Увійти

Готові списки джерел за темами / HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE / Книги

Книги з теми "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE.

Автор: Grafiati

Опубліковано: 11 вересня 2023

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-19 книг для дослідження на тему "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Peter, Buseck, Cowley J. M. 1923-, and Eyring LeRoy, eds. High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques. New York: Oxford University Press, 1988.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Experimental high-resolution electron microscopy. 2nd ed. New York: Oxford University Press, 1988.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Inc, ebrary, ed. High-resolution electron microscopy. New York: Oxford University Press, 2009.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Horiuchi, S. Fundamentals of high-resolution transmission electron microscopy. Amsterdam: North-Holland, 1994.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Manfred, Rühle, and Ernst F. 1938-, eds. High-resolution imaging and spectrometry of materials. Berlin: Springer, 2003.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Manfred, Rühle, and Ernst F. 1938-, eds. High-resolution imaging and spectrometry of materials. Berlin: Springer, 2003.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Structure analysis of advanced nanomaterials: Nanoworld by high-resolution electron microscopy. Berlin: De Gruyter, 2014.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Titchmarsh, J. M., C. M. Shepherd, and I. A. Vatter. The Measurement of Chemical Composition with High Spatial Resolution Using a Dedicated Scanning Transmission Electron Microscope. AEA Technology Plc, 1987.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

(Editor), Peter Buseck, John Cowley (Editor), and LeRoy Eyring (Editor), eds. High-Resolution Transmission Electron Microscopy: And Associated Techniques. Oxford University Press, USA, 1989.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Spence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2008.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

11

Spence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2013.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

12

Spence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2013.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

13

Spence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2017.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

14

Vang, R. T., S. Wendt, and F. Besenbacher. Nanocatalysis. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533060.013.12.

Повний текст джерела

Анотація:

This article discusses nanocatalysis and especially the interrelation between the structure, composition and properties of catalysts. It begins with a review of techniques that have been developed and employed for surface characterization, which can be divided intothree main areas: spectroscopy, diffraction, and microscopy. After describing the nanocharacterization tools, the article considers the theoretical underpinnings of catalysts and catalytic processes. It also examines how detailed atomic-scale insight into elementary surface processes relevant to catalysis can be obtained mainly by means of high-resolution scanning tunnelling microscope studies on single-crystal surfaces. More specifically, it explores the surface structure, adsorption, dissociation and diffusion, and surface chemical reactions of catalysts. The article also looks at the design of new catalysts from first principles and concludes with an assessment of nanocatalysts and transmission electron microscope studies of nanoclusters on high surface area supports.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

15

High-Resolution Transmission Electron Microscopy: And Associated Techniques. Oxford University Press, USA, 1992.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

16

Buseck, Peter, LeRoy Eyring, and John Cowley. High-Resolution Transmission Electron Microscopy: And Associated Techniques. Oxford University Press, 1988.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

17

(Editor), Frank Ernst, and Manfred Rühle (Editor), eds. High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials (Springer Series in Materials Science). Springer, 2003.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

18

Collins, Philip G. Defects and disorder in carbon nanotubes. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.013.2.

Повний текст джерела

Анотація:

This article examines the physical consequences of defects and disorder in carbon nanotubes (CNTs). It begins with a pedagogical categorization of the types of defects and disorder found in CNTs, including lattice vacancies and bond rotations, and goes on to discuss considers two primary sources of disorder: the environment surrounding a CNT and the substrate supporting it. It then considers various experimental methods for locating defects in CNTs, including atomic-resolution scanning tunnelling microscopy, transmission electron microscopy, electrochemical and chemoselective labelling, optical spectroscopy, and electrical conductance. The article concludes with a review of the long-range consequences of defects and disorder on the physical properties of CNTs such as chemical reactivity, electrical transport, and mechanical effects.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

19

Bi, J. F., and K. L. Teo. Nanoscale Ge1−xMnxTe ferromagnetic semiconductors. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.013.17.

Повний текст джерела

Анотація:

This article discusses the structure characterizations, magnetic and transport behaviors of the nanoscale ferromagnetic semiconductors Ge1-xMnxTe grown by molecular beam epitaxy with various manganese compositions x ranging from 0.14 to 0.98. After providing an overview of the growth procedure and characterization, the article analyzes the structures of the Ge1-xMnxTe system using X-ray diffraction and high-resolution transmission electron microscopy. It then considers the optical, magnetic and transport properties of the semiconductors and shows that the crystal quality is degraded and the proportion of amorphous phase increases with increasing Mn composition. Nanoclusters and nanoscale grains can be observed when x > 0.24, which greatly affect their magnetic and electronic properties. The magnetic anisotropy is weakened due to different orientations of the clusters embedded in the GeTe host. An anomalous Hall effect is also observed in the samples, which can be attributed to extrinsic skew scattering.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!