Готові списки джерел за темами / Atomic force microscopy- Nanomaterials / Книги

Книги з теми "Atomic force microscopy- Nanomaterials"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: Atomic force microscopy- Nanomaterials.
Автор: Grafiati
Опубліковано: 6 вересня 2023

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "Atomic force microscopy- Nanomaterials".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Braga, Pier Carlo, and Davide Ricci. Atomic Force Microscopy. New Jersey: Humana Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1385/1592596479.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

Ahmed, Touhami. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02385-9.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

Santos, Nuno C., and Filomena A. Carvalho, eds. Atomic Force Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-8894-5.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
4

Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118360668.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
5

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
6

Paul, West, ed. Atomic force microscopy. Oxford: Oxford University Press, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
7

Lanza, Mario, ed. Conductive Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2017. http://dx.doi.org/10.1002/9783527699773.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
8

Morita, S., R. Wiesendanger, and E. Meyer, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56019-4.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
9

Morita, Seizo, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, and Roland Wiesendanger, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
10

Morita, Seizo, Franz J. Giessibl, and Roland Wiesendanger, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-01495-6.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
11

Morita, S. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
12

Cohen, Samuel H., Mona T. Bray, and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9322-2.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
13

H, Cohen Samuel, Bray Mona T, Lightbody Marcia L, and U.S. Army Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (1st : 1993 : Natick, Mass.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy. New York: Plenum Press, 1994.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
14

H, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, and U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (2nd : 1994 : Natick, Mass.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. New York: Plenum Press, 1997.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
15

Cohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2. Boston, MA: Springer US, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9325-3.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
16

Cohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Boston, MA: Springer US, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/b118422.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
17

H, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, Foundation for Advances in Medicine and Science., and Symposium on Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (3rd : 1998 : Baltimore, Md.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1999.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
18

García, Ricardo. Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2010. http://dx.doi.org/10.1002/9783527632183.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
19

Xie, Hui, Cagdas Onal, Stéphane Régnier, and Metin Sitti. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20329-9.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
20

Baró, Arturo M., and Ronald G. Reifenberger, eds. Atomic Force Microscopy in Liquid. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9783527649808.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
21

R, Kirby A., and Gunning A. P, eds. Atomic force microscopy for biologists. 2nd ed. London: Imperial College Press, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
22

García, Ricardo Castro. Amplitude modulation atomic force microscopy. Weinheim: Wiley-VCH, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
23

Shen, Cai. Atomic Force Microscopy for Energy Research. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003174042.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
24

Celano, Umberto, ed. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-15612-1.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
25

Braga, Pier Carlo, and Davide Ricci, eds. Atomic Force Microscopy in Biomedical Research. Totowa, NJ: Humana Press, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-61779-105-5.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
26

Molecular manipulation with atomic force microscopy. Boca Raton: CRC Press, 2011.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
27

J, Drelich, and Mittal K. L. 1945-, eds. Atomic force microscopy in adhesion studies. Utrecht: VSP, 2005.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
28

Ando, Toshio. High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-64785-1.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
29

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
30

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Limited, John, 2017.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
31

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
32

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
33

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley-VCH Verlag GmbH, 2017.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
34

Sanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. CRC Press, 2019. http://dx.doi.org/10.1201/9780429266553.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
35

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer, 2019.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
36

Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
37

Vance, Armand. Atomic Force Microscopy. Scitus Academics LLC, 2016.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
38

Paul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
39

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer International Publishing AG, 2020.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
40

Sanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
41

Paul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2018.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
42

Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
43

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2002.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
44

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
45

Wiesendanger, Roland, E. Meyer, and S. Morita. Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
46

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2009.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
47

Cohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody, and M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
48

Cohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody, and M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
49

(Editor), M. T. Bray, Samuel H. Cohen (Editor), and Marcia L. Lightbody (Editor), eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 1995.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
50

Cohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Springer London, Limited, 2007.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
Також вас можуть зацікавити добірки на тему "Atomic force microscopy- Nanomaterials" для інших типів джерел:
Статті в журналах Дисертації
Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!

До бібліографії