Книги з теми "Metrology of electromagnetism"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-18 книг для дослідження на тему "Metrology of electromagnetism".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
G, Bradford Ann, and National Institute of Standards and Technology (U.S.), eds. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Washington, DC: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Знайти повний текст джерелаInternational Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 Beijing, China). Electromagnetic metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, ISEM '89, August 19-22, 1989, Beijing, China. Beijing: International Academic Publishers, 1989.
Знайти повний текст джерелаMotohisa, Kanda, and United States. National Bureau of Standards, eds. Electromagnetic compatibility and interference metrology: M.T. Ma, M. Kanda. Gaithersburg, Md: National Bureau of Standards, 1986.
Знайти повний текст джерелаE, DeWeese Mary, and National Institute of Standards and Technology (U.S.), eds. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Знайти повний текст джерелаE, Bailey A., and International Union of Radio Science., eds. URSI register of national standards laboratories for electromagnetic metrology. Bristol: A. Hilger, 1990.
Знайти повний текст джерелаE, DeWeese Mary, and United States. National Bureau of Standards, eds. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NBS publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1988.
Знайти повний текст джерелаM, Butler Chalmers, and National Institute of Standards and Technology (U.S.), eds. EMI/EMC metrology challenges for industry: A workshop on measurements, standards, calibrations, and accreditation. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Знайти повний текст джерелаNational Institute of Standards and Technology (U.S.), ed. METROLOGY FOR ELECTROMAGNETIC TECHNOLOGY: A BIBLIOGRAPHY OF NIST PUBLICATIONS... NIST 5064 ... U.S. DEPARTMENT OF COMMERCE... 1997. [S.l: s.n., 1998.
Знайти повний текст джерелаElectromagnetic compatibility and interference metrology. Gaithersburg, Md: National Bureau of Standards, 1986.
Знайти повний текст джерелаBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Знайти повний текст джерелаBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Знайти повний текст джерелаMetrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards, 1989.
Знайти повний текст джерелаMetrology for electromagnetic technology: A bibliography of NBS publications. [Washington, D.C.]: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1987.
Знайти повний текст джерелаBuchwald, Jed Z., and Robert Fox, eds. The Oxford Handbook of the History of Physics. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.001.0001.
Повний текст джерелаHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet, and Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Знайти повний текст джерелаHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet, and Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Знайти повний текст джерелаHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet, and Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Знайти повний текст джерелаHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet, and Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Знайти повний текст джерела