Готові списки джерел за темами / Atomic Force Microscopy imaging / Книги

Книги з теми "Atomic Force Microscopy imaging"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: Atomic Force Microscopy imaging.
Автор: Grafiati
Опубліковано: 10 грудня 2022
Оновлено: 28 січня 2023

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-50 книг для дослідження на тему "Atomic Force Microscopy imaging".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте книги для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Braga, Pier Carlo, and Davide Ricci. Atomic Force Microscopy. New Jersey: Humana Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1385/1592596479.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
2

Paul, West, ed. Atomic force microscopy. Oxford: Oxford University Press, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
3

Ahmed, Touhami. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02385-9.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
4

Santos, Nuno C., and Filomena A. Carvalho, eds. Atomic Force Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-8894-5.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
5

Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118360668.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
6

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
7

Lanza, Mario, ed. Conductive Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2017. http://dx.doi.org/10.1002/9783527699773.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
8

Morita, S., R. Wiesendanger, and E. Meyer, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56019-4.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
9

Morita, Seizo, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, and Roland Wiesendanger, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
10

Morita, Seizo, Franz J. Giessibl, and Roland Wiesendanger, eds. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-01495-6.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
11

Morita, S. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
12

Cohen, Samuel H., Mona T. Bray, and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9322-2.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
13

H, Cohen Samuel, Bray Mona T, Lightbody Marcia L, and U.S. Army Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (1st : 1993 : Natick, Mass.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy. New York: Plenum Press, 1994.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
14

H, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, and U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (2nd : 1994 : Natick, Mass.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. New York: Plenum Press, 1997.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
15

Cohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2. Boston, MA: Springer US, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9325-3.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
16

Cohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody, eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Boston, MA: Springer US, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/b118422.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
17

H, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, Foundation for Advances in Medicine and Science., and Symposium on Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (3rd : 1998 : Baltimore, Md.), eds. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1999.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
18

García, Ricardo. Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2010. http://dx.doi.org/10.1002/9783527632183.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
19

Xie, Hui, Cagdas Onal, Stéphane Régnier, and Metin Sitti. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20329-9.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
20

Baró, Arturo M., and Ronald G. Reifenberger, eds. Atomic Force Microscopy in Liquid. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9783527649808.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
21

R, Kirby A., and Gunning A. P, eds. Atomic force microscopy for biologists. 2nd ed. London: Imperial College Press, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
22

García, Ricardo Castro. Amplitude modulation atomic force microscopy. Weinheim: Wiley-VCH, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
23

Molecular manipulation with atomic force microscopy. Boca Raton: CRC Press, 2011.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
24

Shen, Cai. Atomic Force Microscopy for Energy Research. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003174042.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
25

Celano, Umberto, ed. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-15612-1.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
26

Braga, Pier Carlo, and Davide Ricci, eds. Atomic Force Microscopy in Biomedical Research. Totowa, NJ: Humana Press, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-61779-105-5.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
27

Veis, Martin. Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization. INTECH Open Access Publisher, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
28

Bellitto, Victor, ed. Atomic Force Microscopy - Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale. InTech, 2012. http://dx.doi.org/10.5772/2673.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
29

Ikai, Atsushi. World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy. Elsevier Science & Technology Books, 2007.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
30

Ikai, Atsushi. The World of Nano-Biomechanics: Mechanical Imaging and Measurement by Atomic Force Microscopy. Elsevier Science, 2007.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
31

Magonov, Sergei, Natalya Yerina, and Sergey Belikov. Atomic Force Microscopy of Polymers: From High-Resolution Imaging to Probing Local Mechanical Properties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2016.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
32

Dror, Sarid. Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces. Oxford Series in Optical and Imaging Sciences. Oxford University Press, 1994.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
33

Chen, C. Julian. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy. 3rd ed. Oxford University Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198856559.001.0001.

Повний текст джерела
Анотація:
The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic force microscope (AFM), it enables non-destructive observing and mapping atoms and molecules on solid surfaces down to a picometer resolution. A recent development is the non-destructive observation of wavefunctions in individual atoms and molecules, including nodal structures inside the wavefunctions. STM and AFM have become indespensible instruments for scientists of various disciplines, including physicists, chemists, engineers, and biologists to visualize and utilize the microscopic world around us. Since the publication of the first edition in 1993, this book has been recognized as a standard introduction for everyone that starts working with scanning probe microscopes, and a useful reference book for those more advanced in the field. After an Overview chapter accessible for newcomers at an entry level presenting the basic design, scientific background, and illustrative applications, the book has three Parts. Part I, Principles, provides the most systematic and detailed theory of its scientific bases from basic quantum mechancis and condensed-metter physics in all available literature. Quantitative analysis of its imaging mechanism for atoms, molecules, and wavefunctions is detailed. Part II, Instrumentation, provides down to earth descriptions of its building components, including piezoelectric scanners, vibration isolation, electronics, software, probe tip preparation, etc. Part III, Related methods, presenting two of its most important siblings, scanning tunnelling specgroscopy and atomic force miscsoscopy. The book has five appendices for background topics, and 405 references for further readings.
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
34

Sanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. CRC Press, 2019. http://dx.doi.org/10.1201/9780429266553.

Повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
35

Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
36

Paul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2018.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
37

Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
38

Paul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2010.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
39

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer International Publishing AG, 2020.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
40

Sanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
41

Vance, Armand. Atomic Force Microscopy. Scitus Academics LLC, 2016.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
42

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer, 2019.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
43

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2002.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
44

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2009.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
45

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
46

Wiesendanger, Roland, E. Meyer, and S. Morita. Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
47

(Editor), M. T. Bray, Samuel H. Cohen (Editor), and Marcia L. Lightbody (Editor), eds. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 1995.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
48

Cohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody, and M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
49

Cohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody, and M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
50

Cohen, Samuel H., and Marcia L. Lightbody. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Springer, 2013.

Знайти повний текст джерела
Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.
Також вас можуть зацікавити добірки на тему "Atomic Force Microscopy imaging" для інших типів джерел:
Статті в журналах Дисертації
Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!

До бібліографії