Artykuły w czasopismach na temat „Field emission gun (FEG)”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Field emission gun (FEG)”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Joy, David C. "Microanalysis with a 200keV FEG TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 700–701. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100087811.
Pełny tekst źródłaBrock, Judith M., Max T. Otten i Marc J. C. de Jong. "Performance and applications of a field-emission gun TEM/STEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 942–43. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129346.
Pełny tekst źródłaTomita, T., S. Katoh, H. Kitajima, Y. Kokubo i Y. Ishida. "Development of Field-Emission Gun for High-Voltage Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 94–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134065.
Pełny tekst źródłaMul, P. M., B. J. M. Bormans i L. Schaap. "Design of a Field-Emission Gun for the Phillips CM20/STEM microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 100–101. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134090.
Pełny tekst źródłaMurakoshi, H., M. Ichihashi, T. Komoda, S. Isakozawa i T. Kubo. "Field-emission gun and illuminating lens system for 200kV FE-TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 110–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152525.
Pełny tekst źródłaOlson, N. H., U. Lücken, S. B. Walker, M. T. Otten i T. S. Baker. "Cryoelectron microscopy and image reconstruction of spherical viruses with spot scan and FEG technologies". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 1086–87. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100141809.
Pełny tekst źródłaOhi, M., K. Harasawa, T. Niikura, H. Okazaki, Y. Ishimori, T. Miyokawa i S. Nakagawa. "Development of a New Digital Fe SEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 432–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180914.
Pełny tekst źródłaTroyon, Michel, i He Ning Lei. "Electron Trajectories Calculations of an Energy - Filtering Field-Emission Gun". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 192–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179713.
Pełny tekst źródłaKaneyama, T., M. Kawasaki, T. Tomita, T. Honda i M. Kersker. "The information limit of a 200kv field emission TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 586–87. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139305.
Pełny tekst źródłaCoened, W. M. J., A. J. E. M. Janssend, M. Op de Beeck, D. Van Dyck, E. J. Van Zwet i H. W. Zandbergen. "Focus-variation image reconstruction in field-emission TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 1070–71. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100151180.
Pełny tekst źródłaNeves, F., A. Cunha, I. Martins, J. B. Correia, M. Oliveira i E. Gaffet. "Ni4Ti3 Precipitation during Ageing of MARES NiTi Shape Memory Alloys Studied by FEG-SEM". Microscopy and Microanalysis 14, S3 (wrzesień 2008): 13–16. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927608089241.
Pełny tekst źródłaHombourger, C., i M. Outrequin. "Quantitative Analysis and High-Resolution X-ray Mapping with a Field Emission Electron Microprobe". Microscopy Today 21, nr 3 (maj 2013): 10–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929513000515.
Pełny tekst źródłaOtten, Max T., i Wim M. J. Coene. "Principle and practice of high-resolution imaging with a field-emission TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 1 (sierpień 1992): 138–39. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100121090.
Pełny tekst źródłaGarratt-Reed, Anthony J., i Sebastian von Harrach. "Early experience with a 300kV FEG STEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 348–49. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100086040.
Pełny tekst źródłaCui, Wen, i Shao Jun Qi. "The Effect of Surface Finish on Zinc Whisker Growth". Advanced Materials Research 472-475 (luty 2012): 2756–59. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.472-475.2756.
Pełny tekst źródłaKrivanek, Ondrej L., James H. Paterson i Helmut R. Poppa. "Performance of the Gatan PEELS™ on the VG HB501 STEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 410–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100154020.
Pełny tekst źródłaVeiss, J. K., i R. W. Carpenter. "A study of small probe formation in a field emission gun TEM/STEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988): 510–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100104613.
Pełny tekst źródłaCoene, W., A. F. de Jong, H. Lichte, M. Op de Beeck, H. Tietz i D. Van Dyck. "FEG - TEM: The route to HREM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 1 (sierpień 1992): 100–101. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100120904.
Pełny tekst źródłaIshikawa, I., K. Kaneyama, T. Tomita, T. Honda i M. Kersker. "Information limit of a 300kV field emission TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 588–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139317.
Pełny tekst źródłaHarada, Ken, Haruto Nagata, Ryuichi Shimizu, Takayoshi Tanji i Keiji Yada. "<310> Single-Crystal LaB6 as Thermal Field Emitter for Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 196–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179737.
Pełny tekst źródłaXavier, Camila Soares, Ana Paula de Moura, Elson Longo, José Arana Varela i Maria Aparecida Zaghete. "Synthesis and Optical Property of MgMoO4 Crystals". Advanced Materials Research 975 (lipiec 2014): 243–47. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.975.243.
Pełny tekst źródłaHowe, J. M., S. P. Ringer, B. C. Muddle i I. J. Polmear. "Analytical Electron Microscopy of nanometer-size precipitates in al alloys with a 200-kV field-emission TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 574–75. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100165331.
Pełny tekst źródłaSun, H. P., H. Li, H. D. Li, G. T. Zou, Z. Zhang i X. Q. Pan. "Electron Beam Irradiation Induced Structural Modulation and Damage in GaN Nano Crystals". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 492–93. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600028531.
Pełny tekst źródłaStark, H., E. Beckmann, R. Henderson i F. Zemlin. "SOPHIE, a helium cooled superconducting Electron Microscope with a Schottky field emitter". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 72–73. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100136738.
Pełny tekst źródłaNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, João Luiz do Prado Neto, Nadia Mohammed Elmassalami Ayad, Luciano de Andrade Gobbo i Marcelo Henrique Prado da Silva. "Production and Characterization of Hydroxyapatite/Niobo Phosphate Glass Scaffold". Key Engineering Materials 587 (listopad 2013): 128–31. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.587.128.
Pełny tekst źródłaWatanabe, M., D. W. Ackland, A. Burrows, C. J. Kiely, D. B. Williams, O. L. Krivanek, N. Dellby, M. F. Murfitt i Z. Szilagyi. "Improvements in the X-Ray Analytical Capabilities of a Scanning Transmission Electron Microscope by Spherical-Aberration Correction". Microscopy and Microanalysis 12, nr 6 (11.10.2006): 515–26. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927606060703.
Pełny tekst źródłaOhye, Toshimi, Yoshiki Uchikawa, Chiaki Morita i Hiroshi Shimoyama. "Aberrations of Accelerating Tube for High-Voltage Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 194–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179725.
Pełny tekst źródłaOikawa, T., M. Kawasaki, T. Kaneyama, Y. Ohkura i M. Naruse. "The New EF-TEM with OMEGA and FEG". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 1128–29. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600031718.
Pełny tekst źródłaNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, Luciano de Andrade Gobbo i Marcelo Henrique Prado da Silva. "Bioactivity Assessment of Niobate Apatite". Key Engineering Materials 614 (czerwiec 2014): 3–6. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.614.3.
Pełny tekst źródłaSandim, Hugo Ricardo Zschommler, i Dierk Raabe. "An EBSD Study on Orientation Effects during Recrystallization of Coarse-Grained Niobium". Materials Science Forum 467-470 (październik 2004): 519–24. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.467-470.519.
Pełny tekst źródłaVronka, Marek, i Miroslav Karlík. "Microstructure and Mechanical Properties of Al-Mn Sheets with Zr Addition". Key Engineering Materials 606 (marzec 2014): 19–22. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.606.19.
Pełny tekst źródłaToptan, F., Ayfer Kilicarslan i Isil Kerti. "The Effect of Ti Addition on the Properties of Al-B4C Interface: A Microstructural Study". Materials Science Forum 636-637 (styczeń 2010): 192–97. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.636-637.192.
Pełny tekst źródłaPezzotti, Giuseppe. "Interfacial Residual Stresses in Semiconductor Devices Measured on the Nano-Scale by Cathodoluminescence Piezospectroscopy". Solid State Phenomena 127 (wrzesień 2007): 123–28. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.127.123.
Pełny tekst źródłaNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, Dindo Q. Mijares, Rubens Lincoln Santana Blazutti Marçal, José Brant de Campos, Paulo G. Coelho i Marcelo Henrique Prado da Silva. "Bioactivity Assessment of Calcium Phosphate Coatings". Key Engineering Materials 720 (listopad 2016): 193–96. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.720.193.
Pełny tekst źródłaNenadovic, Milos, Danilo Kisic, Miljana Mirkovic, Snezana Nenadovic i Ljiljana Kljajevic. "Structural and optical properties of HDPE implanted with medium fluences silver ions". Science of Sintering 53, nr 2 (2021): 187–98. http://dx.doi.org/10.2298/sos2102187n.
Pełny tekst źródłaTakeguchi, M., T. Honda, Y. Ishida, M. Kersker, M. Tanaka i K. Furuya. "Ultrahigh-Vacuum Field-Emission Electron Microscope as Applied to Observation and Analysis of Crystal Surface". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 597–98. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009879.
Pełny tekst źródłaKrause, S. J., W. W. Adams, S. Kumar, T. Reilly i T. Suziki. "Low-voltage, high-resolution scanning electron microscopy of polymers". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (sierpień 1987): 466–67. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127037.
Pełny tekst źródłaBentley, J. "Interfacial Segregation Studied With Modern AEM Techniques". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 533–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009557.
Pełny tekst źródłaLanteri, S., D. Gendt, P. Barges i G. Petitgand. "Comparison of Particle Size Analyses from FEG-SEM and TEM Images". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 380–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600034395.
Pełny tekst źródłaPezzotti, Giuseppe. "Nano-Scale Stress Microscopy of Ceramic Materials Using Their Cathodoluminescence Emission". Materials Science Forum 502 (grudzień 2005): 263–68. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.502.263.
Pełny tekst źródłaNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, Dindo Q. Mijares, Rubens Lincoln Santana Blazutti Marçal, José Brant de Campos, Paulo G. Coelho i Marcelo Henrique Prado da Silva. "Temperature Influence on the Calcium Phosphate Coatings by Chemical Method". Key Engineering Materials 720 (listopad 2016): 197–200. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.720.197.
Pełny tekst źródłaPezzotti, Giuseppe, Andrea Leto, Kiyotaka Yamada i Alessandro Alan Porporati. "Electro-Stimulated Piezo-Spectroscopy for Measuring Nano-Scale Residual Stress Fields in Ceramics". Advances in Science and Technology 45 (październik 2006): 1658–63. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ast.45.1658.
Pełny tekst źródłaWang, Z. L., i J. Bentley. "In situ REM imaging of surface processes on ceramic bulk crystals from 300 to 1670 K in a conventional TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 660–61. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100087616.
Pełny tekst źródłaCliff, G., i P. B. Kenway. "The future of AEM: Toward atom analysis". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 200–201. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152975.
Pełny tekst źródłaCzernuszka, J. T., N. J. Long i P. B. Hirsch. "Electron channelling contrast imaging of dislocations". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 4 (sierpień 1990): 410–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100175181.
Pełny tekst źródłaGoldstein, J. I., C. E. Lyman i J. Zhang. "Spatial Resolution and Detectability Limits in Thin-Film X-ay Microanalysis". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 450–51. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010013585x.
Pełny tekst źródłaWang, Z. L., A. Goyal i D. M. Kroeger. "Interface microstructures in melt-textured YBa2Cu3O7-δ on Ag-Pd and flux pinning centers introduced by Y2BaCuO5 particles". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 1 (sierpień 1992): 72–73. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010012076x.
Pełny tekst źródłaWatanabe, M., D. W. Ackland i D. B. Williams. "Practical Estimation of Analytical Sensitivity for EDS in an Intermediate Voltage FEG-STEM". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 965–66. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600011715.
Pełny tekst źródłaPezzotti, Giuseppe, Atsuo Matsutani, Maria Chiara Munisso i Wen Liang Zhu. "Advanced Nano-Scale Metrology for the Characterization of Ceramic Materials in the Scanning Electron Microscope". Materials Science Forum 606 (październik 2008): 93–101. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.606.93.
Pełny tekst źródłaYang, J. C., A. Singhal, S. Bradley i J. M. Gibson. "Nano-Sized Catalytic Materials Investigated by a STEM-Based Mass Spectroscopic Technique". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 443–44. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009107.
Pełny tekst źródła