Artykuły w czasopismach na temat „Substrate interface”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Substrate interface”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Abualigaledari, Sahar, Mehdi Salimi Jazi i Fardad Azarmi. "Investigation on Fracture Toughness of Coating/Substrate Interface - Case Study: Thermally Sprayed Nickel Based Superalloy on Variety of Substrates". Materials Science Forum 900 (lipiec 2017): 133–36. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.900.133.
Pełny tekst źródłaPal, Sunil K., Youngsuk Son, Theodorian Borca-Tasciuc, Diana-Andra Borca-Tasciuc, Swastik Kar, Robert Vajtai i Pulickel M. Ajayan. "Thermal and electrical transport along MWCNT arrays grown on Inconel substrates". Journal of Materials Research 23, nr 8 (sierpień 2008): 2099–105. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2008.0256.
Pełny tekst źródłaAn, Bingbing. "Delamination of Stiff Films on Pressure Sensitive Ductile Substrates". International Journal of Applied Mechanics 11, nr 02 (marzec 2019): 1950014. http://dx.doi.org/10.1142/s1758825119500145.
Pełny tekst źródłaWang, Yun, Shihao Wang, Zhongping Que, Changming Fang, Teruo Hashimoto, Xiaorong Zhou, Quentin M. Ramasse i Zhongyun Fan. "Manipulating Nucleation Potency of Substrates by Interfacial Segregation: An Overview". Metals 12, nr 10 (29.09.2022): 1636. http://dx.doi.org/10.3390/met12101636.
Pełny tekst źródłaLi, Hui Qing, Cheng Ming Li, Guang Chao Chen, Fan Xiu Lu i Yu Mei Tong. "Analysis of Interface between Free-Standing Diamond Films and Mo Substrates". Materials Science Forum 475-479 (styczeń 2005): 3615–18. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.475-479.3615.
Pełny tekst źródłaPrasad, Beesabathina D., L. Salamanca-Riba, S. N. Mao, X. X. Xi, T. Venkatesan i X. D. Wu. "Effect of substrate materials on laser deposited Nd1.85Ce0.15CuO4−y films". Journal of Materials Research 9, nr 6 (czerwiec 1994): 1376–83. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.1376.
Pełny tekst źródłaKis-Varga, Miklos, G. A. Langer, A. Csik, Z. Erdélyi i Dezső L. Beke. "Effect of Substrate Temperature on the Different Diffuseness of Subsequent Interfaces in Binary Multilayers". Defect and Diffusion Forum 277 (kwiecień 2008): 27–31. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ddf.277.27.
Pełny tekst źródłaZHAO, HONG-PING, YECHENG WANG, BING-WEI LI i XI-QIAO FENG. "IMPROVEMENT OF THE PEELING STRENGTH OF THIN FILMS BY A BIOINSPIRED HIERARCHICAL INTERFACE". International Journal of Applied Mechanics 05, nr 02 (czerwiec 2013): 1350012. http://dx.doi.org/10.1142/s1758825113500129.
Pełny tekst źródłaSong, Zhuguo, i Hui Li. "Plasma Spraying with Wire Feeding: A Facile Route to Enhance the Coating/Substrate Interfacial Metallurgical Bonding". Coatings 12, nr 5 (30.04.2022): 615. http://dx.doi.org/10.3390/coatings12050615.
Pełny tekst źródłaYamagiwa, K., K. Matsumoto i I. Hirabayashi. "Solid-phase epitaxial growth of oxide buffer materials for Rba2Cu3O7−y(R: rare earth and Y) superconductor". Journal of Materials Research 15, nr 11 (listopad 2000): 2547–57. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2000.0365.
Pełny tekst źródłaLIANG, JIACHANG, LIPING ZHANG, ZHIPING WANG, YIFEI CHEN, CHAOHUI JI, YANYAN ZHANG, PENG ZHANG i in. "PREPARATION OF GRADATED NANO-TRANSIENT LAYER AT INTERFACE BETWEEN DEPOSITED FILM AND SUBSTRATE BY HIGH-INTENSITY PULSED ION BEAM IRRADIATION". Surface Review and Letters 17, nr 05n06 (październik 2010): 463–68. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x10014296.
Pełny tekst źródłaGuo, Y. X., i Y. W. Zhao. "Effect of Interlayer on the Elastic-Plastic Deformation of Coating Systems". Journal of Mechanics 35, nr 3 (3.01.2019): 373–80. http://dx.doi.org/10.1017/jmech.2018.46.
Pełny tekst źródłaSasaki, Takashi, Masaaki Nakagiri i Satoshi Irie. "Interfacial Effects on the Spherulitic Morphology of Isotactic Polystyrene Thin Films on Liquid Substrates". Advances in Materials Science and Engineering 2016 (2016): 1–8. http://dx.doi.org/10.1155/2016/4849798.
Pełny tekst źródłaGoto, Toichiro, Nahoko Kasai, Rick Lu, Roxana Filip i Koji Sumitomo. "Scanning Electron Microscopy Observation of Interface Between Single Neurons and Conductive Surfaces". Journal of Nanoscience and Nanotechnology 16, nr 4 (1.04.2016): 3383–87. http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2016.12311.
Pełny tekst źródłaChien, F. R., S. R. Nutt, J. M. Carulli, N. Buchan, C. P. Beetz i W. S. Yoo. "Heteroepitaxial growth of β'-SiC films on TiC substrates: Interface structures and defects". Journal of Materials Research 9, nr 8 (sierpień 1994): 2086–95. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2086.
Pełny tekst źródłaOkuno, Eiichi, Takeshi Endo, Toshio Sakakibara, Shoichi Onda, Makoto Itoh i Tsuyoshi Uda. "Ab Initio Calculations of SiO2/SiC Interfaces and High Channel Mobility MOSFET with (11-20) Face". Materials Science Forum 615-617 (marzec 2009): 793–96. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.615-617.793.
Pełny tekst źródłaXu, J., M. J. Cox i M. J. Kim. "Chemically Clean Planar Interface Synthesis: Substrate Surface and Interface Cross Section Microscopy". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 635–36. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600010060.
Pełny tekst źródłaJiang, Jiechao, J. He, Efstathios I. Meletis, Jian Liu, Z. Yuan i Chong Lin Chen. "Two-Dimensional Modulated Interfacial Structures of Highly Epitaxial Ferromagnetic (La,Ca)MnO3 and Ferroelectric (Pb,Sr)TiO3 Thin Films on (001) MgO". Journal of Nano Research 3 (październik 2008): 59–66. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/jnanor.3.59.
Pełny tekst źródłaJosell, D., J. E. Bonevich, I. Shao i R. C. Cammarata. "Measuring the interface stress: Silver/nickel interfaces". Journal of Materials Research 14, nr 11 (listopad 1999): 4358–65. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1999.0590.
Pełny tekst źródłaStyler, S. A., M. E. Loiseaux i D. J. Donaldson. "Substrate effects in the photoenhanced ozonation of pyrene". Atmospheric Chemistry and Physics Discussions 10, nr 11 (15.11.2010): 27825–52. http://dx.doi.org/10.5194/acpd-10-27825-2010.
Pełny tekst źródłaStyler, S. A., M. E. Loiseaux i D. J. Donaldson. "Substrate effects in the photoenhanced ozonation of pyrene". Atmospheric Chemistry and Physics 11, nr 3 (14.02.2011): 1243–53. http://dx.doi.org/10.5194/acp-11-1243-2011.
Pełny tekst źródłaMattogno, Giulia, Guido Righini, Giampiero Montesperelli i Enrico Traversa. "X-ray photoelectron spectroscopy investigation of MgAl2O4 thin films for humidity sensors". Journal of Materials Research 9, nr 6 (czerwiec 1994): 1426–33. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.1426.
Pełny tekst źródłaGoyal, D., i A. H. King. "TEM observations of the mechanism of delamination of chromium films from silicon substrates". Journal of Materials Research 7, nr 2 (luty 1992): 359–66. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1992.0359.
Pełny tekst źródłaHe, Xiangjun, Si-Ze Yang, Kun Tao i Yudian Fan. "Investigation of the interface reactions of Ti thin films with AlN substrate". Journal of Materials Research 12, nr 3 (marzec 1997): 846–51. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1997.0123.
Pełny tekst źródłaTerabe, K., A. Gruverman, Y. Matsui, N. Iyi i K. Kitamura. "Transmission electron microscopy observation and optical property of sol-gel derived LiNbO3 films". Journal of Materials Research 11, nr 12 (grudzień 1996): 3152–57. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1996.0400.
Pełny tekst źródłaHubmann, Andreas, Dominik Dietz, Joachim Brötz i Andreas Klein. "Interface Behaviour and Work Function Modification of Self-Assembled Monolayers on Sn-Doped In2O3". Surfaces 2, nr 2 (29.03.2019): 241–56. http://dx.doi.org/10.3390/surfaces2020019.
Pełny tekst źródłaMatsumae, Takashi, Hitoshi Umezawa, Yuichi Kurashima i Hideki Takagi. "(Invited, Digital Presentation) Low-Temperature Direct Bonding of Wide-Bandgap Semiconductor Substrates". ECS Meeting Abstracts MA2023-01, nr 32 (28.08.2023): 1830. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-01321830mtgabs.
Pełny tekst źródłaWang, Xi Shu, Xi Qiao Feng i Xing Wu Guo. "Failure Behavior of Anodized Coating-Magnesium Alloy Substrate Structures". Key Engineering Materials 261-263 (kwiecień 2004): 363–68. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.261-263.363.
Pełny tekst źródłaXie, Kuo Jun, Chang Shun Jiang, Lin Zhu i Hai Feng Xu. "Thermal Stress Analysis of MCM Package Using Diamond Material". Key Engineering Materials 353-358 (wrzesień 2007): 2904–7. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.353-358.2904.
Pełny tekst źródłaWu, X. S., i J. X. Xu. "Effect of pre-annealing of Mo foil substrate on CZTSSe thin films and Mo(S,Se)2 interface layer". Chalcogenide Letters 19, nr 9 (25.09.2022): 599–609. http://dx.doi.org/10.15251/cl.2022.199.599.
Pełny tekst źródłaLong, Yangyang, Jens Twiefel, Joscha Roth i Jörg Wallaschek. "Real-Time Observation of Interface Relative Motion during Ultrasonic Wedge-Wedge Bonding Process". International Symposium on Microelectronics 2015, nr 1 (1.10.2015): 000419–24. http://dx.doi.org/10.4071/isom-2015-wp35.
Pełny tekst źródłaLiang, Lihong, Linfeng Chen, Luobing Wu i Huifeng Tan. "Interface Strength, Damage and Fracture between Ceramic Films and Metallic Substrates". Materials 14, nr 2 (12.01.2021): 353. http://dx.doi.org/10.3390/ma14020353.
Pełny tekst źródłaWu, J. S., C. L. Jia, K. Urban, J. H. Hao i X. X. Xi. "Misfit relaxation in SrTiO3/SrRuO3 bilayer films on LaA1O3(100) substrates". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 1222–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600032189.
Pełny tekst źródłaKim, M. J., R. W. Carpenter, M. J. Cox i J. Xu. "Controlled Planar Interface Synthesis by Ultrahigh Vacuum Diffusion Bonding/deposition". Journal of Materials Research 15, nr 4 (kwiecień 2000): 1008–16. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2000.0144.
Pełny tekst źródłaBonera, Emiliano, i Alessandro Molle. "Optothermal Raman Spectroscopy of Black Phosphorus on a Gold Substrate". Nanomaterials 12, nr 9 (20.04.2022): 1410. http://dx.doi.org/10.3390/nano12091410.
Pełny tekst źródłaBai, Shengqiang, Fei Li, Ting Wu, Xianglin Yin, Xun Shi i Lidong Chen. "Interface characterization of Cu–Mo coating deposited on Ti–Al alloys by arc spraying". Functional Materials Letters 08, nr 05 (29.09.2015): 1550048. http://dx.doi.org/10.1142/s1793604715500484.
Pełny tekst źródłaTauchmanová, Martina, Pavel Mokrý, Vít Kanclíř, Jan Václavík, Petra Veselá i Karel Žídek. "Probing buried interfaces in SiOxNy thin films via ultrafast acoustics: The role transducing layer thickness". EPJ Web of Conferences 287 (2023): 05014. http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/202328705014.
Pełny tekst źródłaMa, Kung Jeng, H. H. Chien, W. H. Chuan, Choung Lii Chao i K. C. Hwang. "Design of Protective Coatings for Glass Lens Molding". Key Engineering Materials 364-366 (grudzień 2007): 655–61. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.364-366.655.
Pełny tekst źródłaTietz, Lisa A., C. Barry Carter, Daniel K. Lathrop, Stephen E. Russek, Robert A. Buhrman i Joseph R. Michael. "Crystallography of YBa2Cu3O6+x thin film-substrate interfaces". Journal of Materials Research 4, nr 5 (październik 1989): 1072–81. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1989.1072.
Pełny tekst źródłaLin, Wen P., Chu-Hsuan Sha i Chin C. Lee. "40 μm Ag/Au Flip-Chip Joints by Solid-State Bonding at 200°C". Journal of Microelectronics and Electronic Packaging 10, nr 3 (1.07.2013): 120–27. http://dx.doi.org/10.4071/imaps.379.
Pełny tekst źródłaMao, Zhigang, Stuart McKernan, C. Barry Carte, Wei Yang i Scott A. McPherson. "Horizontal Defects Parallel to the Interface in GaN Pyramids". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 734–35. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600016998.
Pełny tekst źródłaTIAN, W. J., H. Y. ZHANG i J. C. SHEN. "SOME PROPERTIES OF INTERFACES BETWEEN METALS AND POLYMERS". Surface Review and Letters 04, nr 04 (sierpień 1997): 703–8. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x97000705.
Pełny tekst źródłaGuo, Hong-Li, Hai-Min Li, Xue-Dong Li, Ding-Quan Xiao i Jian-Guo Zhu. "The Effect of Substrate Clamping on Laminated Magnetoelectric Composite". Zeitschrift für Naturforschung A 66, nr 8-9 (1.09.2011): 489–94. http://dx.doi.org/10.5560/zna.2011-0012.
Pełny tekst źródłaRamesh, R., A. Inam, D. M. Hwang, T. S. Ravi, T. Sands, X. X. Xi, X. D. Wu, Q. Li, T. Venkatesan i R. Kilaas. "The atomic structure of growth interfaces in Y–Ba–Cu–O thin films". Journal of Materials Research 6, nr 11 (listopad 1991): 2264–71. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1991.2264.
Pełny tekst źródłaIsshiki, Toshiyuki, Koji Nishio, Yoshihisa Abe, Jun Komiyama, Shunichi Suzuki i Hideo Nakanishi. "HRTEM Analysis of AlN Layer Grown on 3C-SiC/Si Heteroepitaxial Substrates with Various Surface Orientations". Materials Science Forum 600-603 (wrzesień 2008): 1317–20. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.600-603.1317.
Pełny tekst źródłaBahadur, V., J. Xu, Y. Liu i T. S. Fisher. "Thermal Resistance of Nanowire-Plane Interfaces". Journal of Heat Transfer 127, nr 6 (1.06.2005): 664–68. http://dx.doi.org/10.1115/1.1865217.
Pełny tekst źródłaVanfleet, R. R., M. Shverdin, Z. H. Zhu, Y. H. Lo i J. Silcox. "Interface Voids and Precipitates in GaAs Wafer Bonding". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 748–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600017062.
Pełny tekst źródłaKawai, Kakisawa, Kubo, Yamaguchi, Yokoi, Akatsu, Kitaoka i Umeno. "Crack Initiation Criteria in EBC under Thermal Stress". Coatings 9, nr 11 (24.10.2019): 697. http://dx.doi.org/10.3390/coatings9110697.
Pełny tekst źródłaTietz, Lisa A., Scott R. Summerfelt i C. Barry Carter. "Growth of hematite on (0001) and {1102} sapphire substrates". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 4 (sierpień 1990): 376–77. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100175016.
Pełny tekst źródłaSchloesser, Jana, Martin Bäker, Joachim Rösler i Robert Pulz. "Oxidation Behavior of Thermal Barrier Coatings on Copper Substrates". Advances in Science and Technology 66 (październik 2010): 74–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ast.66.74.
Pełny tekst źródła