Gotowa bibliografia na temat „Semiconductor”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Spis treści
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „Semiconductor”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "Semiconductor"
Xiang, Wenlong. "Semiconductor Culture in the Global Economy". Lecture Notes in Education Psychology and Public Media 25, nr 1 (28.11.2023): 7–11. http://dx.doi.org/10.54254/2753-7048/25/20230188.
Pełny tekst źródłaSánchez-Vergara, Guevara-Martínez, Arreola-Castillo i Mendoza-Sevilla. "Fabrication of Hybrid Membranes Containing Nylon-11 and Organic Semiconductor Particles with Potential Applications in Molecular Electronics". Polymers 12, nr 1 (19.12.2019): 9. http://dx.doi.org/10.3390/polym12010009.
Pełny tekst źródłaTang, Minghao. "Characteristics, application and development trend of the third-generation semiconductor". Applied and Computational Engineering 7, nr 1 (21.07.2023): 41–46. http://dx.doi.org/10.54254/2755-2721/7/20230337.
Pełny tekst źródłaKumar, Anoop. "PRESENT STATUS OF SEMICONDUCTOR INDUSTRY IN INDIA and IT’S FUTURE PROSPECTS". SCHOLARLY RESEARCH JOURNAL FOR INTERDISCIPLINARY STUDIES 9, nr 68 (31.10.2021): 16095–100. http://dx.doi.org/10.21922/srjis.v9i68.10004.
Pełny tekst źródłaHockett, R. S. "Txrf Semiconductor Applications". Advances in X-ray Analysis 37 (1993): 565–75. http://dx.doi.org/10.1154/s0376030800016116.
Pełny tekst źródłaWu, Jianhao. "Performance comparison and analysis of silicon-based and carbon-based integrated circuits under VLSI". Applied and Computational Engineering 39, nr 1 (21.02.2024): 244–50. http://dx.doi.org/10.54254/2755-2721/39/20230605.
Pełny tekst źródłaWESSELS, B. W. "MAGNETORESISTANCE OF NARROW GAP MAGNETIC SEMICONDUCTOR HETEROJUNCTIONS". SPIN 03, nr 04 (grudzień 2013): 1340011. http://dx.doi.org/10.1142/s2010324713400110.
Pełny tekst źródłaYang, Jin-Peng, Hai-Tao Chen i Gong-Bin Tang. "Modeling of thickness-dependent energy level alignment at organic and inorganic semiconductor interfaces". Journal of Applied Physics 131, nr 24 (28.06.2022): 245501. http://dx.doi.org/10.1063/5.0096697.
Pełny tekst źródłaSandoval-Plata, Emilio Iván, Ricardo Ballinas-Indili, Cecilio Álvarez-Toledano i María Elena Sánchez-Vergara. "Dopaje de semiconductor orgánico basado en ftalocianina de silicio". Pädi Boletín Científico de Ciencias Básicas e Ingenierías del ICBI 11, Especial4 (30.11.2023): 55–61. http://dx.doi.org/10.29057/icbi.v11iespecial4.11368.
Pełny tekst źródłaKhurana, Divyansh Anil, Nina Plankensteiner i Philippe M. Vereecken. "Reversible Redox Probes to Determine the Band Edge Locations for Nano-TiO2". ECS Meeting Abstracts MA2023-01, nr 30 (28.08.2023): 1803. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-01301803mtgabs.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Semiconductor"
Mardikar, Yogesh Mukesh. "Energy analysis, diagnostics, and conservation in semiconductor manufacturing". Morgantown, W. Va. : [West Virginia University Libraries], 2004. https://etd.wvu.edu/etd/controller.jsp?moduleName=documentdata&jsp%5FetdId=3748.
Pełny tekst źródłaTitle from document title page. Document formatted into pages; contains viii, 152 p. : ill. (some col.). Includes abstract. Includes bibliographical references (p. 106-108).
Ma, Cliff Liewei. "Modeling of bipolar power semiconductor devices /". Thesis, Connect to this title online; UW restricted, 1994. http://hdl.handle.net/1773/6046.
Pełny tekst źródłaModi, Nihar Triplett Gregory Edward. "Thermal management in GaAs/AlGaAs laser diode structures". Diss., Columbia, Mo. : University of Missouri--Columbia, 2007. http://hdl.handle.net/10355/6262.
Pełny tekst źródłaRamamurthi, Vikram. "Analysis of production control methods for semiconductor research and development fabs using simulation /". Link to online version, 2004. https://ritdml.rit.edu/dspace/handle/1850/938.
Pełny tekst źródłaPark, Seung-Han. "Excitonic optical nonlinearities in semiconductors and semiconductor microstructures". Diss., The University of Arizona, 1988. http://hdl.handle.net/10150/184551.
Pełny tekst źródłaCalhoun, Kenneth Harold. "Thin film compound semiconductor devices for photonic interconnects". Diss., Georgia Institute of Technology, 1993. http://hdl.handle.net/1853/15478.
Pełny tekst źródłaArcher, Paul I. "Building on the hot-injection architecture : giving worth to alternative nanocrystal syntheses /". Thesis, Connect to this title online; UW restricted, 2007. http://hdl.handle.net/1773/8520.
Pełny tekst źródłaNewson, D. J. "Electronic transport in III-V semiconductors and semiconductor devices". Thesis, University of Cambridge, 1986. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.382242.
Pełny tekst źródłaSun, Yunlong. "Laser processing optimization for semiconductor based devices /". Full text open access at:, 1997. http://content.ohsu.edu/u?/etd,3.
Pełny tekst źródłaLos, Andrei. "Influence of carrier freeze-out on SiC Schottky junction admittance". Diss., Mississippi State : Mississippi State University, 2001. http://library.msstate.edu/etd/show.asp?etd=etd-03272001-120540.
Pełny tekst źródłaKsiążki na temat "Semiconductor"
National Measurement Laboratory (U.S.). Office of Standard Reference Materials. Semiconductor. Gaithersburg, MD: U.S. Department of Commerce, National Institute of Standards and Technology, Standard Reference Materials, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaVavilov, V. S., i N. A. Ukhin. Radiation Effects in Semiconductors and Semiconductor Devices. Boston, MA: Springer US, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4684-9069-5.
Pełny tekst źródłaShah, Jagdeep. Ultrafast Spectroscopy of Semiconductors and Semiconductor Nanostructures. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-03770-6.
Pełny tekst źródłaShah, Jagdeep. Ultrafast Spectroscopy of Semiconductors and Semiconductor Nanostructures. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-03299-2.
Pełny tekst źródłaJuha, Kostamovaara, i Vainshtein Sergey, red. Breakdown phenomena in semiconductors and semiconductor devices. Singapore: World Scientific, 2005.
Znajdź pełny tekst źródłaVavilov, V. S. Radiation Effects in Semiconductors and Semiconductor Devices. Boston, MA: Springer US, 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaShah, J. Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures. Berlin: Springer, 1996.
Znajdź pełny tekst źródła(Firm), Lucent Technologies, red. Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures. Wyd. 2. Berlin: Springer Verlag, 1999.
Znajdź pełny tekst źródłaNational Institute of Standards and Technology (U.S.). Semiconductor. [Gaithersburg, Md.]: The Institute, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaNational Measurement Laboratory (U.S.). Office of Standard Reference Materials., red. Semiconductor. Gaithersburg, MD: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, Standard Reference Materials, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Semiconductor"
Sparkes, J. J. "Semiconductors and applications of semiconductor devices". W Semiconductor Devices, 1–43. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-7128-9_1.
Pełny tekst źródłaGooch, Jan W. "Semiconductor". W Encyclopedic Dictionary of Polymers, 654. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6247-8_10452.
Pełny tekst źródłaWeik, Martin H. "semiconductor". W Computer Science and Communications Dictionary, 1544–45. Boston, MA: Springer US, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-0613-6_16926.
Pełny tekst źródłaQuay, Rüdiger. "Semiconductors and Semiconductor Devices and Circuits". W Fundamentals of RF and Microwave Techniques and Technologies, 551–745. Cham: Springer International Publishing, 2023. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-94100-0_7.
Pełny tekst źródłaKerner, B. S., i V. V. Osipov. "Hot Spots in Semiconductors and Semiconductor Structures". W Autosolitons, 106–9. Dordrecht: Springer Netherlands, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-0825-8_8.
Pełny tekst źródłaLüth, Hans. "Metal–Semiconductor Junctions and Semiconductor Heterostructures". W Graduate Texts in Physics, 393–448. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-10756-1_8.
Pełny tekst źródłaLüth, Hans. "Metal–Semiconductor Junctions and Semiconductor Heterostructures". W Graduate Texts in Physics, 377–433. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-13592-7_8.
Pełny tekst źródłaLüth, Hans. "Metal-Semiconductor Junctions and Semiconductor Heterostructures". W Surfaces and Interfaces of Solids, 372–428. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-10159-9_8.
Pełny tekst źródłaLüth, Hans. "Metal—Semiconductor Junctions and Semiconductor Heterostructures". W Advanced Texts in Physics, 381–435. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-04352-3_8.
Pełny tekst źródłaLüth, Hans. "Metal-Semiconductor Junctions and Semiconductor Heterostructures". W Surfaces and Interfaces of Solid Materials, 372–428. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-03132-2_8.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Semiconductor"
So, F. F., S. R. Forrest, Y. Q. Shi i W. H. Steier. "Molecular semiconductor multilayer structures". W OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1989. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1989.mw6.
Pełny tekst źródłaZany, D. V., Y. O. Shi, F. F. So, S. R. Forrest i W. H. Steier. "Crystalline organic semiconductor thin-film optical waveguides". W OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1990. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1990.fd1.
Pełny tekst źródłaVina, Luis, Miquel Garriga i Manuel Cardona. "Spectral ellipsometry of semiconductors and semiconductor structures". W Semi - DL tentative, redaktorzy Fred H. Pollak, Manuel Cardona i David E. Aspnes. SPIE, 1990. http://dx.doi.org/10.1117/12.20842.
Pełny tekst źródłaMenendez, Jose. "Resonance Raman scattering in semiconductors and semiconductor microstructures". W Semi - DL tentative, redaktorzy Fred H. Pollak, Manuel Cardona i David E. Aspnes. SPIE, 1990. http://dx.doi.org/10.1117/12.20855.
Pełny tekst źródłaSo, F. F., S. R. Forrest, H. L. Garvin i D. J. Jackson. "A Fast Organic-on-Inorganic Semiconductor Photodetector". W Integrated and Guided Wave Optics. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1988. http://dx.doi.org/10.1364/igwo.1988.tub2.
Pełny tekst źródłaYoung, T. P., G. A. Armstrong i W. P. Smith. "Semiconductor Finite Elements for Integrated Optics". W Integrated and Guided Wave Optics. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1988. http://dx.doi.org/10.1364/igwo.1988.mf2.
Pełny tekst źródłaZhang, X. C., J. Darrow, B. B. Hu i D. H. Auston. "Optical Rectification from Semiconductor Surface Field". W OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1989. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1989.pd19.
Pełny tekst źródłaNees, John A. "Metal-semiconductor-metal photodetectors on low-temperature-grown semiconductors". W OE/LASE '94, redaktorzy Gail J. Brown, Didier J. Decoster, Joanne S. LaCourse, Yoon-Soo Park, Kenneth D. Pedrotti i Susan R. Sloan. SPIE, 1994. http://dx.doi.org/10.1117/12.175264.
Pełny tekst źródłaBrown, T. G., i S. M. Horbatuck. "χ3 enhancement by carrier multiplication in semiconductor junctions". W OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1989. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1989.ml2.
Pełny tekst źródłaCarroll, M., D. Bloor i G. H. Cross. "Saturable Absorption in Organic Semiconductor Doped Polymers". W Organic Thin Films for Photonic Applications. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1993. http://dx.doi.org/10.1364/otfa.1993.tha.2.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Semiconductor"
Hunt, Will, Saif Khan i Dahlia Peterson. China’s Progress in Semiconductor Manufacturing Equipment. Center for Security and Emerging Technology, marzec 2021. http://dx.doi.org/10.51593/20190018.
Pełny tekst źródłaKhan, Saif M., Alexander Mann i Dahlia Peterson. The Semiconductor Supply Chain: Assessing National Competitiveness. Center for Security and Emerging Technology, styczeń 2021. http://dx.doi.org/10.51593/20190016.
Pełny tekst źródłaKhan, Saif M. U.S. Semiconductor Exports to China: Current Policies and Trends. Center for Security and Emerging Technology, październik 2020. http://dx.doi.org/10.51593/20200039.
Pełny tekst źródłaLazonick, William, i Matt Hopkins. Why the CHIPS Are Down: Stock Buybacks and Subsidies in the U.S. Semiconductor Industry. Institute for New Economic Thinking Working Paper Series, wrzesień 2021. http://dx.doi.org/10.36687/inetwp165.
Pełny tekst źródłaCrawford, M. H., W. W. Chow, A. F. Wright, S. R. Lee, E. D. Jones, J. Han i R. J. Shul. Wide-Bandgap Compound Semiconductors to Enable Novel Semiconductor Devices. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), kwiecień 1999. http://dx.doi.org/10.2172/5901.
Pełny tekst źródłaWoods, Debbie, i Devyani Gajjar. Supply of semiconductor chips. Parliamentary Office of Science and Technology, maj 2024. http://dx.doi.org/10.58248/pn721.
Pełny tekst źródłaNelson, Keith A. Semiconductor Coherent Control. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, wrzesień 2005. http://dx.doi.org/10.21236/ada440285.
Pełny tekst źródłaKrauss, Todd D. Semiconductor Nanocrystal Photonics. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, sierpień 2005. http://dx.doi.org/10.21236/ada447299.
Pełny tekst źródłaBrueck, Steven R., i Ganesh Balakrishnan. Nanoscale Semiconductor Electronics. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, luty 2015. http://dx.doi.org/10.21236/ada613851.
Pełny tekst źródłaBelzer, Barbara J., i David L. Blackburn. Semiconductor measurement technology :. Gaithersburg, MD: National Institute of Standards and Technology, 1997. http://dx.doi.org/10.6028/nist.sp.400-99.
Pełny tekst źródła