Статті в журналах з теми "Dimensional Nanometrology"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-19 статей у журналах для дослідження на тему "Dimensional Nanometrology".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте статті в журналах для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
MISUMI, Ichiko. "Standard Sample in Dimensional Nanometrology." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 74, no. 3 (2008): 222–25. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.74.222.
Повний текст джерелаYacoot, Andrew, and Ludger Koenders. "Recent developments in dimensional nanometrology using AFMs." Measurement Science and Technology 22, no. 12 (October 25, 2011): 122001. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/12/122001.
Повний текст джерелаTöpfer, Susanne C. N., Uwe Nehse, and Gerhard Linß. "Automated inspections for dimensional micro- and nanometrology." Measurement 40, no. 2 (February 2007): 243–54. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2006.06.010.
Повний текст джерелаSimão, C., D. Tuchapsky, W. Khunsin, A. Amann, M. A. Morris, and C. M. Sotomayor Torres. "Dimensional and defectivity nanometrology of directed self-assembly patterns." physica status solidi (c) 12, no. 3 (February 25, 2015): 267–70. http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201400211.
Повний текст джерелаMalinovski, I., R. S. França, M. S. Lima, M. S. Bessa, C. R. Silva, and I. B. Couceiro. "High-resolution interferometic microscope for traceable dimensional nanometrology in Brazil." Journal of Physics: Conference Series 733 (July 2016): 012060. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/733/1/012060.
Повний текст джерелаTondare, Vipin N., John S. Villarrubia, and András E. Vladár. "Three-Dimensional (3D) Nanometrology Based on Scanning Electron Microscope (SEM) Stereophotogrammetry." Microscopy and Microanalysis 23, no. 5 (September 18, 2017): 967–77. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617012521.
Повний текст джерелаJäger, Gerd, T. Hausotte, Eberhard Manske, H. J. Büchner, R. Mastylo, N. Dorozhovets, R. Füßl, and R. Grünwald. "Nanometrology – Nanopositioning- and Nanomeasuring Machine with Integrated Nanopobes." Materials Science Forum 505-507 (January 2006): 7–12. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.505-507.7.
Повний текст джерелаJorio, Ado. "Raman Spectroscopy in Graphene-Based Systems: Prototypes for Nanoscience and Nanometrology." ISRN Nanotechnology 2012 (December 6, 2012): 1–16. http://dx.doi.org/10.5402/2012/234216.
Повний текст джерелаKrumrey, Michael, Gudrun Gleber, Frank Scholze, and Jan Wernecke. "Synchrotron radiation-based x-ray reflection and scattering techniques for dimensional nanometrology." Measurement Science and Technology 22, no. 9 (August 8, 2011): 094032. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/9/094032.
Повний текст джерелаEndres, J., A. Diener, M. Wurm, and B. Bodermann. "Investigations of the influence of common approximations in scatterometry for dimensional nanometrology." Measurement Science and Technology 25, no. 4 (March 5, 2014): 044004. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044004.
Повний текст джерелаSchuler, Alexander, Albert Weckenmann, and Tino Hausotte. "Setup and evaluation of a sensor tilting system for dimensional micro- and nanometrology." Measurement Science and Technology 25, no. 6 (April 30, 2014): 064010. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/6/064010.
Повний текст джерелаGonda, S., T. Kurosawa, and Y. Tanimura. "Mechanical performances of a symmetrical, monolithic three-dimensional fine-motion stage for nanometrology." Measurement Science and Technology 10, no. 11 (September 30, 1999): 986–93. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/10/11/302.
Повний текст джерелаThiesler, Jan, Thomas Ahbe, Rainer Tutsch, and Gaoliang Dai. "True 3D Nanometrology: 3D-Probing with a Cantilever-Based Sensor." Sensors 22, no. 1 (December 31, 2021): 314. http://dx.doi.org/10.3390/s22010314.
Повний текст джерелаStöhr, Frederik, Jonas Michael-Lindhard, Hugh Simons, Henning Friis Poulsen, Jörg Hübner, Ole Hansen, Joergen Garnaes, and Flemming Jensen. "Three-dimensional nanometrology of microstructures by replica molding and large-range atomic force microscopy." Microelectronic Engineering 141 (June 2015): 6–11. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2014.11.026.
Повний текст джерелаSun, Zhong Yuan, Alexander Schuler, and Tino Hausotte. "Development of a 3D Tunneling Current Probing System for Micro- and Nano-Coordinate Metrology." Applied Mechanics and Materials 870 (September 2017): 126–31. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.870.126.
Повний текст джерелаSong, Se Ahn, Tatsumi Hirano, Jong Bong Park, Kazutoshi Kaji, Ki Hong Kim, and Shohei Terada. "Searching Ultimate Nanometrology for AlOx Thickness in Magnetic Tunnel Junction by Analytical Electron Microscopy and X-ray Reflectometry." Microscopy and Microanalysis 11, no. 5 (September 28, 2005): 431–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927605050580.
Повний текст джерелаBosse, Harald, and Günter Wilkening. "Dimensionelle Nanometrologie in der PTB – eine Übersicht (Dimensional Nanometrology at PTB – a Survey)." tm - Technisches Messen 73, no. 1/2006 (January 1, 2006). http://dx.doi.org/10.1524/teme.2006.73.1.4.
Повний текст джерелаDai, Gaoliang, and Xiukun Hu. "Correction of Interferometric High-Order Nonlinearity Error in Metrological Atomic Force Microscopy." Nanomanufacturing and Metrology, October 6, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/s41871-022-00154-6.
Повний текст джерелаCharrier, Anne M., Aubin C. Normand, Ali Passian, Philip Schaefer, and Aude L. Lereu. "In situ plant materials hyperspectral imaging by multimodal scattering near-field optical microscopy." Communications Materials 2, no. 1 (June 9, 2021). http://dx.doi.org/10.1038/s43246-021-00166-7.
Повний текст джерела