Добірка наукової літератури з теми "Dimensional Nanometrology"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Dimensional Nanometrology".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Dimensional Nanometrology"
MISUMI, Ichiko. "Standard Sample in Dimensional Nanometrology." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 74, no. 3 (2008): 222–25. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.74.222.
Повний текст джерелаYacoot, Andrew, and Ludger Koenders. "Recent developments in dimensional nanometrology using AFMs." Measurement Science and Technology 22, no. 12 (October 25, 2011): 122001. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/12/122001.
Повний текст джерелаTöpfer, Susanne C. N., Uwe Nehse, and Gerhard Linß. "Automated inspections for dimensional micro- and nanometrology." Measurement 40, no. 2 (February 2007): 243–54. http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2006.06.010.
Повний текст джерелаSimão, C., D. Tuchapsky, W. Khunsin, A. Amann, M. A. Morris, and C. M. Sotomayor Torres. "Dimensional and defectivity nanometrology of directed self-assembly patterns." physica status solidi (c) 12, no. 3 (February 25, 2015): 267–70. http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201400211.
Повний текст джерелаMalinovski, I., R. S. França, M. S. Lima, M. S. Bessa, C. R. Silva, and I. B. Couceiro. "High-resolution interferometic microscope for traceable dimensional nanometrology in Brazil." Journal of Physics: Conference Series 733 (July 2016): 012060. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/733/1/012060.
Повний текст джерелаTondare, Vipin N., John S. Villarrubia, and András E. Vladár. "Three-Dimensional (3D) Nanometrology Based on Scanning Electron Microscope (SEM) Stereophotogrammetry." Microscopy and Microanalysis 23, no. 5 (September 18, 2017): 967–77. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617012521.
Повний текст джерелаJäger, Gerd, T. Hausotte, Eberhard Manske, H. J. Büchner, R. Mastylo, N. Dorozhovets, R. Füßl, and R. Grünwald. "Nanometrology – Nanopositioning- and Nanomeasuring Machine with Integrated Nanopobes." Materials Science Forum 505-507 (January 2006): 7–12. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.505-507.7.
Повний текст джерелаJorio, Ado. "Raman Spectroscopy in Graphene-Based Systems: Prototypes for Nanoscience and Nanometrology." ISRN Nanotechnology 2012 (December 6, 2012): 1–16. http://dx.doi.org/10.5402/2012/234216.
Повний текст джерелаKrumrey, Michael, Gudrun Gleber, Frank Scholze, and Jan Wernecke. "Synchrotron radiation-based x-ray reflection and scattering techniques for dimensional nanometrology." Measurement Science and Technology 22, no. 9 (August 8, 2011): 094032. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/22/9/094032.
Повний текст джерелаEndres, J., A. Diener, M. Wurm, and B. Bodermann. "Investigations of the influence of common approximations in scatterometry for dimensional nanometrology." Measurement Science and Technology 25, no. 4 (March 5, 2014): 044004. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044004.
Повний текст джерелаДисертації з теми "Dimensional Nanometrology"
Mrinalini, R. Sri Muthu. "A Probing System with Replaceable Tips for Three Dimensional Nano-Metrology." Thesis, 2017. http://etd.iisc.ernet.in/2005/3711.
Повний текст джерелаЧастини книг з теми "Dimensional Nanometrology"
Villarrubia, John S. "Tip Characterization for Dimensional Nanometrology." In Applied Scanning Probe Methods, 147–68. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35792-3_5.
Повний текст джерелаDanzebrink, Hans-Ulrich, Frank Pohlenz, Gaoliang Dai, and Claudio Dal Savio. "Metrological Scanning Probe Microscopes - Instruments for Dimensional Nanometrology." In Nanoscale Calibration Standards and Methods, 1–21. Weinheim, FRG: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2006. http://dx.doi.org/10.1002/3527606661.ch1.
Повний текст джерелаKoenders, L., T. Dziomba, P. Thomsen-Schmidt, and G. Wilkening. "Standards for the Calibration of Instruments for Dimensional Nanometrology." In Nanoscale Calibration Standards and Methods, 243–58. Weinheim, FRG: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2006. http://dx.doi.org/10.1002/3527606661.ch18.
Повний текст джерелаBarsic, Gorana, Vedran Simunovic, and Marko Katic. "Ensuring Measurement Unity in the Field of Dimensional Nanometrology." In DAAAM Proceedings, 0841–42. DAAAM International Vienna, 2011. http://dx.doi.org/10.2507/22nd.daaam.proceedings.412.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Dimensional Nanometrology"
Danzebrink, H. U., G. Dai, F. Pohlenz, T. Dziomba, S. Butefisch, J. Flugge, and H. Bosse. "Dimensional nanometrology at PTB." In 2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/i2mtc.2012.6229183.
Повний текст джерелаMartinez, Pol, Aitor Matilla, Cristina Cadevall, Carlos Bermudez, André Felgner, and Roger Artigas. "Residual flatness error correction in three-dimensional imaging confocal microscopes." In Optical Micro- and Nanometrology, edited by Christophe Gorecki, Anand K. Asundi, and Wolfgang Osten. SPIE, 2018. http://dx.doi.org/10.1117/12.2306903.
Повний текст джерелаIsoda, Kazutaka, Mizue Ebisawa, Yukitoshi Otani, and Kohki Nagata. "Numerical analysis of angle-selective one-dimensional periodic structure for building energy management." In Optical Micro- and Nanometrology, edited by Christophe Gorecki, Anand K. Asundi, and Wolfgang Osten. SPIE, 2018. http://dx.doi.org/10.1117/12.2307306.
Повний текст джерелаYacoot, Andrew, Richard Leach, Ben Hughes, Claudiu Giusca, Christopher Jones, and Alan Wilson. "Dimensional nanometrology at the National Physical Laboratory." In International Symposium on Instrumentation Science and Technology, edited by Jiubin Tan and Xianfang Wen. SPIE, 2008. http://dx.doi.org/10.1117/12.807994.
Повний текст джерелаHuang, Jiebin, Peng Han, Chaoxiong Chen, and Guanling Yang. "Multiple channeled filtering in one-dimensional photonic quantum-well and super-lattice structures." In Nanophotonics, Nanostructure, and Nanometrology II. SPIE, 2007. http://dx.doi.org/10.1117/12.757120.
Повний текст джерелаLazar, Josef, Miroslava Hola, Jan Hrabina, Jindřich Oulehla, Ondřej Číp, Miloslav Vychodil, Petra Sedlář, and Milan Provazník. "Advanced interferometry systems for dimensional measurement in nanometrology." In Optics and Measurement Conference 2014, edited by Jana Kovačičinová and Tomáš Vít. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2086613.
Повний текст джерелаDziomba, Thorsten, Ludger Koenders, and Günter Wilkening. "Standardization in dimensional nanometrology: development of a calibration guideline for Scanning Probe Microscopy." In Optical Systems Design 2005. SPIE, 2005. http://dx.doi.org/10.1117/12.626018.
Повний текст джерела