Статті в журналах з теми "Electron microscope"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-50 статей у журналах для дослідження на тему "Electron microscope".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте статті в журналах для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Möller, Lars, Gudrun Holland, and Michael Laue. "Diagnostic Electron Microscopy of Viruses With Low-voltage Electron Microscopes." Journal of Histochemistry & Cytochemistry 68, no. 6 (May 21, 2020): 389–402. http://dx.doi.org/10.1369/0022155420929438.
Повний текст джерелаGauvin, Raynald, and Steve Yue. "The Observation of NBC Precipitates In Steels In The Nanometer Range Using A Field Emission Gun Scanning Electron Microscope." Microscopy and Microanalysis 3, S2 (August 1997): 1243–44. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013106.
Повний текст джерелаRoss, Frances M. "Materials Science in the Electron Microscope." MRS Bulletin 19, no. 6 (June 1994): 17–21. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400036691.
Повний текст джерелаKordesch, Martin E. "Introduction to emission electron microscopy for the in situ study of surfaces." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (August 1, 1993): 506–7. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148368.
Повний текст джерелаO'Keefe, Michael A., John H. Turner, John A. Musante, Crispin J. D. Hetherington, A. G. Cullis, Bridget Carragher, Ron Jenkins, et al. "Laboratory Design for High-Performance Electron Microscopy." Microscopy Today 12, no. 3 (May 2004): 8–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500052093.
Повний текст джерелаKONNO, Mitsuru, Toshie YAGUCHI, and Takahito HASHIMOTO. "Transmission Electron Microscop and Scanning Transmission Electron Microscope." Journal of the Japan Society of Colour Material 79, no. 4 (2006): 147–51. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.147.
Повний текст джерелаWatson, John H. L. "In the beginning there were electrons." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no. 2 (August 1992): 1068–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129978.
Повний текст джерелаAi, R. "A Microscope-Compatible Auger Electron Spectrometer." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (August 1991): 992–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089275.
Повний текст джерелаKersker, M., C. Nielsen, H. Otsuji, T. Miyokawa, and S. Nakagawa. "The JSM-890 ultra high resolution Scanning Electron Microscope." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (August 6, 1989): 88–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152410.
Повний текст джерелаSchatten, G., J. Pawley, and H. Ris. "Integrated microscopy resource for biomedical research at the university of wisconsin at madison." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (August 1987): 594–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127451.
Повний текст джерелаGraef, M. De, N. T. Nuhfer, and N. J. Cleary. "Implementation Of A Digital Microscopy Teaching Environment." Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 4–5. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013349.
Повний текст джерелаYAMAMOTO, Shinji, Kyohei UMEMOTO, and Ken-ichir YAMASHITA. "Electron Microscope." Journal of The Institute of Electrical Engineers of Japan 133, no. 5 (2013): 298–301. http://dx.doi.org/10.1541/ieejjournal.133.298.
Повний текст джерелаSATO, Mitsugu. "Electron Microscope." Journal of the Society of Mechanical Engineers 117, no. 1144 (2014): 142–43. http://dx.doi.org/10.1299/jsmemag.117.1144_142.
Повний текст джерелаOikawa, Tetsuo. "Electron Microscope." Zairyo-to-Kankyo 41, no. 10 (1992): 690–97. http://dx.doi.org/10.3323/jcorr1991.41.690.
Повний текст джерелаKersker, Michael M. "A History of ESEM in 2.5 Chapters." Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 774–75. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600029949.
Повний текст джерелаDahmen, Ulrich, Rolf Erni, Velimir Radmilovic, Christian Ksielowski, Marta-Dacil Rossell, and Peter Denes. "Background, status and future of the Transmission Electron Aberration-corrected Microscope project." Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences 367, no. 1903 (September 28, 2009): 3795–808. http://dx.doi.org/10.1098/rsta.2009.0094.
Повний текст джерелаBAUM, RUDY. "Light microscope rivals electron microscope." Chemical & Engineering News 71, no. 35 (August 30, 1993): 22–23. http://dx.doi.org/10.1021/cen-v071n035.p022.
Повний текст джерелаO’Keefe, M. A., J. Taylor, D. Owen, B. Crowley, K. H. Westmacott, W. Johnston, and U. Dahmen. "Remote On-Line Control of a High-Voltage in situ Transmission Electron Microscope with A Rational User Interface." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (August 11, 1996): 384–85. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100164386.
Повний текст джерелаJ. H., Youngblom, Wilkinson J., and Youngblom J.J. "Telepresence Confocal Microscopy." Microscopy and Microanalysis 6, S2 (August 2000): 1164–65. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600038319.
Повний текст джерелаRuska, Ernst. "The development of the electron microscope and of electron microscopy." Reviews of Modern Physics 59, no. 3 (July 1, 1987): 627–38. http://dx.doi.org/10.1103/revmodphys.59.627.
Повний текст джерелаRuska, Ernst. "The development of the electron microscope and of electron microscopy." Bioscience Reports 7, no. 8 (August 1, 1987): 607–29. http://dx.doi.org/10.1007/bf01127674.
Повний текст джерелаBrama, Elisabeth, Christopher J. Peddie, Gary Wilkes, Yan Gu, Lucy M. Collinson, and Martin L. Jones. "ultraLM and miniLM: Locator tools for smart tracking of fluorescent cells in correlative light and electron microscopy." Wellcome Open Research 1 (December 13, 2016): 26. http://dx.doi.org/10.12688/wellcomeopenres.10299.1.
Повний текст джерелаLiu, J., and J. R. Ebner. "Nano-Characterization of Industrial Heterogeneous Catalysts." Microscopy and Microanalysis 4, S2 (July 1998): 740–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600023825.
Повний текст джерелаvan der Krift, Theo, Ulrike Ziese, Willie Geerts, and Bram Koster. "Computer-Controlled Transmission Electron Microscopy: Automated Tomography." Microscopy and Microanalysis 7, S2 (August 2001): 968–69. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030919.
Повний текст джерелаGauvin, Raynald, and Pierre Hovington. "On the Microanalysis of Small Precipitates at Low Voltage with a FE-SEM." Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 308–9. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600014860.
Повний текст джерелаWilliams, Nicola. "Do Microscopes Have Politics? Gendering the Electron Microscope in Laboratory Biological Research." Technology and Culture 64, no. 4 (October 2023): 1159–83. http://dx.doi.org/10.1353/tech.2023.a910999.
Повний текст джерелаKremer, James R., Paul S. Furcinitti, Eileen O’Toole, and J. Richard McIntosh. "Analysis of photographic emulsions for High-Voltage Electron Microscopy." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (August 1, 1993): 452–53. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148095.
Повний текст джерелаVidyavati and G. Sathaiah. "Cell division in desmids under scanning electron microscope." Archiv für Hydrobiologie 105, no. 2 (May 2, 1989): 239–49. http://dx.doi.org/10.1127/archiv-hydrobiol/105/1989/239.
Повний текст джерелаYoungblom, J. H., J. Wilkinson, and J. J. Youngblom. "Telepresence Confocal Microscopy." Microscopy Today 8, no. 10 (December 2000): 20–21. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500054146.
Повний текст джерелаKenik, Edward A., and Karren L. More. "SHaRE: Collaborative materials science research." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988): 804–5. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100106089.
Повний текст джерелаSuga, Hiroshi, Takafumi Fujiwara, Nobuhiro Kanai, and Masatoshi Kotera. "Secondary Electron Image Contrast in the Scanning Electron Microscope." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no. 1 (August 12, 1990): 410–11. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010018080x.
Повний текст джерелаPrutton, M., M. M. El Gomati, J. C. Greenwood, P. G. Kennyr, I. R. Barkshire, and J. C. Dee. "Multispectral Surface Analytical Microscopy: A Third-Generation Scanning Auger Electron Microscope." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no. 2 (August 12, 1990): 384–85. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135526.
Повний текст джерелаPan, M., K. Ishizuka, C. E. Meyer, O. L. Krivanek, J. Sasakit, and Y. Kimurat. "Progress in Computer Assisted Electron Microscopy." Microscopy and Microanalysis 3, S2 (August 1997): 1093–94. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600012356.
Повний текст джерелаGeiger, Dorin, Hannes Lichte, Martin Linck, and Michael Lehmann. "Electron Holography with aCs-Corrected Transmission Electron Microscope." Microscopy and Microanalysis 14, no. 1 (December 21, 2007): 68–81. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760808001x.
Повний текст джерелаTONOMURA, Akira. "Holography Electron Microscope." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 57, no. 7 (1991): 1165–68. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.57.1165.
Повний текст джерелаShindo, Daisuke. "Transmission Electron Microscope." Materia Japan 44, no. 11 (2005): 932–35. http://dx.doi.org/10.2320/materia.44.932.
Повний текст джерелаMIYAKI, Atsushi. "Scanning Electron Microscope." Journal of the Japan Society of Colour Material 86, no. 4 (2013): 139–44. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai.86.139.
Повний текст джерелаWATANABE, Shunya. "Scanning Electron Microscope." Journal of the Japan Society of Colour Material 79, no. 3 (2006): 120–25. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.120.
Повний текст джерелаTONOMURA, Akira. "Holography Electron Microscope." Journal of the Society of Mechanical Engineers 106, no. 1017 (2003): 661–64. http://dx.doi.org/10.1299/jsmemag.106.1017_661.
Повний текст джерелаShoukry, Youssef. "Scanning electron microscope." Egyptian Journal of Histology 34, no. 2 (June 2011): 179–81. http://dx.doi.org/10.1097/01.ehx.0000398103.69273.b3.
Повний текст джерелаSkoglund, Ulf, and Bertil Daneholt. "Electron microscope tomography." Trends in Biochemical Sciences 11, no. 12 (December 1986): 499–503. http://dx.doi.org/10.1016/0968-0004(86)90077-0.
Повний текст джерелаKuokkala, V. T., and T. K. Lepistö. "TEMTUTOR - a Teaching Multimedia Program for TEM." Microscopy and Microanalysis 3, S2 (August 1997): 1161–62. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600012691.
Повний текст джерелаGauvin, Raynald, and Paula Horny. "The Characterization of Nano Materials in the FE-SEM." Microscopy and Microanalysis 6, S2 (August 2000): 744–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600036217.
Повний текст джерелаSchwarzer, Robert. "Orientation Microscopy Using the Analytical Scanning Electron Microscope." Practical Metallography 51, no. 3 (March 17, 2014): 160–79. http://dx.doi.org/10.3139/147.110280.
Повний текст джерелаHetherington, Craig L., Connor G. Bischak, Claire E. Stachelrodt, Jake T. Precht, Zhe Wang, Darrell G. Schlom, and Naomi S. Ginsberg. "Superresolution Fluorescence Microscopy within a Scanning Electron Microscope." Biophysical Journal 108, no. 2 (January 2015): 190a—191a. http://dx.doi.org/10.1016/j.bpj.2014.11.1054.
Повний текст джерелаDingley, David J. "Orientation Imaging Microscopy for the Transmission Electron Microscope." Microchimica Acta 155, no. 1-2 (June 6, 2006): 19–29. http://dx.doi.org/10.1007/s00604-006-0502-4.
Повний текст джерелаBattistella, Florent, Steven Berger, and Andrew Mackintosh. "Scanning Optical Microscopy via a Scanning Electron Microscope." Journal of Electron Microscopy Technique 6, no. 4 (August 1987): 377–84. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.1060060408.
Повний текст джерелаMartone, Maryann E. "Bridging the Resolution Gap: Correlated 3D Light and Electron Microscopic Analysis of Large Biological Structures." Microscopy and Microanalysis 5, S2 (August 1999): 526–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600015956.
Повний текст джерелаHansen, Douglas. "The Scanning Electron Microscope As A Precision Instrument." Microscopy Today 4, no. 6 (August 1996): 30–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500060909.
Повний текст джерелаMcKeman, Stuart. "Ceramics in the environmental Scanning Electron Microscope." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (August 1, 1993): 910–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100150381.
Повний текст джерела