Готові списки джерел за темами / Reference-free X-ray fluorescence

Добірка наукової літератури з теми "Reference-free X-ray fluorescence"

Автор: Grafiati
Опубліковано: 14 березня 2023

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Зміст

Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Reference-free X-ray fluorescence".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Статті в журналах з теми "Reference-free X-ray fluorescence"

1

Wählisch, André, Cornelia Streeck, Philipp Hönicke, and Burkhard Beckhoff. "Validation of secondary fluorescence excitation in quantitative X-ray fluorescence analysis of thin alloy films." Journal of Analytical Atomic Spectrometry 35, no. 8 (2020): 1664–70. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00171f.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

Beckhoff, B., M. Kolbe, O. Hahn, A. G. Karydas, Ch Zarkadas, D. Sokaras, and M. Mantler. "Reference-free x-ray fluorescence analysis of an ancient Chinese ceramic." X-Ray Spectrometry 37, no. 4 (July 2008): 462–65. http://dx.doi.org/10.1002/xrs.1073.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

Unterumsberger, Rainer, Philipp Hönicke, Yves Kayser, Beatrix Pollakowski-Herrmann, Saeed Gholhaki, Quanmin Guo, Richard E. Palmer, and Burkhard Beckhoff. "Interaction of nanoparticle properties and X-ray analytical techniques." Journal of Analytical Atomic Spectrometry 35, no. 5 (2020): 1022–33. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00049c.

Повний текст джерела
Анотація:
In this work, Pt–Ti core–shell nanoparticles were characterized using reference-free X-ray fluorescence analysis and used for the investigation of the modification of the X-Ray Standing Wave (XSW) field intensity with increasing NP surface coverage.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
4

Unterumsberger, Rainer, Philipp Hönicke, Julien L. Colaux, Chris Jeynes, Malte Wansleben, Matthias Müller, and Burkhard Beckhoff. "Accurate experimental determination of gallium K- and L3-shell XRF fundamental parameters." Journal of Analytical Atomic Spectrometry 33, no. 6 (2018): 1003–13. http://dx.doi.org/10.1039/c8ja00046h.

Повний текст джерела
Анотація:
The fluorescence yield of the K- and L3-shell of gallium was determined using the radiometrically calibrated (reference-free) X-ray fluorescence instrumentation at the BESSY II synchrotron radiation facility.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
5

Soltwisch, Victor, Philipp Hönicke, Yves Kayser, Janis Eilbracht, Jürgen Probst, Frank Scholze, and Burkhard Beckhoff. "Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence." Nanoscale 10, no. 13 (2018): 6177–85. http://dx.doi.org/10.1039/c8nr00328a.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
6

Cara, Eleonora, Luisa Mandrile, Alessio Sacco, Andrea M. Giovannozzi, Andrea M. Rossi, Federica Celegato, Natascia De Leo, et al. "Towards a traceable enhancement factor in surface-enhanced Raman spectroscopy." Journal of Materials Chemistry C 8, no. 46 (2020): 16513–19. http://dx.doi.org/10.1039/d0tc04364h.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
7

Kolbe, Michael, Burkhard Beckhoff, Michael Krumrey, and Gerhard Ulm. "Comparison of reference-free X-ray fluorescence analysis and X-ray reflectometry for thickness determination in the nanometer range." Applied Surface Science 252, no. 1 (September 2005): 49–52. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.112.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
8

Beckhoff, Burkhard, Rolf Fliegauf, Michael Kolbe, Matthias Müller, Jan Weser, and Gerhard Ulm. "Reference-Free Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis of Semiconductor Surfaces with Synchrotron Radiation." Analytical Chemistry 79, no. 20 (October 2007): 7873–82. http://dx.doi.org/10.1021/ac071236p.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
9

Reinhardt, Falk, János Osán, Szabina Török, Andrea Edit Pap, Michael Kolbe, and Burkhard Beckhoff. "Reference-free quantification of particle-like surface contaminations by grazing incidence X-ray fluorescence analysis." J. Anal. At. Spectrom. 27, no. 2 (2012): 248–55. http://dx.doi.org/10.1039/c2ja10286b.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
10

Kolbe, M., B. Beckhoff, M. Krumrey, and G. Ulm. "F15 Thickness Determination of Copper and Nickel Nanolayers: Comparison of Completely Reference-Free X-ray Fluorescence Analysis and X-ray Reflectometry." Powder Diffraction 20, no. 2 (June 2005): 174. http://dx.doi.org/10.1154/1.1979030.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
Більше джерел
Також вас можуть зацікавити розширені добірки на тему "Reference-free X-ray fluorescence" для конкретних типів джерел:
Статті в журналах
Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!

До бібліографії