Książki na temat „Secondary ion mass spectrometer”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych książek naukowych na temat „Secondary ion mass spectrometer”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
van der Heide, Paul. Secondary Ion Mass Spectrometry. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2014. http://dx.doi.org/10.1002/9781118916780.
Pełny tekst źródłaL, Bentz B., i Odom R. W, red. Secondary ion mass spectrometry. Amsterdam: Elsevier, 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaWilson, R. G. Secondary ion mass spectrometry. Chichester: Wiley, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaMahoney, Christine M., red. Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118589335.
Pełny tekst źródłaBenninghoven, Alfred, Richard J. Colton, David S. Simons i Helmut W. Werner, red. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82724-2.
Pełny tekst źródłaC, Vickerman J., Brown A. Alan i Reed Nicola M, red. Secondary ion mass spectrometry: Principles and applications. Oxford: Clarendon Press, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaA, Brown, i Vickerman J. C, red. Handbook of static secondary ion mass spectrometry. Chichester [West Sussex]: J. Wiley, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaHearn, Martin John. Polymer surface studies by secondary ion mass spectrometry. Leicester: Leicester Polytechnic, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaG, Rüdenauer F., i Werner H. W, red. Secondary ion mass spectrometry: Basic concepts, instrumental aspects, applications, and trends. New York: J. Wiley, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (11th 1997 Orlando, Fla.). Secondary ion mass spectrometry, SIMS XI: Proceedings of the Eleventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Orlando, Florida, September 7-12th, 1997. Redaktor Gillen G. Chichester: Wiley, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (9th 1993 Yokahama). Secondary ion mass spectrometry: SIMS IX : proceedings of the Ninth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS IX)...,7-12 November 1993. Redaktor Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaMai, H. Investigation of the sampling volume in secondary ion microanalysis. Dresden: Akademie der Wissenschaften der DDR, Zentralinstitut für Festkörperphysik und Werkstofforschung, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (8th 1991 Amsterdam,Netherlands). Secondary ion mass spectrometry: SIMS VIII : proceedings of the eighth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Amsterdam, the Netherlands, September 15-20 1991. Redaktor Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1992.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conferenceon Secondary Ion Mass Spectrometry (7th 1989 California, USA). Secondary ion mass spectrometry SIMS VII: Proceedings of the seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, USA, September 3rd-8th, 1989. Redaktor Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (10th 1995 Muenster, Germany). Secondary ion mass spectrometry, SIMS X: Proceedings of the Tenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X), University of Muenster, Muenster, Germany, October 1-6th, 1995. Redaktorzy Benninghoven A, Hagenhoff B i Werner H. W. Chichester: Wiley, 1997.
Znajdź pełny tekst źródłaG, Wilson Robert. Secondary ion mass spectrometry: A practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis. New York: Wiley, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaFayek, Mostafa. Secondary ion mass spectrometry in the earth sciences: Gleaning the big picture from a small spot. Toronto: Mineralogical Association of Canada, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational, Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (6th 1987 Versailles France). Secondary ion mass spectrometry: SIMS VI: proceedings of the Sixth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Palais des Congrès, Versailles, Paris, France, September 13-18th, 1987. Chichester: Wiley, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaVargas-Aburto, Carlos. Development of a quadrupole-based secondary-ion mass spectrometry (SIMS) system at Lewis Research Center. [Washington, D.C.]: NASA, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaR, Aron Paul, Liff Dale Russell i United States. National Aeronautics and Space Administration., red. Development of a quadrupole-based secondary-ion mass spectrometry (SIMS) system at Lewis Research Center. [Washington, D.C.]: NASA, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaFox, Harvey Stuart. A study of shallow implants in silicon by secondary ion mass spectrometry. [s.l.]: typescript, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaA, Hedin, Sundqvist B. U. R i Benninghoven A. 1932-, red. Ion Formation from Organic Solids (IFOS V). Chichester: Wiley, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (5th 1985 Washington, D.C.). Secondary ion mass spectrometry: SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985. Redaktor Benninghoven A. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. (7th 1989 Monterey, Calif.). Secondary ion mass spectrometry: SIMS VII: proceedings of the seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, USA, September 3rd-4th, 1989. Redaktorzy Benninghoven A, Huber Alfred 1918- i Werner H. W. Chichester: Wiley, 1990.
Znajdź pełny tekst źródła1930-, Czanderna Alvin Warren, i Hercules David M, red. Ion spectroscopies for surface analysis. New York: Plenum Press, 1991.
Znajdź pełny tekst źródłaIro, J. E. Static secondary ion mass spectrometry studies of complex toxic substances adsorbed on different subtrates. Manchester: UMIST, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaCooke, Graham Alan. The development of secondary ion mass spectrometry for two-dimensional impurity profiling in semiconductors. [s.l.]: typescript, 1992.
Znajdź pełny tekst źródłaCzanderna, A. W. Ion Spectroscopies for Surface Analysis. Boston, MA: Springer US, 1991.
Znajdź pełny tekst źródłaHeller-Krippendorf, Danica. Multivariate Data Analysis for Root Cause Analyses and Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry. Wiesbaden: Springer Fachmedien Wiesbaden, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-658-28502-9.
Pełny tekst źródłaA, Hedin, Sundqvist B. U. R, Benninghoven A, Naturvetenskapliga forskningsrådet (Sweden), Nordic Committee for Accelerator Based Research. i International Conference on Ion Formation from Organic Solids (5th : 1989 : Lövånger, Sweden), red. Ion formation from organic solids (IFOS V): Proceedings of the fifth international conference, Lövånger, Sweden, June 18-21, 1989. Chichester [England]: Wiley, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaA, Benninghoven, red. Ion formation from organic solids (IFOS III): Mass spectrometry of involatile material : proceedings of the third international conference, Münster, Fed. Rep. of Germany, September 16-18, 1985. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference On Ion Formation from Organic Solids(IFOS IV) (4th 1987 Münster). Ion formation from organic solids (IFOS IV): Mass spectrometry of involatile material : proceedings of the Fourth International Conference, Münster, Federal Republic of Germany,September 21-23, 1987. Redaktor Benninghoven A. 1932-. Chichester: Wiley, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaPouch, John J. Auger electron spetroscopy, secondary ion mass spectrometry and optical characterization of a-C:H and BN films. [Cleveland, Ohio: National Aeronautics and Space Administration, Lewis Research Center, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaH, Zou, i AECL Research, red. The solid solubility of Ni and Co in [alpha]-Zr: A secondary Ion mass spectrometry study. Chalk River, Ontario, Canada: Reactor Materials Research Branch, Chalk River Laboratories, 1995.
Znajdź pełny tekst źródła1945-, Lyon Philip A., i American Chemical Society, red. Desorption mass spectrometry: Are SIMS and FAB the same? Washington, D.C: American Chemical Society, 1985.
Znajdź pełny tekst źródłaHerridge, D. A static secondary ion mass spectrometry (SSIMS) investigation of hetrogeneous reactions on simulated polar stratospheric cloud particles. Manchester: UMIST, 1997.
Znajdź pełny tekst źródłaUnited States. National Aeronautics and Space Administration., red. Analylsis of LDEF experiment AO137-2: Chemically and isotopic measurements of micrometeroids by secondary ion mass spectrometry. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1992.
Znajdź pełny tekst źródłaG, Newman John, i Hohlt Teresa A, red. Static SIMS handbook of polymer analysis: A reference book of standard data for identification and interpretation of static SIMS data. Eden Prairie, Minn: Perkin-Elmer Corp., Physical Electronics Division, 1991.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (5th 1985 Washington, DC). Secondary ion mass spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985. Berlin: Springer, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaJ, Verlinden, Commission of the European Communities. Directorate-General for Science, Research and Development. i Commission of the European Communities. Joint Research Centre., red. Rhenium filaments: Investigation of their purity by spark source and secondary ion mass spectrometry, their purification by thermal treatment. Luxembourg: Commission of the European Communities Directorate-General Information Market and Innovation, 1985.
Znajdź pełny tekst źródłaGrasserbauer, M. Angewandte Oberflächenanalyse: Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie. Berlin: Springer-Verlag, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaCherepin, Valentin Tikhonovich. Ionnyĭ mikrozondovyĭ analiz. Kiev: Nauk. dumka, 1992.
Znajdź pełny tekst źródłaSurface analysis of polymers by XPS and static SIMS. Cambridge, U.K: Cambridge University Press, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaUnited States. National Aeronautics and Space Administration., red. Ion mass spectrometer experiment for ISIS-II spacecraft: Final report. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1987.
Znajdź pełny tekst źródła(Editor), A. Benninghoven, C. A. Evans (Editor), K. D. McKeegan (Editor), H. A. Storms (Editor) i H. W. Werner (Editor), red. Secondary Ion Mass Spectrometry. John Wiley and Sons Ltd, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (6th 1987 Versailles, France). Secondary ion mass spectrometry. Redaktorzy Benninghoven A. 1932-, Huber Alfred 1918- i Werner H. W. Wiley, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaFEARN, Shard. Secondary Ion Mass Spectrometry Its Aphb. Institute of Physics Publishing, 2022.
Znajdź pełny tekst źródła(Editor), A. Benninghoven, B. Hagenhoff (Editor) i H. W. Werner (Editor), red. Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS X. John Wiley & Sons Ltd (Import), 1997.
Znajdź pełny tekst źródłaGillen, Edited by: G. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI. Wiley, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaBenninghoven, A., R. Shimizu i Y. Nihei. Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS IX. John Wiley & Sons, 1994.
Znajdź pełny tekst źródła