Увійти

Готові списки джерел за темами / PAR-XPS / Статті в журналах

Статті в журналах з теми "PAR-XPS"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: PAR-XPS.

Автор: Grafiati

Опубліковано: 7 вересня 2022

Оновлено: 18 вересня 2022

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-33 статей у журналах для дослідження на тему "PAR-XPS".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте статті в журналах для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Seghrouchni, Z., A. Mosser, J. J. Grob, N. Broll, and A. Cornet. "Etude par DRX et XPS des couches d'aluminium nitrurées par implantation ionique." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–501—C4–508. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996448.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Daniyal, Wan Mohd Ebtisyam Mustaqim Mohd, Yap Wing Fen, Silvan Saleviter, Narong Chanlek, Hideki Nakajima, Jaafar Abdullah, and Nor Azah Yusof. "X-ray Photoelectron Spectroscopy Analysis of Chitosan–Graphene Oxide-Based Composite Thin Films for Potential Optical Sensing Applications." Polymers 13, no. 3 (February 2, 2021): 478. http://dx.doi.org/10.3390/polym13030478.

Повний текст джерела

Анотація:

In this study, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used to study chitosan–graphene oxide (chitosan–GO) incorporated with 4-(2-pyridylazo)resorcinol (PAR) and cadmium sulfide quantum dot (CdS QD) composite thin films for the potential optical sensing of cobalt ions (Co2+). From the XPS results, it was confirmed that carbon, oxygen, and nitrogen elements existed on the PAR–chitosan–GO thin film, while for CdS QD–chitosan–GO, the existence of carbon, oxygen, cadmium, nitrogen, and sulfur were confirmed. Further deconvolution of each element using the Gaussian–Lorentzian curve fitting program revealed the sub-peak component of each element and hence the corresponding functional group was identified. Next, investigation using surface plasmon resonance (SPR) optical sensor proved that both chitosan–GO-based thin films were able to detect Co2+ as low as 0.01 ppm for both composite thin films, while the PAR had the higher binding affinity. The interaction of the Co2+ with the thin films was characterized again using XPS to confirm the functional group involved during the reaction. The XPS results proved that primary amino in the PAR–chitosan–GO thin film contributed more important role for the reaction with Co2+, as in agreement with the SPR results.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Medeiros, I. S., M. C. Reis, E. C. Rangel, and N. C. Cruz. "Análise Elementar e da Molhabilidade de Filmes Finos de Hexametildisiloxano Depositados por Plasma em Materiais Restauradores Indiretos." Journal of Health Sciences 19, no. 5 (February 23, 2018): 48. http://dx.doi.org/10.17921/2447-8938.2017v19n5p48.

Повний текст джерела

Анотація:

Uma porcelana (VM9, VITA, Zahnfabrik) e dois compósitos, (Enamic Lava Ultimate <3M ESPE, Seefeld>), foram usados. Os filmes foram obtidos a partir de: PAr PO2 (polimerização a plasma com Argônio e Oxigênio, respectivamente) e PIDP (técnica hibrida de implantação iônica e polimerização a plasma). A morfologia foi estudada por microscopia eletrônica de varredura e a análise química por espectroscopia por energia dispersiva (EDS) e por espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios-X (XPS). A molhabilidade e a rugosidade (Ra) foram determinadas através do método da gota séssil e perfilometria por contato, respectivamente. Os resultados foram analisados com ANOVA com o teste de Tukey (a<0,05). A análise morfológica demonstrou que os filmes finos revestiram os materiais uniformemente. Detectou-se a presença de estruturas granulares por toda a superfície, que variou em tamanho e quantidade para cada filme. EDS e XPS demonstraram a presença principal dos elementos químicos carbono, oxigênio e silício. Foram obtidos filmes hidrofóbicos (PAr e PO2) e hidrofílicos (PIDP) (p<0,001). Para Ra, houve diferença pontualmente na rugosidade de alguns filmes (p<0,001) e os valores mantiveram-se abaixo de 2µm. Conclui-se que a morfologia e composição química foi filme-dependente, houve produção de superfícies hidrofílica (PIDP) e hidrofóbicas (PAr e PO2) e rugosidade permaneceu inferior a 2μm.Palavras-chave: Gases em Plasma. Propriedades de Superfície. Materiais Dentários.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Saoudi, R., G. Hollinger, and A. Straboni. "Ordre local dans les oxynitrures de silicium étudié par spectroscopie de photoélectrons XPS." Journal de Physique III 4, no. 5 (May 1994): 881–97. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1994172.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Fournier, G., M. A. Perrouin Verbe, and M. Thoulouzan. "Traitement de l’HBP par laser Greenlight XPS : choix du matériel endoscopique et aspects techniques." Progrès en Urologie 23, no. 13 (November 2013): 1140. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2013.08.285.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Greco, M., C. Guimon, M. Loudet, and G. Pfister-Guillouzo. "Étude par XPS et calculs ab initio de couches minces de nitrure de bore." Journal de Chimie Physique 91 (1994): 1711–27. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/199491711.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Thoulouzan, M., R. Huet, R. Mathieu, G. Berquet, K. Bensalah, J. Calves, P. Coeurdacier, et al. "Résultats fonctionnels après traitement de l’HBP par laser Greenlight XPS : étude prospective multicentrique (575 patients)." Progrès en Urologie 25, no. 13 (November 2015): 781. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2015.08.134.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Scheuer, A., J. Hommet, and J. P. Deville. "Etude XPS de surfaces de nylon 6 traitées par un plasma d'oxygène en post-décharge." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–451—C4–459. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996441.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Le Calvar, M., and M. Lenglet. "Etude, par spectroscopies optiques de reflexion dans l'ultraviolet, visible, proche infrarouge et infrarouge, par spectroscopie XPS de l'oxydation d'un alliage Ni-20Cr." Journal of Nuclear Materials 173, no. 1 (September 1990): 71–77. http://dx.doi.org/10.1016/0022-3115(90)90313-c.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Thoulouzan, M., M. A. Perrouin-verbe, J. B. Coquet, F. Delage, G. Papin, B. Rousseau, A. Erauso, and G. Fournier. "Conséquences sexuelles du traitement de l’hyperplasie bénigne de prostate (HBP) par laser greenlight™ XPS (180w)." Progrès en Urologie 22, no. 13 (November 2012): 815–16. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2012.08.174.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

11

Rangel, Elidiane C., Eduardo S. de Souza, Francine S. de Moraes, Eliana A. R. Duek, Carolina Lucchesi, Wido H. Schreiner, Steven F. Durrant, and Nilson C. Cruz. "Cell Adhesion to Plasma-Coated PVC." Scientific World Journal 2014 (2014): 1–9. http://dx.doi.org/10.1155/2014/132308.

Повний текст джерела

Анотація:

To produce environments suitable for cell culture, thin polymer films were deposited onto commercial PVC plates from radiofrequency acetylene-argon plasmas. The proportion of argon in the plasmas, PAr, was varied from 5.3 to 65.8%. The adhesion and growth of Vero cells on the coated surfaces were examined for different incubation times. Cytotoxicity tests were performed using spectroscopic methods. Carbon, O, and N were detected in all the samples using XPS. Roughness remained almost unchanged in the samples prepared with 5.3 and 28.9% but tended to increase for the films deposited with PArbetween 28.9 and 55.3%. Surface free energy increased with increasing PAr, except for the sample prepared at 28.9% of Ar, which presented the least reactive surface. Cells proliferated on all the samples, including the bare PVC. Independently of the deposition condition there was no evidence of cytotoxicity, indicating the viability of such coatings for designing biocompatible devices.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

12

Machet, A., A. Galtayries, P. Marcus, A. Gelpi, C. Brun, and P. Combrade. "Étude par spectroscopie XPS des couches d'oxydes formées dans l'eau à haute température sur des alliages de nickel." Le Journal de Physique IV 11, PR1 (April 2001): Pr1–79—Pr1–88. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2001108.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

13

Chevalier, B., Wang Xian Zhong, B. Buffat, J. Etourneau, P. Hagenmuller, P. Lejay, L. Porte, Tran Minh Duc, M. J. Besnus, and J. P. Kappler. "Etude de nouveaux supraconducteurs ThIrxSi2−x (0≦x≦1) par chaleur specifique a basse temperature et spectroscopie XPS." Materials Research Bulletin 21, no. 2 (February 1986): 183–94. http://dx.doi.org/10.1016/0025-5408(86)90205-9.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

14

Bodin, T., L. Brunereau, F. Patat, A. Bleuzen, A. Decock-Giraudaud, and F. Bruyere. "Étude PROPIL, résultats précoces à 1 mois : évolution de l’épaisseur de la zone nécrotique par échographie de contraste après photovaporisation prostatique par laser GREENLIGHT XPS®." Progrès en Urologie 23, no. 13 (November 2013): 1085. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2013.08.154.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

15

Thoulouzan, M., M. Perrouin-Verbe, S. Serey-Eiffel, and G. Fournier. "Analyse des complications du traitement de l’HBP par laser Greenlight XPS sous contrôle endorectal : à propos de 148 cas." Progrès en Urologie 23, no. 13 (November 2013): 1049–50. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2013.08.075.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

16

Lefevre, M., R. Huet, S. Lebdai, I. Ouzaid, A. Fontenil, F. Gerbaud, V. Ravery, et al. "Résultats de la photovaporisation prostatique par laser Greenlight® XPS pour les patients sous traitement antiaggrégant ou traitement anticoagulant." Progrès en Urologie 26, no. 13 (November 2016): 781. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2016.07.227.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

17

Belkacem, Y., and G. Jouve. "Etude par XPS de l'influence sur les processus de transport ionique, des ions phosphates et fluorures incorpores aux couches minces d'oxydes formees par voie anodique sur le niobium." Journal of the Less Common Metals 132, no. 2 (May 1987): 251–64. http://dx.doi.org/10.1016/0022-5088(87)90581-9.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

18

Thoulouzan, M., M. A. Perrouin-Verbe, J. Calves, C. Deruelle, V. Joulin, A. Valeri, and G. Fournier. "Résultats de la photovaporisation prostatique par laser GreenLight XPS-180 W dans l’hyperplasie bénigne de prostate (HBP) de gros volume (≥ 80 mL)." Progrès en Urologie 27, no. 8-9 (June 2017): 489–96. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2017.04.001.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

19

Misrai, V., M. Rouprêt, B. Bordier, B. Elman, E. Bruguière, J. Guillotreau, and M. Faron. "Traitement de l’hyperplasie bénigne de prostate par photovaporisation au laser Greenlight XPS : stratification de la courbe d’apprentissage. À propos des 200 premiers patients." Progrès en Urologie 23, no. 13 (November 2013): 1086. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2013.08.156.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

20

Fournier, G., M. A. Perrouin-Verbe, G. Papin, and C. Deruelle. "Intérêt du contrôle échographique endorectal en temps réel dans le traitement de l’hypertrophie bénigne de la prostate par vaporisation Laser Greenlight® XPS (180W)." Progrès en Urologie 21, no. 6 (June 2011): 383–86. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2010.12.002.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

21

Thoulouzan, M., M. A. Perrouin-Verbe, C. Deruelle, V. Joulin, A. Valeri, A. Loiselle, and G. Fournier. "Traitement de l’hyperplasie bénigne de prostate (HBP) par laser Greenlight™ XPS (180W) avec contrôle échographique endorectal en temps réel : résultats à moyen terme." Progrès en Urologie 22, no. 13 (November 2012): 820–21. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2012.08.185.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

22

Misrai, V., M. Faron, B. Elman, B. Bordier, D. Portalez, and J. Guillotreau. "Traitement de l’hyperplasie bénigne de prostate par photovaporisation au laser Greenlight XPS© : analyse de la courbe d’apprentissage et apport de l’échographie endorectale peropératoire." Progrès en Urologie 23, no. 10 (September 2013): 869–76. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2013.03.021.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

23

Charbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert, and M. Romand. "Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

24

Lenglet, M., A. D'Huysser, J. Kasperek, J. P. Bonnelle, and J. Dūrr. "Caracterisation des etats d'oxydation du cuiver et du manganese dans quelques manganites par analyse des spectres XPS, d'emission X et des seuils d'absorption X." Materials Research Bulletin 20, no. 7 (July 1985): 745–57. http://dx.doi.org/10.1016/0025-5408(85)90053-4.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

25

Gasmi, A., Z. Khene, S. Guérin, K. Bensalah, B. Peyronnet, R. Mathieu, M. Rouprêt, E. Rijo, B. Pradere, and V. Misrai. "Analyse par score de propension comparant les résultats périopératoires et fonctionnels entre la photovaporation XPS 180 W et l’énucléation laser GreenLight de la prostate." Progrès en Urologie 31, no. 13 (November 2021): 775–76. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2021.08.049.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

26

Hueber, P., M. Bienz, D. Liberman, V. Misrai, M. Rutman, A. Te, B. Chughtai, et al. "Traitement de l’adénome par vaporisation au laser Greenlight XPS-180W : analyse multicentrique des taux de complications et des résultats fonctionnels à 2ans selon le volume prostatique." Progrès en Urologie 24, no. 13 (November 2014): 878. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2014.08.206.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

27

Bodin, T., F. Bruyere, L. Brunereau, A. Bleuzen, and F. Patat. "Étude PROPIL, résultats à 12 mois : évaluation de l’évolution de l’épaisseur nécrotique par échographie de contraste et IRM prostatiques après photovaporisation prostatique (PVP) par laser GREENLIGHT-XPS® et de la corrélation aux signes urinaires de la phase de remplissage postopératoires." Progrès en Urologie 24, no. 13 (November 2014): 880–81. http://dx.doi.org/10.1016/j.purol.2014.08.210.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

28

Jnioui, A., M. Alnot, J. J. Ehrhardt, A. Amariglio, and H. Amariglio. "Oxydation du cobalt polycristallin dans un large domaine de température (20-500 °C) et de pression (10-6 torr-760 torr). Étude par spectroscopies d'électrons (XPS et UPS) et étude cinétique." Journal de Chimie Physique 83 (1986): 323–28. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1986830323.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

29

Hafidi, K., M. Azizan, Y. Ijdiyaou, and E. L. Ameziane. "Ètude des interfaces SiO2/TiO2 et TiO2/SiO2 dans la structure SiO2/TiO2/SiO2/c-Si préparée par pulvérisation cathodique radio fréquence." Canadian Journal of Physics 85, no. 7 (July 1, 2007): 763–76. http://dx.doi.org/10.1139/p07-053.

Повний текст джерела

Анотація:

The atomic structure of the TiO2/SiO2 and SiO2/TiO2 interfaces has been investigated in SiO2/TiO2/SiO2 multilayers deposited by radio frequency reactive sputtering without breaking the vacuum on the crystalline substrate cooled by water. The characterizations of these interfaces have been performed using three complementary techniques sensitive to surface and interface state: X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), grazing incidence X-ray diffraction (GIXD), and specular X-ray reflectometry (GIXR). The concentration profiles and Si2p and O1s core level chemical displacements show that TiO2/SiO2 and SiO2/TiO2 interfaces are very diffuse. The reflectometry measurements confirm this character and indicate that the silicon, titanium, and oxygen atomic concentrations vary gradually at the interfaces. The grazing incidence X-ray spectra indicates that the interfacial layers are not well crystallized and are formed by SiO2-TiO2, TiO, Ti2O3, Ti3O5, Ti5Si3, Ti5Si4, TiSi, and TiSi2 components.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

30

Hafidi, K., M. Azizan, Y. Ijdiyaou, and E. L. Ameziane. "Déposition par Pulvé Risation Cathodique Radio Fréquence et Caracté Risation Électronique, Structurale et Optique de Couches Minces du Dioxyde de Titane." Active and Passive Electronic Components 27, no. 3 (2004): 169–81. http://dx.doi.org/10.1080/08827510310001616885.

Повний текст джерела

Анотація:

Deposited titanium oxide thin films are used as optical protector films for several materials and as energy converters for solar cells. In this work, titanium oxide thin films are deposited on c-Si and glass substrates by reactive radiofrequency sputtering. All the deposits are grown at ambient temperature and the sputtering gas is a mixture of oxygen and argon with an overall pressure of10−2mbar. The oxygen partial pressure ratios varies from 5% to 20%.Characterization of deposited films is made by grazing incidence X-ray diffraction (GIXD), grazing incidence X-ray reflection (GIXR), X-ray photoemission spectroscopy (XPS) and optical transmission spectroscopy. The characterization results reveal that deposited films of TiO2 are polycrystalline and present both rutile and anatase phases. The chemical composition of raw films in Ti:O ratio is equal to 1:2.02, and the titanium at surface is completely oxidized. In fact, the Ti2p core level behavior shows that the oxidization state of Ti is equal to+4.The specularily reflected intensity according to incidence angle of the X-ray on TiO2/glass structure shows one critical angle attributed to the TiO2 film equal to 0.283º. This angle value involves film density between rutile and anatase phases. The optical characterization shows that TiO2 thin films obtained are transparent in visible range, and have a refraction index value equal to 2.45 and when extrapolated to infrared range, it is equal to 2.23. The value of gap energy (3.35 eV) is deduced from variation of absorption coefficient versus incident radiation energy.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

31

"Analyse SEM/XPS des composites fracturés de polyimides renforcés aux fibres de graphite, cimentés par adhésion." Composites 16, no. 3 (July 1985): 184. http://dx.doi.org/10.1016/0010-4361(85)90592-0.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

32

"The use of XPS data for the determination of the spatial distribution of metals in bimetallic par-ticles deposited on the planar surface." Журнал структурной химии 59, no. 8 (2018). http://dx.doi.org/10.26902/jsc20180813.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

33

Ambrusi, Rubén Eduardo, Miguel Darío Sánchez, and Silvana Graciela García. "Efecto electrocatalítico de nanopartículas bimetálicas de Ag y Cd hacia la reducción de iones nitrato y/o nitrito." Matéria (Rio de Janeiro) 23, no. 2 (July 19, 2018). http://dx.doi.org/10.1590/s1517-707620180002.0474.

Повний текст джерела

Анотація:

RESUMEN El efecto electrocatalítico de nanopartículas bimetálicas de Cd y Ag soportadas sobre sustratos de grafito pirolítico altamente orientado (HOPG) y carbón vítreo (CV), fue evaluado para la reacción de reducción de iones nitrato y/o nitrito. Para ello, se obtuvieron inicialmente, los depósitos metálicos y bimetálicos sobre los sustratos carbonosos (SC) empleando la técnica electroquímica de simple pulso potenciostático. En el caso del par bimetálico, la cantidad de Cd fue depositada selectivamente sobre las nanopartículas de Ag previamente soportadas sobre HOPG o CV, debido a la fuerte interacción entre ambos metales, empleando diferentes tiempos de polarización. Los estudios potenciodinámicos del sistema Cd-Ag/SC, indicaron que, a tiempos de polarización relativamente grandes, es factible que los átomos de Ag y Cd formen una aleación superficial, debido a un proceso de interdifusión entre ellos, pudiendo afectar su actividad catalítica. Las partículas generadas sobre HOPG, fueron caracterizadas por AFM ex-situ y XPS, corroborando este último análisis la formación de una aleación Cd-Ag. Posteriormente, los electrodos modificados con nanopartículas metálicas y bimetálicas, y también los sustratos libres de depósitos, fueron analizados mediante voltamperometría cíclica en una solución conteniendo iones nitrato. Se detectó que los procesos de reducción de iones nitrato y/o nitrito comienzan a valores de potenciales más positivos para el caso de los depósitos bimetálicos, correspondiendo a un efecto catalítico más pronunciado debido a la presencia de Cd y Ag, los cuales pueden encontrar-se aleados en la superficie, produciendo un efecto sinérgico hacia la reducción de los aniones. Incluso, se verificó un cambio en el comportamiento catalítico para mayores tiempos de polarización empleados en la deposición del Cd sobre las nanopartículas de Ag soportadas, que puede estar relacionado con la formación de dicha fase aleada. Los productos de reacción fueron analizados por colorimetría y cromatografía de intercambio iónico determinándose cantidades de nitrato, nitrito y amonio en solución.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!