Книги з теми "Atomic force microscopy- Nanomaterials"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "Atomic force microscopy- Nanomaterials".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.
Braga, Pier Carlo, and Davide Ricci. Atomic Force Microscopy. New Jersey: Humana Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1385/1592596479.
Повний текст джерелаAhmed, Touhami. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02385-9.
Повний текст джерелаSantos, Nuno C., and Filomena A. Carvalho, eds. Atomic Force Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-8894-5.
Повний текст джерелаHaugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118360668.
Повний текст джерелаVoigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.
Повний текст джерелаPaul, West, ed. Atomic force microscopy. Oxford: Oxford University Press, 2010.
Знайти повний текст джерелаLanza, Mario, ed. Conductive Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2017. http://dx.doi.org/10.1002/9783527699773.
Повний текст джерелаMorita, S., R. Wiesendanger, and E. Meyer, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56019-4.
Повний текст джерелаMorita, Seizo, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, and Roland Wiesendanger, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3.
Повний текст джерелаMorita, Seizo, Franz J. Giessibl, and Roland Wiesendanger, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-01495-6.
Повний текст джерелаMorita, S. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002.
Знайти повний текст джерелаCohen, Samuel H., Mona T. Bray, and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9322-2.
Повний текст джерелаH, Cohen Samuel, Bray Mona T, Lightbody Marcia L, and U.S. Army Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (1st : 1993 : Natick, Mass.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy. New York: Plenum Press, 1994.
Знайти повний текст джерелаH, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, and U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (2nd : 1994 : Natick, Mass.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. New York: Plenum Press, 1997.
Знайти повний текст джерелаCohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2. Boston, MA: Springer US, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9325-3.
Повний текст джерелаCohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Boston, MA: Springer US, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/b118422.
Повний текст джерелаH, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, Foundation for Advances in Medicine and Science., and Symposium on Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (3rd : 1998 : Baltimore, Md.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1999.
Знайти повний текст джерелаGarcía, Ricardo. Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2010. http://dx.doi.org/10.1002/9783527632183.
Повний текст джерелаXie, Hui, Cagdas Onal, Stéphane Régnier, and Metin Sitti. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20329-9.
Повний текст джерелаBaró, Arturo M., and Ronald G. Reifenberger, eds. Atomic Force Microscopy in Liquid. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9783527649808.
Повний текст джерелаR, Kirby A., and Gunning A. P, eds. Atomic force microscopy for biologists. 2nd ed. London: Imperial College Press, 2010.
Знайти повний текст джерелаGarcía, Ricardo Castro. Amplitude modulation atomic force microscopy. Weinheim: Wiley-VCH, 2010.
Знайти повний текст джерелаShen, Cai. Atomic Force Microscopy for Energy Research. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003174042.
Повний текст джерелаCelano, Umberto, ed. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-15612-1.
Повний текст джерелаBraga, Pier Carlo, and Davide Ricci, eds. Atomic Force Microscopy in Biomedical Research. Totowa, NJ: Humana Press, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-61779-105-5.
Повний текст джерелаMolecular manipulation with atomic force microscopy. Boca Raton: CRC Press, 2011.
Знайти повний текст джерелаJ, Drelich, and Mittal K. L. 1945-, eds. Atomic force microscopy in adhesion studies. Utrecht: VSP, 2005.
Знайти повний текст джерелаAndo, Toshio. High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-64785-1.
Повний текст джерелаLanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.
Знайти повний текст джерелаLanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Limited, John, 2017.
Знайти повний текст джерелаLanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.
Знайти повний текст джерелаLanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.
Знайти повний текст джерелаLanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley-VCH Verlag GmbH, 2017.
Знайти повний текст джерелаSanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. CRC Press, 2019. http://dx.doi.org/10.1201/9780429266553.
Повний текст джерелаVoigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer, 2019.
Знайти повний текст джерелаHaugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012.
Знайти повний текст джерелаVance, Armand. Atomic Force Microscopy. Scitus Academics LLC, 2016.
Знайти повний текст джерелаPaul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2010.
Знайти повний текст джерелаVoigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer International Publishing AG, 2020.
Знайти повний текст джерелаSanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаPaul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2018.
Знайти повний текст джерелаAtomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.
Знайти повний текст джерелаNoncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2002.
Знайти повний текст джерелаNoncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаWiesendanger, Roland, E. Meyer, and S. Morita. Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.
Знайти повний текст джерелаNoncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2009.
Знайти повний текст джерелаCohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody, and M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерелаCohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody, and M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.
Знайти повний текст джерела(Editor), M. T. Bray, Samuel H. Cohen (Editor), and Marcia L. Lightbody (Editor), eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 1995.
Знайти повний текст джерелаCohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Springer London, Limited, 2007.
Знайти повний текст джерела