Добірка наукової літератури з теми "Fast scanning probe"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Fast scanning probe".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Fast scanning probe"
Аkhmetova, А., and I. Yaminskiy. "Fast-scanning probe microscopy." Nanoindustry Russia 11, no. 7-8 (2018): 530–33. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2018.11.7-8.530.533.
Повний текст джерелаBoedo, J., D. Gray, L. Chousal, R. Conn, B. Hiller, and K. H. Finken. "Fast scanning probe for tokamak plasmas." Review of Scientific Instruments 69, no. 7 (July 1998): 2663–70. http://dx.doi.org/10.1063/1.1148995.
Повний текст джерелаTabak, F. C., E. C. M. Disseldorp, G. H. Wortel, A. J. Katan, M. B. S. Hesselberth, T. H. Oosterkamp, J. W. M. Frenken, and W. M. van Spengen. "MEMS-based fast scanning probe microscopes." Ultramicroscopy 110, no. 6 (May 2010): 599–604. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2010.02.018.
Повний текст джерелаWatkins, J. G., J. Salmonson, R. Moyer, R. Doerner, R. Lehmer, L. Schmitz, and D. N. Hill. "A fast scanning probe for DIII–D." Review of Scientific Instruments 63, no. 10 (October 1992): 4728–30. http://dx.doi.org/10.1063/1.1143621.
Повний текст джерелаDENG, Tijian, Tao LAN, Mingsheng TAN, Junfeng ZHU, Jie WU, Hangqi XU, Chen CHEN, et al. "Fast radial scanning probe system on KTX." Plasma Science and Technology 22, no. 4 (January 13, 2020): 045602. http://dx.doi.org/10.1088/2058-6272/ab5b1a.
Повний текст джерелаBoedo, J. A., N. Crocker, L. Chousal, R. Hernandez, J. Chalfant, H. Kugel, P. Roney, and J. Wertenbaker. "Fast scanning probe for the NSTX spherical tokamak." Review of Scientific Instruments 80, no. 12 (December 2009): 123506. http://dx.doi.org/10.1063/1.3266065.
Повний текст джерелаTokarev, V. A., V. K. Gusev, N. A. Khromov, M. I. Patrov, Yu V. Petrov, N. V. Sakharov, V. B. Minaev, et al. "Fast scanning probe for the Globus-M2 tokamak." Journal of Physics: Conference Series 1400 (November 2019): 077019. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1400/7/077019.
Повний текст джерелаKlapetek, Petr, Anna Charvátová Campbell, and Vilma Buršíková. "Fast mechanical model for probe–sample elastic deformation estimation in scanning probe microscopy." Ultramicroscopy 201 (June 2019): 18–27. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.03.010.
Повний текст джерелаWen, Yongbing, Jianmin Song, Xinjian Fan, Danish Hussain, Hao Zhang, and Hui Xie. "Fast Specimen Boundary Tracking and Local Imaging with Scanning Probe Microscopy." Scanning 2018 (2018): 1–11. http://dx.doi.org/10.1155/2018/3979576.
Повний текст джерелаTsois, N., C. Dorn, G. Kyriakakis, M. Markoulaki, M. Pflug, G. Schramm, P. Theodoropoulos, P. Xantopoulos, and M. Weinlich. "A fast scanning Langmuir probe system for ASDEX-Upgrade divertor." Journal of Nuclear Materials 266-269 (March 1999): 1230–33. http://dx.doi.org/10.1016/s0022-3115(98)00569-8.
Повний текст джерелаДисертації з теми "Fast scanning probe"
Huang, Rongxin 1978. "Brownian motion at fast time scales and thermal noise imaging." 2008. http://hdl.handle.net/2152/18009.
Повний текст джерелаtext
Книги з теми "Fast scanning probe"
Tiwari, Sandip. Electromechanics and its devices. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198759874.003.0005.
Повний текст джерелаЧастини книг з теми "Fast scanning probe"
Suzuki, Yuki, Masatoshi Yokokawa, Shige H. Yoshimura, and Kunio Takeyasu. "Biological Application of Fast-Scanning Atomic Force Microscopy." In Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2, 217–46. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10497-8_8.
Повний текст джерелаHashimoto, Ken-ya, Nan Wu, Keisuke Kashiwa, Tatsuya Omori, Masatsune Yamaguchi, Osamu Takano, Sakae Meguro, Naoki Kasai, and Koichi Akahane. "Phase-Sensitive and Fast-Scanning Laser Probe System for RF SAW/BAW Devices." In IUTAM Symposium on Recent Advances of Acoustic Waves in Solids, 235–45. Dordrecht: Springer Netherlands, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9893-1_22.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Fast scanning probe"
Gao, S., H. Wolff, K. Herrmann, U. Brand, K. Hiller, S. Hahn, A. Sorger, and J. Mehner. "A comb-drive scanning-head array for fast scanning-probe microscope measurements." In SPIE Microtechnologies, edited by Ulrich Schmid, José Luis Sánchez-Rojas, and Monika Leester-Schaedel. SPIE, 2011. http://dx.doi.org/10.1117/12.886938.
Повний текст джерелаSeo, Yongho, and Wonho Jhe. "Fast-scanning near-field scanning optical microscopy using a high-frequency dithering probe." In International Symposium on Optical Science and Technology, edited by Aaron Lewis, H. Kumar Wickramasinghe, and Katharina H. Al-Shamery. SPIE, 2001. http://dx.doi.org/10.1117/12.449529.
Повний текст джерелаLi, Tao, Jiwen Cui, and He Zhang. "Image segmentation and fast scanning method of vision-probe measurement system." In Tenth International Symposium on Precision Mechanical Measurements, edited by Liandong Yu, Lian X. Yang, and Haojie Xia. SPIE, 2021. http://dx.doi.org/10.1117/12.2611427.
Повний текст джерелаOmori, Tatsuya, Keisuke Kashiwa, Ken-ya Hashimoto, and Masatsune Yamaguchi. "Time-delay compensation in detection electronics of fast scanning 2D SAW/BAW laser probe." In 2009 IEEE International Ultrasonics Symposium. IEEE, 2009. http://dx.doi.org/10.1109/ultsym.2009.5441688.
Повний текст джерелаWang, Mingkang, Diego J. Perez-Morelo, Georg Ramer, Goerges Pavlidis, Jeffrey Schwartz, Andrea Centrone, and Vladimir Aksyuk. "Nanophotonic Scanning Probes for Nanoscale Imaging of Thermal Conductivity and Interfacial Thermal Conductance." In CLEO: Applications and Technology. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 2022. http://dx.doi.org/10.1364/cleo_at.2022.atu4m.4.
Повний текст джерелаYong, Y. K., A. Bazaei, S. O. R. Moheimani, and F. Allgower. "Design and control of a novel non-raster scan pattern for fast scanning probe microscopy." In 2012 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics (AIM 2012). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/aim.2012.6266062.
Повний текст джерелаClayton, G. M., and S. Devasia. "Image-Based Control of Dynamic Effects in Scanning Tunneling Microscopes." In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-59473.
Повний текст джерелаChu, Wei, Joseph Fu, and Theodore Vorburger. "An Improved Digital Image Correlation Method Applied to Scanning Probe Microscope Images." In ASME 2009 International Manufacturing Science and Engineering Conference. ASMEDC, 2009. http://dx.doi.org/10.1115/msec2009-84274.
Повний текст джерелаHashimoto, Ken-ya, and Tatsuya Omori. "Phase-sensitive and fast-scanning laser probe system for radio frequency surface/bulk acoustic wave devices." In 2014 European Frequency and Time Forum (EFTF). IEEE, 2014. http://dx.doi.org/10.1109/eftf.2014.7331425.
Повний текст джерелаKen-ya Hashimoto, Keisuke Kashiwa, Tatsuya Omori, Masatsune Yamaguchi, Osamu Takano, Sakae Meguro, and Koichi Akahane. "A fast scanning laser probe based on Sagnac interferometer for RF surface and bulk acoustic wave devices." In 2008 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - MTT 2008. IEEE, 2008. http://dx.doi.org/10.1109/mwsym.2008.4632966.
Повний текст джерелаЗвіти організацій з теми "Fast scanning probe"
Lehmer, R. D., B. LaBombard, and R. W. Conn. A fast spatial scanning combination emissive and mach probe for edge plasma diagnosis. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), April 1989. http://dx.doi.org/10.2172/6356314.
Повний текст джерела