Книги з теми "Microstructure and Characterization"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: Microstructure and Characterization.

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "Microstructure and Characterization".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Brandon, D. G. Microstructural characterization of materials. 2nd ed. Chichester, England: John Wiley, 2008.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

A, Leonhardt Todd, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Fluorescence microscopy for the characterization of structural integrity. [Washington, DC]: National Aeronautics and Space Administration, 1991.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

D, Kaplan Wayne, ed. Microstructural characterization of materials. Chichester: J. Wiley, 1999.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
4

Struble, Leslie J. Epoxy impregnation of hardened cement pastes for characterization of microstructure. Gaithersburg, MD: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1986.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
5

1953-, Gerhardt Rosario A., Taylor S. R. 1953-, and Garboczi Edward J, eds. Electrically based microstructural characterization: Symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. Pittsburgh, Pa: Materials Research Society, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
6

Singh, Jag J. Microstructural characterization of polymers by positron lifetime spectroscopy. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
7

United States. National Aeronautics and Space Administration., ed. Microstructural characterization of polymers by positron lifetime spectroscopy. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
8

A, Leonhardt T., and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Microstructural characterization of reaction-formed silicon carbide ceramics. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1995.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
9

Singh, M. Microstructural characterization of reaction-formed silicon carbide ceramics. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1995.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
10

Z, Voyiadjis G., American Society of Mechanical Engineers. Materials Division., ASME Summer Structural Mechanics Conference (1992 : Tempe, Ariz.), and ASME Summer Materials Conference (1992 : Tempe, Ariz.), eds. Microstructural characterization in constitutive modeling of metals and granular media. New York, N.Y: American Society of Mechanical Engineers, 1992.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
11

N, Shenoy R., and Langley Research Center, eds. Microstructural characterization of aluminum-lithium alloys 1460 and 2195. Hampton, Va: National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
12

N, Shenoy R., and Langley Research Center, eds. Microstructural characterization of aluminum-lithium alloys 1460 and 2195. Hampton, Va: National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
13

1953-, Gerhardt Rosario A., Alim Mohammad A, and Taylor S. R. 1953-, eds. Electrically based microstructural characterization II: Symposium held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A. Warrendale, Pa: Materials Research Society, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
14

Cuevas, Antonio Contreras, Ramiro Pérez Campos, and Rodrigo A. Esparza Muñoz. Structural and chemical characterization of metals, alloys and compounds: Selected peer reviewed papers from the International Materials Research Congress (IMRC 2012), Symposium on Structural and Chemical Characterization of Metals, Alloys and Compounds, August 12-17, 2012, Cancun, Mexico. Durnten-Zurich, Switzerland: TTP, Trans Tech Publications Ltd., 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
15

Ramiro, Pérez Campos, Contreras Cuevas Antonio, Esparza Muñoz Rodrigo A, Materials Research Society, Mexican Materials Research Society, and International Materials Research Congress (20th : 2011 : Cancún, Mexico), eds. Structural and chemical characterization of metals, alloys and compounds, 2011: Symposium held August 14-19, 2011, Cancún, Mexico. Warrendale, Pa: Materials Research Society, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
16

Singh, Jag J. Microstructural characterization of semi-interpenetrating polymer networks by positron lifetime spectroscopy. [Hampton, Va: National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, 1997.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
17

Singh, Jag J. Microstructural characterization of semi-interpenetrating polymer networks by positron lifetime spectroscopy. Hampton, Va: National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
18

H, Pater Ruth, Eftekhari Abe, and Langley Research Center, eds. Microstructural characterization of semi-interpenetrating polymer networks by positron lifetime spectroscopy. Hampton, Va: National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
19

R, Wheeler Donald, Dickerson Robert M, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Tensile strength and microstructural characterization of uncoated and coated HPZ ceramic fibers. [Washington, DC]: National Aeronautics and Space Administration, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
20

A, DiCarlo James, and NASA Glenn Research Center, eds. Thermomechanical characterization of SiC fiber tows and implications for CMC. [Cleveland, Ohio]: National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, 1999.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
21

Bansal, Narottam P. Microstructural, chemical and mechanical characterization of polymer-derived Hi-Nicalon fibers with surface coatings. [Cleveland, Ohio]: National Aeronautics and Space Administration, Lewis Research Center, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
22

Bansal, Narottam P. Microstructural, chemical and mechanical characterization of polymer-derived Hi-Nicalon fibers with surface coatings. [Cleveland, Ohio]: National Aeronautics and Space Administration, Lewis Research Center, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
23

J, Verrilli Michael, Gabb Timothy Paul 1958-, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Characterization of failure processes in tungsten copper composites under fatigue loading conditions. [Washington, D.C.]: NASA, 1989.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
24

H, Titran Robert, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Characterization of the microstructure of Nb-1wt%Zr-0.1%C tubes as affected by thermomechanical processing. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1994.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
25

J, Birt M., and Langley Research Center, eds. Characterization of Al-Cu-Li alloy 2090 near net shape extrusion. Hampton, Va: National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
26

Rong, Yonghua. Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM). Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20119-6.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
27

Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM). Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
28

Yoo, Abraham. Microstructural and magnetic characterization of electrodeposited nanocrystalline nickel. Ottawa: National Library of Canada, 2003.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
29

Proceeding of the 106th Annual Meeting of the American Ceramic Society, Indianapolis, Indiana, USA (2004). Characterization and modeling control sintered ceramic microstructures and properties. Westerville, OH: American Ceramic Society, 2004.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
30

1951-, Stoller R. E., U.S. Nuclear Regulatory Commission. Office of Nuclear Regulatory Research. Division of Engineering Technology., and Oak Ridge National Laboratory, eds. Microstructural characterization of selected AEA/UCSB model FeCuMn alloys. Washington, DC: Division of Engineering Technology, Office of Nuclear Regulatory Research, U.S. Nuclear Regulatory Commission, 1996.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
31

S, Neogy, and Bhabha Atomic Research Centre, eds. Understanding hydride formation in Zr-1Nb alloy through microstructural characterization. Mumbai: Bhabha Atomic Research Centre, 2003.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
32

Singh, Jag J. Low-energy positron flux generator for microstructural characterization of thin films. Hampton, Va: Langley Research Center, 1991.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
33

Abe, Eftekhari, St Clair Terry L, and United States. National Aeronautics and Space Administration. Scientific and Technical Information Division., eds. Low-energy positron flux generator for microstructural characterization of thin films. [Washington, DC]: National Aeronautics and Space Administration, Office of Management, Scientific and Technical Information Division, 1991.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
34

Singh, Jag J. Low-energy positron flux generator for microstructural characterization of thin films. [Washington, DC]: National Aeronautics and Space Administration, Office of Management, Scientific and Technical Information Division, 1991.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
35

Center, Lewis Research, ed. Tensile properties and microstructural characterization of Hi-Nicalon SiC/RBSN composites. [Cleveland, Ohio]: National Aeronautics and Space Administration, Lewis Research Center, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
36

Symposium on Composites: Processing, Microstructure, and Properties (1990 Orlando, Fla.). Advanced composite materials: Processing, microstructures, bulk, and interfacial properties, characterization methods, and applications. Westerville, Ohio: American Ceramic Society, 1991.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
37

Halladay, Timothy R. Microstructural characterization of TI-44AL-11NB in the chill-cast and directionally solidified configurations. Monterey, Calif: Naval Postgraduate School, 1998.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
38

(Editor), David D. Brandon, and Wayne D. Kaplan (Editor), eds. Microstructural Characterization of Materials. 2nd ed. John Wiley & Sons Inc, 2008.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
39

Ūnlū, M. Selim, Javier Piqueras, Nader M. Kalkhoran, and Takashi Sekiguchi. Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
40

Kaplan, Wayne D., and David Brandon. Microstructural Characterization of Materials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2008.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
41

Kaplan, Wayne D., and David Brandon. Microstructural Characterization of Materials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
42

Microstructural Characterization of Materials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2000.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
43

Brandon, David D., and Wayne D. Kaplan. Microstructural Characterization of Materials. Wiley & Sons, Limited, John, 2008.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
44

Microstructural Characterization of Materials. 2nd ed. Wiley, 2008.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
45

Kaplan, Wayne D., and David Brandon. Microstructural Characterization of Materials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2008.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
46

Gerhardt, Rosario A., Mohammed A. Alim, and S. Ray Taylor. Electrically Based Microstructural Characterization II: Volume 500. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
47

Microstructural Characterization of Metals and Alloys. Inst of Materials Ashgate Pub, 1986.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
48

Kaplan, Wayne D., and David Brandon. Microstructural Characterization of Materials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
49

Song, Yujun. Characterization of Condensed Matter: Composition, Microstructure, and Surface Methods. Wiley & Sons, Limited, John, 2023.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
50

Choi, Gyeong Man, Rosario A. Gerhardt, Andrew P. Washabaugh, and M. A. Alim. Electrically Based Microstructural Characterization III: Volume 699. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!

До бібліографії