Artykuły w czasopismach na temat „STM”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „STM”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Anders, M., M. Mück i C. Heiden. "SEM/STM combination for STM tip guidance". Ultramicroscopy 25, nr 2 (styczeń 1988): 123–28. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(88)90219-7.
Pełny tekst źródłaMakovicka, C., G. Gärtner, A. Hardt, W. Hermann i D. U. Wiechert. "Impregnated cathode surface investigations by SFM/STM and SEM/EDX". Applied Surface Science 111 (luty 1997): 70–75. http://dx.doi.org/10.1016/s0169-4332(96)00725-8.
Pełny tekst źródłaICHINOKAWA, Takeo. "Combination of STM with SEM." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 53, nr 12 (1987): 1835–40. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.53.1835.
Pełny tekst źródłaMarti, Othmar, Matthias Amrein i David P. Allison. "STM and SFM in Biology". Physics Today 47, nr 7 (lipiec 1994): 64. http://dx.doi.org/10.1063/1.2808574.
Pełny tekst źródłaAllen, Terence D. "STM and SFM in biology". Trends in Cell Biology 4, nr 5 (maj 1994): 187. http://dx.doi.org/10.1016/0962-8924(94)90206-2.
Pełny tekst źródłaCox, Guy. "STM and SFM in biology". Micron 25, nr 5 (styczeń 1994): 493. http://dx.doi.org/10.1016/0968-4328(94)90046-9.
Pełny tekst źródłaErmakov, A. V., i E. L. Garfunkel. "A novel AFM/STM/SEM system". Review of Scientific Instruments 65, nr 9 (wrzesień 1994): 2853–54. http://dx.doi.org/10.1063/1.1144627.
Pełny tekst źródłaVenables, John A., David J. Smith i John M. Cowley. "HREM, STEM, REM, SEM — And STM". Surface Science Letters 181, nr 1-2 (marzec 1987): A93. http://dx.doi.org/10.1016/0167-2584(87)90731-6.
Pełny tekst źródłaVenables, John A., David J. Smith i John M. Cowley. "HREM, STEM, REM, SEM — and STM". Surface Science 181, nr 1-2 (marzec 1987): 235–49. http://dx.doi.org/10.1016/0039-6028(87)90164-6.
Pełny tekst źródłaGolubok, Alexander O., i Vladimir A. Timofeev. "STM combined with SEM without SEM capability limitations". Ultramicroscopy 42-44 (lipiec 1992): 1558–63. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(92)90483-z.
Pełny tekst źródłaASENJO, A., J. GÓMEZ‐HERRERO i A. M. BARÓ. "STM/SEM correlative study of facetted gold". Journal of Microscopy 188, nr 3 (grudzień 1997): 243–48. http://dx.doi.org/10.1046/j.1365-2818.1997.2590823.x.
Pełny tekst źródłaTroyon, M., H. N. Lei i A. Bourhettar. "Integration of an STM in an SEM". Ultramicroscopy 42-44 (lipiec 1992): 1564–68. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(92)90484-2.
Pełny tekst źródłaNakamoto, K., i K. Uozumi. "A compact STM compatible with conventional SEM". Ultramicroscopy 42-44 (lipiec 1992): 1569–73. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(92)90485-3.
Pełny tekst źródłaCotard, Sylvain, Audrey Queudet, Jean-Luc Béchennec, Sébastien Faucou i Yvon Trinquet. "STM-HRT". ACM Transactions on Embedded Computing Systems 14, nr 4 (8.12.2015): 1–25. http://dx.doi.org/10.1145/2786979.
Pełny tekst źródłaWREN, B. "STM and". Trends in Microbiology 6, nr 2 (luty 1998): 51. http://dx.doi.org/10.1016/s0966-842x(97)83153-8.
Pełny tekst źródłaHIDA, Akira, Yutaka MERA i Koji MAEDA. "STM-Nanospectroscopy." Hyomen Kagaku 23, nr 4 (2002): 224–32. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.23.224.
Pełny tekst źródłaMERA, Yutaka, Nobuyasu NARUSE i Koji MAEDA. "Photo-assisted STM and STM Fourier Transform Nanospectroscopy". Hyomen Kagaku 32, nr 12 (2011): 779–84. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.32.779.
Pełny tekst źródłaGómez-Rodríguez, J. M., A. M. Baró i V. P. Parkhutik. "Morphology of porous silicon studied by STM/SEM". Applied Surface Science 44, nr 3 (maj 1990): 185–92. http://dx.doi.org/10.1016/0169-4332(90)90049-6.
Pełny tekst źródłaEng, L. M., H. Fuchs, K. D. Jandt i J. Petermann. "Investigating poly(1-butene) films by SFM/STM". Ultramicroscopy 42-44 (lipiec 1992): 989–97. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(92)90391-v.
Pełny tekst źródłaLiu, Hui, i Weijie Zhao. "Philip Carpenter: STM, an association connecting global STM publishers". Chinese Science Bulletin 67, nr 3 (1.01.2022): 249–51. http://dx.doi.org/10.1360/tb-2022-0088.
Pełny tekst źródłaHASEGAWA, YUKIO. "Scanning Tunneling Microscopy(STM). SXM. STM Studies on Interfaces." Nihon Kessho Gakkaishi 35, nr 2 (1993): 168–70. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.35.168.
Pełny tekst źródłaUEHARA, YOICHI. "Scanning Tunneling Microscopy(STM). SXM. Light Emission from STM." Nihon Kessho Gakkaishi 35, nr 2 (1993): 177–79. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.35.177.
Pełny tekst źródłaHOSAKA, Sumio. "High Speed and High Precision STM Combined with SEM." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 58, nr 9 (1992): 1490–95. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.58.1490.
Pełny tekst źródłaGómez-Rodríguez, J. M., i Baró A.M. "The use of Scanning Tunneling Microscopy in combination with Scanning Electron Microscopy in the fabrication and imaging of microstructures". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 4 (sierpień 1990): 752–53. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100176897.
Pełny tekst źródłaWells, Oliver C., i Mark E. Welland. "Experiments with a scanning tunneling microscope (STM) mounted in a scanning electron microscope (SEM)". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 44 (sierpień 1986): 636–39. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100144620.
Pełny tekst źródłaTSUDA, Nobuhiro, Hirofumi YAMADA, Fumihiko ISHIDA, Masayuki MIYASHITA i Masataka YAMAGUCHI. "Wide range STM." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 55, nr 1 (1989): 146–51. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.55.146.
Pełny tekst źródłaITOZAKI, Hideo, i Yuji MIYATO. "STM-SQUID Microscope". Journal of the Vacuum Society of Japan 57, nr 10 (2014): 377–81. http://dx.doi.org/10.3131/jvsj2.57.377.
Pełny tekst źródłaKinoshita, June. "Sons of STM". Scientific American 259, nr 1 (lipiec 1988): 33–35. http://dx.doi.org/10.1038/scientificamerican0788-33.
Pełny tekst źródłaGrenier, Gerry. "STM X-REF". Serials Librarian 36, nr 1-2 (marzec 1999): 175–85. http://dx.doi.org/10.1300/j123v36n01_21.
Pełny tekst źródłaAllison, D. P., J. R. Thompson, K. B. Jacobson, R. J. Warmack i T. L. Ferrell. "STM of macromolecules". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 3 (12.08.1990): 110–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100158091.
Pełny tekst źródłaJACOBY, MITCH. "STM ELUCIDATES MECHANISM". Chemical & Engineering News 79, nr 43 (22.10.2001): 11. http://dx.doi.org/10.1021/cen-v079n043.p011.
Pełny tekst źródłaBarniol, N., E. Farrés, F. Martin, J. Suñé, I. Placencia i X. Aymerich. "Simple STM theory". Vacuum 41, nr 1-3 (styczeń 1990): 379–81. http://dx.doi.org/10.1016/0042-207x(90)90364-5.
Pełny tekst źródłaValdés, J., J. J. Kohanoff, E. E. Lobbe, R. López Bancalari, M. E. Porfiri i R. García Cantú. "Battery-operated STM". Journal of Microscopy 152, nr 3 (grudzień 1988): 675–79. http://dx.doi.org/10.1111/j.1365-2818.1988.tb01437.x.
Pełny tekst źródłaCamelio, Cos. "STM Committee Update". International Nonwovens Journal os-12, nr 1 (marzec 2003): 1558925003os—12. http://dx.doi.org/10.1177/1558925003os-1200101.
Pełny tekst źródłaWatkinson, Anthony. "Reprinted from STM Membership Matters – February 2017 © 2017 STM". Information Services & Use 37, nr 3 (7.11.2017): 257–58. http://dx.doi.org/10.3233/isu-170851.
Pełny tekst źródłaLong, J. A., i M. K. Barton. "The development of apical embryonic pattern in Arabidopsis". Development 125, nr 16 (15.08.1998): 3027–35. http://dx.doi.org/10.1242/dev.125.16.3027.
Pełny tekst źródłaMurphy, S., S. F. Ceballos, G. Mariotto, N. Berdunov, K. Jordan, I. V. Shvets i Y. M. Mukovskii. "Atomic scale spin-dependent STM on magnetite using antiferromagnetic STM tips". Microscopy Research and Technique 66, nr 2-3 (luty 2005): 85–92. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.20148.
Pełny tekst źródłaFerri, Giovanni, i Angelo Leogrande. "Stakeholder Management, Cooperatives, and Selfish-Individualism". Journal for Markets and Ethics 9, nr 2 (1.12.2021): 61–75. http://dx.doi.org/10.2478/jome-2021-0005.
Pełny tekst źródłaJoachim, C., B. Rousset, C. Schonenberger, A. Kerrien, E. Druet i J. Chevalier. "Characterization of a titanium nanoscopic wire by STM and SFM". Nanotechnology 2, nr 2 (1.04.1991): 96–102. http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/2/2/003.
Pełny tekst źródłaLisowski, W., A. H. J. van den Berg, G. A. M. Kip i L. J. Hanekamp. "Characterization of tungsten tips for STM by SEM/AES/XPS". Fresenius' Journal of Analytical Chemistry 341, nr 3-4 (marzec 1991): 196–99. http://dx.doi.org/10.1007/bf00321548.
Pełny tekst źródłaGómez, M. M., L. Vázquez, R. C. Salvarezza, J. M. Vara i A. J. Arvia. "STM-SEM and impedance characterization of columnar structured gold electrodes". Journal of Electroanalytical Chemistry and Interfacial Electrochemistry 317, nr 1-2 (listopad 1991): 125–37. http://dx.doi.org/10.1016/0022-0728(91)85008-d.
Pełny tekst źródłaGómez-Rodríguez, J. M., L. Vázquez, A. Bartolomé, A. M. Baró, P. Grambow i D. Heitmann. "Topographic imaging of GaAs-microstructured samples by STM and SEM". Ultramicroscopy 30, nr 3 (lipiec 1989): 355–58. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(89)90065-x.
Pełny tekst źródłaEng, L. M., H. Fuchs, S. Buchholz i J. P. Rabe. "Ordering of didodecylbenzene on graphite: a combined SFM/STM study". Ultramicroscopy 42-44 (lipiec 1992): 1059–66. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(92)90402-6.
Pełny tekst źródłaIwatsuki, M., S. Kitamura i A. Mogami. "Development of the UHV-STM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 322–23. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180367.
Pełny tekst źródłaKajimura, Koji. "STM as a Micromachine". Journal of Robotics and Mechatronics 3, nr 1 (20.02.1991): 12–17. http://dx.doi.org/10.20965/jrm.1991.p0012.
Pełny tekst źródłaZanin, D. A., L. G. De Pietro, Q. Peter, A. Kostanyan, H. Cabrera, A. Vindigni, Th Bähler, D. Pescia i U. Ramsperger. "Thirty per cent contrast in secondary-electron imaging by scanning field-emission microscopy". Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences 472, nr 2195 (listopad 2016): 20160475. http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2016.0475.
Pełny tekst źródłaOKAYAMA, Shigeo, Masanori KOMURO i Makoto OKANO. "STM applications for microelectronics." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 53, nr 12 (1987): 1826–30. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.53.1826.
Pełny tekst źródłaMIZUTANI, WATARU. "Fine positioners for STM." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 53, nr 5 (1987): 695–97. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.53.695.
Pełny tekst źródłaShuai, Yan. "STM Publishing in China". Editorial Office News 8, nr 12 (1.12.2015): 13–16. http://dx.doi.org/10.18243/eon/2015.8.12.3.
Pełny tekst źródłaIwatsuki, Masashi. "Surface Analysis by STM." HYBRIDS 7, nr 5 (1991): 22–28. http://dx.doi.org/10.5104/jiep1985.7.5_22.
Pełny tekst źródła