Книги з теми "INTERFACE TEMPERATURE"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-44 книг для дослідження на тему "INTERFACE TEMPERATURE".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Toner, Edwina. 3-2-1 temperature sensing interface. [S.l: The Author], 1994.
Знайти повний текст джерелаA, Patkós, United States. National Aeronautics and Space Administration., and Fermi National Accelerator Laboratory, eds. Chiral interface at the finite temperature transition point of QCD. [Batavia, Ill.]: Fermi National Accelerator Laboratory, 1990.
Знайти повний текст джерелаH, Fabik Richard, and Lewis Research Center, eds. Using silicon diodes for detecting the liquid-vapor interface in hydrogen. Cleveland, Ohio: National Aeronautics and Space Administration, Lewis Research Center, 1992.
Знайти повний текст джерелаUnited States. National Aeronautics and Space Administration., ed. Adaptive control of interface by temperature and interface profile feedback in transparent multi-zone crystal growth furnace: Final technical report for NCC3 150. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1991.
Знайти повний текст джерелаLee, Benjamin Chi-Pui. Temperature gradient-driven Marangoni convection of a spherical liquid-liquid interface under reduced gravity conditions. Ottawa: National Library of Canada, 1999.
Знайти повний текст джерелаBell, L. D. Evidence of momentum conservation at a nonepitaxial metal/semiconductor interface using ballistic electron emission microscopy. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1996.
Знайти повний текст джерелаBell, L. D. Evidence of momentum conservation at a nonepitaxial metal/semiconductor interface using ballistic electron emission microscopy. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1996.
Знайти повний текст джерелаC, Gillies Daniel, Lehoczky S. L, and United States. National Aeronautics and Space Administration., eds. Fluctuations of thermal conductivity and morphological stability. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1995.
Знайти повний текст джерелаUnited States. National Aeronautics and Space Administration., ed. Final technical report on cooperative agreeement NCC 3-109: Temperature and melt solid interface control during crystal growth. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1990.
Знайти повний текст джерела1935-, Aboudi Jacob, Arnold S. M, and NASA Glenn Research Center, eds. The effect of interface roughness and oxide film thickness on the inelastic response of thermal barrier coatings to thermal cycling. Cleveland, Ohio: National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, 1999.
Знайти повний текст джерелаUnited States. National Aeronautics and Space Administration., ed. Determination of stress intensity factor distributions for "interface" cracks in incompressible, dissimilar materials: Summary report : reporting period - 8/15/94 - 12/31/97 : grant no. NAG-1-1622-Supl. 1-5*. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1997.
Знайти повний текст джерелаC, Knox J., and George C. Marshall Space Flight Center., eds. Computer-Aided System Engineering and Analysis (CASE/A): User's manual, version 5.0. [Huntsville], Ala: National Aeronautics and Space Administration, Marshall Space Flight Center, 1996.
Знайти повний текст джерелаL, Shindé Subhash, and Rudman David Albert, eds. Interfaces in high-Tc superconducting systems. New York: Springer-Verlag, 1994.
Знайти повний текст джерелаL, Shindé Subhash, and Rudman David A, eds. Interfaces in high-T(subscript c) superconducting systems. New York: Springer-Verlag, 1994.
Знайти повний текст джерелаSymposium, F. on High Temperature Superconductor Thin Films: Growth Mechanisms-Interfaces-Multilayers (1996 Strasbourg France). High temperature superconductor thin films--growth mechanisms-interfaces-multilayers: Proceedings of Symposium F on High Temperature Superconductor Thin Films--Growth Mechanisms-Interfaces-Multilayers of the 1996 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 4-7, 1996. Amsterdam: Elsevier, 1997.
Знайти повний текст джерелаElliott, Edward George. Constructing an educational bioreactor with temperature, optical density, pH urea and glucose sensors interfaced to a BBC microcomputer. [S.l: The Author], 1993.
Знайти повний текст джерелаO, Andriyko Yuriy, Nauer Gerhard E, and SpringerLink (Online service), eds. Many-electron Electrochemical Processes: Reactions in Molten Salts, Room-Temperature Ionic Liquids and Ionic Solutions. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013.
Знайти повний текст джерелаGeorge C. Marshall Space Flight Center., ed. Transport phenomena in the micropores of plug-type phase separators. Marshall Space Flight Center, Ala: National Aeronautics and Space Administration, George C. Marshall Space Flight Center, 1995.
Знайти повний текст джерелаUnited States. National Aeronautics and Space Administration., ed. "Creep of refractory fibers and modeling of metal and ceramic matrix composite creep behavior": (NCC-3-119), project closing report. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1995.
Знайти повний текст джерелаNational Aeronautics and Space Administration (NASA) Staff. Temperature and Melt Solid Interface Control During Crystal Growth. Independently Published, 2018.
Знайти повний текст джерелаDalbey, Robert Z. Interface characterization of Cu-Cu and Cu-Ag-Cu low temperature solid state bonds. 1987.
Знайти повний текст джерелаOtruba, Kathy. SCH5147 Super I/o with Temperature Sensing, PECI Interface, Auto Fan Control and Glue Logic - Product Brief. Microchip Technology Incorporated, 2014.
Знайти повний текст джерелаInman, Ian A. Compacted Oxide Layer Formation Under Conditions of Limited Debris Retention at the Wear Interface During High Temperature Sliding Wear of Superalloys. Dissertation.com, 2006.
Знайти повний текст джерелаInman, Ian A. Compacted oxide layer formation under conditions of limited debris retention at the wear interface during high temperature sliding wear of alloys. 2003.
Знайти повний текст джерелаTotman, Ian William. The effect of conduction down the wall on the growth of a temperature interface in a stratified storage tank. 1986.
Знайти повний текст джерелаThe effect of interface roughness and oxide film thickness on the inelastic response of thermal barrier coatings to thermal cycling. Cleveland, Ohio: National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, 1999.
Знайти повний текст джерелаComparison of the Booster Interface Temperature in Stainless Steel (SS) V-Channel Versus the Aluminum (Al) y-Channel Primer Chamber Assemblies (PCAs). Volume 1; Technical Assessment Report. Independently Published, 2019.
Знайти повний текст джерелаShinde, Subhash. Interfaces in High-Tc Superconducting Systems. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаKresin, Vladimir, Sergei Ovchinnikov, and Stuart Wolf. Superconducting State. Oxford University Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198845331.001.0001.
Повний текст джерелаLee, Euisang. Temperature effects on surface energetic parameters evaluated at solid/liquid interfaces. 1989.
Знайти повний текст джерелаCruz, Edisson, Norman Beltrán, and Reynaldo Condori. Diseño e implementación de un sistema de monitoreo y adquisición de datos de parámetros eléctricos y ambientales de un sistema fotovoltaico conectado a la red de 3kW. Instituto Universitario de Innovación Ciencia y Tecnología Inudi Perú, 2022. http://dx.doi.org/10.35622/inudi.b.003.
Повний текст джерелаInterfacial Physical Chemistry of High-Temperature Melts. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаMatsushita, Taishi, and Kusuhiro Mukai. Interfacial Physical Chemistry of High-Temperature Melts. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаMatsushita, Taishi, and Kusuhiro Mukai. Interfacial Physical Chemistry of High-Temperature Melts. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаMatsushita, Taishi, and Kusuhiro Mukai. Interfacial Physical Chemistry of High-Temperature Melts. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаMatsushita, Taishi, and Kusuhiro Mukai. Interfacial Physical Chemistry of High-Temperature Melts. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаTripathy, Priyabrata. Extended-Temperature Single Port Fast Ethernet Copper PHY with RGMII/MII/RMII Interfaces. Microchip Technology Incorporated, 2020.
Знайти повний текст джерелаTripathy, Priyabrata. Extended-Temperature Single Port Gigabit EthernetCopper PHY with GMII/RGMII/MII/RMII Interfaces. Microchip Technology Incorporated, 2020.
Знайти повний текст джерелаHabermeier, H. U., and M. L. Hitchman. High Temperature Superconductor Thin Films: Growth Mechanisms - Interfaces - Multilayers (European Materials Research Society Symposia Proceedings). Elsevier Science, 1997.
Знайти повний текст джерелаAndriiko, Aleksandr A., Yuriy O. Andriyko, and Gerhard E. Nauer. Many-electron Electrochemical Processes: Reactions in Molten Salts, Room-Temperature Ionic Liquids and Ionic Solutions. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаAndriiko, Aleksandr A., Yuriy O. Andriyko, and Gerhard E. Nauer. Many-electron Electrochemical Processes: Reactions in Molten Salts, Room-Temperature Ionic Liquids and Ionic Solutions. Springer, 2015.
Знайти повний текст джерелаAndriiko, Aleksandr A., Yuriy O. Andriyko, and Gerhard E. Nauer. Many-electron Electrochemical Processes: Reactions in Molten Salts, Room-Temperature Ionic Liquids and Ionic Solutions. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаTransport phenomena in the micropores of plug-type phase separators. Marshall Space Flight Center, Ala: National Aeronautics and Space Administration, George C. Marshall Space Flight Center, 1995.
Знайти повний текст джерелаEller, Jonathan R. Fahrenheit 451. University of Illinois Press, 2017. http://dx.doi.org/10.5406/illinois/9780252036293.003.0046.
Повний текст джерела