Книги з теми "Focused Ion Beam machining"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-34 книг для дослідження на тему "Focused Ion Beam machining".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Foster, C. P. J. A comparison of electro discharge machining, laser & focused ion beam micromachining technologies. Cambridge: TWI, 1998.
Знайти повний текст джерелаYao, Nan, ed. Focused Ion Beam Systems. Cambridge: Cambridge University Press, 2007. http://dx.doi.org/10.1017/cbo9780511600302.
Повний текст джерелаNan, Yao, ed. Focused ion beam systems: Basics and applications. Cambridge: Cambridge University Press, 2007.
Знайти повний текст джерелаBachmann, Maja D. Manipulating Anisotropic Transport and Superconductivity by Focused Ion Beam Microstructuring. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-51362-7.
Повний текст джерелаCórdoba Castillo, Rosa. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Cham: Springer International Publishing, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02081-5.
Повний текст джерелаOrloff, Jon. High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications: The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology. Boston, MA: Springer US, 2003.
Знайти повний текст джерела1934-, Swanson Lynwood, and Utlaut Mark William 1949-, eds. High resolution focused ion beams: FIB and its applications : the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003.
Знайти повний текст джерелаOrloff, Jon. High resolution focused ion beams: FIB and its applications ; the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology. New York, NY: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003.
Знайти повний текст джерелаFernandez-Pacheco, Amalio. Studies of Nanoconstrictions, Nanowires and Fe₃O₄ Thin Films: Electrical Conduction and Magnetic Properties. Fabrication by Focused Electron/Ion Beam. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2011.
Знайти повний текст джерелаJapan-U.S. Seminar on Focused Ion Beam Technology and Applications (1987 Osaka, Japan and Mie-ken, Japan). Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on Focused Ion Beam Technology and Applications: 15-19 November 1987, Senri Hankyu Hotel, Osaka, and 20 November 1987, Shima Kanko Hotel, Mie Prefect, Japan. Edited by Harriott Lloyd R, Nihon Gakujutsu Shinkōkai, National Science Foundation (U.S.), and American Vacuum Society. New York: Published for the American Vacuum Society by the American Institute of Physics, 1988.
Знайти повний текст джерелаYao, Nan. Focused Ion Beam Systems. Cambridge University Press, 2011.
Знайти повний текст джерелаCox, David C. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology. Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Знайти повний текст джерелаCox, David C. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology. Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Знайти повний текст джерелаCox, David C. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology. Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Знайти повний текст джерелаYao, Nan. Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge University Press, 2010.
Знайти повний текст джерелаYao, Nan. Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge University Press, 2011.
Знайти повний текст джерелаVijgen, Lucas Joseph. Coulomb Interactions in Focused Ion Beam Systems. Delft Univ Pr, 1994.
Знайти повний текст джерелаFinch, Dudley, and Alexander Buxbaum. Focused Ion Beam Instrumentation: Techniques and Applications. Wiley & Sons, Limited, John, 2014.
Знайти повний текст джерелаFinch, Dudley, and Alexander Buxbaum. Focused Ion Beam Instrumentation: Techniques and Applications. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2019.
Знайти повний текст джерелаYao, Nan. Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge University Press, 2007.
Знайти повний текст джерелаKeskinbora, Kahraman. Prototyping Micro- and Nano-Optics with Focused Ion Beam Lithography. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/3.2531118.
Повний текст джерелаCastillo, Rosa Córdoba. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаCastillo, Rosa Córdoba Córdoba. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Springer, 2016.
Знайти повний текст джерелаCastillo, Rosa Córdoba. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Springer London, Limited, 2013.
Знайти повний текст джерелаBachmann, Maja D. Manipulating Anisotropic Transport and Superconductivity by Focused Ion Beam Microstructuring. Springer, 2020.
Знайти повний текст джерелаBachmann, Maja D. Manipulating Anisotropic Transport and Superconductivity by Focused Ion Beam Microstructuring. Springer International Publishing AG, 2021.
Знайти повний текст джерелаFernandez-Pacheco, Amalio. Studies of Nanoconstrictions, Nanowires and Fe3O4 Thin Films: Electrical Conduction and Magnetic Properties. Fabrication by Focused Electron/Ion Beam. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаFernandez-Pacheco, Amalio. Studies of Nanoconstrictions, Nanowires and Fe3O4 Thin Films: Electrical Conduction and Magnetic Properties. Fabrication by Focused Electron/Ion Beam. Springer, 2011.
Знайти повний текст джерелаFernández-Pacheco Chicón, Amalio. Electrical conduction and magnetic properties of nanoconstrictions and nanowires created by focused electron/ion beam and of Fe3O4 thin films. Prensas Universitarias de Zaragoza, 2009. http://dx.doi.org/10.26754/uz.978-84-92774-52-4.
Повний текст джерелаProceedings of the Japan-U.S. Seminar on Focused Ion Beam Technology and Applications: 15-19 November 1987, Senri Hankyu Hotel, Osaka, and 20 November 1987, Shima Kanko Hotel, Mie Prefect, Japan. Published for the American Vacuum Society by the American Institute of Physics, 1988.
Знайти повний текст джерелаThe 2006-2011 World Outlook for Pattern-Generating Wafer Processing Equipment Used to Produce Masks and Reticles from Photoresist Coated Substrates Excluding Focused Ion Beam Milling Machines. Icon Group International, Inc., 2005.
Знайти повний текст джерелаParker, Philip M. The 2007-2012 World Outlook for Pattern-Generating Wafer Processing Equipment Used to Produce Masks and Reticles from Photoresist Coated Substrates Excluding Focused Ion Beam Milling Machines. ICON Group International, Inc., 2006.
Знайти повний текст джерелаGallop, J., and L. Hao. Superconducting Nanodevices. Edited by A. V. Narlikar. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780198738169.013.17.
Повний текст джерелаHong, M. H. Laser applications in nanotechnology. Edited by A. V. Narlikar and Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533060.013.24.
Повний текст джерела