS Defence and Space and the CREE Stain-Gobain laboratory. Thus, an original identification method based on radiative emission measurement was developed to obtain the radiative properties. The needed emission spectra are measured on silica or carbon samples at high temperature with an experimental setup based on Fourrier Transformed InfraRed spectrometry. The samples are heated using a CO2 laser. An optical setup allows us to measure emission spectra on the sample or a black body used to calibrate the experiment. The identification process is based on the modeling of the radiative distribution factor computed by a Monte Carlo ray-tracing method. It uses Mie theory for infinite cylinder to compute the radiative properties. Temperature are also identified and, for silica, compared to the one measured by a Christiansen pyrometry technique. The last part of this study focuses on the coupled radiative/conductive heat transfer modeling in low density fibrous media. Samples being greatly absorbing, we used the Rosseland equivalent conductivity to model the radiative transfer in volume and obtain the thermal response of the samples in the conditions of the experimental setup used for the identification. For silica, predicted temperatures are superior to the identified ones or those measured with the Christiansen pyrometry technique. This is probably because the Rosseland equivalent conductivity makes no difference between extinction due to absorption and extinction due to scattering