Gotowa bibliografia na temat „Scanning”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Spis treści
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „Scanning”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "Scanning"
Bin Yu, Bin Yu, Wei Jia Wei Jia, Changhe Zhou Changhe Zhou, Hongchao Cao Hongchao Cao i Wenting Sun Wenting Sun. "Grating imaging scanning lithography". Chinese Optics Letters 11, nr 8 (2013): 080501–80503. http://dx.doi.org/10.3788/col201311.080501.
Pełny tekst źródłaArkhipov, V. V. "Scanning systems of rapid-scanning Fourier spectrometers". Journal of Optical Technology 77, nr 7 (1.07.2010): 435. http://dx.doi.org/10.1364/jot.77.000435.
Pełny tekst źródłaALVARADO, S. F. "SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SCANNING FORCE MICROSCOPY". Surface Review and Letters 02, nr 05 (październik 1995): 607–17. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x95000571.
Pełny tekst źródłaBulgaru, Marius, Vlad Bocăneț i Mircea Muntean. "Research regarding tactile scanning versus optical scanning". MATEC Web of Conferences 299 (2019): 04013. http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/201929904013.
Pełny tekst źródłaHamilton, D. K., i T. Wilson. "Scanning optical microscopy by objective lens scanning". Journal of Physics E: Scientific Instruments 19, nr 1 (styczeń 1986): 52–54. http://dx.doi.org/10.1088/0022-3735/19/1/009.
Pełny tekst źródłaMody, Cyrus C. M. "STARS: Scanning Probe Microscopy [Scanning Our Past]". Proceedings of the IEEE 102, nr 7 (lipiec 2014): 1107–12. http://dx.doi.org/10.1109/jproc.2014.2326811.
Pełny tekst źródłaGareau, Daniel S., James G. Krueger, Jason E. Hawkes, Samantha R. Lish, Michael P. Dietz, Alba Guembe Mülberger, Euphemia W. Mu i in. "Line scanning, stage scanning confocal microscope (LSSSCM)". Biomedical Optics Express 8, nr 8 (24.07.2017): 3807. http://dx.doi.org/10.1364/boe.8.003807.
Pełny tekst źródłaHsiao, Gregor, i Jezz Leckenby. "Correcting Scanning Errors in Scanning Probe Microscopes". Microscopy Today 7, nr 7 (wrzesień 1999): 10–13. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500064737.
Pełny tekst źródłaFu, J., R. D. Young i T. V. Vorburger. "Long‐range scanning for scanning tunneling microscopy". Review of Scientific Instruments 63, nr 4 (kwiecień 1992): 2200–2205. http://dx.doi.org/10.1063/1.1143139.
Pełny tekst źródłaTempleton, Alan R., Taylor Maxwell, David Posada, Jari H. Stengård, Eric Boerwinkle i Charles F. Sing. "Tree Scanning". Genetics 169, nr 1 (15.09.2004): 441–53. http://dx.doi.org/10.1534/genetics.104.030080.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Scanning"
Svahn, Stefan. "3D-scanning : Volymberäkning vid scanning av bergvägg". Thesis, Karlstads universitet, Institutionen för geografi, medier och kommunikation, 2014. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kau:diva-33349.
Pełny tekst źródłaRaspin, P. "Scanning business environments : an investigation into managerial scanning behaviour". Thesis, Cranfield University, 2003. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.401662.
Pełny tekst źródłaNiblock, Trevor. "Micro scanning probes". Thesis, University of Southampton, 2001. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.395357.
Pełny tekst źródłaLeane, Robert B. "Scanning tunnelling microscopy". Thesis, University of Cambridge, 1990. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.291716.
Pełny tekst źródłaHyde, Neville. "Environmental scanning : the need for and overview of environmental scanning system". Thesis, Stellenbosch : University of Stellenbosch, 2000. http://hdl.handle.net/10019.1/4595.
Pełny tekst źródłaENGLISH ABSTRACT: Historically organisations have had the "luxury" of being able to anticipate future developments and respond to them in good time due to, firstly, the comparatively slow pace of change and, secondly, the past being a relatively good predictor of the future. The second half of the 20th Century bears witness to some of the most dramatic changes and developments experienced by mankind. Most notable of these were globalisation, de-regulation, the emergence of the information/knowledge economy and, perhaps most significant of all, the changes brought about by the Internet. The underlying assertion of this report is that, given the current, complex, dynamic and sometimes volatile nature of changes in the external environment, in order to ensure a sustainable competitive advantage, organisations will be forced to consider carefully the dynamics of the environment in which they operate and to build their plans around these dynamics. This report briefly traces the evolution of strategic planning to its current status prior to providing a detailed analysis of the nature of environmental scanning and its applicability to strategic planning. The report provides a theoretical rerview of environmental scanning and a discussion of some of the tools and techniques of environmental scanning. Within this context the report provides a brief indication of the extent of the practice of environmental scanning within the financial services sector of South Africa. The conclusion assesses the findings of the current state of the practice of environmental scanning against the theory, with the view to providing an insight into the extent to which environmental scanning is applied in South Africa. Possible future directions of research and development of the practice are also identified.
AFRIKAANSE OPSOMMING: Histories gesproke, het instansies oor die "luukse" beskik om toekomstige ontwikkelinge vooruit te kon waarneem en betyds op hulle te reageer, eerstens weens die betreklike stadige pas van verandering en tweedens, omdat die verlede 'n betreklike goeie voorspeller van die toekoms was. Die tweede helfte van die 20ste eeu getuig van sommige van die mees dramatiese veranderinge en ontwikkelinge wat deur die mens ondervind is. Die mees uitstaande was globalisering, deregulering, die verskyning van die inligting/kennis-ekonomie en, dalk die mees uitstaande van almal, die veranderinge wat deur die Internet teweeggebring is. Die onderliggende stelling van hierdie verslag is dat, gegewe die huidige, komplekse, dinamiese en soms onbestendige aard van veranderinge in die eksterne omgewing, om 'n mededingende voordeel te verseker, sal instansies geforseer word om die dinamika van die omgewing waarin hulle werk, versigtig te oorweeg en om hulle planne om hierdie dinamika te bou. Hierdie verslag speur kortliks die ewolusie na van strategiese beplanning tot sy huidige status gevolg deur 'n omvattende analise van die aard van omgewingsondersoeke en die toepaslikheid daarvan op strategiese beplanning. Die verslag voorsien 'n teoretiese oorsig tot omgewingsondersoeke en 'n bespreking van sommige van die instrumente en tegnieke van omgewingsondersoeke. Binne hierdie konteks voorsien die verslag 'n kort aanduiding van die omvang van die uitvoering van omgewingsondersoeke binne die finansiele dienstesektor van Suid-Afrika. Die slot som die bevindings op van die huidige toestand van die praktyk van omgewingsondersoeke volgens die teorie, met die oog op voorsiening van 'n insig in die mate waartoe omgewingsondersoeke in Suid-Afrika toegepas word. Moontlike toekomstige rigtings van navorsing en ontwikkeling van die praktyk word ook geidentifiseer.
Hyde, Neville, i Johan Burger. "Environmental scanning : the need for and overview of environmental scanning systems". Thesis, Stellenbosch : University of Stellenbosch, 2000. http://hdl.handle.net/10019.1/4656.
Pełny tekst źródłaAFRIKAANSE OPSOMMING: Histories gesproke, het instansies oor die "luukse" beskik om toekomstige ontwikkelinge vooruit te kon waarneem en betyds op hulle te reageer, eerstens weens die betreklike stadige pas van verandering en tweedens, omdat die verlede 'n betreklike goeie voorspeller van die toekoms was. Die tweede helfte van die 20ste eeu getuig van sommige van die mees dramatiese veranderinge en ontwikkelinge wat deur die mens ondervind is. Die mees uitstaande was globalisering, deregulering, die verskyning van die inligting/kennis-ekonomie en, dalk die mees uitstaande van almal, die veranderinge wat deur die Internet teweeggebring is. Die onderliggende stelling van hierdie verslag is dat, gegewe die huidige, komplekse,dinamiese en soms onbestendige aard van veranderinge in die eksterne omgewing, om 'n mededingende voordeel te verseker, sal instansies geforseer word om die dinamika van die omgewing waarin hulle werk, versigtig te oorweeg en om hulle planne om hierdie dinamika te bou. Hierdie verslag speur kortliks die ewolusie na van strategiese beplanning tot sy huidige status gevolg deur 'n omvattende analise van die aard van omgewingsondersoeke en die toepaslikheid daarvan op strategiese beplanning. Die verslag voorsien 'n teoretiese oorsig tot omgewingsondersoeke en 'n bespreking van sommige van die instrurnente en tegnieke van omgewingsondersoeke. Binne hierdie konteks voorsien die verslag 'n kort aanduiding van die omvang van die uitvoering van omgewingsondersoeke binne die finansiele dienstesektor van Suid-Afrika. Die slot som die bevindings op van die huidige toestand van die praktyk van omgewingsondersoeke volgens die teorie, met die oog op voorsiening van 'n insig in die mate waartoe omgewingsondersoeke in Suid-Afrika toegepas word. Moontlike toekomstige rigtings van navorsing en ontwikkeling van die praktyk word ook geidentifiseer.
Weise, Thibaut. "Real-time 3D scanning". Konstanz Hartung-Gorre, 2009. http://d-nb.info/1000182894/04.
Pełny tekst źródłaAlmqvist, Nils. "Scanning probe microscopy : Applications". Licentiate thesis, Luleå tekniska universitet, Materialvetenskap, 1994. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ltu:diva-17980.
Pełny tekst źródłaDonnermeyer, Achim. "Scanning ion-conductance microscopy". [S.l.] : [s.n.], 2007. http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn=urn:nbn:de:hbz:361-11593.
Pełny tekst źródłaDavies, D. G. "Scanning electron acoustic microscopy". Thesis, University of Cambridge, 1985. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.304042.
Pełny tekst źródłaKsiążki na temat "Scanning"
Ponzio, Nicola. Scanning. Mantova: Corraini edizioni, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaKassing, Rainer, red. Scanning Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0.
Pełny tekst źródłaF, Marshall Gerald, red. Optical scanning. New York: Marcel Dekker, Inc., 1991.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational, Scanning Microscopy. Scanning microscopy. Chicago: Scanning Microscopy International, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaBeiser, Leo. Holographic scanning. New York: Wiley, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaManon, Meijer, red. Scannen. Brussel: Easy Computing, 2000.
Znajdź pełny tekst źródłaTally, Taz. Avoiding the scanning blues: A desktop scanning primer. Upper Saddle River, NJ: Prentice Hall PTR, 2001.
Znajdź pełny tekst źródła1949-, Bhushan Bharat, i Fuchs H. O. 1907-, red. Applied scanning probe methods II: Scanning probe microscopy techniques. Berlin: Springer, 2005.
Znajdź pełny tekst źródła1949-, Bhushan Bharat, Fuchs H i Kawata Satoshi 1966-, red. Applied scanning probe methods V: Scanning probe microscopy techniques. Berlin: Springer, 2007.
Znajdź pełny tekst źródła1949-, Bhushan Bharat, Fuchs H i Tomitori M, red. Applied scanning probe methods VIII: Scanning probe microscopy techniques. Berlin: Springer, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Scanning"
Rey, Enno, Michael Thumann i Dominick Baier. "Scanning". W Mehr IT-Sicherheit durch Pen-Tests, 25–37. Wiesbaden: Vieweg+Teubner Verlag, 2005. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-322-80257-6_5.
Pełny tekst źródłaBishop, Peter C., i Andy Hines. "Scanning". W Teaching about the Future, 176–93. London: Palgrave Macmillan UK, 2012. http://dx.doi.org/10.1057/9781137020703_7.
Pełny tekst źródłaWeik, Martin H. "scanning". W Computer Science and Communications Dictionary, 1519. Boston, MA: Springer US, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-0613-6_16636.
Pełny tekst źródłaMartin, Yves. "Performance and selection criteria of critical components of STM and AFM". W Scanning Microscopy, 1–10. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_1.
Pełny tekst źródłaBriggs, G. A. D., R. Gundle, C. W. Lawrence, A. Rodriguez-Rey i C. B. Scruby. "Acoustic Microscopy: Pictures to Ponder". W Scanning Microscopy, 153–66. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_10.
Pełny tekst źródłaSure, T. "Real-Time Confocal Scanning Microscope — An Optical Instrument with a Better Depth Resolution". W Scanning Microscopy, 167–85. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_11.
Pełny tekst źródłaPohl, D. W. "On the Search for Last Frontiers Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (Abstract)". W Scanning Microscopy, 186. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_12.
Pełny tekst źródłaWickramasinghe, H. K. "STM and AFM extensions (Abstract)". W Scanning Microscopy, 187. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_13.
Pełny tekst źródłaKassing, Rainer. "Investigations on the SFM". W Scanning Microscopy, 11–31. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_2.
Pełny tekst źródłaMöller, R. "New Scanning Microscopy Techniques: Scanning Noise Microscopy Scanning Tunneling Microscopy Assisted by Surface Plasmons". W Scanning Microscopy, 32–48. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_3.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Scanning"
Chiu, Ming-Hung, Chin-Fa Lai, Chen-Tai Tan i Yi-Zhi Lin. "Transmission-type angle deviation microscope with NA=0.65 for 3D measurement". W Scanning Microscopy 2010, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.850984.
Pełny tekst źródłaSPIE, Proceedings of. "Front Matter: Volume 7378". W SPIE Scanning Microscopy, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.835753.
Pełny tekst źródłaSchwoeble, A. J., Brian R. Strohmeier i John D. Piasecki. "The influence of surface chemistry on GSR particles: using XPS to complement SEM/EDS analytical techniques". W Scanning Microscopy 2010, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.863906.
Pełny tekst źródłaLeroy, E., S. Mamedov, E. Teboul, A. Whitley, D. Meyer i L. Casson. "Complementing and adding to SEM performance with the addition of XRF, Raman, CL and PL spectroscopy and imaging". W Scanning Microscopy 2010, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.864236.
Pełny tekst źródłaCampo, E. M., A. Meléndez, K. Morales, J. Poplawsky, J. J. Santiago-Avilés i I. Ramos. "Electron microscopy and cathodoluminescence in electrospun nanodimensional structures: challenges and opportunities". W Scanning Microscopy 2010, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.866761.
Pełny tekst źródłaCampo, E. M., H. Campanella, Y. Y. Huang, K. Zinoviev, N. Torras, C. Tamargo, D. Yates, L. Rotkina, J. Esteve i E. M. Terentjev. "Electron microscopy of polymer-carbon nanotubes composites". W Scanning Microscopy 2010, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.867718.
Pełny tekst źródłaPfeiffer, Hans C. "New prospects for electron beams as tools for semiconductor lithography". W SPIE Scanning Microscopy, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.822771.
Pełny tekst źródłaDe, Arijit K., i Debabrata Goswami. "Three-dimensional image formation under single-photon ultra-short pulsed illumination". W SPIE Scanning Microscopy, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.822773.
Pełny tekst źródłaCizmar, Petr, András E. Vladár i Michael T. Postek. "Optimization of accurate SEM imaging by use of artificial images". W SPIE Scanning Microscopy, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.823415.
Pełny tekst źródłaHaegel, Nancy M., Chun-Hong Low, Lee Baird i Goon-Hwee Ang. "Transport imaging with near-field scanning optical microscopy". W SPIE Scanning Microscopy, redaktorzy Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek i David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.824114.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Scanning"
Dow, John D. Scanning Tunneling Microscopy. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, marzec 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada249262.
Pełny tekst źródłaMarangoni, Alejandro G., i M. Fernanda Peyronel. Differential Scanning Calorimetry. AOCS, kwiecień 2014. http://dx.doi.org/10.21748/lipidlibrary.40884.
Pełny tekst źródłaMelloch, Michael R. Scanning Probe Microscope. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, marzec 2001. http://dx.doi.org/10.21236/ada388569.
Pełny tekst źródłaSwartzentruber, B. S., A. M. Bouchard i G. C. Osbourn. Adaptive scanning probe microscopies. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), luty 1997. http://dx.doi.org/10.2172/446386.
Pełny tekst źródłaTaylor, A. J., G. P. Donati, G. Rodriguez, T. R. Gosnell, S. A. Trugman i D. I. Some. Femtosecond scanning tunneling microscope. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 1998. http://dx.doi.org/10.2172/672306.
Pełny tekst źródłaWebber, Nels W. LANL Robotic Vessel Scanning. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 2015. http://dx.doi.org/10.2172/1227254.
Pełny tekst źródłaLeckey, J. H., i M. D. Boeckmann. Rapid scanning mass spectrometer. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 1996. http://dx.doi.org/10.2172/459358.
Pełny tekst źródłaGharavi, Hamid, K. Venkatesh Prasad i Petros Ioannou. Scanning advanced automobile technology. Gaithersburg, MD: National Institute of Standards and Technology, 2007. http://dx.doi.org/10.6028/nist.ir.7421.
Pełny tekst źródłaCrooks, R. M., T. S. Corbitt, C. B. Ross, M. J. Hampden-Smith i J. K. Schoer. Scanning Probe Surface Modification. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, listopad 1993. http://dx.doi.org/10.21236/ada273178.
Pełny tekst źródłaBotkin, D. A. Ultrafast scanning tunneling microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), wrzesień 1995. http://dx.doi.org/10.2172/270266.
Pełny tekst źródła