Gotowa bibliografia na temat „Secondary ion mass spectrometer”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Spis treści
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „Secondary ion mass spectrometer”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "Secondary ion mass spectrometer"
Todd, Peter J., i T. Gregory Schaaff. "A secondary ion microprobe ion trap mass spectrometer". Journal of the American Society for Mass Spectrometry 13, nr 9 (wrzesień 2002): 1099–107. http://dx.doi.org/10.1016/s1044-0305(02)00434-8.
Pełny tekst źródłaOlthoff, J. K., I. A. Lys i R. J. Cotter. "A pulsed time-of-flight mass spectrometer for liquid secondary ion mass spectrometry". Rapid Communications in Mass Spectrometry 2, nr 9 (wrzesień 1988): 171–75. http://dx.doi.org/10.1002/rcm.1290020902.
Pełny tekst źródłaBaturin, V. A., S. A. Eremin i S. A. Pustovoĭtov. "Secondary ion mass spectrometer based on a high-dose ion implanter". Technical Physics 52, nr 6 (czerwiec 2007): 770–75. http://dx.doi.org/10.1134/s1063784207060163.
Pełny tekst źródłaJiang, Jichun, Lei Hua, Yuanyuan Xie, Yixue Cao, Yuxuan Wen, Ping Chen i Haiyang Li. "High Mass Resolution Multireflection Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer". Journal of the American Society for Mass Spectrometry 32, nr 5 (20.04.2021): 1196–204. http://dx.doi.org/10.1021/jasms.1c00016.
Pełny tekst źródłaHull, Robert, Derren Dunn i Alan Kubis. "Nanoscale Tomographic Imaging using Focused Ion Beam Sputtering, Secondary Electron Imaging and Secondary Ion Mass Spectrometry". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 934–35. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030749.
Pełny tekst źródłaISHIKAWA, Shuji, i Yuko TAKEGUCHI. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Japan Society of Colour Material 86, nr 10 (2013): 386–91. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai.86.386.
Pełny tekst źródłaFUJITA, Koichi. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Journal of the Japan Society of Colour Material 79, nr 2 (2006): 81–85. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.81.
Pełny tekst źródłaWilliams, Peter. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Annual Review of Materials Science 15, nr 1 (sierpień 1985): 517–48. http://dx.doi.org/10.1146/annurev.ms.15.080185.002505.
Pełny tekst źródłaGriffiths, Jennifer. "Secondary Ion Mass Spectrometry". Analytical Chemistry 80, nr 19 (październik 2008): 7194–97. http://dx.doi.org/10.1021/ac801528u.
Pełny tekst źródłaZalm, PC. "Secondary ion mass spectrometry". Vacuum 45, nr 6-7 (czerwiec 1994): 753–72. http://dx.doi.org/10.1016/0042-207x(94)90113-9.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Secondary ion mass spectrometer"
Freeman, Stewart Peter Hans Thielbeer. "The radiocarbon microprobe : an imaging secondary ion accelerator mass spectrometer". Thesis, University of Oxford, 1992. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.314932.
Pełny tekst źródłaLi, Libing. "Strategies for secondary ion yield enhancements in focused ion beam secondary ion mass spectrometry". Thesis, Imperial College London, 2010. http://hdl.handle.net/10044/1/11806.
Pełny tekst źródłaLemire, Sharon Warford. "Rigorous analytical applications of liquid secondary ion mass spectrometry/mass spectrometry". Diss., Georgia Institute of Technology, 1996. http://hdl.handle.net/1853/30026.
Pełny tekst źródłaJones, Brian N. "The development of MeV secondary Ion mass spectrometry". Thesis, University of Surrey, 2012. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.580361.
Pełny tekst źródłaHearn, M. J. "Polymer surface studies by Secondary Ion Mass Spectrometry". Thesis, De Montfort University, 1988. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.380743.
Pełny tekst źródłaCoath, Christopher D. "A study of ion-optics for microbeam secondary-ion mass spectrometry". Thesis, University of Cambridge, 1990. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.335723.
Pełny tekst źródłaGilmore, Ian Stuart. "Development of a measurement base for static secondary ion mass spectrometry". Thesis, Loughborough University, 2000. https://dspace.lboro.ac.uk/2134/11110.
Pełny tekst źródłaJohn, Gareth David. "Secondary ion mass spectrometry and resonant ionisation mass spectrometry studies of nickel contacts to silicon carbide". Thesis, Swansea University, 2004. https://cronfa.swan.ac.uk/Record/cronfa42495.
Pełny tekst źródłaDe, Souza Roger A., i Manfred Martin. "Secondary ion mass spectrometry and its application to diffusion in oxides". Universitätsbibliothek Leipzig, 2015. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:15-qucosa-186567.
Pełny tekst źródłaDe, Souza Roger A., i Manfred Martin. "Secondary ion mass spectrometry and its application to diffusion in oxides". Diffusion fundamentals 12 (2010) 9, 2010. https://ul.qucosa.de/id/qucosa%3A13868.
Pełny tekst źródłaKsiążki na temat "Secondary ion mass spectrometer"
van der Heide, Paul. Secondary Ion Mass Spectrometry. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2014. http://dx.doi.org/10.1002/9781118916780.
Pełny tekst źródłaL, Bentz B., i Odom R. W, red. Secondary ion mass spectrometry. Amsterdam: Elsevier, 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaWilson, R. G. Secondary ion mass spectrometry. Chichester: Wiley, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaMahoney, Christine M., red. Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118589335.
Pełny tekst źródłaBenninghoven, Alfred, Richard J. Colton, David S. Simons i Helmut W. Werner, red. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82724-2.
Pełny tekst źródłaC, Vickerman J., Brown A. Alan i Reed Nicola M, red. Secondary ion mass spectrometry: Principles and applications. Oxford: Clarendon Press, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaA, Brown, i Vickerman J. C, red. Handbook of static secondary ion mass spectrometry. Chichester [West Sussex]: J. Wiley, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaHearn, Martin John. Polymer surface studies by secondary ion mass spectrometry. Leicester: Leicester Polytechnic, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaG, Rüdenauer F., i Werner H. W, red. Secondary ion mass spectrometry: Basic concepts, instrumental aspects, applications, and trends. New York: J. Wiley, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (11th 1997 Orlando, Fla.). Secondary ion mass spectrometry, SIMS XI: Proceedings of the Eleventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Orlando, Florida, September 7-12th, 1997. Redaktor Gillen G. Chichester: Wiley, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Secondary ion mass spectrometer"
Niehuis, E., T. Heller, H. Feld i A. Benninghoven. "High-Resolution TOF Secondary Ion Mass Spectrometer". W Springer Proceedings in Physics, 198–202. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82718-1_37.
Pełny tekst źródłaNiehuis, E., T. Heller, H. Feld i A. Benninghoven. "High Resolution TOF Secondary Ion Mass Spectrometer". W Springer Series in Chemical Physics, 188–90. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82724-2_48.
Pełny tekst źródłaBaker, Judith E. "Secondary Ion Mass Spectrometry". W Practical Materials Characterization, 133–87. New York, NY: Springer New York, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-9281-8_4.
Pełny tekst źródłaGrimblot, J., i M. Abon. "Secondary Ion Mass Spectrometry". W Catalyst Characterization, 291–319. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9589-9_11.
Pełny tekst źródłaAsher, S. E. "Secondary Ion Mass Spectrometry". W Microanalysis of Solids, 149–77. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-1492-7_5.
Pełny tekst źródłaGardella, Joseph A. "Secondary ion mass spectrometry". W The Handbook of Surface Imaging and Visualization, 705–12. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780367811815-51.
Pełny tekst źródłaMichałowski, Paweł Piotr. "Secondary Ion Mass Spectrometry". W Microscopy and Microanalysis for Lithium-Ion Batteries, 189–214. Boca Raton: CRC Press, 2023. http://dx.doi.org/10.1201/9781003299295-7.
Pełny tekst źródłaFahey, Albert J. "Ion Sources Used for Secondary Ion Mass Spectrometry". W Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry, 57–75. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118589335.ch3.
Pełny tekst źródłaGroenewold, Gary S., Anthony D. Appelhans, Garold L. Gresham i John E. Olson. "Measurements of Surface Contaminants and Sorbed Organics Using an Ion Trap Secondary Ion Mass Spectrometer". W Mass Spectrometry Handbook, 491–507. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118180730.ch22.
Pełny tekst źródłaIreland, Trevor R. "Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)". W Encyclopedia of Scientific Dating Methods, 739–40. Dordrecht: Springer Netherlands, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6304-3_106.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Secondary ion mass spectrometer"
Downey, Stephen W. "Comparison of secondary ion mass spectrometry and resonance ionization mass spectrometry". W OE/LASE '90, 14-19 Jan., Los Angeles, CA, redaktor Nicholas S. Nogar. SPIE, 1990. http://dx.doi.org/10.1117/12.17881.
Pełny tekst źródłaGillen, Greg. "Cluster primary ion beam secondary ion mass spectrometry for semiconductor characterization". W The 2000 international conference on characterization and metrology for ULSI technology. AIP, 2001. http://dx.doi.org/10.1063/1.1354477.
Pełny tekst źródłaWang, Peizhi, Zemin Bao i Tao Long. "The Research of Secondary Neutral Particles Spatial Distribution of Secondary Ion Mass Spectrometry". W Goldschmidt2020. Geochemical Society, 2020. http://dx.doi.org/10.46427/gold2020.2747.
Pełny tekst źródłaAnderle, M. "Ultra Shallow Depth Profiling by Secondary Ion Mass Spectrometry Techniques". W CHARACTERIZATION AND METROLOGY FOR ULSI TECHNOLOGY: 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology. AIP, 2003. http://dx.doi.org/10.1063/1.1622547.
Pełny tekst źródłaAppelhans, Anthony D., Gary S. Groenewold, Jani C. Ingram, D. A. Dahl i J. E. Delmore. "Molecular beam static secondary ion mass spectrometry for surface analysis". W Photonics West '95, redaktor Bryan L. Fearey. SPIE, 1995. http://dx.doi.org/10.1117/12.206432.
Pełny tekst źródłaVan Lierde, Patrick, Chunsheng Tian, Bruce Rothman i Richard A. Hockett. "Quantitative secondary ion mass spectrometry (SIMS) of III-V materials". W Symposium on Integrated Optoelectronic Devices, redaktorzy Gail J. Brown i Manijeh Razeghi. SPIE, 2002. http://dx.doi.org/10.1117/12.467668.
Pełny tekst źródłaDandong Ge, Preu Harald, Gan Swee Lee i Liang Kng Ian Koh. "Semi-quantitative analysis of trace elements by Secondary Ion Mass Spectrometry". W 2010 12th Electronics Packaging Technology Conference - (EPTC 2010). IEEE, 2010. http://dx.doi.org/10.1109/eptc.2010.5702681.
Pełny tekst źródłaWilhelm, Gudrun. "Degeneration of Li-Ion batteries studied with a Field Emission Scanning Electron Microscope equipped with a Secondary Ion Mass Spectrometer". W European Microscopy Congress 2020. Royal Microscopical Society, 2021. http://dx.doi.org/10.22443/rms.emc2020.234.
Pełny tekst źródłaSchnieders, A., i T. Budri. "Full wafer defect analysis with time-of-flight secondary Ion Mass Spectrometry". W 2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC). IEEE, 2010. http://dx.doi.org/10.1109/asmc.2010.5551443.
Pełny tekst źródłaKhan, Parwaiz A. A., i Anand J. Paul. "Surface study of laser welded stainless steels using secondary ion mass spectrometry". W ICALEO® ‘93: Proceedings of the Laser Materials Processing Conference. Laser Institute of America, 1993. http://dx.doi.org/10.2351/1.5058637.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Secondary ion mass spectrometer"
Bavarian, Behzad. Acquisition of Secondary Ion Mass Spectrometer with Fracture Stage. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, grudzień 2002. http://dx.doi.org/10.21236/ada416275.
Pełny tekst źródłaGroenewold, G. S., A. D. Applehans, J. C. Ingram, J. E. Delmore i D. A. Dahl. In situ secondary ion mass spectrometry analysis. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), styczeń 1993. http://dx.doi.org/10.2172/6483751.
Pełny tekst źródłaGroenewold, G. S., A. D. Applehans, J. C. Ingram, J. E. Delmore i D. A. Dahl. In situ secondary ion mass spectrometry analysis. 1992 Summary report. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), styczeń 1993. http://dx.doi.org/10.2172/10150987.
Pełny tekst źródłaMacPhee, J. A., R. R. Martin i N. S. McIntyre. An investigation of coal using secondary ion mass spectrometry (SIMS). Natural Resources Canada/ESS/Scientific and Technical Publishing Services, 1985. http://dx.doi.org/10.4095/302550.
Pełny tekst źródłaStern, R. A., i N. Sanborn. Monazite U-Pb and Th-Ph geochronology by high-resolution secondary ion mass spectrometry. Natural Resources Canada/ESS/Scientific and Technical Publishing Services, 1998. http://dx.doi.org/10.4095/210051.
Pełny tekst źródłaHickmott, Donald D., i Lee D. Riciputi. Science of Signatures Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Applications July 24, 2012. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), lipiec 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1047099.
Pełny tekst źródłaJackman, J. A., P. A. Hunt, O. Van Breemen i R. L. Hervig. Preliminary Investigation On Spatial Distributions of Elements in Zircon Grains By Secondary Ion Mass Spectrometry. Natural Resources Canada/ESS/Scientific and Technical Publishing Services, 1987. http://dx.doi.org/10.4095/122740.
Pełny tekst źródłaHanrahan, R. J. Jr, S. P. Withrow i M. Puga-Lambers. Measurements of the diffusion of iron and carbon in single crystal NiAl using ion implantation and secondary ion mass spectrometry. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), grudzień 1998. http://dx.doi.org/10.2172/296786.
Pełny tekst źródłaRiciputi, Lee. Science of Signatures Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Applications Some Nuclear and Geological Applications. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), lipiec 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1047088.
Pełny tekst źródłaFrisbie, C. D., J. R. Martin, R. R. Duff, Wrighton Jr. i M. S. Use of High Lateral Resolution Secondary Ion Mass Spectrometry to Characterize Self-Assembled Monolayers on Microfabricated Structures. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, luty 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada245797.
Pełny tekst źródła