Książki na temat „Focused Ion Beam machining”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 34 najlepszych książek naukowych na temat „Focused Ion Beam machining”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Foster, C. P. J. A comparison of electro discharge machining, laser & focused ion beam micromachining technologies. Cambridge: TWI, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaYao, Nan, red. Focused Ion Beam Systems. Cambridge: Cambridge University Press, 2007. http://dx.doi.org/10.1017/cbo9780511600302.
Pełny tekst źródłaNan, Yao, red. Focused ion beam systems: Basics and applications. Cambridge: Cambridge University Press, 2007.
Znajdź pełny tekst źródłaBachmann, Maja D. Manipulating Anisotropic Transport and Superconductivity by Focused Ion Beam Microstructuring. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-51362-7.
Pełny tekst źródłaCórdoba Castillo, Rosa. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Cham: Springer International Publishing, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02081-5.
Pełny tekst źródłaOrloff, Jon. High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications: The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology. Boston, MA: Springer US, 2003.
Znajdź pełny tekst źródła1934-, Swanson Lynwood, i Utlaut Mark William 1949-, red. High resolution focused ion beams: FIB and its applications : the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaOrloff, Jon. High resolution focused ion beams: FIB and its applications ; the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology. New York, NY: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaFernandez-Pacheco, Amalio. Studies of Nanoconstrictions, Nanowires and Fe₃O₄ Thin Films: Electrical Conduction and Magnetic Properties. Fabrication by Focused Electron/Ion Beam. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaJapan-U.S. Seminar on Focused Ion Beam Technology and Applications (1987 Osaka, Japan and Mie-ken, Japan). Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on Focused Ion Beam Technology and Applications: 15-19 November 1987, Senri Hankyu Hotel, Osaka, and 20 November 1987, Shima Kanko Hotel, Mie Prefect, Japan. Redaktorzy Harriott Lloyd R, Nihon Gakujutsu Shinkōkai, National Science Foundation (U.S.) i American Vacuum Society. New York: Published for the American Vacuum Society by the American Institute of Physics, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaYao, Nan. Focused Ion Beam Systems. Cambridge University Press, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaCox, David C. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology. Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Znajdź pełny tekst źródłaCox, David C. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology. Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Znajdź pełny tekst źródłaCox, David C. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology. Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Znajdź pełny tekst źródłaYao, Nan. Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge University Press, 2010.
Znajdź pełny tekst źródłaYao, Nan. Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge University Press, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaVijgen, Lucas Joseph. Coulomb Interactions in Focused Ion Beam Systems. Delft Univ Pr, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaFinch, Dudley, i Alexander Buxbaum. Focused Ion Beam Instrumentation: Techniques and Applications. Wiley & Sons, Limited, John, 2014.
Znajdź pełny tekst źródłaFinch, Dudley, i Alexander Buxbaum. Focused Ion Beam Instrumentation: Techniques and Applications. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2019.
Znajdź pełny tekst źródłaYao, Nan. Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge University Press, 2007.
Znajdź pełny tekst źródłaKeskinbora, Kahraman. Prototyping Micro- and Nano-Optics with Focused Ion Beam Lithography. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/3.2531118.
Pełny tekst źródłaCastillo, Rosa Córdoba. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Springer, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaCastillo, Rosa Córdoba Córdoba. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Springer, 2016.
Znajdź pełny tekst źródłaCastillo, Rosa Córdoba. Functional Nanostructures Fabricated by Focused Electron/Ion Beam Induced Deposition. Springer London, Limited, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaBachmann, Maja D. Manipulating Anisotropic Transport and Superconductivity by Focused Ion Beam Microstructuring. Springer, 2020.
Znajdź pełny tekst źródłaBachmann, Maja D. Manipulating Anisotropic Transport and Superconductivity by Focused Ion Beam Microstructuring. Springer International Publishing AG, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaFernandez-Pacheco, Amalio. Studies of Nanoconstrictions, Nanowires and Fe3O4 Thin Films: Electrical Conduction and Magnetic Properties. Fabrication by Focused Electron/Ion Beam. Springer, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaFernandez-Pacheco, Amalio. Studies of Nanoconstrictions, Nanowires and Fe3O4 Thin Films: Electrical Conduction and Magnetic Properties. Fabrication by Focused Electron/Ion Beam. Springer, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaFernández-Pacheco Chicón, Amalio. Electrical conduction and magnetic properties of nanoconstrictions and nanowires created by focused electron/ion beam and of Fe3O4 thin films. Prensas Universitarias de Zaragoza, 2009. http://dx.doi.org/10.26754/uz.978-84-92774-52-4.
Pełny tekst źródłaProceedings of the Japan-U.S. Seminar on Focused Ion Beam Technology and Applications: 15-19 November 1987, Senri Hankyu Hotel, Osaka, and 20 November 1987, Shima Kanko Hotel, Mie Prefect, Japan. Published for the American Vacuum Society by the American Institute of Physics, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaThe 2006-2011 World Outlook for Pattern-Generating Wafer Processing Equipment Used to Produce Masks and Reticles from Photoresist Coated Substrates Excluding Focused Ion Beam Milling Machines. Icon Group International, Inc., 2005.
Znajdź pełny tekst źródłaParker, Philip M. The 2007-2012 World Outlook for Pattern-Generating Wafer Processing Equipment Used to Produce Masks and Reticles from Photoresist Coated Substrates Excluding Focused Ion Beam Milling Machines. ICON Group International, Inc., 2006.
Znajdź pełny tekst źródłaGallop, J., i L. Hao. Superconducting Nanodevices. Redaktor A. V. Narlikar. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780198738169.013.17.
Pełny tekst źródłaHong, M. H. Laser applications in nanotechnology. Redaktorzy A. V. Narlikar i Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533060.013.24.
Pełny tekst źródła