Увійти

Готові списки джерел за темами / Рефлектометрія / Статті в журналах

Статті в журналах з теми "Рефлектометрія"

Щоб переглянути інші типи публікацій з цієї теми, перейдіть за посиланням: Рефлектометрія.

Автор: Grafiati

Опубліковано: 30 травня 2022

Оновлено: 31 травня 2022

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся з топ-50 статей у журналах для дослідження на тему "Рефлектометрія".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Переглядайте статті в журналах для різних дисциплін та оформлюйте правильно вашу бібліографію.

1

Karpets, M. L., T. V. Tropin, L. A. Bulavin, and J. W. P. Schmelzer. "Neutron reflectometry for structural studies in thin films of polymer nanocomposites. Modeling." Nuclear Physics and Atomic Energy 19, no. 4 (December 25, 2018): 376–82. http://dx.doi.org/10.15407/jnpae2018.04.376.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Якухина, А. В., Д. В. Горелов, А. С. Кадочкин, С. С. Генералов, В. В. Амеличев та В. В. Светухин. "Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке". Nanoindustry Russia 13, № 7-8 (14 грудня 2020): 450–57. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457.

Повний текст джерела

Анотація:

В настоящей статье представлены результаты исследования влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из нитрида кремния толщиной 100 и 200 нм на оптические потери в интегральных волноводах шириной 3 и 8 мкм. Представлен расчет основных параметров шероховатости боковых стенок световодного слоя, оказывающих наибольшее влияние на оптические потери в волноводе, проведенный методом конечных временных разностей. На основании данного расчета была установлена оптимальная толщина световодного слоя из нитрида, позволяющая удерживать световой поток. За основу расчета при построении модели были взяты данные, полученные в ходе исследования РЭМ-снимков, изготовленных волноводных структур. Результаты приведенных расчетов согласуются с данными, полученными в результате исследования посредством рефлектометрии в частотной области рефлектометра обратного рассеяния изготовленных волноводов с толщиной световодного слоя из нитрида кремния 200 нм и шириной 3 и 8 мкм.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Bogachkov, I. V., and N. I. Gorlov. "IMPROVEMENT OF DEVICES FOR EARLY DIAGNOSTICS OF THE OPTICAL FIBERS STATE OF TELECOMMUNICATIONS SYSTEMS." Dynamics of Systems, Mechanisms and Machines 8, no. 4 (2020): 105–12. http://dx.doi.org/10.25206/2310-9793-8-4-105-112.

Повний текст джерела

Анотація:

В работе обсуждаются вопросы построения схем бриллюэновских рефлектометров, рассмотрены алгоритмы обработки результатов измерений. Представленные в исследовании результаты позволяют улучшить алгоритмы обработки бриллюэновских рефлектограмм за счёт введения опорных каналов и опорной базы данных. Приведённые схемы бриллюэновских рефлектометров представляют интерес для совершенствования систем мониторинга оптических волокон.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Григорьев, В. В., В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин та С. В. Тихомиров. "Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров". PHOTONICS Russia 13, № 7 (20 листопада 2019): 676–79. http://dx.doi.org/10.22184/1992-7296.fros.2019.13.7.676.679.

Повний текст джерела

Анотація:

В статье представлены результаты исследовательских работ, направленных на обеспечение единства измерений параметров оптических рефлектометров. Описываются эталонная база и нормативно-техническая документация, созданные специалистами ВНИИОФИ. Рассматриваются результаты внедрения и применения созданных эталонов. Также приводятся результаты исследований методов калибровки нового перспективного класса оптических рефлектометров, работающих в частотной области.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

N.S., Kosarev, and Sipko A.I. "Application of GNSS-reflectometry for monitoring world ocean level." Geodesy and Aerophotosurveying 65, no. 1 (2021): 61–67. http://dx.doi.org/10.30533/0536-101x-2020-65-1-61-67.

Повний текст джерела

Анотація:

Рассмотрен вопрос применения метода ГНСС-рефлектометрии для мониторинга уровня Мирового океана. Выполнен эксперимент по оценке точности определения уровня Атлантического океана на станции Роскоф (Франция). По результатам проведенного эксперимента установлено, что средняя квадратическая погрешность, определенная по результатам сравнения трехмесячных измерений, полученных по показаниям мареографа радарного типа и метода ГНСС-рефлектометрии, составила 0,617 м при среднем арифметическом значении 0,048 м.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Никитенко, Ю. В., А. В. Петренко, Н. А. Гундорин, Ю. М. Гледенов та В. Л. Аксенов. "Изотопно-идентифицирующая рефлектометрия нейтронов". Кристаллография 60, № 4 (2015): 518–32. http://dx.doi.org/10.7868/s0023476115030108.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Соллер, Б. Дж., Д. К. Гиффорд, М. С. Вольф та М. Э. Фроггатт. "Оптическая рефлектометрия обратного рассеяния (OBR)". PHOTONICS Russia 13, № 5 (4 вересня 2019): 452–60. http://dx.doi.org/10.22184/1993-7296.fros.2019.13.5.452.460.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Тимошенков, В. П., Д. В. Родионов, Н. А. Шелепин та А. В. Селецкий. "СВЧ-РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ N-МОП КНИ-ТРАНЗИСТОРОВ". NANOINDUSTRY Russia 96, № 3s (15 червня 2020): 353–55. http://dx.doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.3s.353.355.

Повний текст джерела

Анотація:

Проведены исследования динамических параметров 180 нм n-МОП КНИ-транзисторов. Рассмотрены конструкции А-типа (контакт к активной области встроен в исток) и Н-типа (контакт к активной области выполнен в виде отдельного электрода). Показано, что транзисторы А-типа имеют существенно большее значение максимальной частоты усиления по току (FT), чем транзисторы Н-типа. The paper highlights dynamic parameters of n-MOS SOI (180 nm) transistors. Two designs of transistors are considered: A-type, in which a contact to the active region is built into the source, and H-type, in which this contact is made as a separate electrode. The studies have been carried out by using the reflectometry method. It has been shown that A-type transistors have a significantly higher value of frequency (FT) than H-type transistors.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Жакетов, В. Д., Е. Читану та Ю. В. Никитенко. "НЕЙТРОННЫЕ РЕФЛЕКТОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛЕНОК ZNO, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 7 (2018): 27–33. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352818070041.

Повний текст джерела

Анотація:

Методом нейтронной рефлектометрии исследованы текстурированные и допированные алюминием пленки ZnO. Пленки представляют собой квазипериодические структуры с периодом несколько нанометров. Пленки неоднородны в поверхностном слое толщиной 10-20 нм.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Плешанов, Н. К. "К рефлектометрии нейтронов с прецессирующими спинами". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 12 (2019): 8–19. http://dx.doi.org/10.1134/s0207352819090117.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

11

Никитенко, Ю. В. "Рефлектометрия нейтронов в стационарном и осциллирующем магнитных полях". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 2015, № 7 (2015): 10–17. http://dx.doi.org/10.7868/s020735281507015x.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

12

Боднарчук, В. И., А. П. Булкин, Е. А. Кравцов, Н. К. Плешанов, В. Г. Сыромятников та В. А. Ульянов. "Нейтронная рефлектометрия в России: текущее состояние и перспективы". Кристаллография 67, № 1 (2022): 57–71. http://dx.doi.org/10.31857/s0023476122010040.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

13

Гарахин, С. А., М. М. Барышева, Е. А. Вишняков, С. Ю. Зуев, А. С. Кириченко, С. В. Кузин, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников та Н. И. Чхало. "Широкополосные зеркала для спектрогелиографов солнечной обсерватории "КОРТЕС"". Журнал технической физики 90, № 11 (2020): 1876. http://dx.doi.org/10.21883/jtf.2020.11.49978.133-20.

Повний текст джерела

Анотація:

Представлены результаты разработки, изготовления и анализа широкополосных Mo/Si многослойных зеркал для спектрогелиографов солнечной обсерватории "КОРТЕС", работающих в спектральных диапазонах 17-21 и 28-33 nm. Показаны преимущества стекового подхода. Приведены результаты измерений отражательных характеристик зеркал. Ключевые слова: ЭУФ, спектрогелиограф, солнечная корона, широкополосные зеркала, апериодические зеркала, стековые структуры, рефлектометр с лазерно-плазменным источником.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

14

Петренко, В. И., Е. Н. Косячкин, Л. А. Булавин та М. В. Авдеев. "ОБ УСИЛЕНИИ ЭФФЕКТА АДСОРБЦИОННОГО СЛОЯ НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА МЕТАЛЛИЧЕСКИЙ ЭЛЕКТРОД-ЖИДКИЙ ЭЛЕКТРОЛИТ В ЭКСПЕРИМЕНТАХ ПО ЗЕРКАЛЬНОМУ ОТРАЖЕНИЮ В РЕФЛЕКТОМЕТРИИ ТЕПЛОВЫХ НЕЙТРОНОВ, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 7 (2018): 20–26. http://dx.doi.org/10.7868/s020735281807003x.

Повний текст джерела

Анотація:

Рассмотрены возможности оптимизации структуры подложка/электрод/электролит для максимального изменения кривых зеркального отражения в экспериментах по нейтронной рефлектометрии на электрохимической границе раздела между металлическим электродом и жидким электролитом, содержащим ионы Li+, в процессе функционирования. Выбраны и проанализированы характерные соотношения между плотностями длин рассеяния компонентов, для которых кривые отражения наиболее полно передают информацию о структуре переходного слоя твердого электролита, формирующегося на поверхности электрода в ходе зарядки-разрядки.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

15

Жирнов, А. А., К. В. Степанов, А. О. Чернуцкий, А. К. Федоров, Е. Т. Нестеров, Ч. Звелто, А. Б. Пнев та В. Е. Карасик. "Влияние дрейфа частоты лазера в фазочувствительной рефлектометрии". Журнал технической физики 127, № 10 (2019): 603. http://dx.doi.org/10.21883/os.2019.10.48364.177-19.

Повний текст джерела

Анотація:

AbstractThe influence of the laser frequency drift on the operation of phase-sensitive optical time domain reflectometry (φ-OTDR) systems is considered. Theoretical results based on a new numerical φ-OTDR model demonstrating the influence of the laser frequency instability on a signal are reported. This model is verified based on experimental data. It has been used to calculate the signal-to-noise ratio (SNR) of the system for different parameters of the laser source stability. As a result, quantitative requirements for lasers used in φ-OTDR systems are formulated.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

16

Греков, Д. Л., К. К. Третьяк та В. В. Филиппов. "Разработка комплекса двухполяризационной рефлектометрии торсатрона Ураган-2М". Журнал технической физики 86, № 12 (2016): 60. http://dx.doi.org/10.21883/jtf.2016.12.43915.1467.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

17

Киселев, М. А., та Д. Н. Селяков. "Исследование структуры бислоя димиристоилфосфатидилхолина методом нейтронной рефлектометрии". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 4 (2021): 19–24. http://dx.doi.org/10.31857/s1028096021040063.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

18

Лукашенко, Валентина Максимівна, Сергій Федорович Аксьонов, Сергій Миколайович Топчій та Марина Володимирівна Чичужко. "БАГАТОКРИТЕРІАЛЬНА МОДЕЛЬ ЯКІСНОЇ ОЦІНКИ ТА ВИБОРУ СУЧАСНИХ ІМПУЛЬСНИХ РЕФЛЕКТОМЕТРІВ". Вісник Черкаського державного технологічного університету, № 1 (28 лютого 2020): 5–11. http://dx.doi.org/10.24025/2306-4412.1.2020.193193.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

19

ТИХОНОВ, А. М., та Ю. О. ВОЛКОВ. "РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ АДСОРБЦИОННОЙ ПЛЕНКИ ОКТАДЕКАНАМИДА НА ГРАНИЦЕ ТОЛУОЛ-ВОДА". ЖУРНАЛ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ И ТЕОРЕТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ 156, № 3(9) (2019): 440–48. http://dx.doi.org/10.1134/s0044451019090062.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

20

Кожевников, С. В., В. Д. Жакетов, А. В. Петренко, М. В. Булавин, А. Е. Верхоглядов, С. А. Куликов та Е. П. Шабалин. "Использование криогенного замедлителя на нейтронном рефлектометре РЕМУР". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 2016, № 1 (2016): 5–14. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352816010145.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

21

Кукушкин, С. А., К. Х. Нусупов, А. В. Осипов, Н. Б. Бейсенханов та Д. И. Бакранова. "Рентгеновская рефлектометрия и моделирование параметров эпитаксиальных пленок SiC на Si(111), выращенных методом замещения атомов". Физика твердого тела 59, № 5 (2017): 986. http://dx.doi.org/10.21883/ftt.2017.05.44391.379.

Повний текст джерела

Анотація:

Впервые методами рентгеновской рефлектометрии, ИК-спектроскопии и атомно-силовой микроскопии, (АСМ) проведено комплексное исследование структуры и состава нанослоев SiC. Пленки SiC были синтезированы новым методом топохимического замещения атомов подложки при различных температурах и давлениях рабочего газа CO на поверхности высокоомного, низкодислокационного монокристаллического кремния n-типа ориентации (111). На основании анализа и обобщения экспериментальных данных, полученных с использованием методов рентгеновской рефлектометрии, ИК-спектроскопии и АСМ предложена структурная модель пленок SiC на Si. Согласно данной модели пленки карбида кремния состоят из ряда параллельных подложке слоев, напоминающих "слоеный пирог". Экспериментально определен состав и толщина каждого слоя, входящего в структуру пленки. Обнаружено, что во всех образцах присутствует в сверхстехиометрическом состоянии углерод, однако, его структура существенно различна для образцов, синтезированных при температурах 1250oC и 1330oC, соответственно. В первом случае поверхность пленок насыщена кремниевыми вакансиями и углеродом, находящимся в структурно "рыхлой" форме, напоминающей углерод в состоянии HOPG. В пленках, выращенных при температуре 1330oC, углерод находится в плотной структуре, приближающейся по плотности к алмазу. С.А. Кукушкин и А.В. Осипов благодарят за финансовую поддержку РФФИ (гранты NN 15-0306155, 16-29-03149-офи-м). Нусупов К.Х., Бейсенханов Н.Б. и Бакранова Д.И. благодарят за финансовую поддержку Комитет науки МОН РК (гранты ГР NN 0262/ГФ4, 4327/ГФ4; 2015-2017 гг.). Часть экспериментальных исследований проводились при использовании оборудования Уникальной научной установки (УНУ) "Физика, химия и механика кристаллов и тонких пленок" ФГУН ИПМаш РАН. DOI: 10.21883/FTT.2017.05.44391.379

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

22

Астафьев, С. Б., та Л. Г. Янусова. "Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок". Кристаллография 63, № 5 (2018): 773–77. http://dx.doi.org/10.1134/s002347611805003x.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

23

Юнин, П. А., Ю. Н. Дроздов та Н. С. Гусев. "ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ СКОЛЬЗЯЩЕГО ПАДЕНИЯ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛЕНОК, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 7 (2018): 74–77. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352818070119.

Повний текст джерела

Анотація:

На примере пленок тантала рассмотрены особенности анализа тонких пленок методами малоугловой рентгеновской рефлектометрии и рентгеновской дифрактометрии в геометрии скользящего падения. В частности показано, что сильный сдвиг дифракционного пика при малых углах падения связан с преломлением рентгеновских лучей вблизи угла полного внешнего отражения. Результаты измерений хорошо согласуются с расчетами. Учет рассмотренных факторов необходим для корректного анализа распределения свойств тонких пленок по их глубине методом рентгеновской дифрактометрии в геометрии скользящего падения. Показано, что рассмотренный в работе подход можно использовать для определения материальных констант ( , ) и толщины пленок тантала.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

24

Беспрозванных, В., Ф. Барков, Ю. Константинов, А. Кривошеев, А. Бобровский, and Р. Елисеенко. "NONLINEAR REFLECTOMETRY OF FIBER-OPTIC CABLE DEFORMED STAT." Applied photonics, no. 2 (September 3, 2015): 144–53. http://dx.doi.org/10.15593/2411-4367/2015.2.03.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

25

Кривошеев, А., Ф. Барков та Ю. Константинов. "КОНТРОЛЬ ВОЛС МЕТОДОМ БРИЛЛЮЭНОВСКОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ: ПРОБЛЕМЫ И ВОЗМОЖНЫЕ РЕШЕНИЯ". LAST MILE Russia 92, № 7-8 (10 листопада 2020): 38–44. http://dx.doi.org/10.22184/2070-8963.2020.92.7-8.38.44.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

26

Саламатов, Ю. А., та Е. А. Кравцов. "Применение гадолиния в качестве опорного слоя в нейтронной рефлектометрии". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 11 (2016): 62–66. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352816110160.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

27

Kyaw Zaw Lin та В. Г. Сыромятников. "Исследование многослойной магнитной наноструктуры Fe/Co методом нейтронной рефлектометрии". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 12 (2016): 8–14. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352816120131.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

28

Никова, Е. С., Ю. А. Саламатов, Е. А. Кравцов, М. В. Макарова, В. В. Проглядо, В. В. Устинов, В. И. Боднарчук та А. В. Нагорный. "Экспериментальная апробация метода опорного слоя в резонансной нейтронной рефлектометрии". Физика металлов и металловедение 120, № 9 (2019): 913–19. http://dx.doi.org/10.1134/s0015323019090109.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

29

Глушкова, Т. И., В. А. Соловей, В. А. Ульянов, М. В. Дьячков, М. Р. Колхидашвили, Т. В. Савельева, А. А. Сумбатян та В. Г. Сыромятников. "ЭЛЕКТРОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ РЕФЛЕКТОМЕТРА ПОЛЯРИЗОВАННЫХ НЕЙТРОНОВ ДЛЯ РЕАКТОРА ИР-8". Приборы и техника эксперимента, № 2 (2019): 19–23. http://dx.doi.org/10.1134/s0032816219020095.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

30

Алексеев, А. Э., В. С. Вдовенко, Б. Г. Горшков, В. Т. Потапов та Д. Е. Симикин. "Когерентный двухчастотный фазочувствительный рефлектометр с амплитудной модуляцией зондирующих импульсов". Радиотехника и электроника 61, № 4 (2016): 384–88. http://dx.doi.org/10.7868/s0033849416040033.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

31

Жакетов, В. Д., К. Храмко, А. В. Петренко, Ю. Н. Хайдуков, А. Чик, Ю. Н. Копач, Н. А. Гундорин, Ю. В. Никитенко та В. Л. Аксенов. "Рефлектометр поляризованных нейтронов с регистрацией нейтронов и гамма-квантов". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 6 (2021): 10–24. http://dx.doi.org/10.31857/s1028096021060170.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

32

Тихонов, А. М., В. Е. Асадчиков, Ю. О. Волков, Б. С. Рощин та Ю. А. Ермаков. "РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ МОНОСЛОЕВ DMPS НА ВОДНОЙ ПОДЛОЖКЕ, "Журнал экспериментальной и теоретической физики"". Журнал экспериментальной и теоретической физики, № 6 (2017): 1233–40. http://dx.doi.org/10.7868/s0044451017120082.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

33

Саламатов, Ю. А., та Ю. А. Бабанов. "Концентрационный профиль металлических многослойных магнитных гетероструктур по данным рентгеновской рефлектометрии". Известия Российской академии наук. Серия физическая 78, № 1 (2014): 128–30. http://dx.doi.org/10.7868/s036767651309041x.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

34

Астафьев, С. Б., Б. М. Щедрин та Л. Г. Янусова. "Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефлектометрии тонких пленок, "Кристаллография"". Кристаллография, № 2 (2017): 311–16. http://dx.doi.org/10.7868/s0023476117020059.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

35

Рябухина, М. В., Е. А. Кравцов, Д. В. Благодатков, Л. И. Наумова, В. В. Проглядо, В. В. Устинов та Ю. Хайдуков. "Применение нейтронной поляризационной рефлектометрии для исследования сверхрешеток Fe/Cr/Gd". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2014, № 10 (2014): 26–29. http://dx.doi.org/10.7868/s0207352814100163.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

36

Астафьев, С. Б., та Л. Г. Янусова. "Определение параметров пленок, формируемых на жидкой субфазе, по данным рефлектометрии". Кристаллография 66, № 6 (2021): 930–32. http://dx.doi.org/10.31857/s0023476121060035.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

37

Саламатов, Ю. А., та Е. А. Кравцов. "Применение метода фазово-амплитудных функций в рентгеновской и нейтронной рефлектометрии". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 5 (2021): 3–12. http://dx.doi.org/10.31857/s1028096021050174.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

38

ГРИГОРЬЕВ, В. В., В. Е. КРАВЦОВ, А. К. МИТЮРЕВ, Е. А. МОРОЗ, А. О. ПОГОНЫШЕВ та К. Б. САВКИН. "Методы калибровки оптических рефлектометров высокого разрешения, работающих в частотной области". Izmeritel`naya Tekhnika, № 9 (2018): 40–43. http://dx.doi.org/10.32446/0368-1025it-2018-9-40-43.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

39

Trenkal, E. I., and A. G. Loschilov. "Measurement of liquid levels using time-domain reflectometry method." Proceedings of Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics 19, no. 4 (2016): 67–73. http://dx.doi.org/10.21293/1818-0442-2016-19-4-67-73.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

40

КемельбековБ, Ж., та М. Полуанов. "Талшықты-оптикалық бриллюэновскую байланысоптического желілеріндегі бриллюэн основе рефлектометрияәситнов дісінталдау". INTERNATIONAL JOURNAL OF INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES, № 6(6) (14 березня 2022): 62–67. http://dx.doi.org/10.54309/ijict.2022.2.6.008.

Повний текст джерела

Анотація:

Однойиз проблем обеспечения надежности и долговечности ОК (ОК —оптический кабель) является сравнительно высокая хрупкость оптического волокна, котороечувствительнок различного рода воздействиям и нагрузкам: влаге, температуре, кабелей микроизгибами радиации. С полуанов течениемкабелей временипод воздействием personik внутреннихи barnoski внешнихфакторов в ОВ(ОВ–оптическое волокно)относительная происходитниже развитиемикротрещин, оболочку приводящеек меняется возникновениюобрывов. fibers Однимиз исследования наиболееперспективных поэтому подходовк имеют измерениюнатяжных optical волоконс оптического практическойточки рабочих зренияпайда являетсяиспользование barnoski методаjensen бриллюэновскойрефлектометрии.В заключение даннойчастота работеприведен оптического анализнатяжения методарефлектометриив приводит волоконно-оптическихлинияхсвязи.каждой Оптикалық кабельдің сенімділігімен jensen беріктігінқамтамасыз ету монтажа проблемаларының погрешность бірі–ҽртҥрлі ҽmicrobending серлермен зарубежная жҥктемелергесезімтал izmer оптикалық талшылықтыңсалыстырмалы brillouin тҥрдевнутри жоғарысынғыштығы: благодаря ылғал, кабели температура, микробҧйымдар монтаже жҽнеhartog сҽулелену. Уақыт ҿте бриллюэновском келеікабелей шкі жҽне внешним сыртқыreflectometry факторлардың ҽсерінен рассения ОМ-демостах микрокрактардамып, ҥbarnoski зілістердің determination пайдаболуына ҽрассеянии келеді. спецификации Кернеуталшықтарын предупредить практикалық монтаже тҧрғыданҿлшеудің ең brillouin перспективалыкабели тҽсілдерінің бірі–Бриллюэнкабелей рефлектометрияҽдісін қолдану. Бҧлproblemy жҧмыстаталшықты–оптикалық кабелей байланысjensen желілеріндегі рефлектометрия ҽрефлектометре дісінармирующей талдаймыз.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

41

Гимпилевич, Юрий Борисович, та Юнус Я. Смайлов. "Аналитическое решение системы нелинейных измерительных уравнений 12-полюсного микроволнового рефлектометра". Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника 50, № 10 (6 жовтня 2007): 52–58. http://dx.doi.org/10.20535/s0021347007100068.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

42

Андреева, М. А., Р. А. Баулин, Н. О. Антропов, Е. А. Кравцов, М. В. Рябухина, В. В. Попов, В. В. Устинов, А. И. Чумаков та Р. Рюффер. "Ядерно-резонансная рефлектометрия сверхрешеток Dy/Gd, "Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики"". Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, № 3-4 (2018): 198–202. http://dx.doi.org/10.7868/s0370274x18030116.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

43

Lukin, K. A., D. N. Tatyanko, Y. A. Shiyan, L. V. Yurchenko, and A. V. Bazakutsa. "Optical reflectometer based on the method of spectral interferometry." RADIOFIZIKA I ELEKTRONIKA 20, no. 2 (June 18, 2015): 90–96. http://dx.doi.org/10.15407/rej2015.02.090.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

44

Ponomarev, R., and D. Shevtsov. "USING OF OPTICAL REFLECTOMETRY IN INTEGRATED-OPTIC DEVICE PRODUCTION." Applied photonics 1-2 (October 25, 2018): 102–7. http://dx.doi.org/10.15593/2411-4367/2018.1-2.07.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

45

Glagolev, S. F., M. V. Dashkov, A. S. Diubov, and V. A. Hrichkov. "On the potential of optical reflectometry in visible region of spectrum." Infokommunikacionnye tehnologii 15, no. 3 (September 2017): 226–33. http://dx.doi.org/10.18469/ikt.2017.15.3.03.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

46

Иванченко, И. А. "Теоретические и прикладные аспекты использования дифференциальной КВЧ-рефлектометрии при диагностике атеросклероза". Фізика живого (Біофізика і далі) 10, № 1 (2002): 105–12.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

47

Астафьев, С. Б., та Л. Г. Янусова. "Синтез автокорреляционной функции для решения обратной задачи в рефлектометрии тонких пленок". Кристаллография 64, № 1 (2019): 117–19. http://dx.doi.org/10.1134/s0023476118060024.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

48

Девятериков, Д. И., Е. А. Кравцов, В. В. Проглядо, В. Д. Жакетов та Ю. В. Никитенко. "Исследование гелимагнетизма в тонких пленках Dy и Ho методом нейтронной рефлектометрии". Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 6 (2021): 3–9. http://dx.doi.org/10.31857/s1028096021060054.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

49

Россов, Д. А. "Использование метода бриллюэновской рефлектометрии BOTDR для мониторинга волоконно-оптических линий связи". ТЕНДЕНЦИИ РАЗВИТИЯ НАУКИ И ОБРАЗОВАНИЯ 82, № 2 (2022): 80–83. http://dx.doi.org/10.18411/trnio-02-2022-56.

Повний текст джерела

Анотація:

В статье дано определение и специфика волоконно-оптических линий связи (ВОЛС), изучена особенность BOTDR. Описана установка, в которою для экспериментальной верификации был добавлен модуль оптической накачки для организации усиления в линии, состоявшей из четырѐх бухт одномодового волокна.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

50

Dashkov, M., and A. Smirnov. "POLARIZATION REFLECTOMETRY OF OPTICAL FIBERS: PHYSICAL FOUNDATIONS, METHODS AND APPLICATIONS (REVIEW ARTICLE)." Applied photonics 1-2 (October 25, 2018): 62–91. http://dx.doi.org/10.15593/2411-4367/2018.1-2.05.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!