Artigos de revistas sobre o tema "Secondary ion mass spectrometer"
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Todd, Peter J., e T. Gregory Schaaff. "A secondary ion microprobe ion trap mass spectrometer". Journal of the American Society for Mass Spectrometry 13, n.º 9 (setembro de 2002): 1099–107. http://dx.doi.org/10.1016/s1044-0305(02)00434-8.
Texto completo da fonteOlthoff, J. K., I. A. Lys e R. J. Cotter. "A pulsed time-of-flight mass spectrometer for liquid secondary ion mass spectrometry". Rapid Communications in Mass Spectrometry 2, n.º 9 (setembro de 1988): 171–75. http://dx.doi.org/10.1002/rcm.1290020902.
Texto completo da fonteBaturin, V. A., S. A. Eremin e S. A. Pustovoĭtov. "Secondary ion mass spectrometer based on a high-dose ion implanter". Technical Physics 52, n.º 6 (junho de 2007): 770–75. http://dx.doi.org/10.1134/s1063784207060163.
Texto completo da fonteJiang, Jichun, Lei Hua, Yuanyuan Xie, Yixue Cao, Yuxuan Wen, Ping Chen e Haiyang Li. "High Mass Resolution Multireflection Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer". Journal of the American Society for Mass Spectrometry 32, n.º 5 (20 de abril de 2021): 1196–204. http://dx.doi.org/10.1021/jasms.1c00016.
Texto completo da fonteHull, Robert, Derren Dunn e Alan Kubis. "Nanoscale Tomographic Imaging using Focused Ion Beam Sputtering, Secondary Electron Imaging and Secondary Ion Mass Spectrometry". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (agosto de 2001): 934–35. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030749.
Texto completo da fonteISHIKAWA, Shuji, e Yuko TAKEGUCHI. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Japan Society of Colour Material 86, n.º 10 (2013): 386–91. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai.86.386.
Texto completo da fonteFUJITA, Koichi. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Japan Society of Colour Material 79, n.º 2 (2006): 81–85. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.81.
Texto completo da fonteWilliams, Peter. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Annual Review of Materials Science 15, n.º 1 (agosto de 1985): 517–48. http://dx.doi.org/10.1146/annurev.ms.15.080185.002505.
Texto completo da fonteGriffiths, Jennifer. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 80, n.º 19 (outubro de 2008): 7194–97. http://dx.doi.org/10.1021/ac801528u.
Texto completo da fonteZalm, PC. "Secondary ion mass spectrometry". Vacuum 45, n.º 6-7 (junho de 1994): 753–72. http://dx.doi.org/10.1016/0042-207x(94)90113-9.
Texto completo da fonteTorrisi, Lorenzo, Giuseppe Costa, Giovanni Ceccio, Antonino Cannavò, Nancy Restuccia e Mariapompea Cutroneo. "Magnetic and electric deflector spectrometers for ion emission analysis from laser generated plasma". EPJ Web of Conferences 167 (2018): 03011. http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/201816703011.
Texto completo da fonteTang, X., R. Beavis, W. Ens, F. Lafortune, B. Schueler e K. G. Standing. "A secondary ion time-of-flight mass spectrometer with an ion mirror". International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes 85, n.º 1 (julho de 1988): 43–67. http://dx.doi.org/10.1016/0168-1176(88)83004-0.
Texto completo da fonteSchueler, Bruno, e Robert W. Odom. "Applications of Time-OF-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, n.º 2 (12 de agosto de 1990): 308–9. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135149.
Texto completo da fonteWarmenhoven, J., J. Demarche, V. Palitsin, K. J. Kirkby e R. P. Webb. "Modeling Transport of Secondary Ion Fragments into a Mass Spectrometer". Physics Procedia 66 (2015): 352–60. http://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2015.05.044.
Texto completo da fonteKonarski, Piotr, Krzysztof Kaczorek, Michał Ćwil e Jerzy Marks. "Quadrupole-based glow discharge mass spectrometer: Design and results compared to secondary ion mass spectrometry analyses". Vacuum 81, n.º 10 (junho de 2007): 1323–27. http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2007.01.038.
Texto completo da fonteLin, Y. P., e Y. C. Ling. "Surface Study of Polymers by Static Secondary Ion Mass Spectrometry Using a Magnetic-Sector Mass Spectrometer". Journal of the Chinese Chemical Society 40, n.º 3 (junho de 1993): 229–40. http://dx.doi.org/10.1002/jccs.199300035.
Texto completo da fonteGrasserbauer, M. "Quantitative secondary ion mass spectrometry". Journal of Research of the National Bureau of Standards 93, n.º 3 (maio de 1988): 510. http://dx.doi.org/10.6028/jres.093.140.
Texto completo da fonteOdom, Robert W. "Secondary Ion Mass Spectrometry Imaging". Applied Spectroscopy Reviews 29, n.º 1 (fevereiro de 1994): 67–116. http://dx.doi.org/10.1080/05704929408000898.
Texto completo da fonteMorrison, G. H. "Editorial. Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 58, n.º 1 (janeiro de 1986): 1. http://dx.doi.org/10.1021/ac00292a600.
Texto completo da fonteKudo, Masahiro, e Susumu Nagayama. "Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)". Zairyo-to-Kankyo 42, n.º 5 (1993): 312–21. http://dx.doi.org/10.3323/jcorr1991.42.312.
Texto completo da fonteTSUNOYAMA, Kouzou. "Quantitative Secondary Ion Mass Spectrometry". Hyomen Kagaku 7, n.º 3 (1986): 237–42. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.7.237.
Texto completo da fonteOlthoff, James K., e Robert J. Cotter. "Liquid secondary ion mass spectrometry". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 26, n.º 4 (junho de 1987): 566–70. http://dx.doi.org/10.1016/0168-583x(87)90544-1.
Texto completo da fonteSlodzian, Georges, Ting-Di Wu, Noémie Bardin, Jean Duprat, Cécile Engrand e Jean-Luc Guerquin-Kern. "Simultaneous Hydrogen and Heavier Element Isotopic Ratio Images with a Scanning Submicron Ion Probe and Mass Resolved Polyatomic Ions". Microscopy and Microanalysis 20, n.º 2 (19 de fevereiro de 2014): 577–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927613014074.
Texto completo da fonteDaly, Steven, Frédéric Rosu e Valérie Gabelica. "Mass-resolved electronic circular dichroism ion spectroscopy". Science 368, n.º 6498 (25 de junho de 2020): 1465–68. http://dx.doi.org/10.1126/science.abb1822.
Texto completo da fonteZinkiewicz, J. M., M. Sowa, R. Baranowski, L. Glusiec e K. Kiszczak. "A new thermal emission cesium primary ion source for secondary ion mass spectrometer". Review of Scientific Instruments 63, n.º 4 (abril de 1992): 2414–16. http://dx.doi.org/10.1063/1.1142947.
Texto completo da fonteCole, Richard B., Stephen Boue e A. Kamel Harrata. "Implementation of liquid secondary ion mass spectrometry on quadrupole mass spectrometers". Analytica Chimica Acta 267, n.º 1 (setembro de 1992): 121–29. http://dx.doi.org/10.1016/0003-2670(92)85013-v.
Texto completo da fonteNIHEI, YOSHIMASA, HITOMI SATOH, BUNBUNOSHIN TOMIYASU e MASANORI OWARI. "SUBMICRON SECONDARY ION MASS SPECTROMETER FOR THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS OF MICROSTRUCTURE". Analytical Sciences 7, Supple (1991): 527–32. http://dx.doi.org/10.2116/analsci.7.supple_527.
Texto completo da fonteHealy, R. M., J. Sciare, L. Poulain, M. Crippa, A. Wiedensohler, A. S. H. Prévôt, U. Baltensperger et al. "Quantitative determination of carbonaceous particle mixing state in Paris using single particle mass spectrometer and aerosol mass spectrometer measurements". Atmospheric Chemistry and Physics Discussions 13, n.º 4 (19 de abril de 2013): 10345–93. http://dx.doi.org/10.5194/acpd-13-10345-2013.
Texto completo da fonteHealy, R. M., J. Sciare, L. Poulain, M. Crippa, A. Wiedensohler, A. S. H. Prévôt, U. Baltensperger et al. "Quantitative determination of carbonaceous particle mixing state in Paris using single-particle mass spectrometer and aerosol mass spectrometer measurements". Atmospheric Chemistry and Physics 13, n.º 18 (26 de setembro de 2013): 9479–96. http://dx.doi.org/10.5194/acp-13-9479-2013.
Texto completo da fonteSlodzian, Georges, Bernard Daigne e Francois Girard. "Transmission optimization of a microprobe instrument using a magnetic mass spectrometer". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, n.º 2 (agosto de 1992): 1546–47. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100132364.
Texto completo da fonteCHOI, Myoung Choul. "Development of Ar Cluster-Ion Beam and Time-of-Flight Secondary-Ion Mass Spectrometer". Physics and High Technology 28, n.º 6 (28 de junho de 2019): 8–12. http://dx.doi.org/10.3938/phit.28.023.
Texto completo da fonteStanley, M. S., e K. L. Busch. "Primary Beam and Ion Extraction Optics Optimization for An Organic Secondary Ion Mass Spectrometer". Instrumentation Science & Technology 18, n.º 3-4 (janeiro de 1989): 243–64. http://dx.doi.org/10.1080/10739148908543710.
Texto completo da fontevon Criegern, Rolf, e Heinz Zeininger. "SIMS Microarea Depth Profiling of Microelectronic Device Structures". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, n.º 2 (12 de agosto de 1990): 310–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135150.
Texto completo da fonteKatz, W., e J. G. Newman. "Fundamentals of Secondary Ion Mass Spectrometry". MRS Bulletin 12, n.º 6 (setembro de 1987): 40–47. http://dx.doi.org/10.1557/s088376940006721x.
Texto completo da fonteYurimoto, Hisayoshi, e Shigeho Sueno. "Secondary ion mass spectrometry for insulators." Nihon Kessho Gakkaishi 29, n.º 4 (1987): 259–69. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.29.259.
Texto completo da fonteBenninghoven, A., A. M. Huber e H. W. Werner. "Secondary ion mass spectrometry (SIMS VI)". Analytica Chimica Acta 215 (1988): 366. http://dx.doi.org/10.1016/s0003-2670(00)85312-x.
Texto completo da fonteHandley, Judith. "Product Review: Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 74, n.º 11 (junho de 2002): 335 A—341 A. http://dx.doi.org/10.1021/ac022041e.
Texto completo da fonteAndersen, Hans Henrik. "Secondary ion mass spectrometry SIMS V". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 31, n.º 4 (junho de 1988): 597–98. http://dx.doi.org/10.1016/0168-583x(88)90462-4.
Texto completo da fonteRoberts, AlanD. "Secondary ion mass spectrometry (SIMS VII)". Analytica Chimica Acta 242 (1991): 301–2. http://dx.doi.org/10.1016/0003-2670(91)87086-m.
Texto completo da fonteSykes, D. E. "Secondary ion mass spectrometry - SIMS VIII". Spectrochimica Acta Part A: Molecular Spectroscopy 49, n.º 10 (setembro de 1993): 1555–56. http://dx.doi.org/10.1016/0584-8539(93)80061-e.
Texto completo da fonteVainiotalo, Pirjo. "Secondary ion mass spectrometry SIMS IX". Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy 51, n.º 9 (agosto de 1995): 1533. http://dx.doi.org/10.1016/0584-8539(95)90161-2.
Texto completo da fonteLing, Yong-Chien. "Microanalysis Using Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Chinese Chemical Society 41, n.º 3 (junho de 1994): 329–33. http://dx.doi.org/10.1002/jccs.199400045.
Texto completo da fonteLevi-Setti, R., J. M. Chabala, R. Espinosa e M. M. Le Beau. "Advances in imaging SIMS studies of stained and BrdU-labelled human metaphase chromosomes". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 de agosto de 1995): 932–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100141032.
Texto completo da fonteKawaguchi, S., M. Kudo, Masaki Tanemura, Lei Miao, Sakae Tanemura, Y. Gotoh, M. Liao e S. Shinkai. "Angle Dependent Sputtering and Dimer Formation from Vanadium Nitride Target by Ar+ Ion Bombardment". Advanced Materials Research 11-12 (fevereiro de 2006): 607–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.11-12.607.
Texto completo da fontePeng, Bijie, Mingyue He, Sheng He, Mei Yang e Yujia Shi. "New Olivine Reference Materials for Secondary Ion Mass Spectrometry Oxygen Isotope Measurements". Crystals 13, n.º 7 (21 de junho de 2023): 987. http://dx.doi.org/10.3390/cryst13070987.
Texto completo da fonteSong, Tinglu, Meishuai Zou, Defeng Lu, Hanyuan Chen, Benpeng Wang, Shuo Wang e Fan Xu. "Probing Surface Information of Alloy by Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer". Crystals 11, n.º 12 (26 de novembro de 2021): 1465. http://dx.doi.org/10.3390/cryst11121465.
Texto completo da fonteKita, Noriko T., Peter E. Sobol, James R. Kern, Neal E. Lord e John W. Valley. "UV-light microscope: improvements in optical imaging for a secondary ion mass spectrometer". Journal of Analytical Atomic Spectrometry 30, n.º 5 (2015): 1207–13. http://dx.doi.org/10.1039/c4ja00349g.
Texto completo da fonteZhao, L., e C. Yang. "CHEMICAL COMPOSITION OF AEROSOLS IN THE WEST COAST OF TAIWAN STRAIT, CHINA". ISPRS - International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences XLII-3/W9 (25 de outubro de 2019): 233–37. http://dx.doi.org/10.5194/isprs-archives-xlii-3-w9-233-2019.
Texto completo da fonteInglebert, R. L., B. Klossa, J. C. Lorin e R. Thomas. "Proposed in situ secondary ion mass spectrometry on Mars". Planetary and Space Science 43, n.º 1-2 (janeiro de 1995): 129–37. http://dx.doi.org/10.1016/0032-0633(95)93404-2.
Texto completo da fonteKiss, András, Donald F. Smith, Julia H. Jungmann e Ron M. A. Heeren. "Cluster secondary ion mass spectrometry microscope mode mass spectrometry imaging". Rapid Communications in Mass Spectrometry 27, n.º 24 (31 de outubro de 2013): 2745–50. http://dx.doi.org/10.1002/rcm.6719.
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