Książki na temat „Spectroscopie Rayon X”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 36 najlepszych książek naukowych na temat „Spectroscopie Rayon X”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
van, Grieken R., i Markowicz Andrzej, red. Handbook of X-ray spectrometry. Wyd. 2. New York: Marcel Dekker, 2002.
Znajdź pełny tekst źródłaMaharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont: Direction de l'hygiène du milieu, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaRX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2004.
Znajdź pełny tekst źródłaE, Buhrke Victor, Jenkins Ron i Smith, Deane K. (Deane Kingsley), red. A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis. New York: Wiley-VCH, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaAmerica, Mineralogical Society of, i Geochemical Society, red. Spectroscopic methods in mineralogy and materials sciences. Chantilly, Virginia: Mineralogical Society of America, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaN, Broll, Cornet A i Denier P, red. Rayons X et matière: RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2000.
Znajdź pełny tekst źródłaRX, 2001 (2001 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2001 : colloque dédié à la mémoire d'André Guinier : ENSAIS, École nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, France, 4-7 décembre 2001. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2002.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on X-Ray Microscopy (6th 1999 Berkeley, Calif.). X-ray microscopy: Proceedings of the sixth international conference, Berkeley, CA, 2-6 August 1999. Redaktorzy Meyer-Ilse Werner 1955-1999, Warwick Tony i Attwood David T. Melville, N.Y: American Institute of Physics, 2000.
Znajdź pełny tekst źródłaWhiston, Clive. X-ray methods. Redaktorzy Prichard F. Elizabeth i ACOL (Project). Chichester [West Sussex]: Published on behalf of ACOL, Thames Polytechnic, London, by Wiley, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaKokuritsu Bunkazai Kikō (Japan). Tōkyō Bunkazai Kenkyūjo. Kokuhō jitsugetsu shiki sansuizu kōgaku chōsa hōkokusho: Shingonshū Omuro-ha Daihonzan Amanosan Kongōji shozō. Tōkyō-to Taitō-ku: Kokuritsu Bunkazai Kikō Tōkyō Bunkazai Kenkyūjo, 2019.
Znajdź pełny tekst źródłaMcMurdie, Howard. Advances in X-Ray Analysis: Volume 20. Springer, 2012.
Znajdź pełny tekst źródłaAn Introduction to X-Ray Physics, Optics, and Applications. Princeton University Press, 2017.
Znajdź pełny tekst źródłaXafs For Everyone. Taylor & Francis Inc, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaCalvin, Scott. XAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2018.
Znajdź pełny tekst źródłaXAFS for Everyone. CRC Press LLC, 2024.
Znajdź pełny tekst źródłaXAFS for Everyone. Taylor & Francis Group, 2024.
Znajdź pełny tekst źródłaXAFS for Everyone. CRC Press LLC, 2024.
Znajdź pełny tekst źródłaRayons X et matière: RX 97 : (ENSAIS) Ecole nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, 14-16 octobre 1997. Les Ulis, France: EDP Sciences, 1998.
Znajdź pełny tekst źródła(Editor), Françoise Hippert, Erik Geissler (Editor), Jean Louis Hodeau (Editor), Eddy Lelièvre-Berna (Editor) i Jean-René Regnard (Editor), red. Neutron and X-ray Spectroscopy. Springer, 2005.
Znajdź pełny tekst źródłaauthor, Schlossman Mark, red. Liquid surfaces and interfaces: Synchrotron X-ray methods. 2012.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Sensor Materials, Systems, Technology and Characterization Measurements. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaRadiation Detection Systems: Sensor Materials, Systems, Technology and Characterization Measurements. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. CRC Press LLC, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Medical Imaging, Industrial Testing and Security Applications. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. CRC Press, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Two Volume Set. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan S. Iwanczyk. Radiation Detection Systems. CRC Press LLC, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof, i Jan Iwanczyk. Radiation Detection Systems: Medical Imaging, Industrial Testing and Security Applications. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaRadiation Detection Systems: Medical Imaging, Industrial Testing and Security Applications. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródła