Artykuły w czasopismach na temat „Linear integrated circuits”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Linear integrated circuits”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Silva, M. M. "Linear integrated circuits". Proceedings of the IEEE 73, nr 8 (1985): 1340. http://dx.doi.org/10.1109/proc.1985.13290.
Pełny tekst źródłaBARNABY, H. J. "TOTAL DOSE EFFECTS IN LINEAR BIPOLAR INTEGRATED CIRCUITS". International Journal of High Speed Electronics and Systems 14, nr 02 (czerwiec 2004): 519–41. http://dx.doi.org/10.1142/s0129156404002491.
Pełny tekst źródłaRax, B. G., A. H. Johnston i C. I. Lee. "Proton damage effects in linear integrated circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 45, nr 6 (1998): 2632–37. http://dx.doi.org/10.1109/23.736507.
Pełny tekst źródłaRax, B. G., A. H. Johnston i T. Miyahira. "Displacement damage in bipolar linear integrated circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 46, nr 6 (1999): 1660–65. http://dx.doi.org/10.1109/23.819135.
Pełny tekst źródłaJantos, P., D. Grzechca i J. Rutkowski. "Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits". Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences 60, nr 1 (1.03.2012): 133–42. http://dx.doi.org/10.2478/v10175-012-0019-4.
Pełny tekst źródłaAbraitis, Vidas, i Žydrūnas Tamoševičius. "Transition Test Patterns Generation for BIST Implemented in ASIC and FPGA". Solid State Phenomena 144 (wrzesień 2008): 214–19. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.144.214.
Pełny tekst źródłaVosper, J. V. "Book Review: Linear Integrated Circuits: Operation and Applications". International Journal of Electrical Engineering & Education 23, nr 2 (kwiecień 1986): 184. http://dx.doi.org/10.1177/002072098602300223.
Pełny tekst źródłaJain, L. C. "Book Review: Operational Amplifiers and Linear Integrated Circuits:". International Journal of Electrical Engineering & Education 29, nr 2 (kwiecień 1992): 162. http://dx.doi.org/10.1177/002072099202900212.
Pełny tekst źródłaBuchner, Stephen, i Dale McMorrow. "Single-Event Transients in Bipolar Linear Integrated Circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 53, nr 6 (grudzień 2006): 3079–102. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2006.882497.
Pełny tekst źródłaJohnston, A. H., i R. E. Plaag. "Models for Total Dose Degradation of Linear Integrated Circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 34, nr 6 (1987): 1474–80. http://dx.doi.org/10.1109/tns.1987.4337502.
Pełny tekst źródłaSun, Zhi, Weijia Wei, Mingyue Zhang, Wenjia Shi, Yeqing Zong, Yihua Chen, Xiaojing Yang, Bo Yu, Chao Tang i Chunbo Lou. "Synthetic robust perfect adaptation achieved by negative feedback coupling with linear weak positive feedback". Nucleic Acids Research 50, nr 4 (15.02.2022): 2377–86. http://dx.doi.org/10.1093/nar/gkac066.
Pełny tekst źródłaZikumaru, Yushi. "NQR Spectrometer with a Two Integrated Circuits Radio Frequency Head". Zeitschrift für Naturforschung A 45, nr 3-4 (1.04.1990): 591–94. http://dx.doi.org/10.1515/zna-1990-3-467.
Pełny tekst źródłaZhang, Xiao Feng, Fo Chang Xie, Guo Wei Yang i Wei Zhang. "The Transceiver Circuit Design of Digital Ultrasonic System". Advanced Materials Research 834-836 (październik 2013): 968–73. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.834-836.968.
Pełny tekst źródłaParandin, Fariborz, Saeed Olyaee, Reza Kamarian i Mohamadreza Jomour. "Design and Simulation of Linear All-Optical Comparator Based on Square-Lattice Photonic Crystals". Photonics 9, nr 7 (29.06.2022): 459. http://dx.doi.org/10.3390/photonics9070459.
Pełny tekst źródłaWidemann, C., S. Stegemann, W. John i W. Mathis. "Analytic investigations on the susceptibility of nonlinear analog circuits to substrate noise". Advances in Radio Science 11 (4.07.2013): 171–75. http://dx.doi.org/10.5194/ars-11-171-2013.
Pełny tekst źródłaSingh, Jagmeet, Hugh Morison, Zhimu Guo, Bicky A. Marquez, Omid Esmaeeli, Paul R. Prucnal, Lukas Chrostowski, Sudip Shekhar i Bhavin J. Shastri. "Neuromorphic photonic circuit modeling in Verilog-A". APL Photonics 7, nr 4 (1.04.2022): 046103. http://dx.doi.org/10.1063/5.0079984.
Pełny tekst źródłaMukherjee, Parijat, G. Peter Fang, Rod Burt i Peng Li. "Efficient Identification of Unstable Loops in Large Linear Analog Integrated Circuits". IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 31, nr 9 (wrzesień 2012): 1332–45. http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2012.2194492.
Pełny tekst źródłaJohnston, A. H., G. M. Swift i B. G. Rax. "Total dose effects in conventional bipolar transistors and linear integrated circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 41, nr 6 (grudzień 1994): 2427–36. http://dx.doi.org/10.1109/23.340598.
Pełny tekst źródłaJohnston, A. H., B. G. Rax i C. I. Lee. "Enhanced damage in linear bipolar integrated circuits at low dose rate". IEEE Transactions on Nuclear Science 42, nr 6 (1995): 1650–59. http://dx.doi.org/10.1109/23.488762.
Pełny tekst źródłaLubecke, V. M., W. r. McGrath, Yu-Chong Tai i D. B. Rutledge. "Microfabrication of linear translator tuning elements in submillimeter-wave integrated circuits". Journal of Microelectromechanical Systems 7, nr 4 (1998): 404–10. http://dx.doi.org/10.1109/84.735348.
Pełny tekst źródłaJohnston, A. H., i B. G. Rax. "Testing and Qualifying Linear Integrated Circuits for Radiation Degradation in Space". IEEE Transactions on Nuclear Science 53, nr 4 (sierpień 2006): 1779–86. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2006.878291.
Pełny tekst źródłaLiu, Zhuang Jian, Yong Wei Zhang, Ji Zhou Song, Dae Hyeong Kim, Yong Gang Huang i John Rogers. "Numerical Simulation of Stretchable and Foldable Silicon Integrated Circuits". Advanced Materials Research 74 (czerwiec 2009): 197–200. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.74.197.
Pełny tekst źródłaNeudeck, Philip G., David J. Spry, Liang Yu Chen, Carl W. Chang, Glenn M. Beheim, Robert S. Okojie, Laura J. Evans i in. "Prolonged 500 °C Operation of 6H-SiC JFET Integrated Circuitry". Materials Science Forum 615-617 (marzec 2009): 929–32. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.615-617.929.
Pełny tekst źródłaSavchenko, Andrey, A. Kulay, I. Strukov, K. Chubur, Sergey Grechanyy i Konstantin Zolnikov. "A PHYSICAL MODEL FOR ESTIMATING THE INTENSITY OF SINGLE EVENTS WHEN EXPOSED TO INDIVIDUAL NUCLEAR PARTICLES". Modeling of systems and processes 12, nr 4 (23.01.2020): 78–83. http://dx.doi.org/10.12737/2219-0767-2020-12-4-78-83.
Pełny tekst źródłaBAUMGARTNER, C., i O. A. PALUSINSKI. "METHODOLOGY FOR FORMULATION OF CIRCUIT EQUATIONS FOR SPECTRAL ANALYSIS". Journal of Circuits, Systems and Computers 02, nr 02 (czerwiec 1992): 187–206. http://dx.doi.org/10.1142/s0218126692000131.
Pełny tekst źródłaShaw, Brian M. "Book Review: Op-Amps and Linear Integrated Circuits (3rd Edition): A. GAYAKWAD". International Journal of Electrical Engineering & Education 32, nr 2 (kwiecień 1995): 190–91. http://dx.doi.org/10.1177/002072099503200220.
Pełny tekst źródłaJohnston, Allan H., i B. G. Rax. "Failure Modes and Hardness Assurance for Linear Integrated Circuits in Space Applications". IEEE Transactions on Nuclear Science 57, nr 4 (sierpień 2010): 1966–72. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2010.2049583.
Pełny tekst źródłaGorelick, J. L., R. Ladbury i L. Ka. "The effects of neutron irradiation on gamma sensitivity of linear integrated circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 51, nr 6 (grudzień 2004): 3679–85. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2004.839245.
Pełny tekst źródłaEranosyan, V. Ts. "Automated installation for measuring low-frequency noise parameters of linear integrated circuits". Measurement Techniques 30, nr 6 (czerwiec 1987): 570–72. http://dx.doi.org/10.1007/bf00866854.
Pełny tekst źródłaKAMEDA, SEIJI, AKIRA HONDA i TETSUYA YAGI. "REAL TIME IMAGE PROCESSING WITH AN ANALOG VISION CHIP SYSTEM". International Journal of Neural Systems 09, nr 05 (październik 1999): 423–28. http://dx.doi.org/10.1142/s0129065799000423.
Pełny tekst źródłaWang, Han, Yi Cheng Zeng i Zhi Jun Li. "Current Mode Maximum and Minimum Circuit". Applied Mechanics and Materials 577 (lipiec 2014): 478–81. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.577.478.
Pełny tekst źródłaPiqueira, José R. C., Maurízio Q. de Oliveira i Luiz H. A. Monteiro. "Linear Approach for Synchronous State Stability in Fully Connected PLL Networks". Mathematical Problems in Engineering 2008 (2008): 1–13. http://dx.doi.org/10.1155/2008/364084.
Pełny tekst źródłaSaleh, Alaa, Abdel Kader El Rafei, Mountakha Dieng, Tibault Reveyrand, Raphael Sommet, Jean-Michel Nebus i Raymond Quere. "Compact RF non-linear electro thermal model of SiGe HBT for the design of broadband ADC's". International Journal of Microwave and Wireless Technologies 4, nr 6 (29.08.2012): 569–78. http://dx.doi.org/10.1017/s1759078712000566.
Pełny tekst źródłaDimopoulos, K. Z., J. N. Avaritsiotis i S. J. White. "Electrical Modelling of Multilevel On-Chip Interconnections for High-Speed Integrated Circuits". Active and Passive Electronic Components 14, nr 4 (1992): 199–218. http://dx.doi.org/10.1155/1992/13545.
Pełny tekst źródłaZhao, San Ping. "A Pressure Sensor with Electrical Readout Based on IL Electrofluidic Circuit". Applied Mechanics and Materials 66-68 (lipiec 2011): 1936–41. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.66-68.1936.
Pełny tekst źródłaDeval, Y., H. Lapuyade, R. Fouillat, H. Barnaby, F. Darracq, R. Briand, D. Lewis i R. D. Schrimpf. "Evaluation of a design methodology dedicated to dose-rate-hardened linear integrated circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 49, nr 3 (czerwiec 2002): 1468–73. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2002.1039685.
Pełny tekst źródłaBorys, Andrzej. "On Definition of Operator o for Weakly Nonlinear Circuits". International Journal of Electronics and Telecommunications 62, nr 3 (1.09.2016): 253–59. http://dx.doi.org/10.1515/eletel-2016-0034.
Pełny tekst źródłaWeng, T., S. Stegemann, W. John i W. Mathis. "An identification procedure of multi-input Wiener models for the distortion analysis of nonlinear circuits". Advances in Radio Science 11 (4.07.2013): 165–70. http://dx.doi.org/10.5194/ars-11-165-2013.
Pełny tekst źródłaMcMORROW, DALE, JOSEPH S. MELINGER i ALVIN R. KNUDSON. "SINGLE-EVENT EFFECTS IN III-V SEMICONDUCTOR ELECTRONICS". International Journal of High Speed Electronics and Systems 14, nr 02 (czerwiec 2004): 311–25. http://dx.doi.org/10.1142/s0129156404002375.
Pełny tekst źródłaPrakht, V. A., V. V. Goman i A. S. Paramonov. "Design Optimization of Secondary Element of Single-Sided Linear Induction Motors Using a Genetic Algorithm". ENERGETIKA. Proceedings of CIS higher education institutions and power engineering associations 64, nr 6 (6.12.2021): 505–16. http://dx.doi.org/10.21122/1029-7448-2021-64-6-505-516.
Pełny tekst źródłaCaselli, Michele, Marco Ronchi i Andrea Boni. "Power Management Circuits for Low-Power RF Energy Harvesters". Journal of Low Power Electronics and Applications 10, nr 3 (19.09.2020): 29. http://dx.doi.org/10.3390/jlpea10030029.
Pełny tekst źródłaWang, San-Fu. "A 5 V-to-3.3 V CMOS Linear Regulator with Three-Output Temperature-Independent Reference Voltages". Journal of Sensors 2016 (2016): 1–7. http://dx.doi.org/10.1155/2016/1436371.
Pełny tekst źródłaLiu, Lun Cai, Xiao Zong Huang i Wen Gang Huang. "An Integrated Optical Sensor Receiver with the Sensitivity of 0.7 μA Fabricated with Standard CMOS Process". Applied Mechanics and Materials 251 (grudzień 2012): 206–9. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.251.206.
Pełny tekst źródłaDaems, W., W. Verhaegen, P. Wambacq, G. Gielen i W. Sansen. "Evaluation of error-control strategies for the linear symbolic analysis of analog integrated circuits". IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications 46, nr 5 (maj 1999): 594–606. http://dx.doi.org/10.1109/81.762925.
Pełny tekst źródłaKoga, R., S. H. Penzin, K. B. Crawford, W. R. Crain, S. C. Moss, S. D. Pinkerton, S. D. LaLumondiere i M. C. Maher. "Single event upset (SEU) sensitivity dependence of linear integrated circuits (ICs) on bias conditions". IEEE Transactions on Nuclear Science 44, nr 6 (1997): 2325–32. http://dx.doi.org/10.1109/23.659055.
Pełny tekst źródłaFlament, O., J. L. Autran, P. Roche, J. L. Leray, O. Musseau, R. Truche i E. Orsier. "Enhanced total dose damage in junction field effect transistors and related linear integrated circuits". IEEE Transactions on Nuclear Science 43, nr 6 (1996): 3060–67. http://dx.doi.org/10.1109/23.556905.
Pełny tekst źródłaRizkalla, Shrief, Ralph Prestros i Christoph F. Mecklenbrauker. "Optimal Card Design for Non-Linear HF RFID Integrated Circuits With Guaranteed Standard-Compliance". IEEE Access 6 (2018): 47843–56. http://dx.doi.org/10.1109/access.2018.2867290.
Pełny tekst źródłaBoch, J., F. Saigne, R. D. Schrimpf, J. R. Vaille, L. Dusseau, S. Ducret, M. Bernard, E. Lorfevre i C. Chatry. "Estimation of low-dose-rate degradation on bipolar linear integrated circuits using switching experiments". IEEE Transactions on Nuclear Science 52, nr 6 (grudzień 2005): 2616–21. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2005.860711.
Pełny tekst źródłaBülow, H., F. Buchali, W. Baumert, R. Ballentin i T. Wehren. "PMD mitigation at 10 Gbit/s using linear and nonlinear integrated electronic equaliser circuits". Electronics Letters 36, nr 2 (2000): 163. http://dx.doi.org/10.1049/el:20000175.
Pełny tekst źródłaSun, Shaofei, Hongxin Zhang, Xiaotong Cui, Qiang Li, Liang Dong i Xing Fang. "Analysis of Electromagnetic Information Leakage Based on Cryptographic Integrated Circuits". Entropy 23, nr 11 (13.11.2021): 1508. http://dx.doi.org/10.3390/e23111508.
Pełny tekst źródła