Książki na temat „Metrology of electromagnetism”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 18 najlepszych książek naukowych na temat „Metrology of electromagnetism”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
G, Bradford Ann, i National Institute of Standards and Technology (U.S.), red. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Washington, DC: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 Beijing, China). Electromagnetic metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, ISEM '89, August 19-22, 1989, Beijing, China. Beijing: International Academic Publishers, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaMotohisa, Kanda, i United States. National Bureau of Standards, red. Electromagnetic compatibility and interference metrology: M.T. Ma, M. Kanda. Gaithersburg, Md: National Bureau of Standards, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaE, DeWeese Mary, i National Institute of Standards and Technology (U.S.), red. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Znajdź pełny tekst źródłaE, Bailey A., i International Union of Radio Science., red. URSI register of national standards laboratories for electromagnetic metrology. Bristol: A. Hilger, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaE, DeWeese Mary, i United States. National Bureau of Standards, red. Metrology for electromagnetic technology: A bibliography of NBS publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaM, Butler Chalmers, i National Institute of Standards and Technology (U.S.), red. EMI/EMC metrology challenges for industry: A workshop on measurements, standards, calibrations, and accreditation. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Znajdź pełny tekst źródłaNational Institute of Standards and Technology (U.S.), red. METROLOGY FOR ELECTROMAGNETIC TECHNOLOGY: A BIBLIOGRAPHY OF NIST PUBLICATIONS... NIST 5064 ... U.S. DEPARTMENT OF COMMERCE... 1997. [S.l: s.n., 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaElectromagnetic compatibility and interference metrology. Gaithersburg, Md: National Bureau of Standards, 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology: Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaMetrology for electromagnetic technology: A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo: U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaMetrology for electromagnetic technology: A bibliography of NBS publications. [Washington, D.C.]: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaBuchwald, Jed Z., i Robert Fox, red. The Oxford Handbook of the History of Physics. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.001.0001.
Pełny tekst źródłaHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet i Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet i Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet i Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet i Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Znajdź pełny tekst źródła