Artykuły w czasopismach na temat „Secondary ion mass spectrometer”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Secondary ion mass spectrometer”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Todd, Peter J., i T. Gregory Schaaff. "A secondary ion microprobe ion trap mass spectrometer". Journal of the American Society for Mass Spectrometry 13, nr 9 (wrzesień 2002): 1099–107. http://dx.doi.org/10.1016/s1044-0305(02)00434-8.
Pełny tekst źródłaOlthoff, J. K., I. A. Lys i R. J. Cotter. "A pulsed time-of-flight mass spectrometer for liquid secondary ion mass spectrometry". Rapid Communications in Mass Spectrometry 2, nr 9 (wrzesień 1988): 171–75. http://dx.doi.org/10.1002/rcm.1290020902.
Pełny tekst źródłaBaturin, V. A., S. A. Eremin i S. A. Pustovoĭtov. "Secondary ion mass spectrometer based on a high-dose ion implanter". Technical Physics 52, nr 6 (czerwiec 2007): 770–75. http://dx.doi.org/10.1134/s1063784207060163.
Pełny tekst źródłaJiang, Jichun, Lei Hua, Yuanyuan Xie, Yixue Cao, Yuxuan Wen, Ping Chen i Haiyang Li. "High Mass Resolution Multireflection Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer". Journal of the American Society for Mass Spectrometry 32, nr 5 (20.04.2021): 1196–204. http://dx.doi.org/10.1021/jasms.1c00016.
Pełny tekst źródłaHull, Robert, Derren Dunn i Alan Kubis. "Nanoscale Tomographic Imaging using Focused Ion Beam Sputtering, Secondary Electron Imaging and Secondary Ion Mass Spectrometry". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 934–35. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030749.
Pełny tekst źródłaISHIKAWA, Shuji, i Yuko TAKEGUCHI. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Japan Society of Colour Material 86, nr 10 (2013): 386–91. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai.86.386.
Pełny tekst źródłaFUJITA, Koichi. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Japan Society of Colour Material 79, nr 2 (2006): 81–85. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.81.
Pełny tekst źródłaWilliams, Peter. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Annual Review of Materials Science 15, nr 1 (sierpień 1985): 517–48. http://dx.doi.org/10.1146/annurev.ms.15.080185.002505.
Pełny tekst źródłaGriffiths, Jennifer. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 80, nr 19 (październik 2008): 7194–97. http://dx.doi.org/10.1021/ac801528u.
Pełny tekst źródłaZalm, PC. "Secondary ion mass spectrometry". Vacuum 45, nr 6-7 (czerwiec 1994): 753–72. http://dx.doi.org/10.1016/0042-207x(94)90113-9.
Pełny tekst źródłaTorrisi, Lorenzo, Giuseppe Costa, Giovanni Ceccio, Antonino Cannavò, Nancy Restuccia i Mariapompea Cutroneo. "Magnetic and electric deflector spectrometers for ion emission analysis from laser generated plasma". EPJ Web of Conferences 167 (2018): 03011. http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/201816703011.
Pełny tekst źródłaTang, X., R. Beavis, W. Ens, F. Lafortune, B. Schueler i K. G. Standing. "A secondary ion time-of-flight mass spectrometer with an ion mirror". International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes 85, nr 1 (lipiec 1988): 43–67. http://dx.doi.org/10.1016/0168-1176(88)83004-0.
Pełny tekst źródłaSchueler, Bruno, i Robert W. Odom. "Applications of Time-OF-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 308–9. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135149.
Pełny tekst źródłaWarmenhoven, J., J. Demarche, V. Palitsin, K. J. Kirkby i R. P. Webb. "Modeling Transport of Secondary Ion Fragments into a Mass Spectrometer". Physics Procedia 66 (2015): 352–60. http://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2015.05.044.
Pełny tekst źródłaKonarski, Piotr, Krzysztof Kaczorek, Michał Ćwil i Jerzy Marks. "Quadrupole-based glow discharge mass spectrometer: Design and results compared to secondary ion mass spectrometry analyses". Vacuum 81, nr 10 (czerwiec 2007): 1323–27. http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2007.01.038.
Pełny tekst źródłaLin, Y. P., i Y. C. Ling. "Surface Study of Polymers by Static Secondary Ion Mass Spectrometry Using a Magnetic-Sector Mass Spectrometer". Journal of the Chinese Chemical Society 40, nr 3 (czerwiec 1993): 229–40. http://dx.doi.org/10.1002/jccs.199300035.
Pełny tekst źródłaGrasserbauer, M. "Quantitative secondary ion mass spectrometry". Journal of Research of the National Bureau of Standards 93, nr 3 (maj 1988): 510. http://dx.doi.org/10.6028/jres.093.140.
Pełny tekst źródłaOdom, Robert W. "Secondary Ion Mass Spectrometry Imaging". Applied Spectroscopy Reviews 29, nr 1 (luty 1994): 67–116. http://dx.doi.org/10.1080/05704929408000898.
Pełny tekst źródłaMorrison, G. H. "Editorial. Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 58, nr 1 (styczeń 1986): 1. http://dx.doi.org/10.1021/ac00292a600.
Pełny tekst źródłaKudo, Masahiro, i Susumu Nagayama. "Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)". Zairyo-to-Kankyo 42, nr 5 (1993): 312–21. http://dx.doi.org/10.3323/jcorr1991.42.312.
Pełny tekst źródłaTSUNOYAMA, Kouzou. "Quantitative Secondary Ion Mass Spectrometry". Hyomen Kagaku 7, nr 3 (1986): 237–42. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.7.237.
Pełny tekst źródłaOlthoff, James K., i Robert J. Cotter. "Liquid secondary ion mass spectrometry". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 26, nr 4 (czerwiec 1987): 566–70. http://dx.doi.org/10.1016/0168-583x(87)90544-1.
Pełny tekst źródłaSlodzian, Georges, Ting-Di Wu, Noémie Bardin, Jean Duprat, Cécile Engrand i Jean-Luc Guerquin-Kern. "Simultaneous Hydrogen and Heavier Element Isotopic Ratio Images with a Scanning Submicron Ion Probe and Mass Resolved Polyatomic Ions". Microscopy and Microanalysis 20, nr 2 (19.02.2014): 577–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927613014074.
Pełny tekst źródłaDaly, Steven, Frédéric Rosu i Valérie Gabelica. "Mass-resolved electronic circular dichroism ion spectroscopy". Science 368, nr 6498 (25.06.2020): 1465–68. http://dx.doi.org/10.1126/science.abb1822.
Pełny tekst źródłaZinkiewicz, J. M., M. Sowa, R. Baranowski, L. Glusiec i K. Kiszczak. "A new thermal emission cesium primary ion source for secondary ion mass spectrometer". Review of Scientific Instruments 63, nr 4 (kwiecień 1992): 2414–16. http://dx.doi.org/10.1063/1.1142947.
Pełny tekst źródłaCole, Richard B., Stephen Boue i A. Kamel Harrata. "Implementation of liquid secondary ion mass spectrometry on quadrupole mass spectrometers". Analytica Chimica Acta 267, nr 1 (wrzesień 1992): 121–29. http://dx.doi.org/10.1016/0003-2670(92)85013-v.
Pełny tekst źródłaNIHEI, YOSHIMASA, HITOMI SATOH, BUNBUNOSHIN TOMIYASU i MASANORI OWARI. "SUBMICRON SECONDARY ION MASS SPECTROMETER FOR THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS OF MICROSTRUCTURE". Analytical Sciences 7, Supple (1991): 527–32. http://dx.doi.org/10.2116/analsci.7.supple_527.
Pełny tekst źródłaHealy, R. M., J. Sciare, L. Poulain, M. Crippa, A. Wiedensohler, A. S. H. Prévôt, U. Baltensperger i in. "Quantitative determination of carbonaceous particle mixing state in Paris using single particle mass spectrometer and aerosol mass spectrometer measurements". Atmospheric Chemistry and Physics Discussions 13, nr 4 (19.04.2013): 10345–93. http://dx.doi.org/10.5194/acpd-13-10345-2013.
Pełny tekst źródłaHealy, R. M., J. Sciare, L. Poulain, M. Crippa, A. Wiedensohler, A. S. H. Prévôt, U. Baltensperger i in. "Quantitative determination of carbonaceous particle mixing state in Paris using single-particle mass spectrometer and aerosol mass spectrometer measurements". Atmospheric Chemistry and Physics 13, nr 18 (26.09.2013): 9479–96. http://dx.doi.org/10.5194/acp-13-9479-2013.
Pełny tekst źródłaSlodzian, Georges, Bernard Daigne i Francois Girard. "Transmission optimization of a microprobe instrument using a magnetic mass spectrometer". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1546–47. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100132364.
Pełny tekst źródłaCHOI, Myoung Choul. "Development of Ar Cluster-Ion Beam and Time-of-Flight Secondary-Ion Mass Spectrometer". Physics and High Technology 28, nr 6 (28.06.2019): 8–12. http://dx.doi.org/10.3938/phit.28.023.
Pełny tekst źródłaStanley, M. S., i K. L. Busch. "Primary Beam and Ion Extraction Optics Optimization for An Organic Secondary Ion Mass Spectrometer". Instrumentation Science & Technology 18, nr 3-4 (styczeń 1989): 243–64. http://dx.doi.org/10.1080/10739148908543710.
Pełny tekst źródłavon Criegern, Rolf, i Heinz Zeininger. "SIMS Microarea Depth Profiling of Microelectronic Device Structures". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 310–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135150.
Pełny tekst źródłaKatz, W., i J. G. Newman. "Fundamentals of Secondary Ion Mass Spectrometry". MRS Bulletin 12, nr 6 (wrzesień 1987): 40–47. http://dx.doi.org/10.1557/s088376940006721x.
Pełny tekst źródłaYurimoto, Hisayoshi, i Shigeho Sueno. "Secondary ion mass spectrometry for insulators." Nihon Kessho Gakkaishi 29, nr 4 (1987): 259–69. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.29.259.
Pełny tekst źródłaBenninghoven, A., A. M. Huber i H. W. Werner. "Secondary ion mass spectrometry (SIMS VI)". Analytica Chimica Acta 215 (1988): 366. http://dx.doi.org/10.1016/s0003-2670(00)85312-x.
Pełny tekst źródłaHandley, Judith. "Product Review: Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 74, nr 11 (czerwiec 2002): 335 A—341 A. http://dx.doi.org/10.1021/ac022041e.
Pełny tekst źródłaAndersen, Hans Henrik. "Secondary ion mass spectrometry SIMS V". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 31, nr 4 (czerwiec 1988): 597–98. http://dx.doi.org/10.1016/0168-583x(88)90462-4.
Pełny tekst źródłaRoberts, AlanD. "Secondary ion mass spectrometry (SIMS VII)". Analytica Chimica Acta 242 (1991): 301–2. http://dx.doi.org/10.1016/0003-2670(91)87086-m.
Pełny tekst źródłaSykes, D. E. "Secondary ion mass spectrometry - SIMS VIII". Spectrochimica Acta Part A: Molecular Spectroscopy 49, nr 10 (wrzesień 1993): 1555–56. http://dx.doi.org/10.1016/0584-8539(93)80061-e.
Pełny tekst źródłaVainiotalo, Pirjo. "Secondary ion mass spectrometry SIMS IX". Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy 51, nr 9 (sierpień 1995): 1533. http://dx.doi.org/10.1016/0584-8539(95)90161-2.
Pełny tekst źródłaLing, Yong-Chien. "Microanalysis Using Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Chinese Chemical Society 41, nr 3 (czerwiec 1994): 329–33. http://dx.doi.org/10.1002/jccs.199400045.
Pełny tekst źródłaLevi-Setti, R., J. M. Chabala, R. Espinosa i M. M. Le Beau. "Advances in imaging SIMS studies of stained and BrdU-labelled human metaphase chromosomes". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 932–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100141032.
Pełny tekst źródłaKawaguchi, S., M. Kudo, Masaki Tanemura, Lei Miao, Sakae Tanemura, Y. Gotoh, M. Liao i S. Shinkai. "Angle Dependent Sputtering and Dimer Formation from Vanadium Nitride Target by Ar+ Ion Bombardment". Advanced Materials Research 11-12 (luty 2006): 607–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.11-12.607.
Pełny tekst źródłaPeng, Bijie, Mingyue He, Sheng He, Mei Yang i Yujia Shi. "New Olivine Reference Materials for Secondary Ion Mass Spectrometry Oxygen Isotope Measurements". Crystals 13, nr 7 (21.06.2023): 987. http://dx.doi.org/10.3390/cryst13070987.
Pełny tekst źródłaSong, Tinglu, Meishuai Zou, Defeng Lu, Hanyuan Chen, Benpeng Wang, Shuo Wang i Fan Xu. "Probing Surface Information of Alloy by Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer". Crystals 11, nr 12 (26.11.2021): 1465. http://dx.doi.org/10.3390/cryst11121465.
Pełny tekst źródłaKita, Noriko T., Peter E. Sobol, James R. Kern, Neal E. Lord i John W. Valley. "UV-light microscope: improvements in optical imaging for a secondary ion mass spectrometer". Journal of Analytical Atomic Spectrometry 30, nr 5 (2015): 1207–13. http://dx.doi.org/10.1039/c4ja00349g.
Pełny tekst źródłaZhao, L., i C. Yang. "CHEMICAL COMPOSITION OF AEROSOLS IN THE WEST COAST OF TAIWAN STRAIT, CHINA". ISPRS - International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences XLII-3/W9 (25.10.2019): 233–37. http://dx.doi.org/10.5194/isprs-archives-xlii-3-w9-233-2019.
Pełny tekst źródłaInglebert, R. L., B. Klossa, J. C. Lorin i R. Thomas. "Proposed in situ secondary ion mass spectrometry on Mars". Planetary and Space Science 43, nr 1-2 (styczeń 1995): 129–37. http://dx.doi.org/10.1016/0032-0633(95)93404-2.
Pełny tekst źródłaKiss, András, Donald F. Smith, Julia H. Jungmann i Ron M. A. Heeren. "Cluster secondary ion mass spectrometry microscope mode mass spectrometry imaging". Rapid Communications in Mass Spectrometry 27, nr 24 (31.10.2013): 2745–50. http://dx.doi.org/10.1002/rcm.6719.
Pełny tekst źródła