Artykuły w czasopismach na temat „Thin film stacking”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Thin film stacking”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
JIANG, B., J. L. PENG, L. A. BURSILL i H. WANG. "MICROSTRUCTURE AND PROPERTIES OF FERROELECTRIC Bi4Ti3O12 THIN FILMS". Modern Physics Letters B 13, nr 26 (10.11.1999): 933–45. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984999001147.
Pełny tekst źródłaLee, Jin Woo, Yun Hae Kim i Chang Wook Park. "Electrical and Optical Properties of ZnO:Ag Thin-Films Depend on Lamination Formation by DC Magnetron Sputtering". Advanced Materials Research 1110 (czerwiec 2015): 211–17. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1110.211.
Pełny tekst źródłaArnold, Marcel, Z. L. Wang, W. Tong, B. K. Wagner, S. Schön i C. J. Summers. "Creation of Stacking Faults at Substrate Steps in Zns Thin Films Epitaxially Grown on GaAs (001)". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 633–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600010059.
Pełny tekst źródłaMcIntyre, P. C., i M. J. Cima. "Microstructural inhomogeneities in chemically derived Ba2YCu3O7−x thin films: Implications for flux pinning". Journal of Materials Research 9, nr 11 (listopad 1994): 2778–88. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2778.
Pełny tekst źródłaLiu, Y., B. W. Robertson i D. J. Sellmyer. "HREM study of epitaxy in Co-Sm // Cr thin films". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 488–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100138816.
Pełny tekst źródłaNguyen, Thang, Walter Varhue, Edward Adams, Mark Lavoie i Stephen Mongeon. "Growth of heteroepitaxial GaSb thin films on Si(100) substrates". Journal of Materials Research 19, nr 8 (sierpień 2004): 2315–21. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2004.0307.
Pełny tekst źródłaWang, Xintai, Sara Sangtarash, Angelo Lamantia, Hervé Dekkiche, Leonardo Forcieri, Oleg V. Kolosov, Samuel P. Jarvis i in. "Thermoelectric properties of organic thin films enhanced by π–π stacking". Journal of Physics: Energy 4, nr 2 (23.03.2022): 024002. http://dx.doi.org/10.1088/2515-7655/ac55a3.
Pełny tekst źródłaTajari Mofrad, Mohammad Reza, Jaber Derakhshandeh, Ryoichi Ishihara, Alessandro Baiano, Johan van der Cingel i Kees Beenakker. "Stacking of Single-Grain Thin-Film Transistors". Japanese Journal of Applied Physics 48, nr 3 (23.03.2009): 03B015. http://dx.doi.org/10.1143/jjap.48.03b015.
Pełny tekst źródłaWada, Takahiro, Takayuki Negami i Mikihiko Nishitani. "Growth defects in CuInSe2 thin films". Journal of Materials Research 9, nr 3 (marzec 1994): 658–62. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.0658.
Pełny tekst źródłaHua, Zhong, Xiangcheng Meng, Yaming Sun, Wanqiu Yu i Dong Long. "Properties of Cu2ZnSnS4 thin films prepared by magnetron sputtering and sulfurizing the precursors with different stacking sequences". Modern Physics Letters B 28, nr 26 (10.10.2014): 1450210. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984914502108.
Pełny tekst źródłaSeo, Soon-Min, Changhoon Baek i Hong H. Lee. "Stacking of Organic Thin Film Transistors: Vertical Integration". Advanced Materials 20, nr 10 (19.05.2008): 1994–97. http://dx.doi.org/10.1002/adma.200701770.
Pełny tekst źródłaWANG, Y. R., J. A. KUBBY i W. J. GREENE. "THIN FILM ELECTRON INTERFEROMETRY". Modern Physics Letters B 05, nr 21 (10.09.1991): 1387–405. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984991001696.
Pełny tekst źródłaKong, G., M. O. Jones, J. S. Abell, P. P. Edwards, S. T. Lees, K. E. Gibbons, I. Gameson i M. Aindow. "Microstructure of laser-ablated superconducting La2CuO4Fx thin films on SrTiO3". Journal of Materials Research 16, nr 11 (listopad 2001): 3309–16. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2001.0455.
Pełny tekst źródłaZeng, Shuang, Jing Yang, Qingqing Liu, Jiawei Bai, Wei Bai, Yuanyuan Zhang i Xiaodong Tang. "Dielectric Spectroscopy of Non-Stoichiometric SrMnO3 Thin Films". Inorganics 12, nr 3 (27.02.2024): 71. http://dx.doi.org/10.3390/inorganics12030071.
Pełny tekst źródłaYan, Y., K. M. Jones i M. M. Al-Jassim. "Transmission Electron Microscopy Study of Planar Defects in Polycrystalline CdTe Thin Films". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 556–57. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600028853.
Pełny tekst źródłaThanikaikarasan, S., T. Mahalingam, S. R. Srikumar, Tae Kyu Kim, Yong Deak Kim, Subramaniam Velumani i Rene Asomoza. "Microstructural Characterization of Electro-Deposited CdSe Thin Films". Advanced Materials Research 68 (kwiecień 2009): 44–51. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.68.44.
Pełny tekst źródłaHee, Kwon Ahn, Young Ho Kim, Keun Gil Sang, Soo Paik Dong i Dong Heon Kang. "Characteristics of Lead Free Ferroelectric Thin Films Consisted of (Na0.5Bi0.5)TiO3 and Bi4Ti3O12". Advanced Materials Research 684 (kwiecień 2013): 307–11. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.684.307.
Pełny tekst źródłaChakraborty, Jay, Tias Maity, Kishor Kumar i S. Mukherjee. "Microstructure, Stress and Texture in Sputter Deposited TiN Thin Films: Effect of Substrate Bias". Advanced Materials Research 996 (sierpień 2014): 855–59. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.996.855.
Pełny tekst źródłaHuang, T. C., A. Segmuller, W. Lee, V. Lee, D. Bullock i R. Karimi. "X-ray Diffraction Analysis of High Tc Superconducting Thin Films". Advances in X-ray Analysis 32 (1988): 269–78. http://dx.doi.org/10.1154/s0376030800020577.
Pełny tekst źródłaWen, J. G., C. Traeholt i H. W. Zandbergen. "Stacking sequence of YBa2Cu3O7 thin film on SrTiO3 substrate". Physica C: Superconductivity 205, nr 3-4 (luty 1993): 354–62. http://dx.doi.org/10.1016/0921-4534(93)90402-c.
Pełny tekst źródłaLei, Chao, Shu Chen i Allan H. MacDonald. "Magnetized topological insulator multilayers". Proceedings of the National Academy of Sciences 117, nr 44 (19.10.2020): 27224–30. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.2014004117.
Pełny tekst źródłaZhou, Jing, Jie Zhu, Wen Chen, Jie Shen, Qiong Lei i Hui Min He. "Effect of Stacking Layers on the Structure and Properties of Ca(Mg1/3Nb2/3)O3 / CaTiO3 Thin Films". Key Engineering Materials 421-422 (grudzień 2009): 115–18. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.421-422.115.
Pełny tekst źródłaRobertson, B. W., i Y. Liu. "Stacking sequences of the crystallites in Co-Sm films". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 714–15. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100166038.
Pełny tekst źródłaYoneya, Makoto, Satoshi Matsuoka, Jun’ya Tsutsumi i Tatsuo Hasegawa. "Self-assembly of donor–acceptor semiconducting polymers in solution thin films: a molecular dynamics simulation study". Journal of Materials Chemistry C 5, nr 37 (2017): 9602–10. http://dx.doi.org/10.1039/c7tc01014a.
Pełny tekst źródłaNordin, Norfaizul Izwan, Rosminazuin Ab Rahim i Aliza Aini Md Ralib. "Flexible PVDF thin film as piezoelectric energy harvester". Bulletin of Electrical Engineering and Informatics 8, nr 2 (1.06.2019): 443–49. http://dx.doi.org/10.11591/eei.v8i2.1423.
Pełny tekst źródłaHsu, Chih-Chieh, Po-Tsun Liu, Kai-Jhih Gan, Dun-Bao Ruan i Simon M. Sze. "Oxygen Concentration Effect on Conductive Bridge Random Access Memory of InWZnO Thin Film". Nanomaterials 11, nr 9 (27.08.2021): 2204. http://dx.doi.org/10.3390/nano11092204.
Pełny tekst źródłaJo, Yongjin, Jonghan Lee, Chaewon Kim, Junhyeok Jang, Inchan Hwang, John Hong i Mi Jung Lee. "Engineered molecular stacking crystallinity of bar-coated TIPS-pentacene/polystyrene films for organic thin-film transistors". RSC Advances 13, nr 4 (2023): 2700–2706. http://dx.doi.org/10.1039/d2ra05924j.
Pełny tekst źródłaMarshall, A. F., K. Char, R. W. Barton, A. Kapitulnik i S. S. Laderman. "Microstructural interaction of Y2Ba4Cu8O16 stacking faults within YBa2Cu3O7−x". Journal of Materials Research 5, nr 10 (październik 1990): 2049–55. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1990.2049.
Pełny tekst źródłaYuk, J. M., J. Y. Lee, T. W. Kim, D. I. Son i W. K. Choi. "Effects of thermal annealing on the microstructural properties of the lower region in ZnO thin films grown on n-Si (001) substrates". Journal of Materials Research 23, nr 4 (kwiecień 2008): 1082–86. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2008.0141.
Pełny tekst źródłaHarada, T., T. Nagai, M. Oishi i Y. Masahiro. "Sputter-grown c-axis-oriented PdCoO2 thin films". Journal of Applied Physics 133, nr 8 (28.02.2023): 085302. http://dx.doi.org/10.1063/5.0136749.
Pełny tekst źródłaHatton, Peter, Ali Abbas, Piotr Kaminski, Sibel Yilmaz, Michael Watts, Michael Walls, Pooja Goddard i Roger Smith. "Inert gas bubble formation in magnetron sputtered thin-film CdTe solar cells". Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences 476, nr 2239 (lipiec 2020): 20200056. http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2020.0056.
Pełny tekst źródłaWalls, J. M., A. Abbas, G. D. West, J. W. Bowers, P. J. M. Isherwood, P. M. Kaminski, B. Maniscalco, W. S. Sampath i K. L. Barth. "The Effect of Annealing Treatments on Close Spaced Sublimated Cadmium Telluride Thin Film Solar Cells". MRS Proceedings 1493 (2013): 147–52. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2012.1704.
Pełny tekst źródłaLee, Junho, Jaeyong Kim i Myeongkyu Lee. "High-purity reflective color filters based on thin film cavities embedded with an ultrathin Ge2Sb2Te5 absorption layer". Nanoscale Advances 2, nr 10 (2020): 4930–37. http://dx.doi.org/10.1039/d0na00626b.
Pełny tekst źródłaHuo, Xiaoye, Zhenhai Wang, Mengqi Fu, Jiye Xia i Shengyong Xu. "A sub-200 nanometer wide 3D stacking thin-film temperature sensor". RSC Advances 6, nr 46 (2016): 40185–91. http://dx.doi.org/10.1039/c6ra06353e.
Pełny tekst źródłaDel Caño, T., J. Duff i R. Aroca. "Molecular Spectra and Molecular Organization in Thin Solid Films of Bis(Neopentylimido) Perylene". Applied Spectroscopy 56, nr 6 (czerwiec 2002): 744–50. http://dx.doi.org/10.1366/000370202760077478.
Pełny tekst źródłaRaineri, Vito, Corrado Bongiorno, Salvatore di Franco, Raffaella Lo Nigro, Emanuele Rimini i Filippo Giannazzo. "Surface Corrugation and Stacking Misorientation in Multilayers of Graphene on Nickel". Solid State Phenomena 178-179 (sierpień 2011): 125–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.178-179.125.
Pełny tekst źródłaChen, Jihua, David C. Martin i John E. Anthony. "Morphology and molecular orientation of thin-film bis(triisopropylsilylethynyl) pentacene". Journal of Materials Research 22, nr 6 (czerwiec 2007): 1701–9. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2007.0220.
Pełny tekst źródłaRoy, I., i S. Hazra. "Solvent dependent ordering of poly(3-dodecylthiophene) in thin films". Soft Matter 11, nr 18 (2015): 3724–32. http://dx.doi.org/10.1039/c5sm00595g.
Pełny tekst źródłaChen, H. J. H., B. B. L. Yeh, H. C. Pan i J. S. Chen. "ZnO transparent thin-film transistors with HfO2/Ta2O5 stacking gate dielectrics". Electronics Letters 44, nr 3 (2008): 186. http://dx.doi.org/10.1049/el:20083215.
Pełny tekst źródłaYoo, Su-Hyun, Keith T. Butler, Aloysius Soon, Ali Abbas, John M. Walls i Aron Walsh. "Identification of critical stacking faults in thin-film CdTe solar cells". Applied Physics Letters 105, nr 6 (11.08.2014): 062104. http://dx.doi.org/10.1063/1.4892844.
Pełny tekst źródłaDing, Q., W. Tian, M. K. Lee, E. B. Eom i X. Q. Pan. "Interfacial Structure of Metastable 4H-BaRuO3 Thin Film on (111) SrTiO3 Substrate". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 1066–67. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760003782x.
Pełny tekst źródłaMamidi, Narsimha, Ramiro Velasco Delgadillo, Aldo Gonzáles Ortiz i Enrique Barrera. "Carbon Nano-Onions Reinforced Multilayered Thin Film System for Stimuli-Responsive Drug Release". Pharmaceutics 12, nr 12 (13.12.2020): 1208. http://dx.doi.org/10.3390/pharmaceutics12121208.
Pełny tekst źródłaGwaydi, January S., Hezekiah B. Sawa, Egidius R. Rwenyagila, Nathanael R. Komba, Talam E. Kibona, Nuru R. Mlyuka, Margaret E. Samiji i Lwitiko P. Mwakyusa. "Influence of Stacking Order on the Structural and Optical Properties of Cu2ZnSnS4 Absorber Layer Prepared from DC-Sputtered Oxygenated Precursors". Tanzania Journal of Science 50, nr 1 (30.04.2024): 115–25. http://dx.doi.org/10.4314/tjs.v50i1.9.
Pełny tekst źródłaQin, Houyun, Chang Liu, Chong Peng, Mingxin Lu, Yiming Liu, Song Wei, Hongbo Wang, Nailin Yue, Wei Zhang i Yi Zhao. "Rapid-deposited high-performance submicron encapsulation film with in situ plasma oxidized Al layer inserted". Applied Physics Express 15, nr 4 (22.03.2022): 046503. http://dx.doi.org/10.35848/1882-0786/ac44cc.
Pełny tekst źródłaTaoka, Yuki, Terumichi Hayashi, Pasomphone Hemthavy, Kunio Takahashi i Shigeki Saito. "Development of a bipolar electrostatic chuck with a compliant beam-array assembly having four 3D-printed layers for large film handling". Engineering Research Express 4, nr 1 (21.01.2022): 015010. http://dx.doi.org/10.1088/2631-8695/ac4a49.
Pełny tekst źródłaCho, Hae Seok, Min Hong Kim i Hyeong Joon Kim. "Preferred orientation and microstructure of Ni-Zn-Cu ferrite thin films deposited by rf magnetron sputtering". Journal of Materials Research 9, nr 9 (wrzesień 1994): 2425–33. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2425.
Pełny tekst źródłaWilliams, B. E., i J. T. Glass. "Characterization of diamond thin films: Diamond phase identification, surface morphology, and defect structures". Journal of Materials Research 4, nr 2 (kwiecień 1989): 373–84. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1989.0373.
Pełny tekst źródłaNam, Sung Pill, Sung Gap Lee, Seong Gi Bae i Young Hie Lee. "Electrical Properties BaTiO3 Thick Films with an Interlayer SrTiO3 Thin Films". Solid State Phenomena 124-126 (czerwiec 2007): 659–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.124-126.659.
Pełny tekst źródłaJana, Santanu, Rodrigo Martins i Elvira Fortunato. "Stacking-Dependent Electrical Transport in a Colloidal CdSe Nanoplatelet Thin-Film Transistor". Nano Letters 22, nr 7 (28.03.2022): 2780–85. http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c04822.
Pełny tekst źródłaXiao, Yiqun, Jun Yuan, Guodong Zhou, Ka Chak Ngan, Xinxin Xia, Jingshuai Zhu, Yingping Zou, Ni Zhao, Xiaowei Zhan i Xinhui Lu. "Unveiling the crystalline packing of Y6 in thin films by thermally induced “backbone-on” orientation". Journal of Materials Chemistry A 9, nr 31 (2021): 17030–38. http://dx.doi.org/10.1039/d1ta05268c.
Pełny tekst źródła