Дисертації з теми "Heterojunction semiconductor devices"
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Tayarani-Najaran, M. H. "Traps at the silicon/silicon-dioxide heterojunction." Thesis, University of Bradford, 1990. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.278879.
Повний текст джерелаRoberts, Victoria. "The growth and characterisation of silicon alloys for heterojunction bipolar transistor applications." Thesis, University of York, 1994. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.259846.
Повний текст джерелаQuinones, Eduardo Jose. "Heterojunction MOSFET devices using column IV alloys grown by UHVCVD /." Digital version accessible at:, 1999. http://wwwlib.umi.com/cr/utexas/main.
Повний текст джерелаLiu, Mingzhen. "Planar heterojunction perovskite solar cells via vapour deposition and solution processing." Thesis, University of Oxford, 2014. http://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:89a275a8-5ec8-442c-a114-246a44dbd570.
Повний текст джерелаKinder, Erich W. "Fabrication of All-Inorganic Optoelectronic Devices Using Matrix Encapsulation of Nanocrystal Arrays." Bowling Green State University / OhioLINK, 2012. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=bgsu1339719904.
Повний текст джерелаNakazawa, Satoshi. "Interface Charge Engineering in AlGaN/GaN Heterostructures for GaN Power Devices." Kyoto University, 2019. http://hdl.handle.net/2433/244553.
Повний текст джерелаHey, Andrew Stuart. "Series interconnects and charge extraction interfaces for hybrid solar cells." Thesis, University of Oxford, 2013. http://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:f19e44a8-e394-4859-9649-734116bc22b8.
Повний текст джерелаGanbold, Tamiraa. "Development of quantum well structures for multi band photon detection." Doctoral thesis, Università degli studi di Trieste, 2015. http://hdl.handle.net/10077/11801.
Повний текст джерелаLa ricerca qui presentata è incentrata sullo sviluppo di tecnologie innovative per la produzione di rivelatori di posizione di fasci fotonici veloci (pBPM) per applicazioni in luce di sincrotrone (SR) e laser a elettroni liberi (FEL). Nel nostro lavoro abbiamo proposto un rilevatore in-situche ha dimostrato velocità di risposta ed omogeneità sia per scopi di diagnostica che di calibrazione. I dispositivi sono basati su pozzi quantici (QW) dimateriali semiconduttori InGaAs / InAlAs,che offrono diversi vantaggi grazie alla loro gap di banda diretta e a bassa energia, e all’alta mobilità elettronica a temperatura ambiente. I QW metamorfici diIn0.75Ga0.25As/In0.75Al0.25As contenenti un gas di elettroni bidimensionali (2DEG) sono staticresciuti tramite epitassia a faci molecolari (MBE). Tali materiali presentano alcune differenze notevoli rispetto al diamante, che è il materiale utilizzato per i rivelatori commerciali allo stato dell’arte. Innanzitutto, i costi di produzione e di fabbricazione sono molto più bassi. Poi, il coefficiente di assorbimento è molto superiore al diamante su una vasta gamma di energie di raggi X, il che li rende ampiamente complementari in possibili applicazioni. Inoltre, utilizzando semiconduttori composti si possono fabbricare dispositivi con diverse combinazioni di materiali per la barriera ed il QW;ciòha permesso di ridurre la gap di energia fino a 0.6 eV. La disponibilità e la ripetibilità di fabbricazione dei dispositivi è migliore rispetto a quelle del diamante. Quattro configurazioni di dispositivi a QW pixelati sono stati testati con diverse fonti di luce, come radiazione di sincrotrone, tubo a raggi X convenzionali e laser ultra veloce nel vicinoUV. In questa tesi, dopo aver introdotto i dispositivi a QW per utilizzo comepBPM, saranno riportati e discussii risultati più importanti ottenuti. Tali risultati indicano che questi rivelatori rispondono con tempi di 100-ps a impulsi laser ultraveloci, cioè un fattore 6 più velocirispetto a rivelatori a semiconduttori commerciali allo stato dell’arte. La precisione raggiunta nella stima della posizione del fascio fotonico è di 800nm, da confrontare con i 150nm di rivelatori a diamante commerciali. Inoltre, i nostri rivelatori di fotoni a QW lavorano a tensioni molto inferiori rispetto aipBPMs esistenti.Infine, test con raggi X da radiazione di sincrotrone mostrano come questi dispositivi presentano elevate efficienze di raccolta di carica, che possono essere imputabili all'effetto di moltiplicazione di carica del gas di elettroni 2D all'interno del pozzo. Tutti questi vantaggi rispetto ai rivelatori esistenti basati sul diamante, rendono i nostri dispositivi potenzialmente molto attrattivi come alternativa a quelli commerciali.
XXVII Ciclo
1984
Lim, Sang-Hyun. "Characterization of p-type wide band gap transparent oxide for heterojunction devices." Amherst, Mass. : University of Massachusetts Amherst, 2009. http://scholarworks.umass.edu/dissertations/AAI3359903/.
Повний текст джерелаFan, Qian. "GaN heterojunction FET device Fabrication, Characterization and Modeling." VCU Scholars Compass, 2009. http://scholarscompass.vcu.edu/etd/35.
Повний текст джерелаHamid, Tasnuva. "Interplay of singlet and triplet Excitons in organic semiconductor Heterojunctions." Thesis, Queensland University of Technology, 2021. https://eprints.qut.edu.au/208018/1/Tasnuva_Hamid_Thesis.pdf.
Повний текст джерелаTan, Eugene. "Design, fabrication and characterization of N-channel InGaAsP-InP based inversion channel technology devices (ICT) for optoelectronic integrated circuits (OEIC), double heterojunction optoelectronic switches (DOES), heterojunction field-effect transistors (HFET), bipolar inversion channel field-effect transistors (BICFET) and bipolar inversion channel phototransistors (BICPT)." Thesis, National Library of Canada = Bibliothèque nationale du Canada, 1998. http://www.collectionscanada.ca/obj/s4/f2/dsk1/tape11/PQDD_0006/NQ42767.pdf.
Повний текст джерелаChinchani, Rameshwari. "Strained silicon/silicon-germanium heterostructure complimentary metal oxide semiconductor devices a simulation study of linearity /." Ohio : Ohio University, 2004. http://www.ohiolink.edu/etd/view.cgi?ohiou1176143999.
Повний текст джерелаYu, Edward Tsu-Wei McGill T. C. McGill T. C. "Physics and applications of semiconductor heterostructures : I. Measurement of band offsets in semiconductor heterojunctions. II. Theoretical and experimental studies of tunneling in semiconductor heterostructure devices /." Diss., Pasadena, Calif. : California Institute of Technology, 1991. http://resolver.caltech.edu/CaltechETD:etd-08232007-120748.
Повний текст джерелаAppaswamy, Aravind. "Operation of inverse mode SiGe HBTs and ultra-scaled CMOS devices in extreme environments." Diss., Georgia Institute of Technology, 2009. http://hdl.handle.net/1853/33970.
Повний текст джерелаJessen, Gregg Huascar. "Investigation and Characterization of AlGaN/GaN Device Structures and the Effects of Material Defects and Processing on Device Performance." Connect to this title online, 2002. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc%5Fnum=osu1038605384.
Повний текст джерелаTitle from first page of PDF file. Document formatted into pages; contains xxx,198 p.: ill. (some col.). Includes abstract and vita. Advisor: Leonard J. Brillson, Dept. of Electrical Engineering. Includes bibliographical references (p. 188-198).
Yang, Chang, Max Kneiß, Friedrich-Leonhard Schein, Michael Lorenz, and Marius Grundmann. "Room-temperature domain-epitaxy of copper iodide thin films for transparent CuI/ZnO heterojunctions with high rectification ratios larger than 109." Universitätsbibliothek Leipzig, 2016. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:15-qucosa-205875.
Повний текст джерелаStein, Félix. "SPICE Modeling of TeraHertz Heterojunction bipolar transistors." Thesis, Bordeaux, 2014. http://www.theses.fr/2014BORD0281/document.
Повний текст джерелаThe aim of BiCMOS technology is to combine two different process technologies intoa single chip, reducing the number of external components and optimizing power consumptionfor RF, analog and digital parts in one single package. Given the respectivestrengths of HBT and CMOS devices, especially high speed applications benefit fromadvanced BiCMOS processes, that integrate two different technologies.For analog mixed-signal RF and microwave circuitry, the push towards lower powerand higher speed imposes requirements and presents challenges not faced by digitalcircuit designs. Accurate compact device models, predicting device behaviour undera variety of bias as well as ambient temperatures, are crucial for the development oflarge scale circuits and create advanced designs with first-pass success.As technology advances, these models have to cover an increasing number of physicaleffects and model equations have to be continuously re-evaluated and adapted. Likewiseprocess scaling has to be verified and reflected by scaling laws, which are closelyrelated to device physics.This thesis examines the suitability of the model formulation for applicability to production-ready SiGe HBT processes. A derivation of the most recent model formulationimplemented in HICUM version L2.3x, is followed by simulation studies, whichconfirm their agreement with electrical characteristics of high-speed devices. Thefundamental geometry scaling laws, as implemented in the custom-developed modellibrary, are described in detail with a strong link to the specific device architecture.In order to correctly determine the respective model parameters, newly developed andexisting extraction routines have been exercised with recent HBT technology generationsand benchmarked by means of numerical device simulation, where applicable.Especially the extraction of extrinsic elements such as series resistances and parasiticcapacitances were improved along with the substrate network.The extraction steps and methods required to obtain a fully scalable model library wereexercised and presented using measured data from a recent industry-leading 55nmSiGe BiCMOS process, reaching switching speeds in excess of 300GHz. Finally theextracted model card was verified for the respective technology
Wilcox, Edward. "Silicon-germanium devices and circuits for cryogenic and high-radiation space environments." Thesis, Georgia Institute of Technology, 2010. http://hdl.handle.net/1853/33850.
Повний текст джерелаYong, Chaw Keong. "Ultrafast carrier dynamics in organic-inorganic semiconductor nanostructures." Thesis, University of Oxford, 2012. http://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:b2efdc6a-1531-4d3f-8af1-e3094747434c.
Повний текст джерелаXia, Zhanbo. "Materials and Device Engineering for High Performance β-Ga2O3-based Electronics". The Ohio State University, 2020. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=osu1587688595358557.
Повний текст джерелаWidmer, Johannes. "Charge transport and energy levels in organic semiconductors." Doctoral thesis, Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2014. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-154918.
Повний текст джерелаOrganische Halbleiter sind eine neue Schlüsseltechnologie für großflächige und flexible Dünnschichtelektronik. Sie werden als dünne Materialschichten (Sub-Nanometer bis Mikrometer) auf großflächige Substrate aufgebracht. Die technologisch am weitesten fortgeschrittenen Anwendungen sind organische Leuchtdioden (OLEDs) und organische Photovoltaik (OPV). Zur weiteren Steigerung von Leistungsfähigkeit und Effizienz ist die genaue Modellierung elektronischer Prozesse in den Bauteilen von grundlegender Bedeutung. Für die erfolgreiche Optimierung von Bauteilen ist eine zuverlässige Charakterisierung und Validierung der elektronischen Materialeigenschaften gleichermaßen erforderlich. Außerdem eröffnet das Verständnis der Zusammenhänge zwischen Materialstruktur und -eigenschaften einen Weg für innovative Material- und Bauteilentwicklung. Im Rahmen dieser Dissertation werden zwei Methoden für die Materialcharakterisierung entwickelt, verfeinert und angewandt: eine neuartige Methode zur Messung der Ladungsträgerbeweglichkeit μ und eine Möglichkeit zur Bestimmung der Ionisierungsenergie IE oder der Elektronenaffinität EA eines organischen Halbleiters. Für die Beweglichkeitsmessungen wird eine neue Auswertungsmethode für raumladungsbegrenzte Ströme (SCLC) in unipolaren Bauteilen entwickelt. Sie basiert auf einer Schichtdickenvariation des zu charakterisierenden Materials. In einem Ansatz zur räumlichen Abbildung des elektrischen Potentials (\"potential mapping\", POEM) wird gezeigt, dass das elektrische Potential als Funktion der Schichtdicke V(d) bei einer gegebenen Stromdichte dem räumlichen Verlauf des elektrischen Potentials V(x) im dicksten Bauteil entspricht. Daraus kann die Beweglichkeit als Funktion des elektrischen Felds F und der Ladungsträgerdichte n berechnet werden. Die Auswertung ist modellfrei, d.h. ein Modell zum Angleichen der Messdaten ist für die Berechnung von μ(F, n) nicht erforderlich. Die Messung ist außerdem unabhängig von einer möglichen Injektionsbarriere oder einer Potentialstufe an nicht-idealen Kontakten. Die gemessene Funktion μ(F, n) beschreibt die effektive durchschnittliche Beweglichkeit aller freien und in Fallenzuständen gefangenen Ladungsträger. Dieser Zugang beschreibt den Ladungstransport in energetisch ungeordneten Materialien realistisch, wo eine klare Unterscheidung zwischen freien und Fallenzuständen nicht möglich oder willkürlich ist. Die Messung von IE und EA wird mithilfe temperaturabhängiger Messungen an Solarzellen durchgeführt. In geeigneten Bauteilen mit einem Mischschicht-Heteroübergang (\"bulk heterojunction\" BHJ) ist die Leerlaufspannung Voc im gesamten Messbereich oberhalb 180K eine linear fallende Funktion der Temperatur T. Es kann bestätigt werden, dass die Extrapolation zum Temperaturnullpunkt V0 = Voc(T → 0K) mit der effektiven Energielücke Egeff , d.h. der Differenz zwischen EA des Akzeptor-Materials und IE des Donator-Materials, übereinstimmt. Die systematische schrittweise Variation einzelner Bestandteile der Solarzellen und die Überprüfung des Einflusses auf V0 bestätigen die Beziehung V0 = Egeff. Damit kann die IE oder EA eines Materials bestimmt werden, indem man es in einem BHJ mit einem Material kombiniert, dessen komplementärer Wert bekannt ist. Messungen per Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) und inverser Photoelektronenspektroskopie (IPES) werden damit bestätigt, präzisiert und ergänzt. Die beiden entwickelten Messmethoden werden auf organische Halbleiter aus kleinen Molekülen einschließlich Mischschichten angewandt. In Mischschichten aus Zink-Phthalocyanin (ZnPc) und C60 wird eine Löcherbeweglichkeit gemessen, die sowohl thermisch als auch feld- und ladungsträgerdichteaktiviert ist. Wenn das Mischverhältnis variiert wird, steigt die Löcherbeweglichkeit mit zunehmendem ZnPc-Anteil, während die effektive Energielücke unverändert bleibt. Verschiedene weitere Materialien und Materialmischungen werden hinsichtlich Löcher- und Elektronenbeweglichkeit sowie ihrer Energielücke charakterisiert, einschließlich bisher wenig untersuchter hochverdünnter Donator-Systeme. In allen Materialien wird eine deutliche Feldaktivierung der Beweglichkeit beobachtet. Die Ergebnisse ermöglichen eine verbesserte Beschreibung der detaillierten Funktionsweise organischer Solarzellen und unterstützen die künftige Entwicklung hocheffizienter und optimierter Bauteile
Ebenhoch, Bernd. "Organic solar cells : novel materials, charge transport and plasmonic studies." Thesis, University of St Andrews, 2015. http://hdl.handle.net/10023/7814.
Повний текст джерелаBodin-Deshayes, Claire. "Epitaxie par jets moléculaires d'hétérostructures CdTe-CdMnTe : application aux structures laser et structures piézoélectriques." Grenoble 1, 1993. http://www.theses.fr/1993GRE10139.
Повний текст джерелаVenter, Johan H. "Dynamic range and sensitivity improvement of infrared detectors using BiCMOS technology." Diss., University of Pretoria, 2013. http://hdl.handle.net/2263/25267.
Повний текст джерелаDissertation (MEng)--University of Pretoria, 2013.
Electrical, Electronic and Computer Engineering
unrestricted
"Multiscale Modeling of Silicon Heterojunction Solar Cells." Doctoral diss., 2019. http://hdl.handle.net/2286/R.I.54888.
Повний текст джерелаDissertation/Thesis
Doctoral Dissertation Electrical Engineering 2019
ayata, metin. "Millimeter Wave Indium Phosphide Heterojunction Bipolar Transistors: Noise Performance and Circuit Applications." 2014. https://scholarworks.umass.edu/masters_theses_2/68.
Повний текст джерелаLi, ChyiShiun. "Radiation effects in III-V compound semiconductor heterostructure devices." Thesis, 2002. http://hdl.handle.net/1957/31095.
Повний текст джерелаGraduation date: 2003
Hsiao, Ping-Sheng, and 蕭秉昇. "Development of 2D Heterojunction Semiconductor Model and Its Applications to Device Simulation." Thesis, 2015. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/33164683411433634744.
Повний текст джерела國立中央大學
電機工程學系
103
In this thesis, we develop vacuum level system, E_0 method, for numerical 2-D heterojunction device simulation. In the past, our program use intrinsic Fermi level, E_fi, to calculate carrier concentration and potential. However, the E_fi modeling has problem in heterojunction. The E_0 method has been verified by a pN heterojunction. And discuss problems of simulation happened on abrupt. Finally, we use the E_0 method to compare HBT with BJT to discuss the electrical characteristics.
Wang, Binan. "Device characterization and analog circuit design for heterojunction FETs." Thesis, 1993. http://hdl.handle.net/1957/37049.
Повний текст джерелаGraduation date: 1994
Chen, Yen-kai, and 陳彥凱. "Device Development and Characterization of Sb-based Metal-Insulator-Semiconductor Heterojunction Field-Effect Transistors." Thesis, 2012. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/50880605013303647595.
Повний текст джерела國立中央大學
電機工程學系
101
Since low-power consumption and high performance are required in the integrated circuits, Sb-based materials are considered to be high potential candidates in high speed electronic device applications, due to the InAs and InGaSb showing highest carrier mobility properties among III-V compound semiconductors. Among a number of high-k dielectric materials, Al2O3 become one of the candidates for high dielectric constant materials used for most electronics. The major reasons are that Al2O3 shows a large dielectric constant, a large bandgap, a high breakdown field, a good thermal stability, and amorphous type of crystal structure. Therefore, in this thesis, the high dielectric constant material of Al2O3 had been used as gate dielectric to develope the Sb-based metal-insulator-semiconductor heterojunction field effect transistors (MIS-HFETs) with in-depth analysis and discussion. We first analyzed physical and optical properties of the Al2O3 thin film deposited by atomic layer deposition. The physical properties analysis included film thickness, surface roughness and the optical properties by ellipsometer. The various surface treatments of InAs substrate using different chemical solutions were studied in order to investigate the properties of the InAs MOS capacitors. The electrical property characteristics included C-V, I-V and J-E measurements were characterized to obtain the optimum conditions of Al2O3 film for MIS-HFET application. Finally, we fabricated MIS-HFETs using the Al2O3 deposited by ALD as gate dielectric on the conventional InAs/AlSb and InGaSb/AlSb HFET epitaxy materials. The fabricated InAs/AlSb n-channel MIS-HFET with a gate length of 2 μm, demonstrated the maximum drain current (IDSS) of 371 mA/mm, a transconductance (Gm) of 604 mS/mm, and a subthreshold slope is 137 mV/dec, and a peak current gain cut-off frequency (fT) of 10.6 GHz. The InGaSb/AlSb p-channel MIS-HFET with 1μm gate length showed, the maximum drain current of 31 mA/mm, transconductance of 43 mS/mm, and the subthreshold slope of 153 mV/dec.
Yu, Edward Tsu-Wei. "Physics and applications of semiconductor heterostructures : I. Measurement of band offsets in semiconductor heterojunctions. II. Theoretical and experimental studies of tunneling in semiconductor heterostructure devices." Thesis, 1991. https://thesis.library.caltech.edu/3209/1/Yu_etw_1991.pdf.
Повний текст джерелаWidmer, Johannes. "Charge transport and energy levels in organic semiconductors." Doctoral thesis, 2013. https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A28350.
Повний текст джерелаOrganische Halbleiter sind eine neue Schlüsseltechnologie für großflächige und flexible Dünnschichtelektronik. Sie werden als dünne Materialschichten (Sub-Nanometer bis Mikrometer) auf großflächige Substrate aufgebracht. Die technologisch am weitesten fortgeschrittenen Anwendungen sind organische Leuchtdioden (OLEDs) und organische Photovoltaik (OPV). Zur weiteren Steigerung von Leistungsfähigkeit und Effizienz ist die genaue Modellierung elektronischer Prozesse in den Bauteilen von grundlegender Bedeutung. Für die erfolgreiche Optimierung von Bauteilen ist eine zuverlässige Charakterisierung und Validierung der elektronischen Materialeigenschaften gleichermaßen erforderlich. Außerdem eröffnet das Verständnis der Zusammenhänge zwischen Materialstruktur und -eigenschaften einen Weg für innovative Material- und Bauteilentwicklung. Im Rahmen dieser Dissertation werden zwei Methoden für die Materialcharakterisierung entwickelt, verfeinert und angewandt: eine neuartige Methode zur Messung der Ladungsträgerbeweglichkeit μ und eine Möglichkeit zur Bestimmung der Ionisierungsenergie IE oder der Elektronenaffinität EA eines organischen Halbleiters. Für die Beweglichkeitsmessungen wird eine neue Auswertungsmethode für raumladungsbegrenzte Ströme (SCLC) in unipolaren Bauteilen entwickelt. Sie basiert auf einer Schichtdickenvariation des zu charakterisierenden Materials. In einem Ansatz zur räumlichen Abbildung des elektrischen Potentials (\"potential mapping\", POEM) wird gezeigt, dass das elektrische Potential als Funktion der Schichtdicke V(d) bei einer gegebenen Stromdichte dem räumlichen Verlauf des elektrischen Potentials V(x) im dicksten Bauteil entspricht. Daraus kann die Beweglichkeit als Funktion des elektrischen Felds F und der Ladungsträgerdichte n berechnet werden. Die Auswertung ist modellfrei, d.h. ein Modell zum Angleichen der Messdaten ist für die Berechnung von μ(F, n) nicht erforderlich. Die Messung ist außerdem unabhängig von einer möglichen Injektionsbarriere oder einer Potentialstufe an nicht-idealen Kontakten. Die gemessene Funktion μ(F, n) beschreibt die effektive durchschnittliche Beweglichkeit aller freien und in Fallenzuständen gefangenen Ladungsträger. Dieser Zugang beschreibt den Ladungstransport in energetisch ungeordneten Materialien realistisch, wo eine klare Unterscheidung zwischen freien und Fallenzuständen nicht möglich oder willkürlich ist. Die Messung von IE und EA wird mithilfe temperaturabhängiger Messungen an Solarzellen durchgeführt. In geeigneten Bauteilen mit einem Mischschicht-Heteroübergang (\"bulk heterojunction\" BHJ) ist die Leerlaufspannung Voc im gesamten Messbereich oberhalb 180K eine linear fallende Funktion der Temperatur T. Es kann bestätigt werden, dass die Extrapolation zum Temperaturnullpunkt V0 = Voc(T → 0K) mit der effektiven Energielücke Egeff , d.h. der Differenz zwischen EA des Akzeptor-Materials und IE des Donator-Materials, übereinstimmt. Die systematische schrittweise Variation einzelner Bestandteile der Solarzellen und die Überprüfung des Einflusses auf V0 bestätigen die Beziehung V0 = Egeff. Damit kann die IE oder EA eines Materials bestimmt werden, indem man es in einem BHJ mit einem Material kombiniert, dessen komplementärer Wert bekannt ist. Messungen per Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) und inverser Photoelektronenspektroskopie (IPES) werden damit bestätigt, präzisiert und ergänzt. Die beiden entwickelten Messmethoden werden auf organische Halbleiter aus kleinen Molekülen einschließlich Mischschichten angewandt. In Mischschichten aus Zink-Phthalocyanin (ZnPc) und C60 wird eine Löcherbeweglichkeit gemessen, die sowohl thermisch als auch feld- und ladungsträgerdichteaktiviert ist. Wenn das Mischverhältnis variiert wird, steigt die Löcherbeweglichkeit mit zunehmendem ZnPc-Anteil, während die effektive Energielücke unverändert bleibt. Verschiedene weitere Materialien und Materialmischungen werden hinsichtlich Löcher- und Elektronenbeweglichkeit sowie ihrer Energielücke charakterisiert, einschließlich bisher wenig untersuchter hochverdünnter Donator-Systeme. In allen Materialien wird eine deutliche Feldaktivierung der Beweglichkeit beobachtet. Die Ergebnisse ermöglichen eine verbesserte Beschreibung der detaillierten Funktionsweise organischer Solarzellen und unterstützen die künftige Entwicklung hocheffizienter und optimierter Bauteile.:1. Introduction 2. Organic semiconductors and devices 2.1. Organic semiconductors 2.1.1. Conjugated π system 2.1.2. Small molecules and polymers 2.1.3. Disorder in amorphous materials 2.1.4. Polarons 2.1.5. Polaron hopping 2.1.6. Fermi-Dirac distribution and Fermi level 2.1.7. Quasi-Fermi levels 2.1.8. Trap states 2.1.9. Doping 2.1.10. Excitons 2.2. Interfaces and blend layers 2.2.1. Interface dipoles 2.2.2. Energy level bending 2.2.3. Injection from metal into semiconductor, and extraction 2.2.4. Excitons at interfaces 2.3. Charge transport and recombination in organic semiconductors 2.3.1. Drift transport 2.3.2. Charge carrier mobility 2.3.3. Thermally activated transport 2.3.4. Diffusion transport 2.3.5. Drift-diffusion transport 2.3.6. Space-charge limited current 2.3.7. Recombination 2.4. Mobility measurement 2.4.1. SCLC and TCLC 2.4.2. Time of flight 2.4.3. Organic field effect transistors 2.4.4. CELIV 2.5. Organic solar cells 2.5.1. Exciton diffusion towards the interface 2.5.2. Dissociation of CT states 2.5.3. CT recombination 2.5.4. Flat and bulk heterojunction 2.5.5. Transport layers 2.5.6. Thin film optics 2.5.7. Current-voltage characteristics and equivalent circuit 2.5.8. Solar cell efficiency 2.5.9. Limits of efficiency 2.5.10. Correct solar cell characterization 2.5.11. The \"O-Factor\" 3. Materials and experimental methods 3.1. Materials 3.2. Device fabrication and layout 3.2.1. Layer deposition 3.2.2. Encapsulation 3.2.3. Homogeneity of layer thickness on a wafer 3.2.4. Device layout 3.3. Characterization 3.3.1. Electrical characterization 3.3.2. Sample illumination 3.3.3. Temperature dependent characterization 3.3.4. UPS 4. Simulations 5.1. Design of single carrier devices 5.1.1. General design requirements 5.1.2. Single carrier devices for space-charge limited current 5.1.3. Ohmic regime 5.1.4. Design of injection and extraction layers 5.2. Advanced evaluation of SCLC – potential mapping 5.2.1. Potential mapping by thickness variation 5.2.2. Further evaluation of the transport profile 5.2.3. Injection into and extraction from single carrier devices 5.2.4. Majority carrier approximation 5.3. Proof of principle: POEM on simulated data 5.3.1. Constant mobility 5.3.2. Field dependent mobility 5.3.3. Field and charge density activated mobility 5.3.4. Conclusion 5.4. Application: Transport characterization in organic semiconductors 5.4.1. Hole transport in ZnPc:C60 5.4.2. Hole transport in ZnPc:C60 – temperature variation 5.4.3. Hole transport in ZnPc:C60 – blend ratio variation 5.4.4. Hole transport in ZnPc:C70 5.4.5. Hole transport in neat ZnPc 5.4.6. Hole transport in F4-ZnPc:C60 5.4.7. Hole transport in DCV-5T-Me33:C60 5.4.8. Electron transport in ZnPc:C60 5.4.9. Electron transport in neat Bis-HFl-NTCDI 5.5. Summary and discussion of the results 5.5.1. Phthalocyanine:C60 blends 5.5.2. DCV-5T-Me33:C60 5.5.3. Conclusion 6. Organic solar cell characteristics: the influence of temperature 6.1. ZnPc:C60 solar cells 6.1.1. Temperature variation 6.1.2. Illumination intensity variation 6.2. Voc in flat and bulk heterojunction organic solar cells 6.2.1. Qualitative difference in Voc(I, T) 6.2.2. Interpretation of Voc(I, T) 6.3. BHJ stoichiometry variation 6.3.1. Voc upon variation of stoichiometry and contact layer 6.3.2. V0 upon stoichiometry variation 6.3.3. Low donor content stoichiometry 6.3.4. Conclusion from stoichiometry variation 6.4. Transport material variation 6.4.1. HTM variation 6.4.2. ETM variation 6.5. Donor:acceptor material variation 6.5.1. Donor variation 6.5.2. Acceptor variation 6.6. Conclusion 7. Summary and outlook 7.1. Summary 7.2. Outlook A. Appendix A.1. Energy pay-back of this thesis A.2. Tables and registers