Artykuły w czasopismach na temat „Surface passivation”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Surface passivation”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Tyagi, Pawan. "GaAs(100) Surface Passivation with Sulfide and Fluoride Ions". MRS Advances 2, nr 51 (2017): 2915–20. http://dx.doi.org/10.1557/adv.2017.380.
Pełny tekst źródłaKabalan, Amal. "A Comparative Study on the Effects of Passivation Methods on the Carrier Lifetime of RIE and MACE Silicon Micropillars". Applied Sciences 9, nr 9 (30.04.2019): 1804. http://dx.doi.org/10.3390/app9091804.
Pełny tekst źródłaClerix, Jan-Willem J., Golnaz Dianat, Annelies Delabie i Gregory N. Parsons. "In situ analysis of nucleation reactions during TiCl4/H2O atomic layer deposition on SiO2 and H-terminated Si surfaces treated with a silane small molecule inhibitor". Journal of Vacuum Science & Technology A 41, nr 3 (maj 2023): 032406. http://dx.doi.org/10.1116/6.0002493.
Pełny tekst źródłaJones, K. M., M. M. Al-Jassim i B. L. Soport. "TEM investigation of hydrogen-implanted polycrystalline Si". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 868–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100088658.
Pełny tekst źródłaÖzeren, Mehmet Derya, Áron Pekker, Katalin Kamarás i Bea Botka. "Evaluation of surface passivating solvents for single and mixed halide perovskites". RSC Advances 12, nr 44 (2022): 28853–61. http://dx.doi.org/10.1039/d2ra04278a.
Pełny tekst źródłaVermang, Bart, Aude Rothschild, Karine Kenis, Kurt Wostyn, Twan Bearda, A. Racz, X. Loozen i in. "Surface Passivation for Si Solar Cells: A Combination of Advanced Surface Cleaning and Thermal Atomic Layer Deposition of Al2O3". Solid State Phenomena 187 (kwiecień 2012): 357–61. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.187.357.
Pełny tekst źródłaSzuromi, Phil. "Optimizing surface passivation". Science 366, nr 6472 (19.12.2019): 1467.5–1467. http://dx.doi.org/10.1126/science.366.6472.1467-e.
Pełny tekst źródłaMeiners, L. G., i H. H. Wieder. "Semiconductor surface passivation". Materials Science Reports 3, nr 3-4 (styczeń 1988): 139–216. http://dx.doi.org/10.1016/s0920-2307(88)80008-2.
Pełny tekst źródłaGaikwad, Pooja Vinod, Nazifa Rahman, Rooshi Parikh, Jalen Crespo, Zachary Cohen i Ryan M. Williams. "Detection of the Inflammatory Cytokine IL-6 in Complex Human Serum Samples Via Rational Nanotube Surface Passivation Screening". ECS Meeting Abstracts MA2023-01, nr 9 (28.08.2023): 1124. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-0191124mtgabs.
Pełny tekst źródłaSioncke, Sonja, Claudia Fleischmann, Dennis Lin, Evi Vrancken, Matty Caymax, Marc Meuris, Kristiaan Temst i in. "S-Passivation of the Ge Gate Stack Using (NH4)2S". Solid State Phenomena 187 (kwiecień 2012): 23–26. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.187.23.
Pełny tekst źródłaBirant, Gizem, Jorge Mafalda, Romain Scaffidi, Jessica de Wild, Dilara Gokcen Buldu, Thierry Kohl, Guy Brammertz, Marc Meuris, Jef Poortmans i Bart Vermang. "Rear surface passivation of ultra-thin CIGS solar cells using atomic layer deposited HfOx". EPJ Photovoltaics 11 (2020): 10. http://dx.doi.org/10.1051/epjpv/2020007.
Pełny tekst źródłaRajesh, K., L. J. Huang, W. M. Lau, R. Bruce, S. Ingrey i D. Landheer. "Modification of the GalnAsP(100) surface by oxidation and sulfur passivation". Canadian Journal of Physics 74, S1 (1.12.1996): 89–94. http://dx.doi.org/10.1139/p96-839.
Pełny tekst źródłaLiu, Xiaoliang, Qian Li, Yan Zhang, Yongbin Yang, Bin Xu i Tao Jiang. "Formation Process of the Passivating Products from Arsenopyrite Bioleaching by Acidithiobacillus ferrooxidans in 9K Culture Medium". Metals 9, nr 12 (6.12.2019): 1320. http://dx.doi.org/10.3390/met9121320.
Pełny tekst źródłaSolcansky, M., J. Vanek i A. Poruba. "Quinhydrone Chemical Passivation of a Silicon Surface for Minority Carrier Bulk-Lifetime Measurements". International Journal of Photoenergy 2012 (2012): 1–4. http://dx.doi.org/10.1155/2012/732647.
Pełny tekst źródłaChoi, Jea-Young. "Understanding of Molecular Contribution of Quinhydrone/Methanol Organic Passivation for Improved Minority Carrier Lifetime on Nanostructured Silicon Surface". Applied Sciences 9, nr 18 (4.09.2019): 3645. http://dx.doi.org/10.3390/app9183645.
Pełny tekst źródłaChowdhury, Sanchari, Muhammad Quddammah Khokhar, Duy Phong Pham i Junsin Yi. "Al2O3/MoOx Hole-Selective Passivating Contact for Silicon Heterojunction Solar Cell". ECS Journal of Solid State Science and Technology 11, nr 1 (1.01.2022): 015004. http://dx.doi.org/10.1149/2162-8777/ac4d83.
Pełny tekst źródłaLebedev M. V., Lvova T. V., Smirnov A. N., Davydov V. Yu., Koroleva A. V., Zhizhin E. V. i Lebedev S. V. "Correlation of the electronic and atomic structure at passivated n-InP(100) surfaces". Semiconductors 56, nr 7 (2022): 477. http://dx.doi.org/10.21883/sc.2022.07.54648.11.
Pełny tekst źródłaZhang, Jun, Wei Ming Lu, Chun Lan Zhou, Zhen Li Wen, Lei Zhao, Hai Ling Li, Hong Wei Diao, Yao Zhang i Wen Jing Wang. "Excellent Surface Passivation by Silicon Dioxide Grown with a Electrochemical Method". Materials Science Forum 685 (czerwiec 2011): 48–54. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.685.48.
Pełny tekst źródłaPerera, Yasiru Randika, Joanna Xiuzhu Xu, Dhanush L. Amarasekara, Alex C. Hughes, Ibraheem Abbood i Nicholas C. Fitzkee. "Understanding the Adsorption of Peptides and Proteins onto PEGylated Gold Nanoparticles". Molecules 26, nr 19 (24.09.2021): 5788. http://dx.doi.org/10.3390/molecules26195788.
Pełny tekst źródłaGhandi, Reza, Martin Domeij, Romain Esteve, Benedetto Buono, Adolf Schöner, Ji Sheng Han, Sima Dimitrijev, Sergey A. Reshanov, Carl Mikael Zetterling i Mikael Östling. "Experimental Evaluation of Different Passivation Layers on the Performance of 3kV 4H-SiC BJTs". Materials Science Forum 645-648 (kwiecień 2010): 661–64. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.645-648.661.
Pełny tekst źródłaBarek, Jiri. "How to Improve the Performance of Electrochemical Sensors via Minimization of Electrode Passivation". Chemosensors 9, nr 1 (6.01.2021): 12. http://dx.doi.org/10.3390/chemosensors9010012.
Pełny tekst źródłaXiang, Yu Ren, Chun Lan Zhou i Wen Jing Wang. "The Effect of Substrate Surface Condition on Atomic Layer Deposited Alumina Passivation Films". Key Engineering Materials 703 (sierpień 2016): 230–34. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.703.230.
Pełny tekst źródłaLee, H. H., R. J. Racicot i S. H. Lee. "Surface passivation of GaAs". Applied Physics Letters 54, nr 8 (20.02.1989): 724–26. http://dx.doi.org/10.1063/1.100873.
Pełny tekst źródłaКукушкин, С. А., И. П. Калинкин i А. В. Осипов. "Влияние химической подготовки поверхности кремния на качество и структуру эпитаксиальных пленок карбида кремния, синтезированных методом замещения атомов". Физика и техника полупроводников 52, nr 6 (2018): 656. http://dx.doi.org/10.21883/ftp.2018.06.45932.8758.
Pełny tekst źródłaAbbas, Mahmoud, M. A. Shahin, Mohamed M. I. Ahmed i Magdy Kasem. "Passivation of Recirculating Open Water Cooling Systems Using New Organic Passivator". Journal of University of Shanghai for Science and Technology 23, nr 12 (22.12.2021): 375–86. http://dx.doi.org/10.51201/jusst/21/121028.
Pełny tekst źródłaZhao, Yang, Yuchen Liu, Xin Gai, Yun Bai, Tao Zhang, Dake Xu i Fuhui Wang. "Investigating the Stress Corrosion Cracking (SCC) Susceptibility of Ti-6Al-4V Alloys Fabricated by Electron Beam Melting in Deep-Sea Environment". Corrosion 77, nr 8 (11.05.2021): 853–65. http://dx.doi.org/10.5006/3822.
Pełny tekst źródłaShi, Jingying, Xuefei Zhao i Can Li. "Surface Passivation Engineering for Photoelectrochemical Water Splitting". Catalysts 13, nr 2 (17.01.2023): 217. http://dx.doi.org/10.3390/catal13020217.
Pełny tekst źródłaCuevas, Jose Luis, Miguel Ojeda Martinez i Saravana Prakash Thirumuruganandham. "Band-Gap Engineering: Lithium Effect on the Electronic Properties of Hydrogenated 3C-SiC (1 1 0) Surfaces". Batteries 8, nr 11 (18.11.2022): 247. http://dx.doi.org/10.3390/batteries8110247.
Pełny tekst źródłaPalais, Olivier, Mustapha Lemiti, Jean-Francois Lelievre i Santo Martinuzzi. "Comparison of Efficiencies of Different Surface Passivations Applied to Crystalline Silicon". Solid State Phenomena 108-109 (grudzień 2005): 585–90. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.108-109.585.
Pełny tekst źródłaLu, Haizhou, Huotian Zhang, Sijian Yuan, Jiao Wang, Yiqiang Zhan i Lirong Zheng. "An optical dynamic study of MAPbBr3 single crystals passivated with MAPbCl3/I3-MAPbBr3 heterojunctions". Physical Chemistry Chemical Physics 19, nr 6 (2017): 4516–21. http://dx.doi.org/10.1039/c6cp07182a.
Pełny tekst źródłaSundarapura, Panus, Xiao-Mei Zhang, Ryoji Yogai, Kazuki Murakami, Alain Fave i Manabu Ihara. "Nanostructure of Porous Si and Anodic SiO2 Surface Passivation for Improved Efficiency Porous Si Solar Cells". Nanomaterials 11, nr 2 (11.02.2021): 459. http://dx.doi.org/10.3390/nano11020459.
Pełny tekst źródłaCruz, Nuno, Javier Gil, Miquel Punset, José María Manero, João Paulo Tondela, Pablo Verdeguer, Conrado Aparicio i Elisa Rúperez. "Relevant Aspects of Piranha Passivation in Ti6Al4V Alloy Dental Meshes". Coatings 12, nr 2 (27.01.2022): 154. http://dx.doi.org/10.3390/coatings12020154.
Pełny tekst źródłaAnas, Muhammad Mus-'ab, i Geri Gopir. "Surface Passivation Effect of Hydrogen and Methyl on the Structural and Electronic Properties of Silicon Quantum Dots: Density Functional Calculation". Materials Science Forum 846 (marzec 2016): 375–82. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.846.375.
Pełny tekst źródłaJha, Rajesh Kumar, Prashant Singh, Manish Goswami i B. R. Singh. "Impact of HfO2 as a Passivation Layer in the Solar Cell Efficiency Enhancement in Passivated Emitter Rear Cell Type". Journal of Nanoscience and Nanotechnology 20, nr 6 (1.06.2020): 3718–23. http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2020.17510.
Pełny tekst źródłaCao, Fan, Peng Cao, Yangyang Li, Yi Wang, Lei Shi i Di Wu. "Inhibition of Surface Corrosion Behavior of Zinc-Iron Alloy by Silicate Passivation". Coatings 13, nr 6 (7.06.2023): 1057. http://dx.doi.org/10.3390/coatings13061057.
Pełny tekst źródłaGhoshal, Sib Krishna, M. R. Sahar, R. Arifin, M. S. Rohani i K. Hamzah. "Surface States and Band Gap Correlation in Silicon Nanoclusters". Advanced Materials Research 1107 (czerwiec 2015): 308–13. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1107.308.
Pełny tekst źródłaNiikura, Chisato, Yuta Shiratori i Shinsuke Miyajima. "Si surface passivation by using triode-type plasma-enhanced chemical vapor deposition with thermally energized film-precursors". European Physical Journal Applied Physics 89, nr 1 (styczeń 2020): 10101. http://dx.doi.org/10.1051/epjap/2020190299.
Pełny tekst źródłaMathew, Varughese, Sheila Chopin, Trent Uehling i Ruzaini Ibrahim. "Mold Compound Adhesion Reliability with SiN and SiON Passivation". International Symposium on Microelectronics 2011, nr 1 (1.01.2011): 000729–34. http://dx.doi.org/10.4071/isom-2011-wp2-paper6.
Pełny tekst źródłaGuilherme, Luis Henrique, Cecilio Sadao Fugivara i Assis Vicente Benedetti. "On-site weld quality assessment and qualification for stainless steels tanks". Ecl�tica Qu�mica Journal 47, nr 3 (1.07.2022): 55–65. http://dx.doi.org/10.26850/1678-4618eqj.v47.3.2022.p55-65.
Pełny tekst źródłaKim, Joo-Wan, Tae-Wan Kim, Sungjune Lee, Nanah Kim, Kwang-Eun Jeong, Soon-Young Jeong i Chul-Ung Kim. "Effects of Steaming and SiO2 Surface Passivation on SSZ-13 Zeolites in the Ethylene to Propylene Reaction". Journal of Nanoscience and Nanotechnology 20, nr 9 (1.09.2020): 5783–86. http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2020.17644.
Pełny tekst źródłaMcBrayer, Josefine, Katharine L. Harrison, Kyle Fenton i Shelley Minteer. "SECM as a Direct Method to Track Changes in Silicon Passivation". ECS Meeting Abstracts MA2023-01, nr 2 (28.08.2023): 514. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-012514mtgabs.
Pełny tekst źródłaHyun, Ji Yeon, Soohyun Bae, Yoon Chung Nam, Dongkyun Kang, Sang-Won Lee, Donghwan Kim, Jooyoung Park, Yoonmook Kang i Hae-Seok Lee. "Surface Passivation of Boron Emitters on n-Type Silicon Solar Cells". Sustainability 11, nr 14 (10.07.2019): 3784. http://dx.doi.org/10.3390/su11143784.
Pełny tekst źródłaCalvino, M., A. Trejo, M. I. Iturrios, M. C. Crisóstomo, Eliel Carvajal i M. Cruz-Irisson. "DFT Study of the Electronic Structure of Cubic-SiC Nanopores with a C-Terminated Surface". Journal of Nanomaterials 2014 (2014): 1–7. http://dx.doi.org/10.1155/2014/471351.
Pełny tekst źródłaHu, Xiaochen, Pei Zhang, Yong Zhou i Fuan Yan. "The electrochemical behavior of corrosion and passivation for Q235 carbon steel in acidic phosphate buffer solutions without and with NO2−". Anti-Corrosion Methods and Materials 67, nr 5 (5.08.2020): 473–81. http://dx.doi.org/10.1108/acmm-03-2020-2285.
Pełny tekst źródłaLee, C. H., Z. D. Lin, N. G. Shang, L. S. Liao, I. Bello, N. Wang i S. T. Lee. "Surface passivation in diamond nucleation". Physical Review B 62, nr 24 (15.12.2000): 17134–37. http://dx.doi.org/10.1103/physrevb.62.17134.
Pełny tekst źródłaCharache, G. W., S. Akram, E. W. Maby i I. B. Bhat. "Surface passivation of GaAs MESFETs". IEEE Transactions on Electron Devices 44, nr 11 (1997): 1837–42. http://dx.doi.org/10.1109/16.641350.
Pełny tekst źródłaZimmermann, P. H., M. B. Reine, K. Spignese, K. Maschhoff i J. Schirripa. "Surface passivation of HgCdTe photodiodes". Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 8, nr 2 (marzec 1990): 1182–84. http://dx.doi.org/10.1116/1.576941.
Pełny tekst źródłaReese, M. O., C. L. Perkins, J. M. Burst, S. Farrell, T. M. Barnes, S. W. Johnston, D. Kuciauskas, T. A. Gessert i W. K. Metzger. "Intrinsic surface passivation of CdTe". Journal of Applied Physics 118, nr 15 (21.10.2015): 155305. http://dx.doi.org/10.1063/1.4933186.
Pełny tekst źródłaXiaoqin, Wang, Jie Wanqi, Li Qiang i Gu Zhi. "Surface passivation of CdZnTe wafers". Materials Science in Semiconductor Processing 8, nr 6 (styczeń 2005): 615–21. http://dx.doi.org/10.1016/j.mssp.2005.11.001.
Pełny tekst źródłaVera, Andrés Manuel, i Philip Tinnefeld. "Single-Molecule Approved Surface Passivation". Structure 28, nr 12 (grudzień 2020): 1269–70. http://dx.doi.org/10.1016/j.str.2020.11.009.
Pełny tekst źródła