Książki na temat „Semiconductor metal interface”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 36 najlepszych książek naukowych na temat „Semiconductor metal interface”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Bell, L. D. Evidence of momentum conservation at a nonepitaxial metal/semiconductor interface using ballistic electron emission microscopy. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaBell, L. D. Evidence of momentum conservation at a nonepitaxial metal/semiconductor interface using ballistic electron emission microscopy. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaA, Hiraki, red. Metal-semiconductor interfaces. Tokyo, Japan: Ohmsha, 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaBatra, Inder P., red. Metallization and Metal-Semiconductor Interfaces. Boston, MA: Springer US, 1989. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-0795-2.
Pełny tekst źródłaMunich), NATO Advanced Research Workshop on Metallization and Metal-Semiconductor Interfaces (1988 Technical University of. Metallization and metal-semiconductor interfaces. New York: Plenum Press, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaBatra, Inder P. Metallization and Metal-Semiconductor Interfaces. Boston, MA: Springer US, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaMaani, Colette. A study of some metal-semiconductor interfaces. [s.l: The Author], 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaSin, Wai-Cheong D. Effects of shock waves on metal-semiconductor interfaces. [S.l.]: [s.n.], 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaW, Wilmsen Carl, red. Physics and chemistry of III-V compound semiconductor interfaces. New York: Plenum Press, 1985.
Znajdź pełny tekst źródłaEynde, Frank Op't. Analog interfaces for digitalsignal processing systems. Boston: Kluwer, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaMeeting, Materials Research Society, i Symposium C, "CMOS Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications" (2009 : San Francisco, Calif.), red. CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implications: Symposium held April 14-16, 2009, San Francisco, california, U.S.A. Warrendale, Pa: Materials Research Society, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaC, Sansen Willy M., red. Analog interfaces for digital signal processing systems. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaR, Abernathy C., Materials Research Society Meeting i Symposium on Fundamentals of Novel/Oxide Semiconductor Interfaces (2003 : Boston, Mass.), red. Fundamentals of novel oxide/semiconductor interfaces: Symposium held December 1-4, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A. Warrendale, Pa: Materials Research Society, 2004.
Znajdź pełny tekst źródłaUnimolecular and supramolecular electronics: Chemistry and physics meet at metal-molecule interfaces. Heidelberg: Springer, 2012.
Znajdź pełny tekst źródłaSymposium, D. on Organic Materials for Electronics: Polymer Interfaces with Metals and Semiconductors (1994 Strasbourg France). Organic materials for electronics: Proceedings of Symposium D on Organic Materials for Electronics: Polymer Interfaces with Metals and Semiconductors of the 1994 E-MRS Spring Conference. Amsterdam: North-Holland, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaSymposium D on Organic Materials for Electronics: Polymer Interfaces with Metals and Semiconductors (1994 Strasbourg, France). Organic materials for electronics: Proceedings of Symposium D on Organic Materials for Electronics: Polymer Interfaces with Metals and Semiconductors of the 1994 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, May 24-27, 1994. Amsterdam: North-Holland, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaChang, Yun-Shan. Investigation of interface properties and hot carrier degradation effects in silicon-on-insulator materials and devices. 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaHiraki, A. Metal-Semiconductor Interfaces,. Ios Pr Inc, 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaAndo, K., i E. Saitoh. Incoherent spin current. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198787075.003.0002.
Pełny tekst źródłaMetallization and Metal-Semiconductor Interfaces. Springer, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaBatra, Inder P. Metallization and Metal-Semiconductor Interfaces. Springer, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaSchmickler, Wolfgang. Interfacial Electrochemistry. Oxford University Press, 1996. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780195089325.001.0001.
Pełny tekst źródłaBatra, Inder P. Metallization and Metal-Conductor Interfaces. Springer, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaBasu, Prasanta Kumar, Bratati Mukhopadhyay i Rikmantra Basu. Semiconductor Nanophotonics. Oxford University PressOxford, 2022. http://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198784692.001.0001.
Pełny tekst źródłaManoli, Yiannos, i Dominic Maurath. CMOS Circuits for Electromagnetic Vibration Transducers: Interfaces for Ultra-Low Voltage Energy Harvesting. Springer Netherlands, 2016.
Znajdź pełny tekst źródłaManoli, Yiannos, i Dominic Maurath. CMOS Circuits for Electromagnetic Vibration Transducers: Interfaces for Ultra-Low Voltage Energy Harvesting. Springer London, Limited, 2015.
Znajdź pełny tekst źródłaManoli, Yiannos, i Dominic Maurath. CMOS Circuits for Electromagnetic Vibration Transducers: Interfaces for Ultra-Low Voltage Energy Harvesting. Springer, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaManoli, Yiannos, i Dominic Maurath. CMOS Circuits for Electromagnetic Vibration Transducers: Interfaces for Ultra-Low Voltage Energy Harvesting. Springer, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaBill, Taylor, Alexander A. Demkov, H. Rusty Harris, Jeffery W. Butterbaugh i Willy Rachmady. CMOS Gate-Stack Scaling Vol. 1155: Materials, Interfaces and Reliability Implications. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaBiocmos Interfaces And Codesign. Springer, 2012.
Znajdź pełny tekst źródłaWang, Xiaolei, i Shengkai Wang. MOS Interface Physics, Process and Characterization. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaWang, Xiaolei, i Shengkai Wang. MOS Interface Physics, Process and Characterization. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaWang, Xiaolei, i Shengkai Wang. MOS Interface Physics, Process and Characterization. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródła(Editor), W. L. Mochan, red. Proceedings of the International Workshop on Electrodynamics of Interfaces and Composite Systems: Taxco, Mexico Aug 10-14, 1987 (Advanced Series in). World Scientific Pub Co Inc, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaVibrational Properties of Defective Oxides and 2D Nanolattices: Insights from First-Principles Simulations. Springer, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaScalise, Emilio. Vibrational Properties of Defective Oxides and 2D Nanolattices: Insights from First-Principles Simulations. Springer International Publishing AG, 2016.
Znajdź pełny tekst źródła