Книги з теми "Plasma Circuits"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-48 книг для дослідження на тему "Plasma Circuits".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Samukawa, Seiji. Feature profile evolution in plasma processing using on-wafer monitoring system. Tokyo: Springer, 2014.
Знайти повний текст джерела1955-, Bozhevolnyi Sergey I., ed. Plasmonic nanoguides and circuits. Singapore: Distributed by World Scientific Pub., 2009.
Знайти повний текст джерелаDanilin, B. S. Primenenie nizkotemperaturnoĭ plazmy dli͡a︡ nanesenii͡a︡ tonkikh plenok. Moskva: Ėnergoatomizdat, 1989.
Знайти повний текст джерелаZaĭt︠s︡ev, F. S. Matematicheskoe modelirovanie ėvoli︠u︡t︠s︡ii toroidalʹnoĭ plazmy. Moskva: MAKS Press, 2005.
Знайти повний текст джерелаTan, Cher Ming. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Singapore: Springer Singapore, 2013.
Знайти повний текст джерелаRoosmalen, A. J. van. Dry etching for VLSI. New York: Plenum Press, 1991.
Знайти повний текст джерелаR, Viswanathan. Environmentally-induced discharge transient coupling to spacecraft. [Washington, DC]: National Aeronautics and Space Administration, 1985.
Знайти повний текст джерелаR, Viswanathan. Environmentally-induced discharge transient coupling to spacecraft. [Washington, DC]: National Aeronautics and Space Administration, 1985.
Знайти повний текст джерелаS, Grabowski Kenneth, ed. Materials modification by energetic atoms and ions: Symposium held April 28-30, 1992, San Francisco, California, USA. Pittsburgh, PA: Materials Research Society, 1992.
Знайти повний текст джерелаSymposium on Dry Process (9th 1987 Honolulu, Hawaii). Proceedings of the Symposium on Dry Process. Pennington, NJ (10 S. Main St., Pennington 08534-2896): Electrochemical Society, 1988.
Знайти повний текст джерелаSymposium on Interconnect and Contact Metallization (1997 Paris, France). Proceedings of the Symposium on Interconnect and Contact Metallization. Edited by Rathore Harzara S, Electrochemical Society. Dielectric Science and Technology Division., Electrochemical Society Electronics Division, and Electrochemical Society Electrodeposition Division. Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1998.
Знайти повний текст джерелаBlaikley, David Charles William. Chemical studies of plasma etchants used in integrated circuit manufacture. Birmingham: AstonUniversity. Department of Chemical Engineering and Applied Chemistry, 1991.
Знайти повний текст джерелаS, Mathad G., Rathore Harzara S, and Arita Y, eds. Interconnect and contact metallization for ULSI: Proceedings of the international symposium. Pennington, N.J: Electrochemical Society, 2000.
Знайти повний текст джерела1955-, Bozhevolnyi Sergey I., ed. Plasmonic nanoguides and circuits. Singapore: Distributed by World Scientific Pub., 2009.
Знайти повний текст джерела1955-, Bozhevolnyi Sergey I., ed. Plasmonic nanoguides and circuits. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Знайти повний текст джерелаSamukawa, Seiji. Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using on-Wafer Monitoring System. Springer London, Limited, 2014.
Знайти повний текст джерелаEinspruch, Norman G., and Dale M. Brown. Plasma Processing for VLSI. Elsevier Science & Technology Books, 2014.
Знайти повний текст джерела(Editor), R. J. Shul, and S. J. Pearton (Editor), eds. Handbook of Advanced Plasma Processing Techniques. Springer, 2000.
Знайти повний текст джерелаApplications of plasma processes to VLSI technology. New York: Wiley, 1985.
Знайти повний текст джерелаA, Orlikovskiĭ A., ed. Problemy submikronnoĭ tekhnologii. Moskva: Nauka, 1996.
Знайти повний текст джерелаA, Orlikovskiĭ A., ed. Problemy submikronnoĭ tekhnologii. Moskva: "Nauka", 1993.
Знайти повний текст джерелаLucovsky, Gerald, Dale E. Ibbotson, and Dennis W. Hess. Characterization of Plasma-Enhanced CVD Processes: Volume 165. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.
Знайти повний текст джерелаW, York Kenneth, Bowers Glen E, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Integration issues of a plasma contactor power electronics unit. [Washington, D.C.]: National Aeronautics and Space Administration, 1995.
Знайти повний текст джерелаRoosmalen, A. J. Van. Dry Etching for Vlsi. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаS, Mathad G., Electrochemical Society. Dielectric Science and Technology Division., Electrochemical Society Electronics Division, and International Symposium on Plasma Etching Processes for Sub-Quarter Micron Devices (1999 : Honolulu, Hawaii), eds. Plasma etching processes for sub-quarter micron devices: Proceedings of the International Symposium. Pennington, New Jersey: Electrochemical Society., 2000.
Знайти повний текст джерелаG, Sabnis Anant, Raaijmakers Ivo J, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., and Semiconductor Equipment and Materials International., eds. Process, equipment, and materials control in integrated circuit manufacturing: 25-26 October 1995, Austin, Texas. Bellingham, Wash: SPIE, 1995.
Знайти повний текст джерелаArmando, Iturralde, Lin Te-Hua, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., and Semiconductor Equipment and Materials International., eds. Process, equipment, and materials control in integrated circuit manufacturing II: 16-17 October 1996, Austin, Texas. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1996.
Знайти повний текст джерелаAbe, Ghanbari, Toprac Anthony J, and Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., eds. Process, equipment, and materials control in integrated circuit manufacturing III: 1-2 October 1997, Austin, Texas. Bellingham, Washington: SPIE, 1997.
Знайти повний текст джерелаE, Chen Fusen, Murarka S. P, and Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., eds. Microelectronics technology and process integration: 20-21 October 1994, Austin, Texas. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1994.
Знайти повний текст джерела1955-, Toprac Anthony J., Dang Kim, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., and Solid State Technology (Organization), eds. Process, equipment, and materials control in integrated circuit manufacturing IV: 22-24 September, 1998, Santa Clara, California. Bellingham, Washington: SPIE, 1998.
Знайти повний текст джерелаG, Lucovsky, Ibbotson Dale E, and Hess Dennis W, eds. Characterization of plasma-enhanced CVD processes: Symposium held Novermber 27-28, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A. Pittsburgh, Pa: Materials Research Society, 1990.
Знайти повний текст джерелаBaggerman, J. A. G., S. J. H. Brader, and A. J. van Roosmalen. Dry Etching for VLSI. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерела1955-, Toprac Anthony J., Dang Kim, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., and Electrochemical Society, eds. Process, equipment, and materials control in integrated circuit manufacturing V: 22-23 September, 1999, Santa Clara, California. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1999.
Знайти повний текст джерелаTan, Cher Ming, and Feifei He. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаDry etch technology, 9-10 September 1991, San Jose, Calif. Bellingham, Wash: SPIE--The International Societyfor Optical Engineering, 1991.
Знайти повний текст джерелаDeepak, Ranadive, and Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., eds. Dry etch technology: 9-10-September 1991, San Jose, California. Bellingham, Wash: SPIE, 1992.
Знайти повний текст джерелаJames, Bondur, and Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., eds. Microelectronic processes, sensors, and controls: 27-29 September 1993, Monterey, California. Bellingham, Wash: SPIE, 1994.
Знайти повний текст джерела2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop: IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc, : Workshop Record (IEEE Conference Proceedings). Inst Elect & Electronic Engineers, 2001.
Знайти повний текст джерелаLucovsky, Gerald, Dale E. Ibbotson, and Dennis W. Hess. Characterization of Plasma-Enhanced Cvd Processes: Symposium Held November 27-28, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposium Proceedings). Materials Research Society, 1990.
Знайти повний текст джерелаN, Patel Divyesh, Graef Mart, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., Semiconductor Equipment and Materials International., Solid State Technology (Organization), and Electrochemical Society, eds. Multilevel interconnect technology: 1-2 October 1997, Austin, Texas. Bellingham, Wash: SPIE, 1997.
Знайти повний текст джерелаRossnagel, Stephen M., Kenneth S. Grabowski, Scott A. Barnett, and Kiyotaka Wasa. Materials Modification by Energetic Atoms and Ions: Volume 268. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.
Знайти повний текст джерелаGrabowski, Kenneth S., and Scott A. Barnett. Materials Modification by Energetic Atoms and Ions: Symposium Held April 28-30, 1992, San Francisco, California, USA (Materials Research Society Symposium Proceedings). Materials Research Society, 1992.
Знайти повний текст джерелаMart, Graef, Patel Divyesh N, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., and Electrochemical Society, eds. Multilevel interconnect technology III: 22-23 September 1999, Santa Clara, California. Bellingham, Wash., USA: SPIE, 1999.
Знайти повний текст джерелаGeng, Hwaiyu. Semiconductor Manufacturing Handbook (McGraw-Hill Handbooks). McGraw-Hill Professional, 2005.
Знайти повний текст джерелаGeng, Hwaiyu. Semiconductor Manufacturing Handbook (McGraw-Hill Handbooks). McGraw-Hill Professional, 2005.
Знайти повний текст джерелаMart, Graef, Patel Divyesh N, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., Solid State Technology (Organization), Electrochemical Society, and American Vacuum Society, eds. Multilevel interconnect technology II: 23-24 September, Santa Clara, California. Bellingham, Washington: SPIE, 1998.
Знайти повний текст джерелаCoaxial microwave electrothermal thruster performance in hydrogen: W. Richardson and J. Asmussen. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1994.
Знайти повний текст джерелаGarcía, Miguel A., and Gloria Beatriz Chicote. Voces de tinta. Editorial de la Universidad Nacional de La Plata (EDULP), 2008. http://dx.doi.org/10.35537/10915/90795.
Повний текст джерела