Gotowa bibliografia na temat „Silicon Thin Film Technology”
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Artykuły w czasopismach na temat "Silicon Thin Film Technology"
Zeman, Miroslav. "Thin-Film Silicon PV Technology". Journal of Electrical Engineering 61, nr 5 (1.09.2010): 271–76. http://dx.doi.org/10.2478/v10187-010-0039-y.
Pełny tekst źródłaJohnson, R. W., T. L. Phillips, R. C. Jaeger, S. F. Hahn i D. C. Burdeaux. "Multichip thin-film technology on silicon". IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology 12, nr 2 (czerwiec 1989): 185–94. http://dx.doi.org/10.1109/33.31423.
Pełny tekst źródłaShah, A. V., H. Schade, M. Vanecek, J. Meier, E. Vallat-Sauvain, N. Wyrsch, U. Kroll, C. Droz i J. Bailat. "Thin-film silicon solar cell technology". Progress in Photovoltaics: Research and Applications 12, nr 23 (marzec 2004): 113–42. http://dx.doi.org/10.1002/pip.533.
Pełny tekst źródłaBeaucarne, Guy. "Silicon Thin-Film Solar Cells". Advances in OptoElectronics 2007 (17.12.2007): 1–12. http://dx.doi.org/10.1155/2007/36970.
Pełny tekst źródłaCheng, Yu, Huayi Hu, Zhihong Gao, Ke Zhou, Xiaona Wang, Shihong Xiang i Xiaohui Chen. "Thin film silicon solar module encapsulation technology research". MRS Proceedings 1771 (2015): 87–95. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2015.489.
Pełny tekst źródłaSchropp, Ruud E. I., Reinhard Carius i Guy Beaucarne. "Amorphous Silicon, Microcrystalline Silicon, and Thin-Film Polycrystalline Silicon Solar Cells". MRS Bulletin 32, nr 3 (marzec 2007): 219–24. http://dx.doi.org/10.1557/mrs2007.25.
Pełny tekst źródłaLang, W., P. Steiner, U. Schaber i A. Richter. "A thin film bolometer using porous silicon technology". Sensors and Actuators A: Physical 43, nr 1-3 (maj 1994): 185–87. http://dx.doi.org/10.1016/0924-4247(93)00691-v.
Pełny tekst źródłaSchröder, Bernd. "Thin film technology based on hydrogenated amorphous silicon". Materials Science and Engineering: A 139 (lipiec 1991): 319–33. http://dx.doi.org/10.1016/0921-5093(91)90636-2.
Pełny tekst źródłaSassaki, C. A., A. T. Arasaki, M. P. Carreño, A. Komazawa i I. Pereyra. "Integral thin film technology amorphous silicon image sensor". Journal of Non-Crystalline Solids 115, nr 1-3 (grudzień 1989): 90–92. http://dx.doi.org/10.1016/0022-3093(89)90370-0.
Pełny tekst źródłaGuo, Hang, Jun Ying Jiang, Jia Xing Liu, Zhi Hua Nie, Fang Ye i Chong Fang Ma. "Fabrication and Calibration of Cu-Ni Thin Film Thermocouples". Advanced Materials Research 512-515 (maj 2012): 2068–71. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.512-515.2068.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Silicon Thin Film Technology"
Garbayo, Senosiain Iñigo. "Integration of thin film based micro solid oxide fuel cells in silicon technology". Doctoral thesis, Universitat de Barcelona, 2013. http://hdl.handle.net/10803/131944.
Pełny tekst źródłaEn las últimas décadas, ha habido una gran proliferación de aparatos portátiles. Entre ellos, cabe destacar los aparatos destinados a electrónica de consumo, como por ejemplo teléfonos móviles, reproductores de música, libros electrónicos, etc., los cuales están actualmente muy extendidos. De cara a proporcionar a estos aparatos con suficiente autonomía, se ha de integrar una fuente de alimentación en el mismo dispositivo. Esto urge a buscar posibles fuentes de alimentación con capacidad de integración, y que a su vez satisfagan los requerimientos básicos de alta densidad de potencia, gran tiempo de vida y bajo coste. Hasta ahora, la principal fuente de alimentación utilizada en este tipo de dispositivos ha sido las baterías. Sin embargo, conforme aumentan las funcionalidades, la necesidad de mayor capacidad de suministro (o almacenamiento) energético aumenta. Es más, justo ahora entrando en la cuarta generación (4G) de la electrónica de consumo, diversos estudios sugieren que las baterías, ya optimizadas, probablemente están alcanzando su límite en densidad energética, con lo que no podrían ya considerarse más para alimentar de manera viable los dispositivos más avanzados. En este sentido, en los últimos años muchos grupos de investigación han puesto su atención en el desarrollo de alternativas viables que puedan mejorar las prestaciones de las baterías como fuente de alimentación de dispositivos de altas prestaciones que trabajen en el régimen de baja potencia (1 − 20W). Debido a su alto tiempo de vida, alta densidad energética y capacidad de integración, probablemente la alternativa más prometedora es el desarrollo de micro pilas de combustible. En particular, entre los diferentes tipos, las micro pilas de combustible de óxido sólido (micro SOFC, de sus siglas en inglés), presentan los mayores valores de densidad energética específica (por unidad de masa y/o volumen), mayormente debido a su alta temperatura de operación y la consecuente capacidad de operar directamente con combustibles hidrocarburos. El diseño de micro SOFC más extendido está basado en la fabricación de membranas auto soportadas, las cuales integran ya todas las partes funcionales de la pila, es decir, un electrolito fino cubierto por un ánodo y un cátodo (uno a cada lado). Estas membranas, de grosor muy fino (menos de 1m), normalmente se encuentran soportadas en plataformas de silicio micro mecanizadas, de manera que se facilita un fácil acceso al combustible directamente a ambos lados de la membrana, a la vez que se proporciona robustez al sistema. El uso de silicio como material de soporte es muy conveniente, ya que es el material más utilizado en micro fabricación, por lo que existe una amplia y altamente desarrollada serie de técnicas para su micro mecanizado. Esta tesis engloba el diseño, la fabricación y la caracterización de micro pilas de combustible de óxido sólido basadas en capas delgadas, e integradas en tecnología de silicio. El desarrollo de las micro SOFC se ha llevado a cabo de tres formas diferentes: (i.) presentando nuevos diseños para la optimización de las membranas auto soportadas, (ii.) fabricando electrolitos en capa delgada estables termo-mecánicamente y (iii.) sugiriendo e implementando en el dispositivo final nuevos materiales de electrodo en capa delgada más efectivos y viables que los actuales. En primer lugar, se fabricaron dos diseños de membrana diferentes, usando tecnología de micro fabricación de silicio. En el primero de los diseños, se fabricaron membranas cuadradas básicas. En este caso, el trabajo más importante fue el de la adaptación del proceso de fabricación al flujo de fabricación de la Sala Blanca del IMB-CNM (CSIC). Más adelante, se desarrolló un nuevo diseño de membrana de gran superficie, basado en el uso de mallas de nervios de silicio dopado como soporte robusto. Así, se consiguieron fabricar membranas auto soportadas con un área total de hasta 30 veces mayor que las conseguidas en el diseño básico anterior. Para el electrolito, se usó zirconia estabilizada con ytria (YSZ, de sus siglas en inglés), el material estado del arte en SOFC de gran volumen. Se fabricaron membranas auto soportadas de YSZ con gran reproducibilidad, obteniendo capas delgadas densas, cristalinas y de grosor homogéneo. Estas características son básicas para un buen funcionamiento del electrolito, ya que así se evitan posibles cortocircuitos entre los dos electrodos y/o fugas de gas. Además, se realizó un estudio exhaustivo de la estabilidad termo-mecánica de las membranas de YSZ, ya que las temperaturas de operación de la pila son de varios centenares de ℃. En particular, se prestó atención especial a la evolución de los estreses en función de las condiciones de fabricación de la capa de YSZ, para as. evitar posibles fallos en los continuos ciclados térmicos. Finalmente, se realizó un estudio de las propiedades electroquímicas de las membranas de YSZ fabricadas. Normalmente, se establece un valor de resistencia específica por área de 0.15 Ω cm2 para cada una de las capas funcionales de las pilas. En este caso, este valor objetivo se obtuvo a temperaturas de 400℃ en membranas de YSZ de 250 nm de grosor. De esta forma, se comprobó que estas capas pueden funcionar perfectamente como electrolito en todo el rango de operación de las micro SOFC, que normalmente se establece en 400 − 800℃. A continuación, se probaron diversos materiales como electrodos en capa delgada, para su implementación en micro SOFC. En primer lugar, aunque éstos han sido usados frecuentemente por otros autores en estudios previos de micro SOFC, se comprobó que los electrodos metálicos en capa delgada (capas de Pt poroso) son inestables a las temperaturas de operación de las micro SOFC. Por lo tanto, esto hizo que se probaran materiales alternativos, bien para el ánodo o para el cátodo. En particular, para el cátodo se fabricaron capas delgadas porosas de La(0.6)Sr(0.4)CoO(3-δ) (LSC) y se integraron en membranas auto soportadas de YSZ (electrolito). La conductividad eléctrica que se midió en estas capas es adecuada, y no se observó degradación en todo el rango de temperaturas de operación. Así mismo, se comprobó la estabilidad termo mecánica del sistema fabricando membranas simétricas de LSC/YSZ/LSC y realizándoles ciclados térmicos hasta los 700℃. Por último, se midieron las propiedades electroquímicas de las bi-capas cátodo/electrolito, obteniendo los valores objetivo de resistencia específica por área (0.30 Ωcm2) a temperaturas de 700℃. Para el ánodo, se fabricaron capas delgadas porosas de un cermet de Pt y Ce0(.8)Gd(0.2)O(1.9-δ) (PtKCGO). Las capas de CGO se tuvieron que fabricar de grosores por debajo de 1 m, debido a problemas de delaminación del sustrato. Se aseguró una buena inter-conexión entre el Pt y el CGO mediante tratamientos térmicos. Las propiedades electroquímicas se midieron nuevamente fabricando membranas simétricas, esta vez Pt-CGO/YSZ/CGO-Pt. Así mismo, el objetivo de 0.30 Ωcm2 se obtuvo de nuevo a temperaturas alrededor de 700℃. Además, en esta tesis se llevó a cabo la fabricación de colectores de corriente térmicamente estables y a su vez compatibles con la configuración básica de una micro SOFC (membranas auto soportadas). Para ello, se usó un proceso de litografía no convencional, llamado "nanosphere lithography". De esta forma se fabricaron mallas de Pt denso perfectamente ordenadas en ambos lados de las membranas. La estabilidad térmica y la durabilidad en el tiempo de estas mallas fue igualmente probada mediante medidas en condiciones de trabajo reales de micro SOFC. Por último, en este trabajo se presentó una micro SOFC completamente basada en cerámicas por primera vez. Las tres capas funcionales de la pila, es decir, tanto el cátodo, como el electrolito y el ánodo, se fabricaron basándose en los estudios previos de cada material. Así, se fabricaron membranas auto soportadas siguiendo la configuración LSC/YSZ/CGO-Pt. Además, se implementaron mallas de Pt en ambos lados para asegurar una buena colección de corriente. La estabilidad termo mecánica de la membrana se midió hasta 750℃, extendiendo así el rango de temperaturas de operación reportado anteriormente en dispositivos finales de micro SOFC y en consecuencia permitiendo el uso de electrodos cerámicos. Se midieron valores de densidad de potencia de 100 mW/cm2 a 750℃, usando H2 como combustible y aire sintético como oxidante. Estos resultados representan los primeros valores de potencia presentados en micro SOFC basadas en cerámicas, abriendo as. la posibilidad de desarrollar una segunda generación de micro SOFC más viables térmicamente.
McNeil, Vincent Maurice. "A thin-film silicon microaccelerometer fabricated using electrochemical etch-stop and wafer bonding technology". Thesis, Massachusetts Institute of Technology, 1994. http://hdl.handle.net/1721.1/12013.
Pełny tekst źródłaIncludes bibliographical references (p. 343-360).
by Vincent Maurice McNeil.
Ph.D.
Zhang, Peng. "Development and fabrication of vertical thin film transistors based on low temperature polycrystalline silicon technology". Rennes 1, 2012. https://ecm.univ-rennes1.fr/nuxeo/site/esupversions/9b61a7a5-6013-4028-af42-2d95a9366ca6.
Pełny tekst źródłaCe travail porte sur le développement de transistors en couches minces verticaux (VTFTs), du procédé de fabrication à l'analyse des caractéristiques électriques. Les transistors sont réalisés à partir de silicium polycristallin déposé et cristallisé en utilisant une technologie basse température (T ≤ 600°C). La première étape de ce travail consiste à la fabrication et la caractérisation de VTFTs obtenus par rotation de 90° des transistors à couches minces latéraux (LTFTs). La faisabilité technologique de VTFTs est alors validée, et un rapport ION/IOFF d'environ 10³ est obtenu. L'analyse des résultats de caractérisation électrique a mis en évidence que ce fort courant à l'état bloquant IOFF est principalement dû à la grande zone de recouvrement entre source et drain. La deuxième étape du travail réside dans la suppression partielle de cette zone de recouvrement qui aboutit à un rapport ION/IOFF proche de 10⁵. Dans la troisième partie de ce travail, une nouvelle architecture de transistors verticaux est proposée, qui élimine totalement la zone de recouvrement. Les effets de différents paramètres sont étudiés, notamment l'influence de l'épaisseur de la couche active, de la couche d'isolation, et de la dimension géométrique. Les transistors optimisés mettent en évidence un rapport ION/IOFF supérieur à 10⁵ avec une réduction du courant à l'état bloquant, une grande stabilité et une bonne reproductibilité du procédé technologique. Des transistors verticaux de type P et N ont également été réalisés. Ils ont montré des caractéristiques électriques symétriques, qui les rendent utilisables dans des applications similaires à la technologie CMOS
Meng, Zhiguo. "Metal-induced unilaterally crystallized polycrystalline silicon thin-film transistor technology and application to flat-panel displays /". View Abstract or Full-Text, 2002. http://library.ust.hk/cgi/db/thesis.pl?ELEC%202002%20MENG.
Pełny tekst źródłaCheng, Chun Fai. "Modeling of polysilicon thin-film transistors formed by grain enhancement technology-metal-induced lateral crystallization /". View abstract or full-text, 2004. http://library.ust.hk/cgi/db/thesis.pl?ELEC%202004%20CHENG.
Pełny tekst źródłaManley, Robert G. "Development and modeling of a low temperature thin-film CMOS on glass /". Online version of thesis, 2009. http://hdl.handle.net/1850/11202.
Pełny tekst źródłaSingh, Siddhartha. "Phosphorus implants for off-state improvement of SOI CMOS fabricated at low temperature /". Online version of thesis, 2009. http://hdl.handle.net/1850/11427.
Pełny tekst źródłaTengdelius, Lina. "Growth and Characterization of ZrB2 Thin Films". Licentiate thesis, Linköpings universitet, Tunnfilmsfysik, 2013. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-98308.
Pełny tekst źródłaMeyer, Raphaël. "The advanced developments of the Smart Cut™ technology : fabrication of silicon thin wafers & silicon-on-something hetero-structures". Thesis, Lyon, 2016. http://www.theses.fr/2016LYSEI033/document.
Pełny tekst źródłaAt first, the thesis studies the kinetics of Smart Cut™ in silicon implanted with hydrogen ions for annealing temperature in the range 500°C-1300°C. The kinetics is characterized by using a specially-dedicated furnace and by considering laser annealing. Based on the related characterization and observations, a physical model is established based on the behavior of implanted hydrogen during annealing. The model is strengthened by SIMS characterization focused on the evolution of hydrogen during annealing and on numerical calculations. Additionally, the model proposes an explanation for the properties of the obtained films as a function of the annealing conditions, based on optical microscope and AFM observations and bonding energy characterization. Based on this splitting model, two innovative processes for fabrication of silicon films are proposed. The first process allows to produce films of silicon on sapphire and films of silicon on glass by considering a laser annealing. The second produces foils of monocrystalline silicon by liquid phase epitaxial growth on implanted silicon substrate. The study of the first process proves for the first time the possibility to apply the Smart Cut™ for substrates of implanted silicon. The resulting films present large surface of transferred films (up to 200 mm wafers), which is very interesting in an industrial perspective. The study proposes different characterization of the films obtained by this process (AFM, optical profilometry and 4 probe measurement). The second process is demonstrated by using a chamber of liquid phase epitaxial growth of silicon (deposition temperature superior to 1410°C) in order to deposit liquid silicon on implanted silicon substrates. The obtained films show a high degree of epitaxial growth (up to 90% of the film as characterized by EBSD) and show a thickness as low as 100µm. Additionally the detachment by Smart Cut of the deposited films is demonstrated
Ahmed, Fatema. "Structural properties and optical modelling of SiC thin films". University of the Western Cape, 2020. http://hdl.handle.net/11394/7284.
Pełny tekst źródłaAmorphous silicon carbide (a-SiC) is a versatile material due to its interesting mechanical, chemical and optical properties that make it a candidate for application in solar cell technology. As a-SiC stoichiometry can be tuned over a large range, consequently is its bandgap. In this thesis, amorphous silicon carbide thin films for solar cells application have been deposited by means of the electron-beam physical vapour deposition (e-beam PVD) technique and have been isochronally annealed at varying temperatures. The structural and optical properties of the films have been investigated by Fourier transform Infrared and Raman spectroscopies, X-ray diffraction, Scanning Electron Microscopy, Energy Dispersive X-ray Spectroscopy and UV-VIS-NIR spectroscopy. The effect of annealing is a gradual crystallization of the amorphous network of as-deposited silicon carbide films and consequently the microstructural and optical properties are altered. We showed that the microstructural changes of the as-deposited films depend on the annealing temperature. High temperature enhances the growth of Si and SiC nanocrystals in amorphous SiC matrix. Improved stoichiometry of SiC comes with high band gap of the material up to 2.53 eV which makes the films transparent to the visible radiation and thus they can be applied as window layer in solar cells.
Książki na temat "Silicon Thin Film Technology"
(Society), SPIE, red. Thin film solar technology III. Bellingham: SPIE, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaT, Voutsas Apostolos, IS & T--the Society for Imaging Science and Technology. i Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., red. Poly-silicon thin film transistor technology and applications in displays and other novel technology areas: 21-22 January, 2003, Santa Clara, California, USA. Bellingham, Wash: SPIE, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaDelahoy, Alan Edward. Thin film solar technology: 2-4 August 2009, San Diego, California, United States. Bellingham, Wash: SPIE, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaDelahoy, Alan Edward. Thin film solar technology: 2-4 August 2009, San Diego, California, United States. Redaktor SPIE (Society). Bellingham, Wash: SPIE, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaDelahoy, Alan Edward. Thin film solar technology: 2-4 August 2009, San Diego, California, United States. Redaktor SPIE (Society). Bellingham, Wash: SPIE, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaIEEE SOS/SOI Technology Conference. (1990 Key West, Fla.). 1990 IEEE SOS/SOI Technology Conference, October 2-4, 1990, Marriott's Casa, Marina Resort, Key West, Florida : proceedings. [New York: IEEE], 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaname, No. Poly-silicon thin film transistor technology and applications in display and other novel technology areas: 21-22 January, 2003, Santa Clara, California, USA. Bellingham, WA: SPIE, 2003.
Znajdź pełny tekst źródła(Society), SPIE, red. Thin film solar technology II: 1-4 August 2010, San Diego, California, United States. Bellingham, Wash: SPIE, 2010.
Znajdź pełny tekst źródła(Society), SPIE, red. Thin film solar technology V: 25-26 August 2013, San Diego, California, United States. Bellingham, Washington: SPIE, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaYukimi, Ichikawa, red. Amorphous silicon p-i-n diodes: Their fabrication & application to thin film devices. Singapore: World Scientific, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Silicon Thin Film Technology"
Wronski, Christopher R., i Nicolas Wyrsch. "Silicon Solar Cells silicon solar cell , Thin-film silicon solar cell thin-film". W Encyclopedia of Sustainability Science and Technology, 9240–92. New York, NY: Springer New York, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0851-3_462.
Pełny tekst źródłaBrotherton, S. D. "Hydrogenated Amorphous Silicon TFT Technology and Architecture". W Introduction to Thin Film Transistors, 109–40. Heidelberg: Springer International Publishing, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00002-2_5.
Pełny tekst źródłaBrotherton, Stan D. "Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors (Poly-Si TFTs)". W Handbook of Visual Display Technology, 911–42. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-14346-0_48.
Pełny tekst źródłaBrotherton, Stan D. "Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors (Poly-Si TFTs)". W Handbook of Visual Display Technology, 1–32. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35947-7_48-2.
Pełny tekst źródłaBrotherton, S. D. "Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors (Poly-Si TFTs)". W Handbook of Visual Display Technology, 647–73. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-79567-4_48.
Pełny tekst źródłaTate, J., P. Berberich, W. Dietsche i H. Kinder. "Superconducting Films of YBCO on Bare Silicon". W Science and Technology of Thin Film Superconductors, 347–52. Boston, MA: Springer US, 1989. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4684-5658-5_41.
Pełny tekst źródłaFlewitt, A. J. "Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors (a-Si:H TFTs)". W Handbook of Visual Display Technology, 887–909. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-14346-0_47.
Pełny tekst źródłaFlewitt, A. J. "Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors (a-Si:H TFTs)". W Handbook of Visual Display Technology, 1–18. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35947-7_47-2.
Pełny tekst źródłaFlewitt, A. J. "Hydrogenated Amorphous Silicon Thin Film Transistors (a Si:H TFTs)". W Handbook of Visual Display Technology, 627–46. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-79567-4_47.
Pełny tekst źródłaMartins, Rodrigo, i Elvira Fortunato. "Thin Film Position Sensitive Detectors: From 1D to 3D Applications". W Technology and Applications of Amorphous Silicon, 342–403. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-04141-3_8.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Silicon Thin Film Technology"
Ray, Swati. "Nanocrystalline silicon based thin film solar cells". W INDIAN VACUUM SOCIETY SYMPOSIUM ON THIN FILMS: SCIENCE AND TECHNOLOGY. AIP, 2012. http://dx.doi.org/10.1063/1.4732361.
Pełny tekst źródłaSupadech, J., E. Ratanaudomphisut, C. Hruanun i A. Poyai. "Characteristics of silicon thin film thermistors". W 2008 5th International Conference on Electrical Engineering/Electronics, Computer, Telecommunications and Information Technology (ECTI-CON). IEEE, 2008. http://dx.doi.org/10.1109/ecticon.2008.4600564.
Pełny tekst źródłaDespeisse, M., C. Ballif, A. Feltrin, F. Meillaud, S. Fay, F. J. Haug, D. Dominé i in. "Research and developments in thin-film silicon photovoltaics". W SPIE Solar Energy + Technology, redaktorzy Alan E. Delahoy i Louay A. Eldada. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.826232.
Pełny tekst źródłavan Swaaij, Rene A. C. M. M., Arno H. M. Smets i Miro Zeman. "Thin-film silicon technology for highly-efficient solar cells". W 2012 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting - BCTM. IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/bctm.2012.6352634.
Pełny tekst źródłaMitsuhiko Ogihara, Tomohiko Sagimori, Masataka Mutoh, Takahito Suzuki, Tomoki Igari, Hironori Furuta, Yuusuke Nakai i in. "1200dpi thin film LED array by silicon photonics technology". W 2008 58th Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2008). IEEE, 2008. http://dx.doi.org/10.1109/ectc.2008.4550060.
Pełny tekst źródłaSlaoui, Abdelilah, Amartya Chowdhury, Pathi Prathap, Zabardjade Said-Bacar, Armel Bahouka i Frederic Mermet. "Laser processing for thin film crystalline silicon solar cells". W SPIE Solar Energy + Technology, redaktor Edward W. Reutzel. SPIE, 2012. http://dx.doi.org/10.1117/12.929208.
Pełny tekst źródłaBotula, A., A. Joseph, J. Slinkman, R. Wolf, Z. X. He, D. Ioannou, L. Wagner i in. "A Thin-Film SOI 180nm CMOS RF Switch Technology". W 2009 IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF). IEEE, 2009. http://dx.doi.org/10.1109/smic.2009.4770522.
Pełny tekst źródłaSrikanth, G., B. S. Kariyappa i B. V. Uma. "Parametric analysis of amorphous silicon thin film transistors". W 2016 IEEE International Conference on Recent Trends in Electronics, Information & Communication Technology (RTEICT). IEEE, 2016. http://dx.doi.org/10.1109/rteict.2016.7808111.
Pełny tekst źródłaKhaleque, Tanzina, i Robert Magnusson. "Experiments with resonant thin-film hydrogenated amorphous silicon solar cells". W SPIE Solar Energy + Technology, redaktor Louay A. Eldada. SPIE, 2012. http://dx.doi.org/10.1117/12.929798.
Pełny tekst źródłaZhao, Hui, E. A. Schiff, L. Sivec, J. Yang i S. Guha. "Light trapping in thin film silicon solar cells: an assessment". W SPIE Solar Energy + Technology, redaktor Louay A. Eldada. SPIE, 2011. http://dx.doi.org/10.1117/12.893619.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Silicon Thin Film Technology"
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Pełny tekst źródłaMartin U. Pralle i James E. Carey. Black Silicon Enhanced Thin Film Silicon Photovoltaic Devices. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), lipiec 2010. http://dx.doi.org/10.2172/984305.
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