Книги з теми "CMOS device"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "CMOS device".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Simon, Deleonibus, ed. Electronic device architectures for the nano-CMOS era: From ultimate CMOS scaling to beyond CMOS devices. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Знайти повний текст джерелаSimon, Deleonibus, ed. Electronic device architectures for the nano-CMOS era: From ultimate CMOS scaling to beyond CMOS devices. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Знайти повний текст джерелаIncorporated, Advanced Micro Devices. PAL device data book: Bipolar and CMOS. [Sunnyvale, CA]: Advanced Micro Devices Inc., 1990.
Знайти повний текст джерелаYtterdal, Trond, Yuhua Cheng, and Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd, 2003. http://dx.doi.org/10.1002/0470863803.
Повний текст джерелаDevice modeling for analog and RF CMOS circuit design. Chichester: John Wiley & Sons, 2004.
Знайти повний текст джерелаSemenov, Oleg, Hossein Sarbishaei, and Manoj Sachdev. ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies. Dordrecht: Springer Netherlands, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8301-3.
Повний текст джерелаHossein, Sarbishaei, and Sachdev Manoj, eds. ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies. [Dordrecht]: Springer, 2008.
Знайти повний текст джерелаMadrid, Philip E. Device design and process window analysis of a deep submicron CMOS VLSI technology. Reading, Mass: Addison-Wesley, 1992.
Знайти повний текст джерелаUnited States. National Aeronautics and Space Administration., ed. Application of linear response theory to experimental data of simultasneous radiation and annealing response of a CMOS device. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1989.
Знайти повний текст джерелаL, Helms Harry, ed. CMOS devices: 1987 source book. Englewood Cliffs, N.J: Technipubs, 1987.
Знайти повний текст джерелаCMOS devices and technology for VLSI. Englewood Cliffs, N.J: Prentice Hall, 1990.
Знайти повний текст джерелаWu, Yung-Chun, and Yi-Ruei Jhan. 3D TCAD Simulation for CMOS Nanoeletronic Devices. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-3066-6.
Повний текст джерелаShin, Changhwan. Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM. Dordrecht: Springer Netherlands, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-7597-7.
Повний текст джерелаIniewski, Krzysztof. CMOS processors and memories. Dordrecht: Springer, 2010.
Знайти повний текст джерелаKuo, James B., and Shih-Chia Lin. Low-Voltage SOI CMOS VLSI Devices and Circuits. New York, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2002. http://dx.doi.org/10.1002/0471221562.
Повний текст джерелаSenthinathan, Ramesh, and John L. Prince. Simultaneous Switching Noise of CMOS Devices and Systems. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-3204-0.
Повний текст джерела1941-, Prince John L., ed. Simultaneous switching noise of CMOS devices and systems. Boston: Kluwer Academic, 1994.
Знайти повний текст джерелаZhao, Yi. Wafer level reliability of advanced CMOS devices and processes. New York: Nova Science Publishers, 2008.
Знайти повний текст джерелаBallan, Hussein, and Michel Declercq. High Voltage Devices and Circuits in Standard CMOS Technologies. Boston, MA: Springer US, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-5404-9.
Повний текст джерелаBallan, Hussein. High Voltage Devices and Circuits in Standard CMOS Technologies. Boston, MA: Springer US, 1999.
Знайти повний текст джерелаBallan, Hussein. High voltage devices and circuits in standard CMOS technologies. Boston: Kluwer Academic, 1999.
Знайти повний текст джерелаHolst, Gerald C. CMOS/CCD sensors and camera systems. Bellingham, Wash: The International Society for Optical Engineering, 2007.
Знайти повний текст джерелаS, Lomheim Terrence, ed. CMOS/CCD sensors and camera systems. 2nd ed. Winter Park, FL: JCD Publishing, 2011.
Знайти повний текст джерелаHaraszti, Tegze P. CMOS memory circuits. Boston: Kluwer Academic, 2000.
Знайти повний текст джерелаCMOS memory circuits. Boston: Kluwer Academic, 2000.
Знайти повний текст джерелаIncorporated, Advanced Micro Devices. MACH devices: High density EE CMOS programmable logic data book. [Sunnyvale, CA]: AdvancedMicro Devices, Inc., 1989.
Знайти повний текст джерелаR, Holberg Douglas, ed. CMOS analog circuit design. Oxford: Oxford University Press Inc., 1987.
Знайти повний текст джерелаAllen, P. E. CMOS analog circuit design. 2nd ed. New York: Oxford University Press, 2002.
Знайти повний текст джерелаIncorporated, Advanced Micro Devices. Mach devices: High density EE CMOS programmable logic 1991 Data book. Sunnyvale, CA: Advanced Micro Devices, 1991.
Знайти повний текст джерелаTakeda, Eiji. Giga -scale CMOS technology: International electron devices meeting (IEDM) short course. Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronic Engineers, 1997.
Знайти повний текст джерелаKang, Moon Gi. Selected papers on CCD and CMOS imagers. Bellingham, Wash., USA: SPIE Press, 2003.
Знайти повний текст джерелаWang, Jing. CMOS-Compatible Key Engineering Devices for High-Speed Silicon-Based Optical Interconnections. Singapore: Springer Singapore, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-13-3378-1.
Повний текст джерелаColomer-Farrarons, Jordi, and Pere Lluís Miribel-Català. A CMOS Self-Powered Front-End Architecture for Subcutaneous Event-Detector Devices. Dordrecht: Springer Netherlands, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-0686-6.
Повний текст джерелаDeleonibus, Simon, ed. Electronic Device Architectures for the Nano-Cmos Era - From Ultimate CMOS Scaling to Beyond CMOS Devices. Pan Stanford Publishing, 2008. http://dx.doi.org/10.1142/9789814241298.
Повний текст джерелаElectronic device architectures for the nano-CMOS era: From ultimate CMOS scaling to beyond CMOS devices. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Знайти повний текст джерелаEl-Kareh, Badih. CMOS and BiCMOS Process Integration and Device Characterization. Springer, 2007.
Знайти повний текст джерелаYtterdal, Trond, Yuhua Cheng, and Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2008.
Знайти повний текст джерелаMangan, Alain Marc. Millimetre-wave device characterization for nano-CMOS IC design. 2005.
Знайти повний текст джерелаYtterdal, Trond, Yuhua Cheng, and Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley, 2003.
Знайти повний текст джерелаYtterdal, T., Tor Fjeldly, Trond Ytterdal, and Yuhua Cheng. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2003.
Знайти повний текст джерелаT. CHENG, YUHUA FJELDLY, TOR YTTERDAL. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Not Avail, 2003.
Знайти повний текст джерелаYtterdal, Trond, Yuhua Cheng, and Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2003.
Знайти повний текст джерелаMahapatra, Santanu, and Adrian Mihai Ionescu. Hybrid CMOS Single-Electron-Transistor Device And Circuit Design. Artech House Publishers, 2006.
Знайти повний текст джерелаHigh Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Знайти повний текст джерелаSüss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2021.
Знайти повний текст джерелаS�ss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Знайти повний текст джерелаSüss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Знайти повний текст джерелаS�ss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Знайти повний текст джерелаSarbishaei, Hossein, Oleg Semenov, and Manoj Sachdev. ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies. Springer, 2008.
Знайти повний текст джерелаESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies. Springer Netherlands, 2010.
Знайти повний текст джерела