Добірка наукової літератури з теми "Gate resistance thermometry"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Gate resistance thermometry".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Gate resistance thermometry"
Pavlidis, Georges, Spyridon Pavlidis, Eric R. Heller, Elizabeth A. Moore, Ramakrishna Vetury, and Samuel Graham. "Characterization of AlGaN/GaN HEMTs Using Gate Resistance Thermometry." IEEE Transactions on Electron Devices 64, no. 1 (January 2017): 78–83. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2016.2625264.
Повний текст джерелаSchwitter, Bryan K., Anthony E. Parker, Anthony P. Fattorini, Simon J. Mahon, and Michael C. Heimlich. "Study of Gate Junction Temperature in GaAs pHEMTs Using Gate Metal Resistance Thermometry." IEEE Transactions on Electron Devices 60, no. 10 (October 2013): 3358–64. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2013.2278704.
Повний текст джерелаPavlidis, Georges, Shamit Som, Jason Barrett, Wayne Struble, and Samuel Graham. "The Impact of Temperature on GaN/Si HEMTs Under RF Operation Using Gate Resistance Thermometry." IEEE Transactions on Electron Devices 66, no. 1 (January 2019): 330–36. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2018.2876207.
Повний текст джерелаCutivet, Adrien, Meriem Bouchilaoun, Bilal Hassan, Christophe Rodriguez, Ali Soltani, François Boone, and Hassan Maher. "Thermal Transient Extraction for GaN HEMTs by Frequency-Resolved Gate Resistance Thermometry with Sub-100 ns Time Resolution." physica status solidi (a), October 10, 2018, 1800503. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.201800503.
Повний текст джерелаЧастини книг з теми "Gate resistance thermometry"
Pavlidis, Georges, Brian Foley, and Samuel Graham. "Gate resistance thermometry: An electrical thermal characterization technique." In Thermal Management of Gallium Nitride Electronics, 201–21. Elsevier, 2022. http://dx.doi.org/10.1016/b978-0-12-821084-0.00018-4.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Gate resistance thermometry"
Schwitter, Bryan K., Anthony E. Parker, Simon J. Mahon, and Michael C. Heimlich. "Transient gate resistance thermometry demonstrated on GaAs and GaN FET." In 2016 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium (IMS). IEEE, 2016. http://dx.doi.org/10.1109/mwsym.2016.7540035.
Повний текст джерелаWoodbury, Keith A., and Jonathan W. Woolley. "Inverse Heat Conduction Errors From Temperature Bias in Thin Film Sensors: Effect of Contact Resistance." In ASME 2011 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2011. http://dx.doi.org/10.1115/imece2011-65658.
Повний текст джерелаBown, Nicholas W., Terrence M. Cain, Terence V. Jones, Philip P. Shipley, and Brian Barry. "In Flight Heat Transfer Measurements on an Aero-Engine Nacelle." In ASME 1994 International Gas Turbine and Aeroengine Congress and Exposition. American Society of Mechanical Engineers, 1994. http://dx.doi.org/10.1115/94-gt-244.
Повний текст джерела