Książki na temat „Pattern recognition”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych książek naukowych na temat „Pattern recognition”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
William, Gibson. Pattern recognition. New York: G.P. Putnam's Sons, 2003.
Znajdź pełny tekst źródła1967-, Koutroumbas Konstantinos, i ScienceDirect (Online service), red. Pattern recognition. Wyd. 4. Amsterdam: Elsevier/Academic Press, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaAkata, Zeynep, Andreas Geiger i Torsten Sattler, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-71278-5.
Pełny tekst źródłaRoman-Rangel, Edgar, Ángel Fernando Kuri-Morales, José Francisco Martínez-Trinidad, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa i José Arturo Olvera-López, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-77004-4.
Pełny tekst źródłaBauckhage, Christian, Juergen Gall i Alexander Schwing, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-92659-5.
Pełny tekst źródłaWallraven, Christian, Qingshan Liu i Hajime Nagahara, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02444-3.
Pełny tekst źródłaWallraven, Christian, Qingshan Liu i Hajime Nagahara, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02375-0.
Pełny tekst źródłaVergara-Villegas, Osslan Osiris, Vianey Guadalupe Cruz-Sánchez, Juan Humberto Sossa-Azuela, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, José Francisco Martínez-Trinidad i José Arturo Olvera-López, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-07750-0.
Pełny tekst źródłaAndres, Björn, Florian Bernard, Daniel Cremers, Simone Frintrop, Bastian Goldlücke i Ivo Ihrke, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-16788-1.
Pełny tekst źródłaTheodoridis, S. Pattern recognition. Wyd. 2. Amsterdam: Academic Press, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaCarrasco-Ochoa, Jesús Ariel, José Francisco Martínez-Trinidad, Joaquín Salas Rodríguez i Gabriella Sanniti di Baja, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38989-4.
Pełny tekst źródłaHamprecht, Fred A., Christoph Schnörr i Bernd Jähne, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74936-3.
Pełny tekst źródłaLi, Shutao, Chenglin Liu i Yaonan Wang, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45643-9.
Pełny tekst źródłaLi, Shutao, Chenglin Liu i Yaonan Wang, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45646-0.
Pełny tekst źródłaCarrasco-Ochoa, Jesús Ariel, José Francisco Martínez-Trinidad i José Arturo Olvera-López, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-59226-8.
Pełny tekst źródłaPalaiahnakote, Shivakumara, Gabriella Sanniti di Baja, Liang Wang i Wei Qi Yan, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-41299-9.
Pełny tekst źródłaPalaiahnakote, Shivakumara, Gabriella Sanniti di Baja, Liang Wang i Wei Qi Yan, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-41404-7.
Pełny tekst źródłaLiu, Cheng-Lin, Changshui Zhang i Liang Wang, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33506-8.
Pełny tekst źródłaKittler, J., red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/3-540-19036-8.
Pełny tekst źródłaFigueroa Mora, Karina Mariela, Juan Anzurez Marín, Jaime Cerda, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, José Francisco Martínez-Trinidad i José Arturo Olvera-López, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-49076-8.
Pełny tekst źródłaGoesele, Michael, Stefan Roth, Arjan Kuijper, Bernt Schiele i Konrad Schindler, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15986-2.
Pełny tekst źródłaCarrasco-Ochoa, Jesús Ariel, José Francisco Martínez-Trinidad, Juan Humberto Sossa-Azuela, José Arturo Olvera López i Fazel Famili, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-19264-2.
Pełny tekst źródłaTan, Tieniu, Xuelong Li, Xilin Chen, Jie Zhou, Jian Yang i Hong Cheng, red. Pattern Recognition. Singapore: Springer Singapore, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-3002-4.
Pełny tekst źródłaTan, Tieniu, Xuelong Li, Xilin Chen, Jie Zhou, Jian Yang i Hong Cheng, red. Pattern Recognition. Singapore: Springer Singapore, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-3005-5.
Pełny tekst źródłaMurty, M. Narasimha, i V. Susheela Devi. Pattern Recognition. London: Springer London, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-495-1.
Pełny tekst źródłaFink, Gernot A., Simone Frintrop i Xiaoyi Jiang, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-33676-9.
Pełny tekst źródłaWeickert, Joachim, Matthias Hein i Bernt Schiele, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-40602-7.
Pełny tekst źródłaCree, Michael, Fay Huang, Junsong Yuan i Wei Qi Yan, red. Pattern Recognition. Singapore: Springer Singapore, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-15-3651-9.
Pełny tekst źródłaRigoll, Gerhard, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69321-5.
Pełny tekst źródłaKropatsch, Walter G., Robert Sablatnig i Allan Hanbury, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2005. http://dx.doi.org/10.1007/11550518.
Pełny tekst źródłaDenzler, Joachim, Gunther Notni i Herbert Süße, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03798-6.
Pełny tekst źródłaVan Gool, Luc, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/3-540-45783-6.
Pełny tekst źródłaRadig, Bernd, i Stefan Florczyk, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/3-540-45404-7.
Pełny tekst źródłaMester, Rudolf, i Michael Felsberg, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23123-0.
Pełny tekst źródłaRoth, Volker, i Thomas Vetter, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-66709-6.
Pełny tekst źródłaMartínez-Trinidad, José Francisco, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, José Arturo Olvera-Lopez, Joaquín Salas-Rodríguez i Ching Y. Suen, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-07491-7.
Pełny tekst źródłaGall, Juergen, Peter Gehler i Bastian Leibe, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-24947-6.
Pełny tekst źródłaMartínez-Trinidad, José Francisco, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, Cherif Ben-Youssef Brants i Edwin Robert Hancock, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-21587-2.
Pełny tekst źródłaJiang, Xiaoyi, Joachim Hornegger i Reinhard Koch, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-11752-2.
Pełny tekst źródłaMarques de Sá, Joaquim P. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56651-6.
Pełny tekst źródłaMartínez-Trinidad, José Francisco, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, José Arturo Olvera-López i Sudeep Sarkar, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-92198-3.
Pełny tekst źródłaPinz, Axel, Thomas Pock, Horst Bischof i Franz Leberl, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-32717-9.
Pełny tekst źródłaFranke, Katrin, Klaus-Robert Müller, Bertram Nickolay i Ralf Schäfer, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2006. http://dx.doi.org/10.1007/11861898.
Pełny tekst źródłaMartínez-Trinidad, José Francisco, Jesús Ariel Carrasco-Ochoa, Victor Ayala Ramirez, José Arturo Olvera-López i Xiaoyi Jiang, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-39393-3.
Pełny tekst źródłaMichaelis, Bernd, i Gerald Krell, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/b12010.
Pełny tekst źródłaRasmussen, Carl Edward, Heinrich H. Bülthoff, Bernhard Schölkopf i Martin A. Giese, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/b99676.
Pełny tekst źródłaHomenda, Władysław, i Witold Pedrycz. Pattern Recognition. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2018. http://dx.doi.org/10.1002/9781119302872.
Pełny tekst źródłaBrox, Thomas, Andrés Bruhn i Mario Fritz, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-12939-2.
Pełny tekst źródłaCarrasco-Ochoa, Jesús Ariel, José Francisco Martínez-Trinidad, José Arturo Olvera López i Kim L. Boyer, red. Pattern Recognition. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31149-9.
Pełny tekst źródłaRosenhahn, Bodo, i Bjoern Andres, red. Pattern Recognition. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-45886-1.
Pełny tekst źródła