Книги з теми "Semiconductor module"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "Semiconductor module".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
International, Semiconductor Data, ed. Power modules. Rolling Hills Estates, CA: SDI, 1990.
Знайти повний текст джерелаCorporation, Mitsubishi Electric. Mitsubishi semiconductors: Memories module : data book. Tokyo: Mitsubishi Electric Corporation, 1992.
Знайти повний текст джерелаCorporation, Mitsubishi Electric. Mitsubishi semiconductors 1994: Memories module (data book). Tokyo: Mitsubishi Electric Corporation, 1994.
Знайти повний текст джерелаInternational, Semikron, ed. Application manual power modules. Ilmenau: ISLE, 2000.
Знайти повний текст джерелаP, Colino Ronald, ed. Power electronic modules: Design and manufacture. Boca Raton: CRC Press, 2005.
Знайти повний текст джерелаBaranowski, Jerzy Hubert. Sekcyjne modele ładunkowe diod i tranzystorów bipolarnych. Warszawa: Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, 1985.
Знайти повний текст джерелаSnowden, Christopher M. Semiconductor device modelling. London, U.K: P. Peregrinus on behalf of the Institution of Electrical Engineers, 1988.
Знайти повний текст джерелаChristopher, Snowden, ed. Semiconductor device modelling. London: Springer-Verlag, 1989.
Знайти повний текст джерелаMarvin, Coughran William, ed. Semiconductors. New York: Springer-Verlag, 1994.
Знайти повний текст джерелаThe stationary semiconductor device equations. Wien: Springer-Verlag, 1986.
Знайти повний текст джерелаM, Snowden Christopher, and Miles R. E. 1943-, eds. Compound semiconductor device modelling. London: Springer-Verlag, 1993.
Знайти повний текст джерелаIntroduction to semiconductor device modelling. Singapore: World Scientific, 1986.
Знайти повний текст джерелаE, Carroll John. Distributed feedback semiconductor lasers. London, UK: The Institution of Electrical Engineers, 1998.
Знайти повний текст джерела1957-, Ringhofer C. A., and Schmeiser C. 1958-, eds. Semiconductor equations. Wien: Springer-Verlag, 1990.
Знайти повний текст джерелаVeprek, Ratko G. Computational modeling of semiconductor nanostructures for optelectronics. Konstanz: Hartung-Gorre, 2009.
Знайти повний текст джерелаKircher, R. Three-dimensional simulation of semiconductor devices. Basel: Birkhäuser Verlag, 1991.
Знайти повний текст джерелаKircher, R. Three-dimensional simulation of semiconductor devices. Basel: Birkhäuser Verlag, 1991.
Знайти повний текст джерелаKells, Kevin. General electrothermal semiconductor device simulation. Konstanz: Hartung-Gorre Verlag, 1994.
Знайти повний текст джерелаQuantum-mechanical modeling of transport parameters for MOS devices. Konstanz: Hartnung-Gorre, 2006.
Знайти повний текст джерелаTsividis, Yannis. Operation and modeling of the MOS transistor. 3rd ed. New York: Oxford University Press, 2010.
Знайти повний текст джерелаTsividis, Yannis. Operation and modeling of the MOS transistor. 3rd ed. New York: Oxford University Press, 2011.
Знайти повний текст джерела1919-, Finlayson D. M., ed. Localisation and interaction in disordered metals and doped semiconductors: Proceedings of the Thirty-First Scottish Universities' Summer School in Physics, St. Andrews, August 1986 : a NATO Advanced Study Institute. Edinburgh: The School, 1986.
Знайти повний текст джерелаTsividis, Yannis. Operation and modeling of the MOS transistor. 3rd ed. New York: Oxford University Press, 2010.
Знайти повний текст джерелаSaijets, Jan. MOSFET RF characterization using bulk and SOI CMOS technologies. [Espoo, Finland]: VTT Technical Research Centre of Finland, 2007.
Знайти повний текст джерелаMolenaar, J. Multigrid methods for semiconductor device simulation. Amsterdam, the Netherlands: Centrum voor Wiskunde en Informatica, 1993.
Знайти повний текст джерелаM, Meyyappan, ed. Computational modeling in semiconductor processing. Boston: Artech House, 1995.
Знайти повний текст джерелаMarchenko, Aleksey, and Mihail Nemcov. Electronics. ru: INFRA-M Academic Publishing LLC., 2023. http://dx.doi.org/10.12737/1587595.
Повний текст джерела1955-, Selberherr Siegfried, Stippel H, Strasser E, and International Conference on Simulation of Semiconductor Devices and Processes (5th : 1993 : Technical University of Vienna, Austria), eds. Simulation of semiconductor devices and processes, vol. 5. Vienna: Springer-Verlag, 1993.
Знайти повний текст джерелаMoglestue, C. Monte Carlo simulation of semiconductor devices. London: Chapman & Hall, 1993.
Знайти повний текст джерелаTomizawa, Kazutaka. Numerical simulation of submicron semiconductor devices. Boston: Artech House, 1993.
Знайти повний текст джерелаGruber, Harald. Learning and strategic product innovation: Theory and evidence for the semiconductor industry. Amsterdam: North-Holland, 1994.
Знайти повний текст джерелаB, Elliot Thomas, ed. Trends in semiconductor research. Hauppauge, N.Y: Nova Science Publishers, 2005.
Знайти повний текст джерелаB, Elliot Thomas, ed. Focus on semiconductor research. Hauppauge, N.Y: Nova Science Publishers, 2005.
Знайти повний текст джерелаTransport equations for semiconductors. Berlin: Springer, 2009.
Знайти повний текст джерелаSchneider, Lutz. Multidimensional modeling and simulation of wavelength-tunable semiconductor lasers. Konstanz: Hartung-Gorre, 2006.
Знайти повний текст джерелаWilson, C. L. MOS1: A program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs. Gaithersburg, Md: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1985.
Знайти повний текст джерелаL, Blue J., ed. MOS1: A program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs. Gaithersburg, Md: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1985.
Знайти повний текст джерелаL, Wilson C. MOS1: A program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs. Gaithersburg, MD: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1985.
Знайти повний текст джерелаHisham, Haddara, ed. Characterization methods for submicron MOSFETs. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1995.
Знайти повний текст джерелаOdermatt, Stefan. Physics and simulation of semiconductor lasers: Static and dynamic characteristics. Konstanz: Hartung-Gorre, 2006.
Знайти повний текст джерелаBalance equation approach to electron transport In semiconductors. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
Знайти повний текст джерелаBürgler, Josef F. Discretization and grid adaptation in semiconductor device modeling. Konstanz: Hartung-Gorre, 1990.
Знайти повний текст джерелаInternational Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (12th 2007 Vienna, Austria). Simulation of semiconductor processes and devices, 2007: SISPAD 2007. Wien: Springer Verlag, 2007.
Знайти повний текст джерелаJerome, Joseph W. Analysis of charge transport: A mathematical study of semiconductor devices. Berlin: Springer-Verlag, 1996.
Знайти повний текст джерелаEngström, Olof. The MOS system. Cambridge: Cambridge University Press, 2014.
Знайти повний текст джерелаInternational Workshop on the Numerical Modelling of Semiconductors (1st 1986 Los Angeles, Calif.). Fundamental research on the numerical modelling of semiconductor devices and processes: Papers from NUMOS I, the First International Workshop on the Numerical Modelling of Semiconductors, 11th-12th December 1986, Los Angeles, USA. Dún Laoghaire, Co. Dublin, Ireland: Boole, 1987.
Знайти повний текст джерелаDuen, Ho Fat, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Modeling of metal-ferroelectric-semiconductor field effect transistors. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1998.
Знайти повний текст джерелаDuen, Ho Fat, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Modeling of metal-ferroelectric-semiconductor field effect transistors. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1998.
Знайти повний текст джерелаCharge-based MOS transistor modelling: The EKV model for low-power and RF IC design. Chichester, UK: John Wiley & Sons, 2006.
Знайти повний текст джерелаInternational Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (2004 Munich, Germany). Simulation of semiconductor processes and devices 2004: SISPAD 2004. Wien: Springer, 2004.
Знайти повний текст джерела