Книги з теми "Raman spectroscopic characterization"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-24 книг для дослідження на тему "Raman spectroscopic characterization".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Kumar, Challa S. S. R., ed. Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20620-7.
Повний текст джерелаservice), SpringerLink (Online, ed. Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012.
Знайти повний текст джерелаBugay, David E. Pharmaceutical excipients: Characterization by IR, Raman, and NMR spectroscopy. New York: M. Dekker, 1999.
Знайти повний текст джерелаPerkowitz, S. Optical characterization of semiconductors: Infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy. London: Academic Press, 1993.
Знайти повний текст джерелаTram, Pham Huynh. Fabrication and characterization of dilute nitride indium antimonide for long wavelength infrared applications. Hauppauge, N.Y: Nova Science Publishers, 2011.
Знайти повний текст джерелаGraupner, R., and F. Hauke. Functionalization of single-walled carbon nanotubes: Chemistry and characterization. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533046.013.16.
Повний текст джерелаEagan, Paige Elizabeth. Design, characterization, and optimization of an inexpensive raman spectroscopic system for sample identification. 2003.
Знайти повний текст джерелаFourier transform infrared and Raman spectroscopic characterization of homogeneous solution concentration gradients near a container wall at different temperatures. Huntsville, AL: Dept. of Chemistry, the University of Alabama in Huntsville, 1991.
Знайти повний текст джерелаRaman Spectroscopy For Nanomaterials Characterization. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаChalla S.S.R. Kumar. Raman Spectroscopy for Nanomaterials Characterization. Springer, 2016.
Знайти повний текст джерелаPerkowitz, Sidney. Optical Characterization of Semiconductors: Infrared, Raman, and Photoluminescence Spectroscopy. Elsevier Science & Technology Books, 2012.
Знайти повний текст джерелаAkers, Kelly Lynn. Vibrational characterization of C60 solid films using Raman spectroscopy. 1994.
Знайти повний текст джерелаQu, Tao, Yang Zhang, Vikas Tomar, Devendra K. Dubey, and Devendra Verma. Multiscale Characterization of Biological Systems: Spectroscopy and Modeling. Springer, 2016.
Знайти повний текст джерелаQu, Tao, Yang Zhang, Vikas Tomar, Devendra K. Dubey, and Devendra Verma. Multiscale Characterization of Biological Systems: Spectroscopy and Modeling. Springer London, Limited, 2016.
Знайти повний текст джерелаQu, Tao, Yang Zhang, Vikas Tomar, Devendra K. Dubey, and Devendra Verma. Multiscale Characterization of Biological Systems: Spectroscopy and Modeling. Springer, 2015.
Знайти повний текст джерелаYoshikawa, Masanobu. Advanced Optical Spectroscopy Techniques for Semiconductor Materials Characterization: Raman, Infrared, and Cathodoluminescence Spectroscopy. Springer International Publishing AG, 2022.
Знайти повний текст джерелаSuëtaka, W. Surface Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications (Methods of Surface Characterization). Plenum Press, 1995.
Знайти повний текст джерелаHayazawa, Norihiko, and Prabhat Verma. Nanoanalysis of materials using near-field Raman spectroscopy. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.013.10.
Повний текст джерелаCharacterization of Residual Stress in Microelectromechanical Systems (MEMS) Devices Using Raman Spectroscopy. Storming Media, 2002.
Знайти повний текст джерелаPathak, Chandra Shakher, and Samir Kumar. Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization. IntechOpen, 2022.
Знайти повний текст джерелаChen, Weimin. White beam synchrotron x-ray topography and micro-raman spectroscopy characterization of crystal materials. 2003.
Знайти повний текст джерелаRecent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization [Working Title]. IntechOpen, 2021. http://dx.doi.org/10.5772/intechopen.94185.
Повний текст джерелаKamarás, Katalin, and Àron Pekker. Identification and separation of metallic and semiconducting carbon nanotubes. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.013.4.
Повний текст джерелаNarlikar, A. V., and Y. Y. Fu, eds. Oxford Handbook of Nanoscience and Technology. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.001.0001.
Повний текст джерела