Artykuły w czasopismach na temat „Hardware Under Test”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Hardware Under Test”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Pomeranz, Irith. "Test Compaction by Test Removal Under Transparent Scan". IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 27, nr 2 (luty 2019): 496–500. http://dx.doi.org/10.1109/tvlsi.2018.2878067.
Pełny tekst źródłaYin, Jiao, Hu Liu, Jun Wang i Ke Li. "Control System Design of Pneumatic Conveying in Sand/Dust Environment Simulation Test". Applied Mechanics and Materials 442 (październik 2013): 424–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.442.424.
Pełny tekst źródłaWan Jamaludin, Wan Shahmisufi, Tan Wei Ren, Bakhtiar Affendi Rosdi, Dahaman Ishak, Noor Hafizi Hanafi i Muhammad Nasiruddin Mahyuddin. "Adopting Hardware-In-the-Loop for Testing Vehicle Instrument Panel using Economical Approach". Indonesian Journal of Electrical Engineering and Computer Science 10, nr 1 (1.04.2018): 50. http://dx.doi.org/10.11591/ijeecs.v10.i1.pp50-58.
Pełny tekst źródłaZhang, Peng, Hou Jun Wang, Li Li i Ping Wang. "Design and Implementation of Intermediate Frequency Generation and Analysis Module for Avionics Test". Advanced Materials Research 1049-1050 (październik 2014): 1147–53. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1049-1050.1147.
Pełny tekst źródłaTian, Zeng Hao. "MIMO Channel Research and Hardware Implementation". Applied Mechanics and Materials 543-547 (marzec 2014): 2581–84. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.543-547.2581.
Pełny tekst źródłaLarsson, E., i S. Edbom. "Test data truncation for test quality maximisation under ATE memory depth constraint". IET Computers & Digital Techniques 1, nr 1 (2007): 27. http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt:20050209.
Pełny tekst źródłaShi, Zhendong, Haocheng Ma, Qizhi Zhang, Yanjiang Liu, Yiqiang Zhao i Jiaji He. "Test Generation for Hardware Trojan Detection Using Correlation Analysis and Genetic Algorithm". ACM Transactions on Embedded Computing Systems 20, nr 4 (czerwiec 2021): 1–20. http://dx.doi.org/10.1145/3446837.
Pełny tekst źródłaHan, Gu Jing, Meng Zou i Wu Zhi Min. "Research on Deadbeat Control for Three-Phase Grid-Connected Inverter in Model Based Design". Applied Mechanics and Materials 241-244 (grudzień 2012): 1159–63. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.241-244.1159.
Pełny tekst źródłaAlymova, E. V., i O. V. Khachkinaev. "Automation of Software and Hardware Systems Acceptance Testing in the Paradigm of Behavior-Driven Development". Informacionnye Tehnologii 29, nr 4 (18.04.2023): 186–96. http://dx.doi.org/10.17587/it.29.189-196.
Pełny tekst źródłaWang, Zhi Shen, i Gang Yan Li. "Compensation Control Network and Test of Bus Air Brake System in Under-Pressure State". Applied Mechanics and Materials 711 (grudzień 2014): 342–46. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.711.342.
Pełny tekst źródłaPikuza, M. O., i S. Yu Mikhnevich. "Testing a hardware random number generator using NIST statistical test suite". Doklady BGUIR 19, nr 4 (1.07.2021): 37–42. http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-4-37-42.
Pełny tekst źródłaPomeranz, I., i S. M. Reddy. "Test compaction methods for transition faults under transparent-scan". IET Computers & Digital Techniques 3, nr 4 (2009): 315. http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2008.0115.
Pełny tekst źródłaPomeranz, Irith. "Reducing the input test data volume under transparent scan". IET Computers & Digital Techniques 8, nr 1 (styczeń 2014): 1–10. http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2013.0067.
Pełny tekst źródłaLi Jiang, Qiang Xu, K. Chakrabarty i T. M. Mak. "Integrated Test-Architecture Optimization and Thermal-Aware Test Scheduling for 3-D SoCs Under Pre-Bond Test-Pin-Count Constraint". IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 20, nr 9 (wrzesień 2012): 1621–33. http://dx.doi.org/10.1109/tvlsi.2011.2160410.
Pełny tekst źródłaCHEN, CHENG-HSIEN, i CHEN-YI LEE. "REDUCE THE MEMORY BANDWIDTH OF 3D GRAPHICS HARDWARE WITH A NOVEL RASTERIZER". Journal of Circuits, Systems and Computers 11, nr 04 (sierpień 2002): 377–91. http://dx.doi.org/10.1142/s0218126602000525.
Pełny tekst źródłaVannahme, Anna, Jonas Busch, Mathias Ehrenwirth i Tobias Schrag. "Experimental Study of District Heating Substations in a Hardware-in-the-Loop Test Rig". Resources 12, nr 4 (26.03.2023): 43. http://dx.doi.org/10.3390/resources12040043.
Pełny tekst źródłaParlato, Aldo, Elio Tomarchio, Cristiano Calligaro i Calogero Pace. "The methodology for active testing of electronic devices under the radiations". Nuclear Technology and Radiation Protection 33, nr 1 (2018): 53–60. http://dx.doi.org/10.2298/ntrp1801053p.
Pełny tekst źródłaKerzérho, V., P. Cauvet, S. Bernard, F. Azaïs, M. Renovell, M. Comte i O. Chakib. "ADC Production Test Technique Using Low-Resolution Arbitrary Waveform Generator". VLSI Design 2008 (30.04.2008): 1–8. http://dx.doi.org/10.1155/2008/482159.
Pełny tekst źródłaQian, Zheng Xiang, i Yong Xin Shi. "Design and Realization of Test System for UAV Aeronautic Electronic Equipment". Applied Mechanics and Materials 644-650 (wrzesień 2014): 1158–61. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.644-650.1158.
Pełny tekst źródłaNiu, Ruibin. "Mechanical Vibration Test Based on the Wireless Vibration Monitoring System". Security and Communication Networks 2022 (25.08.2022): 1–8. http://dx.doi.org/10.1155/2022/9022128.
Pełny tekst źródłaLv, Zhao, Shuming Chen i Yaohua Wang. "Simulation-Based Hardware Verification with a Graph-Based Specification". Mathematical Problems in Engineering 2018 (2018): 1–10. http://dx.doi.org/10.1155/2018/6398616.
Pełny tekst źródłaHazen, John, i L. Scorsone. "Infrared Sensor Calibration Facility". Journal of the IEST 35, nr 1 (1.01.1992): 33–40. http://dx.doi.org/10.17764/jiet.2.35.1.d536816582691754.
Pełny tekst źródłaZhi, Chuan. "Research on the Physical Training under the Internet Environment". Applied Mechanics and Materials 687-691 (listopad 2014): 2875–78. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.687-691.2875.
Pełny tekst źródłaSalman, Muhammad, Antoine Ligot i Mauro Birattari. "Concurrent design of control software and configuration of hardware for robot swarms under economic constraints". PeerJ Computer Science 5 (30.09.2019): e221. http://dx.doi.org/10.7717/peerj-cs.221.
Pełny tekst źródłaSiddiqui, Atif, Muhammad Yousuf Irfan Zia i Pablo Otero. "A Universal Machine-Learning-Based Automated Testing System for Consumer Electronic Products". Electronics 10, nr 2 (10.01.2021): 136. http://dx.doi.org/10.3390/electronics10020136.
Pełny tekst źródłaSiddiqui, Atif, Muhammad Yousuf Irfan Zia i Pablo Otero. "A Universal Machine-Learning-Based Automated Testing System for Consumer Electronic Products". Electronics 10, nr 2 (10.01.2021): 136. http://dx.doi.org/10.3390/electronics10020136.
Pełny tekst źródłaTang, Yan Kun, Kun Yang, Yan Nan Zhai i Hui Zhang. "A Design of Safety Lock Testing Instrument Based on 89S52 Singlechip and LabVIEW". Applied Mechanics and Materials 347-350 (sierpień 2013): 1549–52. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.347-350.1549.
Pełny tekst źródłaBai, Yang, Xin Zhang, Qiang Yang, Yong Yang, Weibo Deng i Di Yao. "Multi-Channel Data Acquisition Card under New Acquisition and Transmission Architecture of High Frequency Ground Wave Radar". Sensors 21, nr 4 (5.02.2021): 1128. http://dx.doi.org/10.3390/s21041128.
Pełny tekst źródłaTestori, Marcello, Olivier Lamquet i Giuliano Matli. "Real-Time hardware-in-the-loop grid simulator to test generating units’ speed governors under islanding operating conditions". IFAC-PapersOnLine 49, nr 27 (2016): 188–94. http://dx.doi.org/10.1016/j.ifacol.2016.10.681.
Pełny tekst źródłaEdemsky, Dmitry, Alexei Popov, Igor Prokopovich i Vladimir Garbatsevich. "Airborne Ground Penetrating Radar, Field Test". Remote Sensing 13, nr 4 (12.02.2021): 667. http://dx.doi.org/10.3390/rs13040667.
Pełny tekst źródłaSchoberer, Thomas, Jan Weyr, Gernot Steindl, Gregor Görtler i Werner Stutterecker. "Comparison of the Energy Performance of a Heat Pump under Various Conditions by Using a Hardware-in-the-Loop (HIL) Test Method". Applied Mechanics and Materials 887 (styczeń 2019): 622–32. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.887.622.
Pełny tekst źródłaHoren, Y., A. Kuperman, Z. Vainer, S. Tapuchi i M. Averbukh. "Emulating time varying nonlinear uncertainties and disturbances in linear time invariant systems". SIMULATION 88, nr 12 (26.09.2012): 1499–507. http://dx.doi.org/10.1177/0037549712459788.
Pełny tekst źródłaWeyr, Jan, Thomas Schoberer i Werner Stutterecker. "Communication Analysis of Hardware-in-the-Loop Test Method for Heat Pumps and Chillers". Applied Mechanics and Materials 887 (styczeń 2019): 587–96. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.887.587.
Pełny tekst źródłaMarinissen, E. J., B. Vermeulen, H. Hollmann i R. G. Bennetts. "Minimizing pattern count for interconnect test under a ground bounce constraint". IEEE Design & Test of Computers 20, nr 2 (marzec 2003): 8–18. http://dx.doi.org/10.1109/mdt.2003.1188257.
Pełny tekst źródłaPorobic, Vlado, Evgenije Adzic i Milan Rapaic. "HIL evaluation of control unit in grid-tied coverters". Thermal Science 20, suppl. 2 (2016): 393–406. http://dx.doi.org/10.2298/tsci150928025p.
Pełny tekst źródłaWang, Weizheng, Zhuo Deng i Jin Wang. "Enhancing Sensor Network Security with Improved Internal Hardware Design". Sensors 19, nr 8 (12.04.2019): 1752. http://dx.doi.org/10.3390/s19081752.
Pełny tekst źródłaWang, Jun, i Xiao Lu Li. "Dynamic Temperature Test for PTC Material Used to Heat Diesel". Applied Mechanics and Materials 321-324 (czerwiec 2013): 158–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.321-324.158.
Pełny tekst źródłaPomeranz, I., i S. M. Reddy. "Test generation for embedded circuits under the transparent-scan approach". IEE Proceedings - Computers and Digital Techniques 152, nr 6 (2005): 713. http://dx.doi.org/10.1049/ip-cdt:20045151.
Pełny tekst źródłaLiu, Mengnan, Chuiquan Wei i Liyou Xu. "Development of Cooperative Controller for Dual-Motor Independent Drive Electric Tractor". Mathematical Problems in Engineering 2020 (11.11.2020): 1–12. http://dx.doi.org/10.1155/2020/4826904.
Pełny tekst źródłaAbdurakhmanov, Sh, Zh Chyngysheva, B. Musaliev i E. Tilekov. "Results of the Controlled Clinical Test of Intraoperative Blood Reinfusion Hardware, Assembled From the Abdominal Cavity in Conditions of Slow and Fast Modes". Bulletin of Science and Practice 6, nr 2 (15.02.2020): 111–17. http://dx.doi.org/10.33619/2414-2948/51/08.
Pełny tekst źródłaZhang, Wei Xin, Wei Bing Bai, Chao Xu, Wei Yuan Chen i Rui Jiang. "A Facial Recognition System Based on Integral Image". Applied Mechanics and Materials 687-691 (listopad 2014): 3905–8. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.687-691.3905.
Pełny tekst źródłaKladovščikov, Leonid, Marijan Jurgo i Romualdas Navickas. "Design of an Oscillation-Based BIST System for Active Analog Integrated Filters in 0.18 µm CMOS". Electronics 8, nr 7 (20.07.2019): 813. http://dx.doi.org/10.3390/electronics8070813.
Pełny tekst źródłaLeibfritz, M. M., M. D. Blech, F. M. Landstorfer i T. F. Eibert. "A comparison of software- and hardware-gating techniques applied to near-field antenna measurements". Advances in Radio Science 5 (12.06.2007): 43–48. http://dx.doi.org/10.5194/ars-5-43-2007.
Pełny tekst źródłaLiu, Yanjiang, Yiqiang Zhao, Jiaji He i Ruishan Xin. "A Statistical Test Generation Based on Mutation Analysis for Improving the Hardware Trojan Detection". Journal of Circuits, Systems and Computers 29, nr 03 (3.06.2019): 2050049. http://dx.doi.org/10.1142/s0218126620500498.
Pełny tekst źródłaHIGAMI, Yoshinobu, Hiroshi TAKAHASHI, Shin-ya KOBAYASHI i Kewal K. SALUJA. "Test Generation for Delay Faults on Clock Lines under Launch-on-Capture Test Environment". IEICE Transactions on Information and Systems E96.D, nr 6 (2013): 1323–31. http://dx.doi.org/10.1587/transinf.e96.d.1323.
Pełny tekst źródłaBalike, M., S. Rakheja i S. V. Hoa. "STUDY OF AN ENERGY DISSIPATING UNDER-RIDE GUARD USING HARDWARE-IN-THE-LOOP SIMULATION". Transactions of the Canadian Society for Mechanical Engineering 23, nr 2 (czerwiec 1999): 307–20. http://dx.doi.org/10.1139/tcsme-1999-0021.
Pełny tekst źródłaMuhammad, Moiz, Holger Behrends, Stefan Geißendörfer, Karsten von Maydell i Carsten Agert. "Power Hardware-in-the-Loop: Response of Power Components in Real-Time Grid Simulation Environment". Energies 14, nr 3 (25.01.2021): 593. http://dx.doi.org/10.3390/en14030593.
Pełny tekst źródłaDelgado, María Luisa, Jorge E. Jiménez-Hornero i Francisco Vázquez. "Design, Implementation and Validation of a Hardware-in-the-Loop Test Bench for Heating Systems in Conventional Coaches". Applied Sciences 13, nr 4 (9.02.2023): 2212. http://dx.doi.org/10.3390/app13042212.
Pełny tekst źródłaIman-Eini, Hossein, i Sarath B. Tennakoon. "Investigation of a cascaded H-bridge photovoltaic inverter under non-uniform insolation conditions by hardware-in-the-loop test". International Journal of Electrical Power & Energy Systems 105 (luty 2019): 330–40. http://dx.doi.org/10.1016/j.ijepes.2018.08.017.
Pełny tekst źródłaGarzia, Fabio, Johannes Rossouw van der Merwe, Alexander Rügamer, Santiago Urquijo i Wolfgang Felber. "HDDM Hardware Evaluation for Robust Interference Mitigation". Sensors 20, nr 22 (13.11.2020): 6492. http://dx.doi.org/10.3390/s20226492.
Pełny tekst źródła