Bibliografias temáticas / Diffraction des rayons X nanofocalisés

Literatura científica selecionada sobre o tema "Diffraction des rayons X nanofocalisés"

Autor: Grafiati
Publicado: 25 de maio de 2024

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Artigos de revistas sobre o assunto "Diffraction des rayons X nanofocalisés"

1

Ravy, Sylvain. "La diffraction cohérente des rayons X". Reflets de la physique, n.º 34-35 (junho de 2013): 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.

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2

Popescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru e G. Mihailova. "Diffraction de rayons X sur le silicium poreux". Le Journal de Physique IV 08, PR5 (outubro de 1998): Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.

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3

Bach, M., N. Broll, A. Cornet e L. Gaide. "Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X". Le Journal de Physique IV 06, n.º C4 (julho de 1996): C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.

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4

Bourret, A. "Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X". Le Journal de Physique IV 07, n.º C6 (dezembro de 1997): C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.

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5

Abbas, S., A. Raho e M. Kadi-Hanifi. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X". Le Journal de Physique IV 10, PR10 (setembro de 2000): Pr10–49—Pr10–54. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001006.

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6

Kadi-Hanifi, M., H. Yousfi e A. Raho. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X". Revue de Métallurgie 90, n.º 9 (setembro de 1993): 1116. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091116.

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7

Bonod, Nicolas. "Physicien célèbre : Max von Laue". Photoniques, n.º 98 (setembro de 2019): 18–19. http://dx.doi.org/10.1051/photon/20199818.

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Max von Laue est un physicien théoricien allemand spécialiste de la diffraction des ondes, de la relativité et de la superconductivité. Il propose en 1912 de sonder l’arrangement périodique de la matière avec des faisceaux de courtes longueurs d’onde, les rayons X ; et sera récompensé par le prix Nobel de Physique en 1914. La découverte de la diffraction des rayons X par des cristaux sera à l’origine d’avancées majeures dans les 100 ans qui suivirent, de la découverte de la structure de l’ADN à celle des quasi-cristaux.
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8

Brunel, M., e F. de Bergevin. "Diffraction d'un faisceau de rayons X en incidence très rasante". Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography 42, n.º 5 (1 de setembro de 1986): 299–303. http://dx.doi.org/10.1107/s010876738609921x.

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9

Kahloun, C., K. F. Badawi e A. Diou. "Incertitude sur l'analyse des contraintes par diffraction des rayons X". Revue de Physique Appliquée 25, n.º 12 (1990): 1225–38. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0199000250120122500.

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10

Bulteel, D., E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, C. Vernet e J. M. Siwak. "Étude d'un granulat alcali-réactif par diffraction des rayons X". Le Journal de Physique IV 10, PR10 (setembro de 2000): Pr10–513—Pr10–520. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001055.

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Teses / dissertações sobre o assunto "Diffraction des rayons X nanofocalisés"

1

Anjum, Taseer. "Nanomechanics : mechanical response analysis of semiconductor GaAs nanowires by using finite element method and x-ray diffraction techniques". Electronic Thesis or Diss., Aix-Marseille, 2021. http://www.theses.fr/2021AIXM0173.

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Resumo:
Au cours des deux dernières décennies, d’énormes progrès ont été réalisés dans la miniaturisation des dispositifs optoélectroniques et des systèmes nanoélectromécaniques à base de capteurs grâce à l'intégration de nanofils quasi unidimensionnels. Le présent travail porte sur l'analyse de la réponse mécanique de nanofils GaAs semi-conducteurs préparés sur un substrat de silicium par épitaxie par jet moléculaire. Le comportement mécanique du nanofil est caractérisé par des essais de flexion in situ dans un MEB et en combinaison avec la diffraction des rayons X. L'objectif de ce travail est d'identifier le mécanisme responsable de la relaxation anélastique qui a été observée après des essais de flexion ou flexion ou de flambage effectués sur des nanofils de GaAs dopés avec du Be. La déformation anélastique est quantifiée en utilisant un algorithme de corrélation d'images numériques. L'accord entre les simulations FEM et les données mesurées montre que la relaxation anélastique peut être attribuée à l’ effet Gorsky dans les nanofils, c’est à dire au couplage entre la diffusion des défauts ponctuels et le gradient de contrainte. Les nanofils de GaAs dopé avec du Be ont été sollicités in situ en flexion latérale trois points en utilisant SFINX et la XRD sur la ligne de lumière P23 à PETRA III. La flexion a été induite dans les nanofils par le mouvement latéral de la pointe du SFINX. Les nanofils présentent une déformation élastique, une déformation plastique et une relaxation anélastique dépendant du temps. La relaxation anélastique donne lieu à un coefficient de diffusion de 2.71 x 10 puissance -13 cm puissance 2 et est en accord avec un effet Gorsky
During the last two decades, tremendous advances have been made in the miniaturization of opto-electronic devices and sensor-based nano-electromechanical systems by the integration of quasi one-dimensional nanowires. The present work focuses on the mechanical response analysis of semiconductor gallium arsenide (GaAs) nanowires grown on silicon substrate via molecular beam epitaxy. The mechanical behavior of the nanowires is characterized via in-situ bending tests in a scanning electron microscope and in combination with x-ray diffraction. The aim of this work is to identify the anelastic strain relaxation of the nanowires which was observed as a direct consequence of cantilever bending tests and buckling tests on free standing Be-doped GaAs nanowires. The anelastic strain is derived by using a digital image correlation algorithm. The agreement between FEM simulations and measured data conclusively relate the anelastic relaxation in the investigated nanowires to the Gorsky effect, i.e. the coupling between point defects diffusion and stress gradient. Be doped GaAs nanowires are further examined in the lateral three-point bending configuration by employing the Scanning Force Microscope for in situ Nanofocused X-ray diffraction (SFINX) and x-ray diffraction at beamline P23 at PETRA III. The bending of the nanowires was induced by the lateral movement of the tip of SFINX . The nanowires demonstrate elastic deformation, plastic deformation, and time-dependent anelastic relaxation. The anelastic relaxation yields a diffusion coefficient of 2.71 x 10 puissance -13 cm puissance 2 and is consistent with a Gorsky effect
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2

Elzo, Aizarna Marta Ainhoa. "Diffraction résonnante des rayons X dans des systèmes multiferroïques". Phd thesis, Université de Grenoble, 2012. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00870407.

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Resumo:
Le but de cette thèse est d'explorer la faisabilité d'expériences de diffraction résonante sur des systèmes multiferroïques et en particulier avec un champ/courrant électrique appliqué. Un formalisme de matrices de propagation a été développé pour simuler la réflectivité résonante, en utilisant un ensemble d'ondes propres comme base arithmétique pour le calcul. Des expériences de diffraction résonante ont été menées sur trois oxides de métaux de transition. Cette technique combinant la selectivité chimique et la sensibité à l'espace réciproque, elle a été utilisée sur des films très minces de PbTiO3 pour étudier la structure atomique d'un agencement périodique de domaines ferroélectriques. La signatures spectroscopiques observées par nos expériences de diffraction X durs sont reproduites par des simulations ab-initio FDMNES de super-cellules complexes. Dans le domaine X mous, nous avons étudié la structure antiferromagnétique cycloïdale du multiferroïque BiFeO3, et plus spécialement l'empreinte de la cycloïde sur une couche mince de Co déposée sur le matériau multiferroïque. Nous présentons également une expérience dans laquelle nous avons tenté d'explorer l'effet d'un courant électrique appliqué sur un film mince du composé à ordre de charge Pr(1-x)Ca(x)MnO3. La dernière partie est consacrée à l'instrumentation. Nous passons en revue les lignes synchrotron européennes et les diffractomètres qui permettent de faire des expériences de diffraction résonante de rayons X. Pour finir, nous détaillons un nouveau porte-échantillon que nous avons développé et testé sur le diffractomètre RESOXS, et qui permet d'appliquer un champ/courant électrique.
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3

Mastropietro, Francesca. "Imagerie de nanofils uniques par diffraction cohérente des rayons X". Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00716410.

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L'imagerie par diffraction des rayons X cohérents (CDI) en condition de Bragg est utilise pour étudier la déformation de nano-objets uniques. Ceci est possible grâce au développement d'optique focalisante, comme les lentilles de Fresnel (FZP), produisant un faisceau sub-micronique coherent. Les nanostructure étudiées sont reconstruite avec des algorithmes d'inversion à partir de données de diffraction, sous la forme d'un objet complexe, ou l'amplitude correspond à la densité électronique 3D et la phase correspond a la projection de la déformation de l'objet (par rapport a un réseau cristallin parfait) dans la direction du vecteur de diffraction. Dans ce travail, nous avons étudié la déformation dans des nanofils hétérogènes (nanofil de GaAs avec une mono-couche de boîtes quantiques de InAs) et homogènes (silicium fortement contraint sur isolant (sSOI)). Lorsqu'un faisceau focalise de rayons X est utilise, 'a la fois l'amplitude et la phase de l'onde incidente doivent être connu pour une étude quantitative. Le faisceau focalise utilise pendant les expériences a été reconstruit avec la technique CDI, et les effets de cette fonction d'illumination sur l'imagerie de nanofils contraints ont été étudiés. Mots-clés: Imagerie par diffraction x cohérente, contrainte, nanofils, algorithms d'inversion.
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4

Renaud, Alain. "Etude de la structure tridimensionnelle de la gammachymotrypsine par diffraction aux rayons X". Paris 5, 1994. http://www.theses.fr/1994PA05P121.

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5

Kharchi, Djoudi. "Mise au point d'un dispositif permettant l'utilisation de la diffraction des rayons x pour la mesure de contraintes à haute température". Perpignan, 1996. http://www.theses.fr/1996PERP0246.

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Un dispositif de mesure des contraintes mettant en uvre la diffraction des rayons x (methode des sinus carre psi) a ete mis au point et experimente sur divers materiaux. Il est constitue d'une chambre de diffraction permettant l'examen des echantillons in-situ a haute temperature. Le chauffage est assure directement par conduction electrique a travers l'echantillon ou son support. Un verin permet de soumettre les echantillons a des contraintes de traction pendant l'acquisition des diagrammes de diffraction. L'acquisition de donnees comprend un detecteur lineaire, un analyseur multicanaux et un ordinateur. Les modifications de l'angle psi pris par l'echantillon au cours des mesures sont pilotes automatiquement. Sur un alliage fecral (kanthal) on a mesure l'evolution des contraintes residuelles contenues au voisinage de la surface, entre 20 et 400c. Les constantes elastiques necessaires a cette mesure ont ete mesurees dans le meme intervalle de temperature au moyen d'une methode de calibration mettant en jeu la reponse du systeme a l'application de contraintes connues. Sur des echantillons de zircone partiellement stabilise a l'oxyde d'yttrium obtenus par projection plasma sur support de kanthal, on a mis en evidence l'endommagement occasionne par l'application de contraintes de traction dans l'intervalle de temperature 20 - 350c. Les contraintes de surface liees a l'oxydation de depots cvd de aln ont ete mesurees apres une etude preliminaire de la cinetique d'oxydation. Les mesures ont ete effectuees en atmosphere d'air a 1200c. L'alumine formee se trouve en compression pendant l'oxydation et en tension apres retour a la temperature ambiante. Le substrat d'aln est en tension a froid et en compression en debut d'oxydation
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6

Commeinhes, Frédéric. "Structure tridimentionnelle de la carboxypeptidase A par diffraction des rayons X". Paris 5, 1994. http://www.theses.fr/1994PA05P019.

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Dupraz, Maxime. "Diffraction des rayons X cohérents appliquée à la physique du métal". Thesis, Université Grenoble Alpes (ComUE), 2015. http://www.theses.fr/2015GREAI103/document.

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Resumo:
Les propriétés mécaniques des petits objets diffèrent fortement de celles du matériau massif à partir du moment où leurs dimensions deviennent comparables ou inférieures à celles du libre parcours moyen des dislocations (typiquement quelques microns). Par exemple, leur limite élastique augmente quand leur taille diminue. D'autre part les nanostructures sont exposées à de fortes contraintes, telles que celles imposées par les relations épitaxiales avec le substrat.Il existe donc un besoin clair (supporté par des intérêts industriels) d'une meilleure compréhension des phénomènes physiques qui gouvernent les propriétés des matériaux aux échelles nanométriques.Le laboratoire SIMAP est engagé dans ce domaine de recherche et s'y attelle en combinant croissance d'échantillons, méthodes de caractérisation en laboratoire, méthodes numériques et techniques synchrotron.Une des expériences clés développées par notre équipe est la caractérisation in situ des mécanismes de déformation induits par une pointe d'AFM sur une nanostructure par la diffraction des rayons X cohérents. La diffraction des rayons-X cohérents est une technique émergente de synchrotron; qui permet la mesure détaillée de la structure du cristal, y compris le champ de déformation 3D et les défauts potentiels dans des objets micro ou nano structurés. En principe, une image 3D de la structure de l'échantillon peut-être obtenue à partir des données de diffraction cohérente. En pratique, reconstruire une image de l'échantillon peut s'avérer délicat en présence d'un champ de déformation inhomogène et de nombreux défauts cristallins. Le profil du front d'onde qui est généralement assez éloigné d'une onde plane, peut encore ajouter une complication supplémentaire au problème. Dans ces travaux de thèse, il est démontré qu'une image 3D de l'objet peut être reconstruite dans le cas de systèmes modérément complexes
The mechanical properties of small objects deviate strongly from the bulk behaviour, as soon as their size becomes comparable or smaller to the dislocation mean free path (typically a few microns). For instance, their elastic limit increase when their size is reduced. On a another hand, nanostructures are exposed to strong constraints, such as that imposed by epitaxial relations with a substrate. Altogether, there is a clear need (supported by industrial interests) for a better understanding of the fundamental phenomena that govern the mechanical properties of materials at the nanometre scale. The lab SIMaP is engaged in this research and tackles the topic by combining sample growth, laboratory characterisation methods, numerical models, and synchrotron techniques.One key experiment developed by our team is the in situ characterisation of the deformation mechanism induced by an AFM tip on a nanostructure using Coherent X-ray Diffraction (CXD). CXD is an emerging synchrotron technique that allows the detailed measurement of the crystal structure,including strain field and defects, of micro/nano-objects. In principle, a 3D image of the structure of the sample can be obtained from the CXD data. However, it remains difficult in realistic cases, when the strain is very inhomogeneous and crystal defects numerous. The problem is further complicated by the wavefront of the beam, which is usually far from a plane wave, particularly when the AFM tip shadows part of the incoming beam. In this PHD work, it is demonstrated that a 3D image of the object can be reconstructed in case of moderately complex systems
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Rieutord, François. "Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques". Paris 11, 1987. http://www.theses.fr/1987PA112384.

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Resumo:
Différentes études par rayon X de films de molécules amphiphiles (monocouche et multicouches de Langmuir-Blodgett) sont ici présentées. On décrit d'abord une méthode d'analyse structurale utilisant trois techniques conjuguées de rayons X: diffraction en transmission et en réflexion, et étude de la réflexion critique. On montre ensuite que l'examen complet d'une courbe de réflectivité aux rayons X permet d'obtenir des informations détaillées non seulement sur la structure mais aussi sur les interfaces de ces films multicouches. Ces données sont complétées par des observations directes des défauts de la surface au moyen de la microscopie électronique sur des répliques. Enfin on étudie la réflectivité d'une monocouche directement à la surface de l'eau, ce qui fournit d'une part son profil suivant la normale et d'autre part la rugosité de l'interface due aux ondes capillaires excitées thermiquement.
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9

Rieutord, François. "Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques". Grenoble 2 : ANRT, 1987. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb376093669.

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Castagnos, Anne-Marie. "Les relaxeurs ferroélectriques BaTi0,65 Zr0,35 O3 et Pb(1-x)BixMg(1+x)3Nb(2-x)/3O3(0< ou égalx". Toulouse 3, 2002. http://www.theses.fr/2002TOU30197.

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Resumo:
"La relaxation diélectrique (dispersion en fréquence de la permittivité diélectrique) est expliquée par l'impossibilité pour l'ordre polaire de s'établir à longue distance. Dans le PMN (PbMg1/3Nb2/3O3), cela est attribué à une nanostructure complexe avec un ordre chimique local entre Mg et Nb et un ordre polaire local dû à des corrélations entre déplacements atomiques. Ces corrélations évoluent jusqu'à une température de gel où elles se bloquent. La " lone pair" du Pb est également mise en cause dans la relaxation. Afin de préciser le rôle de chaque composante, nous avons synthétisé et étudié les relaxeurs suivants :- BaTi0. 65Zr0. 35O3 qui est un composé sans Pb ni cations hétérovalents sur le site B. - la solution solide Pb1-xBixMg(1+x)/3Nb(2-x)/3O3 où nous pouvons faire varier l'ordre chimique tout en conservant des éléments à "lone pair" sur le site A. . . "
Dielectric relaxation (frequency dispersion of the dielectric permittivity) is explained by the impossibility for the polar order to establish at long range. In PbMg1/3Nb2/3O3, this is attributed to a complex nanostructure where a local chemical order (ordering of the cations on the B site) coexists with a local polar order due to correlations of atomic displacements. These correlations expand up to a temperature known as freezing point, where they block. The Pb lone pair also plays a role in relaxation. In order to specify the role of each component, we have synthesised and studied the following relaxors. .
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Livros sobre o assunto "Diffraction des rayons X nanofocalisés"

1

L, Bish David, e Post Jeffrey Edward, eds. Modern powder diffraction. Washington, D.C: Mineralogical Society of America, 1989.

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2

RX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2004.

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3

Maharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont: Direction de l'hygiène du milieu, 1994.

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4

W, Wyckoff Harold, Hirs, C. H. W. 1923- e Timasheff Serge N. 1926-, eds. Diffraction methods for biological macromolecules. Orlando, Fla: Academic Press, 1985.

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5

N, Broll, Cornet A e Denier P, eds. Rayons X et matière: RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2000.

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6

André, Authier, Lagomarsino Stefano, Tanner B. K, North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division. e NATO Advanced Study Institute on X-ray and Neutron Dynamical Diffraction (1996 : Erice, Italy), eds. X-ray and neutron dynamical diffraction: Theory and applications. New York: Plenum Press, 1996.

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7

RX, 2001 (2001 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2001 : colloque dédié à la mémoire d'André Guinier : ENSAIS, École nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, France, 4-7 décembre 2001. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2002.

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8

X-ray diffraction for materials research: From fundamentals to applications. Oakville, ON: Apple Academic Press, 2016.

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9

K, Tanner B., ed. High resolution X-ray diffractometry and topography. London: Taylor & Francis, 1998.

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10

Zevin, Lev S. Quantitative X-ray diffractometry. New York: Springer, 1995.

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Capítulos de livros sobre o assunto "Diffraction des rayons X nanofocalisés"

1

"7. Diffraction des rayons X et vitrocéramiques". In Du verre au cristal, 157–84. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-1064-2-013.

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2

"7. Diffraction des rayons X et vitrocéramiques". In Du verre au cristal, 157–84. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-1064-2.c013.

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3

"Chapitre 4. Les rayons X et la diffraction". In Introduction à la cristallographie biologique, 67–78. EDP Sciences, 2021. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2550-9.c010.

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4

"6. Diffraction des rayons X et méthodes dérivées". In Les fondements de la détermination des structures moléculaires, 137–62. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2152-5-008.

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5

"6. Diffraction des rayons X et méthodes dérivées". In Les fondements de la détermination des structures moléculaires, 137–62. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2152-5.c008.

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6

Réguer, Solenn, e Pauline Martinetto. "Application de la Diffraction des Rayons X en Archéométrie". In Circulation et provenance des matériaux dans les sociétés anciennes, 315–22. Editions des archives contemporaines, 2014. http://dx.doi.org/10.17184/eac.4106.

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7

"Chapitre 11 Les cristaux de films (interfaces)". In La diffraction des rayons X par les cristaux liquides - Tome 2, 331–76. EDP Sciences, 2023. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-3237-8.c008.

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8

"Chapitre 7 L'ordre bidimensionnel dans les smectiques". In La diffraction des rayons X par les cristaux liquides - Tome 2, 43–84. EDP Sciences, 2023. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-3237-8.c002.

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9

"Chapitre 8 Les phases lamellaires fluides". In La diffraction des rayons X par les cristaux liquides - Tome 2, 85–148. EDP Sciences, 2023. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-3237-8.c003.

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10

"Annexe B Classement des phases et mésophases". In La diffraction des rayons X par les cristaux liquides - Tome 2, 497–512. EDP Sciences, 2023. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-3237-8.c013.

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Trabalhos de conferências sobre o assunto "Diffraction des rayons X nanofocalisés"

1

Taviot-Guého, C., F. Leroux, F. Goujon, P. Malfreyt e R. Mahiou. "Étude du mécanisme d'échange et de la structure des matériaux hydroxydes doubles lamellaires (HDL) par diffraction et diffusion des rayons X". In UVX 2012 - 11e Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X ; Applications et Développements Récents, editado por E. Constant, P. Martin e H. Bachau. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2013. http://dx.doi.org/10.1051/uvx/201301016.

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