Статті в журналах з теми "Caractérisation des films adhésifs"
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Halioui, M., A. Bonnard, and H. P. Lieurade. "Caractérisation des adhésifs structuraux." Matériaux & Techniques 79, no. 11 (1991): 29–38. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199179110029.
Повний текст джерелаLurton, Y., F. Lesourd, and C. Gay. "Résistance à la rupture des films adhésifs." Revue Francophone de Cicatrisation 1, no. 1 (January 2017): 143. http://dx.doi.org/10.1016/s2468-9114(17)30333-x.
Повний текст джерелаAngélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 9-10 (1996): 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.
Повний текст джерелаAngélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 11-12 (1996): 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.
Повний текст джерелаMbaye, K., M. Pham Tu, N. T. Viet, L. Wartski, and J. C. Villegier. "Elaboration et caractérisation en hyperfréquences de films minces de NbN." Revue de Physique Appliquée 20, no. 7 (1985): 457–63. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007045700.
Повний текст джерелаMeneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle, and J. C. Pommier. "Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.
Повний текст джерелаPetitjean, C., M. Grafouté, C. Rousselot, J. F. Pierson, O. Banakh, and A. Cavaleiro. "Caractérisation de films colorés de Fe-O-N élaborés par pulvérisation magnétron réactive." Matériaux & Techniques 94, no. 1 (2006): 23–29. http://dx.doi.org/10.1051/mattech:2006021.
Повний текст джерелаEve, Sophie, Florent Moisy, Rosine Coq Germanicus, Clara Grygiel, Eric Hug, and Isabelle Monnet. "Caractérisation par nanoindentation du GaN irradié par des ions uranium de grande énergie." Matériaux & Techniques 105, no. 1 (2017): 108. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2017008.
Повний текст джерелаMimault, J., K. Bouslikhane, T. Girardeau, and M. Jaouen. "Caractérisation structurale EXAFS et propriétés tribologiques de films minces nanocristallins à base Ni-Ti." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (September 1993): 1193. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091193.
Повний текст джерелаFischer, H., S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse, and M. Piécuch. "Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliques." Revue de Métallurgie 96, no. 9 (September 1999): 1057–66. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996091057.
Повний текст джерелаBendaoud, Abdelber, Amar Tilmatine, Karim Medles, Marius Blajan, Mustapha Rahli, and Lucian Dascalescu. "Caractérisation expérimentale des électrodes couronne de type «dual»." Journal of Electrostatics 64, no. 7-9 (July 2006): 431–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.elstat.2005.10.024.
Повний текст джерелаZimmer, A., N. Stein, C. Boulanger, and L. Johann. "Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique." Journal de Physique IV (Proceedings) 122 (December 2004): 87–92. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004122013.
Повний текст джерелаAzzoug, Asma. "Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange." Journal of Physical & Chemical Research 1, no. 1 (June 1, 2022): 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.
Повний текст джерелаBaborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–429—C4–439. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996439.
Повний текст джерелаBaborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–279—Pr5–286. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998535.
Повний текст джерелаSteinbrunn, A., and M. Bordignon. "Caractérisation de films minces de molybdène métallique déposé sur une face (100) de monoxyde de cobalt CoO." Thin Solid Films 168, no. 1 (January 1989): 61–69. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90689-5.
Повний текст джерелаNewton, Pascal, Frédéric Houzé, Sophie Noël, Lionel Boyer, Pascal Viel, and Gérard Lécayon. "Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique." Journal de Physique III 5, no. 6 (June 1995): 661–75. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995153.
Повний текст джерелаHidalgo, M., J. Guillot, MF Llauro-Darricades, H. Waton та R. Pétiaud. "Caractérisation par la mesure des T1ρ(H) de films obtenus à partir de latex préparés par polymérisation en émulsion". Journal de Chimie Physique 89 (1992): 505–11. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992890505.
Повний текст джерелаHosseini-Sadrabadi, Hamid, Sebastien Volcy, Bruno Chareyre, Christophe Dano, Luc Sibille, and Pierre Riegel. "Un pénétromètre à pointe contrôlé en force ou en déplacement pour une caractérisation étendue des sols." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 1. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024004.
Повний текст джерелаTsikounas, Myriam, and Sébastien Lepajolec. "La jeunesse irrégulière sur grand écran : un demi-siècle d’images." Revue d’histoire de l’enfance « irrégulière » N° 4, no. 1 (January 1, 2002): 87–110. http://dx.doi.org/10.3917/rhei.004.0087.
Повний текст джерелаBasile, Françoise, Jean Bergner, Claude Bombart, Pascale Nallet, Elisabeth Chassaing, and Gérard Lorang. "Quantification de l'analyse en profondeur par spectrométrie d'électrons Auger et pulvérisation ionique : caractérisation des interfaces des films multicouches Cu–Co." Microscopy Microanalysis Microstructures 8, no. 4-5 (1997): 301–14. http://dx.doi.org/10.1051/mmm:1997123.
Повний текст джерелаDezert, Théo, Sérgio Palma-Lopes, Jean-Robert Courivaud, Yannick Fargier, and Christophe Vergniault. "Fusion de données géophysiques (TRE et MASW) et géotechniques (granulométrie) pour la caractérisation de digues en terre." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 4. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024007.
Повний текст джерелаAkani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+-Si-poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés $in~situ$ au bore." Journal de Physique III 3, no. 8 (August 1993): 1675–87. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993228.
Повний текст джерелаAkani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+ - Si - poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés in situ au bore." Journal de Physique III 3, no. 11 (November 1993): 2163. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993278.
Повний текст джерелаRossi, Jérôme. "Essai de caractérisation de l’évolution des musiques super-héroïques de Batman (1989) à The Dark Knight Rises (2012)." Revue musicale OICRM 5, no. 2 (November 30, 2018): 15–47. http://dx.doi.org/10.7202/1054146ar.
Повний текст джерелаKoch, Delphine, and Philippe Molinié. "Une application de la cartographie de potentiel à la caractérisation des matériaux. Étalement de charge et effets anormaux sur des films de polyéthylène téréphtalate." Revue internationale de génie électrique 9, no. 4-5 (October 30, 2006): 449–63. http://dx.doi.org/10.3166/rige.9.449-463.
Повний текст джерелаBonnotte, E., P. Delobelle, L. Bornier, B. Trolard, and G. Tribillon. "Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin." Journal de Physique III 5, no. 7 (July 1995): 953–83. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995169.
Повний текст джерелаCharbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert, and M. Romand. "Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.
Повний текст джерелаGupta, Mridula, V. K. Sharma, A. Kapoor, and K. N. Tripathi. "Fabrication and characterization of polycarbonate thin film optical waveguides." Journal of Optics 28, no. 1 (February 1997): 37–40. http://dx.doi.org/10.1088/0150-536x/28/1/007.
Повний текст джерелаCourivaud, Jean-Robert, Laurent del Gatto, Kamal El Kadi Abderrezzak, Christophe Picault, Mark Morris, and Stéphane Bonelli. "Le projet Overcome : comprendre et modéliser les processus d’érosion par surverse des digues et barrages en remblai constitués de matériaux grossiers à granulométries étalées." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 6. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024009.
Повний текст джерелаDARQUE-CERETTI, Evelyne, Eric FELDER, and Bernard MONASSE. "Caractérisation physico-chimique de revêtements et films minces à applications tribologiques." Frottement, usure et lubrification, March 2012. http://dx.doi.org/10.51257/a-v1-tri5110.
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