Книги з теми "Scanning electron microscopy (MEB)"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "Scanning electron microscopy (MEB)".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Reimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1985. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-13562-4.
Повний текст джерелаReimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-38967-5.
Повний текст джерелаInternational, Scanning Microscopy. Scanning microscopy. Chicago: Scanning Microscopy International, 1987.
Знайти повний текст джерелаPennycook, Stephen J., and Peter D. Nellist, eds. Scanning Transmission Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2.
Повний текст джерелаM, Prutton, and El Gomati Mohamed M, eds. Scanning Auger electron microscopy. Hoboken, NJ: Wiley, 2006.
Знайти повний текст джерелаBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, and Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5.
Повний текст джерелаL, Olsen Sandra, ed. Scanning electron microscopy in archaeology. Oxford, England: B.A.R., 1988.
Знайти повний текст джерелаLyman, Charles E., Joseph I. Goldstein, Alton D. Romig, Patrick Echlin, David C. Joy, Dale E. Newbury, David B. Williams, et al. Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy. Boston, MA: Springer US, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-0635-1.
Повний текст джерелаKassing, R. Scanning Microscopy: Symposium Proceedings. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992.
Знайти повний текст джерелаJohari, Om. Scanning electron microscopy/1986: An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. Edited by Becker Robert P, Levenson L. L, Roomans Godfried M, and Scanning Electron Microscopy Inc. [Elk Grove Village, IL]: Scanning Electron Microscopy, 1986.
Знайти повний текст джерелаRoomans, G. M., R. P. Becker, and L. L. Levenson. Scanning electron microscopy / 1986: An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. Edited by Scanning Electron Microscopy Inc. Chicago, Ill: Scanning Electron Microscopy, 1986.
Знайти повний текст джерелаRoomans, Godfried M. Scanning electron microscopy, 1985: An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. [Elk Grove Village, Ill.]: Scanning Electron Microscopy, 1985.
Знайти повний текст джерелаJohari, Om. Scanning electron microscopy/1985: An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. Edited by Becker Robert P, Roomans Godfried M, Levenson L. L, and Scanning Electron Microscopy Inc. [Elk Grove Village, IL]: Scanning Electron Microscopy, 1985.
Знайти повний текст джерелаJ, Keyse Robert, and Royal Microscopial Society, eds. Introduction to scanning transmission electron microscopy. Singapore: Bio scientific/Springer, 1998.
Знайти повний текст джерелаCastejón, Orlando J. Scanning electron microscopy of cerebellar cortex. New York: Kluwer Academic / Plenum Publishers, 2003.
Знайти повний текст джерелаSchatten, Heide, and James B. Pawley, eds. Biological Low-Voltage Scanning Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-72972-5.
Повний текст джерелаCastejón, Orlando J. Scanning Electron Microscopy of Cerebellar Cortex. Boston, MA: Springer US, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-0159-6.
Повний текст джерелаFleck, Roland A., and Bruno M. Humbel. Biological Field Emission Scanning Electron Microscopy. Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd, 2019. http://dx.doi.org/10.1002/9781118663233.
Повний текст джерелаEhrenstein, G. W. Scanning electron microscopy of plastics failure. Munich: Hanser Publishers, 2010.
Знайти повний текст джерелаCastejón, Orlando J. Scanning electron microscopy of cerebellar cortex. New York, NY: Kluwer Academic / Plenum Publishers, 2004.
Знайти повний текст джерелаJ, Keyse Robert, and Royal Microscopical Society (Great Britain), eds. Introduction to scanning transmission electron microscopy. Oxford: BIOS Scientific Publishers, 1998.
Знайти повний текст джерела1941-, Teague E. C., Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., and American Society for Precision Engineering., eds. Scanning microscopy technologies and applications. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1988.
Знайти повний текст джерелаWilliam, Heckman John, and Klomparens Karen L, eds. Scanning and transmission electron microscopy: An introduction. New York: Oxford University Press, 1995.
Знайти повний текст джерелаFlegler, Stanley L. Scanning and transmission electron microscopy: An introduction. New York: W.H. Freeman, 1993.
Знайти повний текст джерелаJ, Bard Allen, and Mirkin Michael V. 1961-, eds. Scanning electrochemical microscopy. New York: Marcel Dekker, 2001.
Знайти повний текст джерелаEuropean Congress on Optics (1st 1988 Hamburg, Germany). Scanning imaging: Proceedings. Edited by Wilson Tony and European Physical Society. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1989.
Знайти повний текст джерелаShimizu, Kenichi. New horizons of applied scanning electron microscopy. Heidelberg: Springer-Verlag, 2010.
Знайти повний текст джерелаElectron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology. Cambridge: Cambridge University Press, 1996.
Знайти повний текст джерелаElectron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology. 2nd ed. Cambridge: Cambridge University Press, 2005.
Знайти повний текст джерелаGoldstein, Joseph I., Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, and David C. Joy. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. New York, NY: Springer New York, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9.
Повний текст джерелаAharinejad, S. H., and A. Lametschwandtner. Microvascular Corrosion Casting in Scanning Electron Microscopy. Vienna: Springer Vienna, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-9230-6.
Повний текст джерелаShimizu, Kenichi, and Tomoaki Mitani. New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1.
Повний текст джерелаGoldstein, Joseph I., Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, A. D. Romig, Charles E. Lyman, Charles Fiori, and Eric Lifshin. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Boston, MA: Springer US, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-0491-3.
Повний текст джерелаSchatten, Heide, ed. Scanning Electron Microscopy for the Life Sciences. Cambridge: Cambridge University Press, 2012. http://dx.doi.org/10.1017/cbo9781139018173.
Повний текст джерелаUl-Hamid, Anwar. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-98482-7.
Повний текст джерелаKazmiruk, Viacheslav, ed. Scanning Electron Microscopy. InTech, 2012. http://dx.doi.org/10.5772/1973.
Повний текст джерелаScanning Electron Microscopy. NY RESEARCH PRESS, 2015.
Знайти повний текст джерелаPrutton, Martin, and Mohamed M. El Gomati, eds. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley, 2005. http://dx.doi.org/10.1002/9780470866795.
Повний текст джерелаPrutton, Martin, and Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2006.
Знайти повний текст джерелаPrutton, Martin, and Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Limited, John, 2007.
Знайти повний текст джерелаBruma, Alina. Scanning Transmission Electron Microscopy. Taylor & Francis Group, 2020.
Знайти повний текст джерелаPrutton, Martin, and Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2007.
Знайти повний текст джерелаPrutton, Martin, and Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2006.
Знайти повний текст джерелаEncyclopedia of Scanning Electron Microscopy. NY RESEARCH PRESS, 2015.
Знайти повний текст джерелаWilborn, W. H. Scanning Electron Microscopy of Normal. Vch/ Order From Wiley, 1986.
Знайти повний текст джерелаGilpin, C., and B. Thiel. Low Vacuum Scanning Electron Microscopy. Taylor & Francis Group, 2002.
Знайти повний текст джерелаMarshall, D. J., L. Balk, and G. Remond. Luminescence Vol. 9: Scanning Microscopy Supplement (Scanning Microscopy Supplement,). Scanning Microscopy International, 1998.
Знайти повний текст джерелаHawkes, Peter W. Advances in Electronics and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics). Academic Press, 1990.
Знайти повний текст джерела(Editor), Benjamin Kazan, ed. Advances in Electronics and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics). Academic Press, 1993.
Знайти повний текст джерелаHawkes, Peter W. Advances in Electronics and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics). Academic Press, 1988.
Знайти повний текст джерела