Добірка наукової літератури з теми "Length metrology"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Length metrology".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Length metrology"
Lee, Dong-Yeon, Dong-Min Kim, and Dae-Gab Gweon. "Atomic Force Microscope for Standard Length Metrology." Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A 30, no. 12 (December 1, 2006): 1611–17. http://dx.doi.org/10.3795/ksme-a.2006.30.12.1611.
Повний текст джерелаStone, Jack A. "Uncalibrated Helium-Neon Lasers in Length Metrology." NCSLI Measure 4, no. 3 (September 2009): 52–58. http://dx.doi.org/10.1080/19315775.2009.11721483.
Повний текст джерелаGarcía-Asenjo, Luis, Sergio Baselga, Chris Atkins, and Pascual Garrigues. "Development of a Submillimetric GNSS-Based Distance Meter for Length Metrology." Sensors 21, no. 4 (February 6, 2021): 1145. http://dx.doi.org/10.3390/s21041145.
Повний текст джерелаBuchta, Zdeněk, Martin Šarbort, Martin Čížek, Václav Hucl, Šimon Řeřucha, Tomáš Pikálek, Štěpánka Dvořáčková, et al. "System for automatic gauge block length measurement optimized for secondary length metrology." Precision Engineering 49 (July 2017): 322–31. http://dx.doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.03.002.
Повний текст джерелаWieczorowski, Michał, Paweł Pawlus, and Bartosz Gapiński. "Perspectives of modern metrology." Mechanik 92, no. 12 (December 9, 2019): 767–73. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2019.12.106.
Повний текст джерелаTANAKA, Shinichi. "Non-Contact 3D Metrology by Multi Wave-Length Interferometer." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 85, no. 8 (August 5, 2019): 695–98. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.85.695.
Повний текст джерелаBlumröder, Ulrike, Ronald Füßl, Thomas Fröhlich, Eberhard Manske, and Rostyslav Mastylo. "FREQUENCY COMB-COUPLED METROLOGY LASERS FOR NANOPOSITIONING AND NANO MEASURING MACHINES." Measuring Equipment and Metrology 82, no. 4 (2021): 36–42. http://dx.doi.org/10.23939/istcmtm2021.04.036.
Повний текст джерелаJing, Ren, and Xin Chang. "A determinate method of metrology attribute benchmark of commercial banks’ management efficiency." PLOS ONE 17, no. 8 (August 4, 2022): e0272286. http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0272286.
Повний текст джерелаMateo, Ana Baselga, and Zeb W. Barber. "Precision and accuracy testing of FMCW ladar-based length metrology." Applied Optics 54, no. 19 (June 26, 2015): 6019. http://dx.doi.org/10.1364/ao.54.006019.
Повний текст джерелаRöske, Dirk. "Some problems concerning the lever arm length in torque metrology." Measurement 20, no. 1 (January 1997): 23–32. http://dx.doi.org/10.1016/s0263-2241(97)00006-7.
Повний текст джерелаДисертації з теми "Length metrology"
Barwood, Geoffrey P. "Frequency stabilised laser diodes and their use in length metrology." Thesis, University of Kent, 1992. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.314498.
Повний текст джерелаSANTAGATA, ROSA. "Sub-nanometer length metrology for ultra-stable ring laser gyroscopes." Doctoral thesis, Rosa Santagata, 2015. http://hdl.handle.net/11365/1004514.
Повний текст джерелаGedela, Naga Venkata Praveen babu. "MEASUREMENT AND ITS HISTORICAL CONTEXT." Kent State University / OhioLINK, 2008. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=kent1226037175.
Повний текст джерелаDonaldson, Claire Louise. "Spine characteristics in sheep : metrology, relationship to meat yield and their genetic parameters." Thesis, University of Edinburgh, 2016. http://hdl.handle.net/1842/20381.
Повний текст джерелаAPRILE, GIULIA. "Directed self-assembly of Di-Block copolymers for a new idea of length standards at the nanoscale." Doctoral thesis, Università del Piemonte Orientale, 2017. http://hdl.handle.net/11579/86901.
Повний текст джерелаHolá, Miroslava. "Pokročilé interferometrické metody pro souřadnicové odměřování." Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2018. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-364822.
Повний текст джерелаHopper, David J. "Investigation of laser frequency stabilisation using modulation transfer spectroscopy." Thesis, Queensland University of Technology, 2008. https://eprints.qut.edu.au/16667/1/David_John_Hopper_Thesis.pdf.
Повний текст джерелаHopper, David J. "Investigation of laser frequency stabilisation using modulation transfer spectroscopy." Queensland University of Technology, 2008. http://eprints.qut.edu.au/16667/.
Повний текст джерелаRoyo, Royo Santiago. "Topographic measurements of non-rotationally symmetrical concave surfaces using Ronchi deflectometry." Doctoral thesis, Universitat Politècnica de Catalunya, 1999. http://hdl.handle.net/10803/6745.
Повний текст джерелаEsta Tesis Doctoral, redactada en inglés, se ha dividido en ocho capítulos:
En su primer capítulo se introduce a lector en el entorno en el que se ha desarrollado el trabajo, y se presenta la novedad de la propuesta.
En el segundo se presenta una revisión del estado actual de las diferentes técnicas de perfilometría por medios ópticos. Se incide especialmente en las técnicas más próximas a la deflectometría Ronchi, como la microscopía confocal y las técnicas interferométricas y deflectométricas (Moiré y Hartmann).
El tercer capítulo justifica el modelo teórico, utilizado para obtener las topografías de superficies cóncavas reflectoras. Se parte tanto de la interpretación basada en la Óptica Geométrica como la basada en la Óptica Ondulatoria, llegándose a la conclusión de que el modelo geométrico es suficiente si las frecuencias de la red de muestreo utilizada son bajas (menores que 3 líneas por milímetro).
En el cuarto capítulo se detalla el montaje experimental y el procesado de los datos que permite la obtención de la topografía de la superficie.
A lo largo del quinto capítulo se discuten técnicas de mejora de las medidas obtenidas, descartándose el incremento de frecuencia en la red y las técnicas de desplazamiento de fase, y aportándose una nueva técnica basada en la superposición de medidas obtenidas mediante la composición de registros que se diferencian en un desplazamiento conocido de la red de Ronchi.
El sexto capítulo muestra la validez de la técnica propuesta mediante la medida de distintas superficies esféricas, cuyos radios se comparan con valores de referencia obtenidos utilizando un radioscopio. Esta operación se repite satisfactoriamente en tres posiciones diferentes de las muestras, demostrando que el montaje experimental está adecuadamente calibrado.
El séptimo capítulo aborda la medida de distintas superficies toroidales, cuyos valores de radios de curvatura y posición de los meridianos principales se miden adecuadamente. Estas medidas se han obtenido para tres posiciones y cuatro orientaciones diferentes en cada muestra, demostrando la robustez del método.
En el octavo capítulo se presentan las conclusiones del trabajo, que se pueden resumir en:
- Se ha desarrollado un sistema para la medida de topografías de superficies con y sin simetría de rotación, a partir de una aproximación geométrica a la deflectometría Ronchi clásica. El montaje experimental que hemos desarrollado incluye algoritmos de software de tratamiento de imágenes, cálculo matemático y control de motores, programados por nosotros mismos en lenguaje C.
- Se ha mejorado el muestreo de la deflectometría Ronchi clásica mediante la composición de diferentes datos experimentales obtenidos mediante desplazamientos sucesivos y conocidos de la red de Ronchi. Se ha justificado como inviable la aplicación de técnicas de desplazamiento de fase a deflectometría Ronchi sin asumir hipótesis adicionales.
- Tanto la topografía como los residuos de la mejor superficie ajustada se han calculado para seis muestras esféricas, en tres posiciones diferentes, y para seis muestras tóricas, en tres posiciones y cuatro orientaciones diferentes. Las medidas obtenidas han permitido apreciar de modo fiable características submicrométricas de las muestras independientemente de su posición y orientación.
En la última sección se describen la bibliografía y referencias utilizadas en el trabajo.
Книги з теми "Length metrology"
Fornaro, Arcangelo. Problemi di metrologia nell'opera di Polibio. Bari: Edipuglia, 2005.
Знайти повний текст джерелаShevcov, Vyacheslav. Auxiliary historical disciplines: historical Metrology of Russia. ru: INFRA-M Academic Publishing LLC., 2020. http://dx.doi.org/10.12737/1048877.
Повний текст джерелаMalagola, Gianfranco. La metrologia dimensionale per l'industria meccanica: Aspetti teorici e pratici nelle misure di lunghezza per la determinazione delle specifiche geometroche dei prodotti. [Torino]: Augusta-Mortarino, 2004.
Знайти повний текст джерелаSchodel, Rene. Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring Limits and Novel Techniques. Iop Publishing Ltd, 2019.
Знайти повний текст джерелаSchödel, Professor René, Dr Florian Pollinger, and Dr Arnold Nicolaus. Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques. Institute of Physics Publishing, 2018.
Знайти повний текст джерелаOlesko, Kathryn M. Physics and Metrology. Edited by Jed Z. Buchwald and Robert Fox. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.013.24.
Повний текст джерелаЧастини книг з теми "Length metrology"
Flügge, Jens, Stefanie Kroker, and Harald Schnatz. "Fundamental Length Metrology." In Handbook of Laser Technology and Applications, 3–22. 2nd ed. 2nd edition. | Boca Raton : CRC Press, 2021– |: CRC Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003130123-2.
Повний текст джерелаHebra, Alexius J. "The measurement of length." In The Physics of Metrology, 1–21. Vienna: Springer Vienna, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8_1.
Повний текст джерелаNawrocki, Waldemar. "Standards and Measurements of Length." In Introduction to Quantum Metrology, 245–56. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-19677-6_10.
Повний текст джерелаNawrocki, Waldemar. "Standards and Measurements of Length." In Introduction to Quantum Metrology, 215–36. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15669-9_10.
Повний текст джерелаJiang, Y., Y. Huang, and K. Gao. "Optical Atomic Clock and Laser Applications to Length and Time Metrology." In Handbook of Laser Technology and Applications, 157–69. 2nd ed. 2nd edition. | Boca Raton : CRC Press, 2021– |: CRC Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003130123-10.
Повний текст джерелаSoftić, Almira, Hazim Bašić, Samir Lemeš, and Nermina Zaimović-Uzunović. "Research of Traceability of Unit of Length in Metrology System of Bosnia and Herzegovina." In Lecture Notes in Mechanical Engineering, 89–97. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-18177-2_9.
Повний текст джерела"Fundamental length metrology." In Handbook of Laser Technology and Applications (Three- Volume Set), 1692–717. CRC Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1201/noe0750309608-92.
Повний текст джерела"Length Measurement." In Introduction to OPTICAL METROLOGY, 367–403. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/9781315215228-14.
Повний текст джерела"Length Measurement." In Introduction to OPTICAL METROLOGY, 225–44. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/9781315215228-6.
Повний текст джерелаSchödel, René. "Length and Size." In Handbook of Optical Metrology. CRC Press, 2009. http://dx.doi.org/10.1201/9781420019513.ch15.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Length metrology"
Potzick, James E. "New certified length scale for microfabrication metrology." In Micromachining and Microfabrication '96, edited by Michael T. Postek, Jr. and Craig R. Friedrich. SPIE, 1996. http://dx.doi.org/10.1117/12.250945.
Повний текст джерелаChapman, G. D. "Optical Metrology In Length And Mechanical Standards." In 1986 Quebec Symposium, edited by Chander P. Grover. SPIE, 1986. http://dx.doi.org/10.1117/12.938620.
Повний текст джерелаPi, Jiajing, Li-Zhuan Zhao, Jian-Guo Du, and Wei-Guo Shen. "High-precision laser interferometer for length metrology." In Measurement Technology and Intelligent Instruments, edited by Li Zhu. SPIE, 1993. http://dx.doi.org/10.1117/12.156509.
Повний текст джерелаZhao, L. P., N. Bai, X. Li, Z. P. Fang, A. A. Hein, and Z. W. Zhong. "Special lenslet array with long focal length range for Shack-Hartmann Wavefront Sensor." In Optical Metrology, edited by Wolfgang Osten, Christophe Gorecki, and Erik L. Novak. SPIE, 2007. http://dx.doi.org/10.1117/12.726043.
Повний текст джерелаGrossman, Erich. "Focus-variation microscopy for measurement of surface roughness and autocorrelation length." In SPIE Optical Metrology, edited by Peter Lehmann, Wolfgang Osten, and Armando Albertazzi Gonçalves. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2271863.
Повний текст джерелаAbolhassani, Mohammad. "Evaluation of focal length of a lens using the Lau effect." In SPIE Optical Metrology, edited by Peter Lehmann, Wolfgang Osten, and Armando Albertazzi Gonçalves. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2185088.
Повний текст джерелаMachekhin, Yu P., V. M. Smulakovsky, and A. V. Solovyov. "Primary standard of length unit-meter based on the group of He-Ne/I2 lasers." In Optoelectronic Metrology, edited by Jan Owsik and Tomasz Wiecek. SPIE, 1999. http://dx.doi.org/10.1117/12.373745.
Повний текст джерелаDeliyski, Radoslav. "Virtual Measurement System for Length Measurement Based on Visual-Inertial Odometry." In 2020 XXX International Scientific Symposium 'Metrology and Metrology Assurance (MMA). IEEE, 2020. http://dx.doi.org/10.1109/mma49863.2020.9254258.
Повний текст джерелаJin, Jonghan, Young-Jin Kim, Yunseok Kim, Sangwon Hyun, and Seung-Woo Kim. "Precision Length Metrology based on Optical Frequency Synthesizer." In 2007 Conference on Lasers and Electro-Optics - Pacific Rim. IEEE, 2007. http://dx.doi.org/10.1109/cleopr.2007.4391293.
Повний текст джерелаMinoshima, Kaoru, and Hajime Inaba. "Precision Length Metrology using Fiber-Based Frequency Combs." In Optical Sensors. Washington, D.C.: OSA, 2010. http://dx.doi.org/10.1364/sensors.2010.stub1.
Повний текст джерела